JPH07312399A - ボールグリッドアレイの製造方法 - Google Patents

ボールグリッドアレイの製造方法

Info

Publication number
JPH07312399A
JPH07312399A JP10379694A JP10379694A JPH07312399A JP H07312399 A JPH07312399 A JP H07312399A JP 10379694 A JP10379694 A JP 10379694A JP 10379694 A JP10379694 A JP 10379694A JP H07312399 A JPH07312399 A JP H07312399A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder
ball
grid array
land
ball grid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10379694A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2864984B2 (ja
Inventor
Mamoru Onda
田 護 御
Masaru Watanabe
辺 勝 渡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP10379694A priority Critical patent/JP2864984B2/ja
Publication of JPH07312399A publication Critical patent/JPH07312399A/ja
Priority to JP28926298A priority patent/JPH11195728A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2864984B2 publication Critical patent/JP2864984B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • H05K1/141One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3478Applying solder preforms; Transferring prefabricated solder patterns

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】BGAパッケージの製造工程とは独立して、予
め絶縁フィルム上に連続的に半田ペースト、または半田
ボールを形成させることで、ボールグリッドアレイの製
造工程を短縮させることができ、BGAパッケージを安
価にすることができるボールグリッドアレイの製造方法
の提供。 【構成】ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形成用
ランドに電気的に接続する半田ボールが形成されたボー
ルグリッドアレイを製造するに際し、長尺の連続的な絶
縁フィルムの、前記ボールグリッドアレイ基板の半田ボ
ール形成用ランドに対応する位置にスルーホールを開孔
し、このスルーホール毎に、前記絶縁フィルムの一方の
面にランドパッドと、他方の面にボールランドとを、前
記スルーホールを介して電気的に接続するよう形成し、
この絶縁フィルムのボールランドに半田ペーストを印刷
した後、この半田ペーストを溶融して半田ボールを形成
し、予め半田ボールキャリアを製造しておくことによ
り、上記目的を達成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ボールグリッドアレイ
(以下、BGAと記述する)の製造方法に関し、詳しく
は、BGAパッケージの基板上に形成する半田ボール
群、即ち、ボールグリッドアレイの製造方法、さらに
は、これをTABテープキャリアに応用し、TABテー
プキャリアの銅箔パターン上に形成するボールグリッド
アレイの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】現在では、多数の外部端子を有する半導
体素子(以下、LSIチップと記述する)に対応するパ
ッケージとして、あるいは、従来より用いられているQ
FPに取って代わる次世代のパッケージとして、BGA
パッケージが注目を浴びている。これはBGA基板の下
面に、外部接続端子となる半田ボールを碁盤目状に配列
できるため、QFPの外周端子引出法に比べて端子数を
多く取れることや、BGAパッケージ内での配線長を短
くできるため、電気的特性が良くなる等の特徴を持つた
めである。
【0003】このBGAパッケージの基本的な構成を、
図9、図10および図11を用いて説明する。図9は、
BGAパッケージの一例の模式図、図10は、このBG
Aパッケージの一例の部分拡大図、そして、図11は、
BGAパッケージの基板の下面に形成された半田ボール
の一例の平面図である。
【0004】まず、図9に示すように、このBGAパッ
ケージ52は、BGA基板34と、このBGA基板34
の上面中央部に載置されたLSIチップ48と、これら
のBGA基板34とLSIチップ48とを互いに電気的
に接続するためのボンディングワイヤ54と、このBG
A基板34の上面を封止するためのモールド樹脂56
と、このBGA基板34の下面に形成された半田ボール
(ボールグリッドアレイ)32とから構成されている。
【0005】ここで、図10に示すように、通常、BG
A基板34は多層基板であって、その上面には複数個の
ランドパッド58が形成され、これらの各ランドパッド
58とLSIチップ48の各端子とは、ボンディングワ
イヤ54により、互いに電気的に接続され、BGA基板
