JPH07301812A - マトリクス型表示装置およびその断線修復方法 - Google Patents
マトリクス型表示装置およびその断線修復方法Info
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- JPH07301812A JPH07301812A JP9497394A JP9497394A JPH07301812A JP H07301812 A JPH07301812 A JP H07301812A JP 9497394 A JP9497394 A JP 9497394A JP 9497394 A JP9497394 A JP 9497394A JP H07301812 A JPH07301812 A JP H07301812A
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- G02F1/136272—Auxiliary lines
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】断線修復可能で表示性能が優れ、小型で、か
つ、信頼性と歩留りが向上されるマトリクス型表示装置
およびその断線修復方法を提供する。 【構成】マトリクス基板１に、走査用配線２および信号
用配線３と絶縁膜を介して絶縁された第１の修復用配線
６を形成し、マトリクス基板１の外部に第２の修復用配
線７を配設する。
つ、信頼性と歩留りが向上されるマトリクス型表示装置
およびその断線修復方法を提供する。 【構成】マトリクス基板１に、走査用配線２および信号
用配線３と絶縁膜を介して絶縁された第１の修復用配線
６を形成し、マトリクス基板１の外部に第２の修復用配
線７を配設する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マトリクス型表示装置
およびその断線修復方法に関するものである。
およびその断線修復方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】マトリクス型表示装置は、通常２枚の対
向する基板の間に液晶等の表示材料が挟持され、上記基
板の一方には複数の信号用配線および走査用配線それぞ
れ列方向および行方向に形成され、さらに上記信号用配
線と走査用配線との各交点にマトリクス状に画素電極と
この画素電極に選択的に信号電圧を印加するためのトラ
ンジスタ等のスイッチング素子が配列され、このスイッ
チング素子は上記信号用配線と走査用配線に接続されて
上記表示材料に選択的に信号電圧を印加するように構成
されている。
向する基板の間に液晶等の表示材料が挟持され、上記基
板の一方には複数の信号用配線および走査用配線それぞ
れ列方向および行方向に形成され、さらに上記信号用配
線と走査用配線との各交点にマトリクス状に画素電極と
この画素電極に選択的に信号電圧を印加するためのトラ
ンジスタ等のスイッチング素子が配列され、このスイッ
チング素子は上記信号用配線と走査用配線に接続されて
上記表示材料に選択的に信号電圧を印加するように構成
されている。
【０００３】走査用配線あるいは信号用配線に断線が生
じた場合、信号電圧は走査用配線あるいは信号用配線の
一方の端部から入力され、他方の端部は解放となってい
るため、断線部の先には信号電圧が伝わらず線状の欠陥
が生じる。このような欠陥を修復する方法は、例えば、
特開平４ー４２２１５号に示されている。
じた場合、信号電圧は走査用配線あるいは信号用配線の
一方の端部から入力され、他方の端部は解放となってい
るため、断線部の先には信号電圧が伝わらず線状の欠陥
が生じる。このような欠陥を修復する方法は、例えば、
特開平４ー４２２１５号に示されている。
【０００４】図５および図６は、従来のマトリクス型表
示装置の平面図を示し、例えば、特開平４ー４２２１５
号に開示されている。図において、１はマトリクス基
板、２は行方向に平行に配列された走査用配線（Ｙ1，
Ｙ2，Ｙ3，……Ｙn-1，Ｙn）、３は列方向に平行に配列
された信号用配線（Ｘ1，Ｘ2，Ｘ3，……Ｘm-1，Ｘ
m）、４は走査用配線２と信号用配線３の一端に接続さ
れた信号パッド、６は表示部５の外周を取り囲み、走査
用配線２および信号用配線３と絶縁膜を介して形成され
た修復用配線である。
示装置の平面図を示し、例えば、特開平４ー４２２１５
号に開示されている。図において、１はマトリクス基
板、２は行方向に平行に配列された走査用配線（Ｙ1，
Ｙ2，Ｙ3，……Ｙn-1，Ｙn）、３は列方向に平行に配列
された信号用配線（Ｘ1，Ｘ2，Ｘ3，……Ｘm-1，Ｘ
m）、４は走査用配線２と信号用配線３の一端に接続さ
れた信号パッド、６は表示部５の外周を取り囲み、走査
用配線２および信号用配線３と絶縁膜を介して形成され
た修復用配線である。
【０００５】上記のように構成されたマトリクス型表示
装置は、図６に示されるように、信号用配線３のうちの
Ｘhがｂ−ｄ間で断線している場合、信号パッド４から
供給された信号電圧がｃ−ｄ間に供給されず、線欠陥が
生ずる。そこでＸhと修復用配線６との交差部ａおよび
ｃの絶縁膜をレーザ等で破壊してＸhと修復用配線６と
を電気的に接続した後、Ｘhと隣合うＸh+1との間ｇおよ
びｈで修復用配線６をレーザ等で切断して、Ｘh-1の迂
回路ａ−ｆ−ｅ−ｃ−ｄを形成し、信号電圧が供給さ
れ、線状の欠陥が修復されるようにすることができる。
装置は、図６に示されるように、信号用配線３のうちの
Ｘhがｂ−ｄ間で断線している場合、信号パッド４から
供給された信号電圧がｃ−ｄ間に供給されず、線欠陥が
生ずる。そこでＸhと修復用配線６との交差部ａおよび
ｃの絶縁膜をレーザ等で破壊してＸhと修復用配線６と
を電気的に接続した後、Ｘhと隣合うＸh+1との間ｇおよ
びｈで修復用配線６をレーザ等で切断して、Ｘh-1の迂
回路ａ−ｆ−ｅ−ｃ−ｄを形成し、信号電圧が供給さ
れ、線状の欠陥が修復されるようにすることができる。
【０００６】しかし、画面の高精細化あるは大画面化に
より走査線数が増加すると、修復用配線６と走査用配線
２および信号用配線３との交差部が増え、この交差部に
発生する寄生容量が増大し、信号遅延や信号電圧の低下
によって表示品質が低下するという問題が発生する。
より走査線数が増加すると、修復用配線６と走査用配線
２および信号用配線３との交差部が増え、この交差部に
発生する寄生容量が増大し、信号遅延や信号電圧の低下
によって表示品質が低下するという問題が発生する。
【０００７】また、図７に示すように、ｂ−ｄ、ｉ−
ｊ、ｅ−ｆ間に断線が生じた場合、ｂ−ｄ間の修復はで
きてもｉ−ｊ間の修復ができなくなるという問題があ
る。
ｊ、ｅ−ｆ間に断線が生じた場合、ｂ−ｄ間の修復はで
きてもｉ−ｊ間の修復ができなくなるという問題があ
る。
【０００８】図８は上記寄生容量の増大を抑制し線状欠
陥を修復する従来の方法を示す平面図であり、例えば、
特開平２ー１２３３３号に開示されている。図に示され
ているように、マトリクス基板１上に、表示部５の走査
用配線と信号用配線の一端より駆動信号を供給する半導
体集積回路３３が設けられ、この外側に接続パッド５６
を有する修復用配線４７を配置し、走査用配線または信
号用配線に形成された接続パッド４９、５０と修復用配
線４７の接続パッド５６とをワイヤーボンディング５２
等で接続するようにしたもので、半導体集積回路３３の
外側に修復用配線４７を配置して走査線および信号線と
の交差部をなくしたものである。
陥を修復する従来の方法を示す平面図であり、例えば、
特開平２ー１２３３３号に開示されている。図に示され
ているように、マトリクス基板１上に、表示部５の走査
用配線と信号用配線の一端より駆動信号を供給する半導
体集積回路３３が設けられ、この外側に接続パッド５６
を有する修復用配線４７を配置し、走査用配線または信
号用配線に形成された接続パッド４９、５０と修復用配
線４７の接続パッド５６とをワイヤーボンディング５２
等で接続するようにしたもので、半導体集積回路３３の
外側に修復用配線４７を配置して走査線および信号線と
の交差部をなくしたものである。
【０００９】しかし、各配線を形成する工程でどの配線
が断線するか判らないため、すべての走査用配線および
信号用配線に接続パッドを設けることが必要になる。こ
のため、接続パッド４９、５０の大きさは１００μｍ角
程度となり、特に高精細のマトリックス表示装置では数
十μｍ角となって、ワイヤーボンディング等の接続技術
を困難にするとともに、修復用配線４７を微細な径のも
のにする必要が生じ、上記図８のマトリックス型表示装
置は信頼性と歩留りを低下させる原因となっていた。
が断線するか判らないため、すべての走査用配線および
信号用配線に接続パッドを設けることが必要になる。こ
のため、接続パッド４９、５０の大きさは１００μｍ角
程度となり、特に高精細のマトリックス表示装置では数
十μｍ角となって、ワイヤーボンディング等の接続技術
を困難にするとともに、修復用配線４７を微細な径のも
のにする必要が生じ、上記図８のマトリックス型表示装
置は信頼性と歩留りを低下させる原因となっていた。
【００１０】また、修復用配線４７が半導体集積回路３
３の外側に配置されるため、マトリクス基板１が大きく
なり、従って、マトリクス型表示装置の外形も拡大し、
ポータブル化を妨げる原因となっていた。
３の外側に配置されるため、マトリクス基板１が大きく
なり、従って、マトリクス型表示装置の外形も拡大し、
ポータブル化を妨げる原因となっていた。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】本願発明は、上記のよ
うな問題を解決して、ポータブル化を妨げることなく寄
生容量の増大を抑制して線状欠陥の修復を可能にするす
るとともに、信頼性と歩留りを向上することを目的とす
る。
うな問題を解決して、ポータブル化を妨げることなく寄
生容量の増大を抑制して線状欠陥の修復を可能にするす
るとともに、信頼性と歩留りを向上することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
マトリクス状に配列された走査用配線と信号用配線およ
び表示部を有するマトリクス基板、上記マトリクス基板
に対向する対向基板、上記マトリクス基板と対向基板の
間に挟持された表示材料を備えたマトリクス型表示装置
において、上記マトリクス基板に上記走