34の上面は、モールド樹脂56により封止されてい
る。一方、BGA基板34の下面には、その上面に形成
されたランドパッド58に対応する個数の半田ボール形
成用ランド36が形成され、これらのランドパッド58
と半田ボール形成用ランド36とは、スルーホール60
により互いに電気的に接続されている。また、図11に
示すように、BGA基板34の下面に形成されたそれぞ
れの半田ボール形成用ランド36上には、半田ボール3
2が碁盤目のように形成され、ボールグリッドアレイ3
2を構成している。なお、この半田ボール32の直径は
通常0.5〜0.7mm、半田ボール間のピッチは1.
0〜1.5mmに標準化されている。
【0006】このBGAパッケージ52の製造に際し、
最大の難点になっているのはボールグリッドアレイ3
2、即ち、半田ボール32の形成工程である。この半田
ボール32の形成を多数個取りの基板において、プラス
チックモールド前に行うと、プラスチックモールド時の
射出成形熱や、例えば、温度約200℃で10時間にも
及ぶモールド後の硬化熱処理などによって、せっかく形
成された半田ボール32が酸化し、プリント基板への組
み込みができなくなる。このため、半田ボール32の形
成は、たとえ多数個取りの基板であっても、プラスチッ
クモールド後に、BGAパッケージ52一個単位で行わ
れており、非常に能率が悪いという問題点がある。
【0007】従来、この半田ボール32の形成法として
は、振り込み法と呼ばれ、フラックスを用いて、BGA
基板34の下面に形成された半田ボール形成用ランド3
6上に球状半田ボールを接着しておき、その後、これを
リフロー炉に通して溶融し、BGA基板34の下面に半
田ボール32を接合させる方法や、あるいは、半田ペー
ストをBGA基板34の半田ボール形成用ランド36上
に印刷し、その後、リフロー炉を通して半田ペーストを
溶融し、表面張力によって半田ボール32を形成させる
方法などがある。
【0008】しかしながら、これらの方法では、前述し
た理由によりBGA基板34の下面に予め半田ボール3
2を形成させることができないので、モールド工程が終
了した後に、半田ボール32の形成工程を行っていた。
このため、BGAパッケージ52の製造工程が非能率的
となり、さらには、半田ボール32を連続的に形成させ
ることもできず、結局、BGAパッケージ52が高価な
ものとなるという問題点があった。また、BGA基板3
4に形成される半田ボール32の高さの要求基準は、
0.6mmであるが、従来これに対して±0.1mmの
形成誤差があり、形成された半田ボール32の高さのば
らつきが大きく、BGAパッケージ52の実装時に、B
GAパッケージ52とプリント基板との空間が均一にな
らないことがあるという問題点もあった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
従来技術に基づく種々の問題点をかえりみて、BGAパ
ッケージの製造工程とは独立して、予め長尺の絶縁フィ
ルム上に連続的に半田ペースト、または半田ボールを形
成させること、および、こうしてフィルムキャリアに形
成された半田ペーストまたは半田ボールをBGA基板に
簡単かつ低温で取り付けることにより、ボールグリッド
アレイの製造工程を短縮することができ、BGAパッケ
ージを安価にすることができるボールグリッドアレイの
製造方法を提供することにある。また、本発明の別の目
的は、BGA基板で半田ボールを押さえるように形成す
ることで、BGA基板の半田ボール形成用ランドに形成
される半田ボールの高さを均一にすることができるボー
ルグリッドアレイの製造方法を提供することにある。ま
た、本発明のさらに別の目的は、TABテープキャリア
の外部接続手段としてボールグリッドアレイを適用し、
TABテープキャリアに応用されたボールグリッドアレ
イの製造方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1態様は、ボールグリッドアレイ基板の
半田ボール形成用ランドに電気的に接続する半田ボール
が形成されたボールグリッドアレイを製造するに際し、
長尺の連続的な絶縁フィルムの、前記ボールグリッドア
レイ基板の半田ボール形成用ランドに対応する位置にス
ルーホールを開孔し、このスルーホール毎に、前記絶縁
フィルムの一方の面にランドパッドと、他方の面にボー
ルランドとを、前記スルーホールを介して電気的に接続
するよう形成し、この絶縁フィルムのボールランドに半
田ペーストを印刷した後、この半田ペーストを溶融して
半田ボールを形成し、予め半田ボールキャリアを製造し
ておくことを特徴とするボールグリッドアレイの製造方
法を提供するものである。
【0011】ここで、さらに、前記ボールグリッドアレ
イ基板の半田ボール形成用ランドあるいは前記半田ボー
ルキャリアのランドパッドに導電性ペーストを印刷し
て、前記ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形成用
ランドと、前記半田ボールキャリアのランドパッドとを
位置合わせして重ねた後、これらを加熱して前記導電性
ペーストを硬化させ、前記ボールグリッドアレイ基板の
半田ボール形成用ランドと、前記半田ボールキャリアの
ボールランドに形成された半田ボールとを電気的に接続
するのが好ましい。
【0012】また、本発明の第2態様は、ボールグリッ
ドアレイ基板の半田ボール形成用ランドに直接接続する
半田ボールが形成されたボールグリッドアレイを製造す
るに際し、長尺の連続的な絶縁フィルムの、前記ボール
グリッドアレイ基板の半田ボール形成用ランドに対応す
る位置に、直接あるいは剥離性ランドを形成した後、半
田ペーストを印刷して、予め半田ペーストキャリアを製
造しておくことを特徴とするボールグリッドアレイの製
造方法を提供するものである。
【0013】ここで、さらに、前記半田ペーストキャリ
アに印刷された半田ペーストと、前記ボールグリッドア
レイ基板の半田ボール形成用ランドとを位置合わせし
て、前記半田ペーストキャリアに印刷された半田ペース
ト上に前記ボールグリッドアレイ基板を載置した後、前
記半田ペーストを溶融して、半田ボールを前記ボールグ
リッドアレイ基板の半田ボール形成用ランドに転写し、
形成するのが好ましい。
【0014】さらに、本発明の第3態様は、TABテー
プキャリアに、配線パターンと、この配線パターンに接
続された半田ボール形成用ランドを形成し、このTAB
テープキャリアの半田ボール形成用ランドに半田ペース
トを印刷した後、前記半田ペーストを溶融して、半田ボ
ールを形成させることを特徴とするボールグリッドアレ
イの製造方法を提供するものである。
【0015】
【発明の作用】本発明の第1態様のボールグリッドアレ
イの製造方法は、BGAパッケージの製造工程とは独立
して、長尺の絶縁フィルムの一方の面から電気的に接続
できるように、この絶縁フィルムの他方の面に、BGA
基板の半田ボール形成用ランドに接合するための半田ボ
ールを、予め連続的に形成させて半田ボールキャリアを
製造しておくものである。また、BGA基板を樹脂封止
した後に、このBGA基板の半田ボール形成用ランド
と、所定長に切断された半田ボールキャリアのランドパ
ッドとを位置合わせして、絶縁フィルムごとこれらを電
気的に接続させることで、半田ボールの連続的な形成
と、酸化防止とを可能とし、ボールグリッドアレイの製
造工程を短縮させることができ、BGAパッケージを安
価にすることができる。
【0016】また、本発明の第2態様のボールグリッド
アレイの製造方法は、同様に、BGAパッケージの製造
工程とは独立して、長尺の絶縁フィルムに半田ペースト
を印刷したものを予め連続的に形成させて半田ペースト
キャリアを製造しておくものである。また、BGA基板
を樹脂封止した後に、半田ペーストキャリアの半田ペー
スト上にBGA基板を位置合わせして載置し、この半田
ペーストを溶融して絶縁フィルムから半田を剥離させ、
BGA基板の半田ボール形成用ランドに半田ボールを転
写して形成させるものである。従って、半田ボールを形
成させる際に、この半田ボールをBGA基板で押さえる
ようにするので、特にステンレス板などによって、剥離
性ランドを形成したものでは、形成された半田ボールは
平坦性に優れ、ボールグリッドアレイの高さを均一に形
成することができる。
【0017】さらに、本発明の第3態様のボールグリッ
ドアレイの製造方法は、TABテープキャリアの外部接
続手段としてボールグリッドアレイを適用したもので、
長尺の絶縁フィルムに配線パターンと、これに接続され
た半田ボール形成用ランドとを形成させ、この半田ボー
ル形成用ランドに連続的に半田ペーストを印刷して、溶
融させることで、TABテープキャリアに連続的に半田
ボールを形成させるものである。本態様では、TABテ
ープキャリアの製造に用いられるフォトファブリケーシ
ョンプロセスにより、微細パターンを形成させることが
でき、従来よりも小型化、薄型化させることができる。
【0018】
【実施例】以下に、添付の図面に示す好適実施例に基づ
いて、本発明のボールグリッドアレイの製造方法を詳細
に説明する。
【0019】図1は、本発明の第1態様のボールグリッ
ドアレイの製造方法を適用する半田ボール製造装置の一
実施例の模式図である。同図に示す半田ボール製造装置
20は、長尺の連続的な(帯状の)ポリイミド等のプラ
スチック絶縁フィルム10が巻き取られている送り出し
リール22と、この送り出しリール22から引き出され
た絶縁フィルム10の、後述するボールランド上に半田
ペーストを印刷する印刷機24と、この半田ペーストを
溶融して、絶縁フィルム10のボールランド上に半田ボ
ールを形成させるリフロー炉26と、この半田ボールが
形成された半田ボールキャリア38を巻き取る巻き取り
リール28とから構成されている。
【0020】ここで図2(a)および(b)に、上述す
る絶縁フィルムに形成された導体パターンの一実施例の
横断面図および平面図を示す。同図(a)および(b)
に示すように、絶縁フィルム10の上面にはランドパッ
ド12が形成され、このランドパッド12は、絶縁フィ
ルム10に開孔されたスルーホール14内に形成された
導体層15を介して、絶縁フィルム10の下面に形成さ
れた引出し線16の一端に接続され、さらに、絶縁フィ
ルム10の下面に形成された引出し線16の他端には、
ボールランド18が形成されている。即ち、絶縁フィル
ム10の上面に形成されたランドパッド12と、絶縁フ
ィルム10の下面に形成されたボールランド18とは、
互いに電気的に接続されている。これらのランドパッド
12、導体層15、引出し線16、ボールランド18な
どの導体パターンは、例えば絶縁フィルム10上に銅め
っき等によって銅箔層を形成し、この銅箔層をエッチン
グすることにより形成させることができる。
【0021】このように構成される半田ボール製造装置
20において、上述するように送り出しリール22に
は、図2(a)および(b)に示す導体パターンが形成
された絶縁フィルム10が巻き取られている。この送り
出しリール22から引き出された絶縁フィルム10は、
まず、印刷機24により、図3(a)に示すように、絶
縁フィルム10のボールランド18上に、微細半田粒、
フラックス成分および高分子粘結成分からなる半田ペー
スト30が、印刷法により印刷される。そして、この半
田ペースト30が印刷された絶縁フィルム10は、リフ
ロー炉26により、所定温度で所定時間、例えば230
℃で15秒間加熱されると、半田ペースト30が溶融
し、表面張力により、図3(b)に示すように、絶縁フ
ィルム10のボールランド18上にアレイ状に半田ボー
ル(ボールグリッドアレイ)32が形成され、この半田
ボールキャリア38が巻き取りリール28により巻き取
られる。なお、半田ペースト30は溶融されて、そのフ
ラックスおよび高分子粘結成分は、ある程度揮発、ある
いは、半田ボール32の周囲に多少残留して半田ボール
を形成するものである。
【0022】従って、送り出しリール22から引き出さ
れた絶縁フィルム10が、印刷機24およびリフロー炉
26を経由して、半田ボールキャリア38が巻き取りリ
ール28に巻き取られることにより、絶縁フィルム10
のボールランド18上に、半田ボール32を連続的に形
成させて、半田ボールキャリア38を作製することがで
きる。なお、送り出しリール22から引き出される絶縁
フィルム10は、そのボールランド18を上面として水
平に搬送されるのが好ましいが、これとは逆に、ボール
ランド18を下面として水平に搬送されても良い。
【0023】続いて図4に、上述する本発明の第1態様
のボールグリッドアレイの製造方法を適用して製造され
た半田ボールキャリアと、BGA基板の半田ボール形成
用ランドとを電気的に接続させる工程の一実施例の正面
模式図を示す。同図において、BGA基板34の上面は
既に樹脂封止され、その下面には、半田ボール32を形
成するための半田ボール形成用ランド36が形成されて
いる。一方、半田ボールキャリア38は、上述する印刷
法により、ボールランド18上に半田ボール32が形成
された半田ボールキャリア38を、BGAパッケージ1
個分の長さに切断したもので、絶縁フィルム10の上面
には、半田ボール32と電気的に接続されたランドパッ
ド12が、BGA基板34の下面に形成された半田ボー
ル形成用ランド36に応じた位置に形成されている。
【0024】このように構成されたBGA基板34と、
半田ボールキャリア38とにおいて、BGA基板34の
下面に形成された半田ボール形成用ランド36に、同様
に印刷法により、銅微粉末を含むエポキシ系の導電性ペ
ーストを印刷し、BGA基板34の半田ボール形成用ラ
ンド36と、半田ボールキャリア38のランドパッド1
2とを位置合わせした後、所定温度で所定時間、例えば
120℃で1分間加熱することにより、この導電性ペー
ストを硬化させて、BGA基板34の半田ボール形成用
ランド36と、半田ボールキャリア38のランドパッド
12とを電気的に接続させることができる。なお、上述
する導電性ペーストは、低温かつ短時間で硬化させるこ
とができるので、半田ボール32を溶融・酸化させる心
配は全くない。なお、上述する導電性ペースト30は、
予め製造された半田ボールキャリア38のランドパッド
12に印刷しても良い。
【0025】続いて図5に、本発明の第2態様のボール
グリッドアレイの製造方法の接続工程の一実施例の正面
模式図を示す。同図において、BGA基板34の上面は
既に樹脂封止され、その下面には、半田ボール32を形
成するための半田ボール形成用ランド36が形成されて
いる。また、導体パターンが形成されていない長尺の絶
縁フィルム10上には、上述する印刷法により、BGA
基板34の半田ボール形成用ランド36に応じた位置に
半田ペースト30が連続的に印刷され、半田ペーストキ
ャリア39を構成している。
【0026】このように構成されたBGA基板34と、
半田ペーストキャリア39の半田ペースト30とを位置
合わせして、この半田ペーストキャリア39上にBGA
基板34を載置し、リフロー炉により、所定温度で所定
時間、例えば230℃で15秒間加熱することにより、
導体パターンが形成されていない絶縁フィルム10と半
田とは接合しないので、BGA基板34の半田ボール形
成用ランド36上に半田ボール32を転写し、接合して
形成することができる。なお、この方法により形成され
た半田ボール32は、BGA基板34の荷重により、半
田ボール32が若干沈み込み、その底面も若干平坦にさ
れたものとなり、半田ボール32の高さを均一に調整す
ることができるので好ましい。
【0027】従来、形成された半田ボール32の高さが
均一にならないのは、半田ペースト30の印刷時におけ
る目付半田量のばらつきや、リフロー炉により半田ペー
スト30を加熱して、表面張力を利用して半田ボール3
2を形成していることに依るものである。しかしなが
ら、本発明の第2態様のボールグリッドアレイの製造方
法では、表面張力により球状になろうとする半田ボール
32を、BGA基板34の荷重により押さえているの
で、半田ボール32の底面を平坦にすることができ、半
田ボール32全体、即ち、ボールグリッドアレイ32と
しての高さを均一にすることができる。
【0028】なお、図6に示すように、絶縁フィルム1
0上に直接半田ペースト30を印刷する代わりに、絶縁
フィルム10上に、例えば、半田ボール32と接合しな
い剥離性を有する金属、例えばステンレス板などを耐熱
性接着剤などで貼り付けて、あるいはコート、めっきな
どして、これをエッチングすることにより、剥離性ラン
ド40を全面もしくは部分的に形成させて、この剥離性
ランド40上に半田ペースト30を印刷しても良い。ま
た、リフロー炉で加熱した後に絶縁フィルム10が多少
硬化するが、ステンレス板を耐熱性接着剤などで貼り付
けたままの状態で、このステンレス板の上に半田ペース
ト30を印刷すれば、より簡単である。なお、半田ボー
ル32を形成した後に、このステンレス板を添付してお
き、BGAパッケージの保存・搬送の際に、形成された
半田ボール32の底面の平坦性を保つために使用しても
良い。
【0029】続いて図7に、本発明の第3態様のボール
グリッドアレイの製造方法を適用するTABテープキャ
リアへのボールグリッドアレイの適用例の一実施例の断
面模式図を示す。同図に示すTABテープキャリア42
は、長尺の絶縁フィルム10と、この絶縁フィルム10
上に形成された、インナーリード44および半田ボール
形成用ランド46を含む銅箔パターンと、この銅箔パタ
ーンの半田ボール形成用ランド46上に形成されたボー
ルグリッドアレイ32とから構成されている。図7にお
いては、長尺の絶縁フィルム10に開孔されたデバイス
ホールにLSIチップ48を載置し、このLSIチップ
48の各外部端子と各インナーリード44とを電気的に
接続し、ポッティング封止レジン50を用いてLSIチ
ップ48を封止した後に、銅箔パターンの半田ボール形
成用ランド46上に、上述する印刷法により連続的に半
田ペーストを印刷し、これをリフロー炉により加熱して
ボールグリッドアレイ32を形成させるものである。
【0030】この方法の特徴は、TAB技術を生かすた
めに、LSIチップ48とインナーリード44との接続
にワイヤボンディングを用いておらず、例えば半田など
を用いて接続していることや、LSIチップ48を封止
するために、モールド封止レジンの替わりにポッティン
グ封止レジン50を用いるので薄型、小型にすることが
できることなどである。なお、LSIチップ48を連結
する前にボールグリッドアレイ32を形成させても良い
が、ポッティング封止レジン50のキュア工程、例えば
温度120〜150℃で5〜6時間、およびLSIのバ
ーイン試験、例えば温度150℃で8時間などにおい
て、有機性のガスが発生し、半田ボール32が汚染され
るので、LSIチップ48を連結後にボールグリッドア
レイ32を形成させるのが好ましい。
【0031】(実施例1)まず、幅方向両側に4.75
mmピッチで搬送用のスプロケットホールが開孔され
た、厚さ0.125mm、幅35mmのポリイミドフィ
ルム10を用いて、図2に示した絶縁フィルム10を作
成した。このポリイミドフィルム10において、BGA
基板34のボール形成用ランド36に相当する位置に、
BGA基板34のボール形成用ランド36に相当する数
のスルーホール14を開孔させた。そして、このポリイ
ミドフィルム10に開孔されたスルーホール14の内壁
を含むポリイミドフィルム10の全面に銅めっきを施
し、その後、ホトケミカルエッチング法により、それぞ
れのスルーホール14部分において、ポリイミドフィル
ム10の上面にランドパッド12と、同様に、その下面
に引出し線16の先端に接続されたボールランド18と
を形成させた。
【0032】次に、図1に示した半田ボールの製造装置
を用いて、半田ボールキャリア38を作成した。印刷機
24により、ポリイミドフィルム10のボールランド1
8上に印刷された半田ペースト30は、60Sn−Pb
からなる30〜40μm程度の微細半田粒と、フラック
ス成分と、高分子粘結成分とから構成したもので、ポリ
イミドフィルム10上に印刷された半田ペースト30の
高さは300μm程度であった。また、リフロー炉26
による半田ペースト30のリフロー条件は、予熱温度1
50℃で30秒間加熱した後、リフロー温度230℃で
10秒間加熱するものとした。また、ポリイミドフィル
ム10の搬送には、このポリイミドフィルム10の幅方
向両側に開孔されたスプロケットホールを用いた。送り
出しリール22から引き出されたポリイミドフィルム1
0は、印刷機24により連続的に半田ペースト30が印
刷され、また、リフロー炉26により半田ボール32が
形成され、さらに、この半田ボールキャリア38を巻き
取りリール28へ巻き取ることで、半田ボールキャリア
を連続的に作成することができた。
【0033】なお、本実施例におけるボールグリッドア
レイ32の形状は、外形31×31mm、半田ボール数
400個で、図8に示したように、半田ボール間のピッ
チ1.5mm、半田ボール直径1.0mm、目標高さ
0.6mmであった。また、実施例5を除いて、これ以
後の実施例2〜4においても、これと同一形状のボール
グリッドアレイ32を試作した。
【0034】(実施例2)実施例1において作成した半
田ボールキャリア38を用いて、図4に示したように、
BGA基板34の半田ボール形成用ランド36に、この
半田ボールキャリア38を接合させた。まず、半田ボー
ルキャリア38をBGA基板34に合わせて所定長に切
断した。次いで、BGA基板34の半田ボール形成用ラ
ンド36に、銅の微粉末を含むエポキシ系の導電性ペー
ストを印刷し、半田ボール32が形成された半田ボール
キャリア38のランドパッド12と、BGA基板34の
半田ボール形成用ランド36とを導電性ペーストを介し
て連結した。その後、温度120℃で1分間加熱して硬
化させ、BGA基板34の半田ボール形成用ランド36
に、ポリイミドフィルム10を介して半田ボール32を
接合した。この時、半田ボールキャリア38に形成され
た半田ボール32は、溶融も酸化もしていなかった。
【0035】(実施例3)図5に示した方法を用いて、
半田ボール32をBGA基板上に直接に形成させた。即
ち、厚さ125μm、幅35mmの銅パターンを持たな
いポリイミドフィルム10に半田ペースト30を直接に
連続的に印刷して、半田ペーストキャリア39を作製し
ておき、この半田ペースト30が印刷された半田ペース
トキャリア39の上に、樹脂封止されたBGA基板34
を位置合わせして搭載した後、リフロー炉により加熱し
た。銅パターンを持たないポリイミドフィルム10には
半田が付かないので、リフロー炉により加熱すると、半
田ボール32はBGA基板34の半田ボール形成用ラン
ド36側に形成されていた。但し、この半田ボール32
は、樹脂封止されたBGA基板34の荷重により、若干
沈み込み、半田ボール32の底面も若干平坦になってい
た。また、リフロー炉内において、半田ペーストキャリ
ア39は平坦な板の上を滑って通過するために、平坦度
の高い半田ボール形成が得られ、従来0.6±0.1m
mであった半田ボール32の高さのばらつきを、本発明
では0.6±0.05mmに抑えることができた。
【0036】(実施例4)図6に示した方法を用いて、
半田ボール32をBGA基板34上に直接に形成させ
た。まず、ポリイミドフィルム10上にステンレス板を
耐熱性接着剤で貼り付け、エッチングにより剥離性ラン
ド40を形成させた。これ以後は、実施例3と同様に試
作した。この剥離性ランド40は、ステンレスのパッド
となっており、半田は全く付かなかった。また、実施例
3で試作したボールグリッドアレイ32よりも、さらに
高い平坦度が得られ、半田ボール32の高さを0.6±
0.03mmのばらつきで形成させることができた。
【0037】(実施例5)本発明のボールグリッドアレ
イの製造方法を用いて、図7に示したTABテープキャ
リアを試作した。長尺のTABテープキャリア(絶縁フ
ィルム)42に開孔されたデバイスホールにLSIチッ
プ48を載置して、樹脂封止した後、このTABテープ
キャリア42上に形成された銅箔パターンの半田ボール
形成用ランド46上に、同様に印刷法により連続的に半
田ペースト30を印刷し、これをリフロー炉により加熱
してボールグリッドアレイ32を形成させた。TABの
フォトパブリケーションプロセスにより微細な銅箔パタ
ーンの形成が可能なため、TABテープキャリア42上
に形成されたボールグリッドアレイ32は、半田ボール
間のピッチ1.0mm、半田ボール直径0.6mm、半
田ボール高さ0.5mmに形成することができ、実施例
1〜4と比較して小型のボールグリッドアレイ形状とす
ることができた。
【0038】
【発明の効果】以上詳細に説明した様に、本発明の第1
態様のボールグリッドアレイの製造方法は、BGAパッ
ケージの製造工程とは独立して、長尺の絶縁フィルムに
予め連続的に半田ボールを形成して、半田ボールキャリ
アを製造しておくものである。さらに、樹脂封止された
BGA基板と、この半田ボールキャリアとを、絶縁フィ
ルムごと電気的に接続するものである。従って、本発明
の第1態様のボールグリッドアレイの製造方法によれ
ば、半田ボールの連続的な形成と、酸化防止とを可能と
し、ボールグリッドアレイの製造工程を短縮させること
ができ、BGAパッケージを安価にすることができる。
【0039】また、本発明の第2態様のボールグリッド
アレイの製造方法は、同様に、BGAパッケージの製造
工程とは独立して、長尺の絶縁フィルムに半田ペースト
を予め連続的に印刷して、半田ペーストキャリアを製造
しておくものである。さらに、樹脂封止されたBGA基
板を、半田ペーストキャリアの上に位置合わせして載置
し、この半田ペーストを溶融して絶縁フィルムから半田
を剥離させ、BGA基板の半田ボール形成用ランドに半
田ボールを転写して形成させるものである。従って、本
発明の第2態様のボールグリッドアレイの製造方法によ
れば、半田ボールを形成させる際に、この半田ボールを
BGA基板で押さえるようにするので、形成された半田
ボールは平坦性に優れ、ボールグリッドアレイの高さを
均一に形成することができる。
【0040】また、本発明の第3態様のボールグリッド
アレイの製造方法は、TABテープキャリアの外部接続
手段としてボールグリッドアレイを適用したもので、長
尺の絶縁フィルムに配線パターンと、これに接続された
半田ボール形成用ランドとを形成させ、この半田ボール
形成用ランドに連続的に半田ペーストを印刷して、溶融
させることで、TABテープキャリアに連続的に半田ボ
ールを形成させるものである。従って、本発明の第3態
様のボールグリッドアレイの製造方法によれば、TAB
テープキャリアの製造に用いられるフォトファブリケー
ションプロセスにより、微細パターンを形成させること
ができ、従来よりも小型化、薄型化させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1態様のボールグリッドアレイの
製造方法を適用する半田ボール製造装置の一実施例の模
式図である。
【図2】 (a)および(b)は、それぞれ本発明のボ
ールグリッドアレイの製造方法において、絶縁フィルム
に形成された導体パターンの一実施例の横断面図および
平面図である。
【図3】 (a)は本発明のボールグリッドアレイの製
造方法において、半田ボール形成用ランド上に半田ペー
ストが印刷された絶縁フィルムの一実施例の模式図、
(b)は本発明のボールグリッドアレイの製造方法にお
いて、半田ボール形成用ランド上に半田ボールが形成さ
れた絶縁フィルムの一実施例の模式図である。
【図4】 本発明の第1態様のボールグリッドアレイの
製造方法を適用して製造された半田ボールキャリアと、
BGA基板の半田ボール形成用ランドとを電気的に接続
させる一実施例となる模式図である。
【図5】 本発明の第2態様のボールグリッドアレイの
製造方法の一実施例となる模式図である。
【図6】 剥離性ランドが形成された絶縁フィルム上に
印刷された半田ペーストを、BGA基板の下面に形成さ
れた半田ボール形成用ランド上に半田ボールとして形成
させる本発明のボールグリッドアレイの製造方法の別の
実施例となる模式図である。
【図7】 本発明の第3態様のボールグリッドアレイの
製造方法を適用するTABテープキャリアの一実施例と
なる模式図である。
【図8】 本発明の実施例1〜4において形成された半
田ボールの形状を示す模式図である。
【図9】 BGAパッケージの一例の模式図である。
【図10】 BGAパッケージの一例の部分拡大図であ
る。
【図11】 BGA基板の下面に形成されたボールグリ
ッドアレイ(半田ボール)の一例の平面図である。
【符号の説明】 10 絶縁フィルム 12 ランドパッド 14 スルーホール 16 引出し線 15 導体層18 ボールランド 20 半田ボール製造装置 22 送り出しリール 24 印刷機 26 リフロー炉 28 巻き取りリール 30 半田ペースト 32 半田ボール(ボールグリッドアレイ) 34 BGA基板 36 半田ボール形成用ランド 38 半田ボールキャリア 39 半田ペーストキャリア 40 剥離性ランド 42 TABテープキャリア 44 インナーリード 46 半田ボール形成用ランド 48 半導体素子(LSIチップ) 50 ポッティング封止レジン 52 BGAパッケージ 54 ボンディングワイヤ 56 モールド樹脂 58 ランドパッド 60 スルーホール

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形
    成用ランドに電気的に接続する半田ボールが形成された
    ボールグリッドアレイを製造するに際し、 長尺の連続的な絶縁フィルムの、前記ボールグリッドア
    レイ基板の半田ボール形成用ランドに対応する位置にス
    ルーホールを開孔し、 このスルーホール毎に、前記絶縁フィルムの一方の面に
    ランドパッドと、他方の面にボールランドとを、前記ス
    ルーホールを介して電気的に接続するよう形成し、 この絶縁フィルムのボールランドに半田ペーストを印刷
    した後、この半田ペーストを溶融して半田ボールを形成
    し、予め半田ボールキャリアを製造しておくことを特徴
    とするボールグリッドアレイの製造方法。
  2. 【請求項2】請求項2に記載のボールグリッドアレイの
    製造方法であって、 さらに、前記ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形
    成用ランドあるいは前記半田ボールキャリアのランドパ
    ッドに導電性ペーストを印刷して、 前記ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形成用ラン
    ドと、前記半田ボールキャリアのランドパッドとを位置
    合わせして重ねた後、 これらを加熱して前記導電性ペーストを硬化させ、前記
    ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形成用ランド
    と、前記半田ボールキャリアのボールランドに形成され
    た半田ボールとを電気的に接続することを特徴とするボ
    ールグリッドアレイの製造方法。
  3. 【請求項3】ボールグリッドアレイ基板の半田ボール形
    成用ランドに直接接続する半田ボールが形成されたボー
    ルグリッドアレイを製造するに際し、 長尺の連続的な絶縁フィルムの、前記ボールグリッドア
    レイ基板の半田ボール形成用ランドに対応する位置に、
    直接あるいは剥離性ランドを形成した後、半田ペースト
    を印刷して、 予め半田ペーストキャリアを製造しておくことを特徴と
    するボールグリッドアレイの製造方法。
  4. 【請求項4】請求項4に記載のボールグリッドアレイの
    製造方法であって、 さらに、前記半田ペーストキャリアに印刷された半田ペ
    ーストと、前記ボールグリッドアレイ基板の半田ボール
    形成用ランドとを位置合わせして、前記半田ペーストキ
    ャリアに印刷された半田ペースト上に前記ボールグリッ
    ドアレイ基板を載置した後、 前記半田ペーストを溶融して、半田ボールを前記ボール
    グリッドアレイ基板の半田ボール形成用ランドに転写
    し、形成することを特徴とするボールグリッドアレイの
    製造方法。
  5. 【請求項5】TABテープキャリアに、配線パターン
    と、この配線パターンに接続された半田ボール形成用ラ
    ンドを形成し、 このTABテープキャリアの半田ボール形成用ランドに
    半田ペーストを印刷した後、 前記半田ペーストを溶融して、半田ボールを形成させる
    ことを特徴とするボールグリッドアレイの製造方法。
JP10379694A 1994-05-18 1994-05-18 ボールグリッドアレイの製造方法 Expired - Fee Related JP2864984B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10379694A JP2864984B2 (ja) 1994-05-18 1994-05-18 ボールグリッドアレイの製造方法
JP28926298A JPH11195728A (ja) 1994-05-18 1998-10-12 半田ボールキャリア

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10379694A JP2864984B2 (ja) 1994-05-18 1994-05-18 ボールグリッドアレイの製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28926298A Division JPH11195728A (ja) 1994-05-18 1998-10-12 半田ボールキャリア

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07312399A true JPH07312399A (ja) 1995-11-28
JP2864984B2 JP2864984B2 (ja) 1999-03-08

Family

ID=14363365

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10379694A Expired - Fee Related JP2864984B2 (ja) 1994-05-18 1994-05-18 ボールグリッドアレイの製造方法
JP28926298A Pending JPH11195728A (ja) 1994-05-18 1998-10-12 半田ボールキャリア

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28926298A Pending JPH11195728A (ja) 1994-05-18 1998-10-12 半田ボールキャリア

Country Status (1)

Country Link
JP (2) JP2864984B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG79258A1 (en) * 1999-06-05 2001-03-20 Inst Of Microelectronics Forming solder bumps on semiconductor chips
EP1207727A3 (en) * 2000-11-16 2003-08-13 International Business Machines Corporation Compliant laminate connector

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG79258A1 (en) * 1999-06-05 2001-03-20 Inst Of Microelectronics Forming solder bumps on semiconductor chips
EP1207727A3 (en) * 2000-11-16 2003-08-13 International Business Machines Corporation Compliant laminate connector

Also Published As

Publication number Publication date
JP2864984B2 (ja) 1999-03-08
JPH11195728A (ja) 1999-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6521997B1 (en) Chip carrier for accommodating passive component
KR100718172B1 (ko) 전자 디바이스 및 전자 디바이스 밀봉 방법 및 전자디바이스 접속 방법
US6064111A (en) Substrate for holding a chip of semi-conductor package, semi-conductor package, and fabrication process of semi-conductor package
JPH10270624A (ja) チップサイズパッケージ及びその製造方法
KR19990036235A (ko) 반도체 소자의 실장 방법
TW200818453A (en) Semiconductor package on which a semiconductor device is stacked and production method thereof
JPH01303730A (ja) 半導体素子の実装構造とその製造方法
JPH07312399A (ja) ボールグリッドアレイの製造方法
US8168525B2 (en) Electronic part mounting board and method of mounting the same
JP2988286B2 (ja) Bga型半導体装置及びその製造方法
JP3616742B2 (ja) 半導体パッケージ用チップ支持基板
JP2003133366A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2003023243A (ja) 配線基板
JP3334958B2 (ja) 半導体パッケージ及び半導体パッケージの製造方法
JP2020061542A (ja) 部品内蔵パッケージ構造およびその製造方法
JPH0955448A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2002151627A (ja) 半導体装置、その製造方法および実装方法
JPH0637241A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH0766318A (ja) 半導体装置
JPH09326412A (ja) ハンダボールの取り付け方法
JP2879159B2 (ja) 電気的接続部材及び金属バンプの形成方法
JP3021508B2 (ja) 導電突起の形成方法
CN114430624A (zh) 电路板的制作方法以及电路板
JP2867547B2 (ja) 導電突起の形成方法
JPH11274348A (ja) 補強板付きテープ、補強板付きテープキャリアおよびこれらを用いた半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19981117

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees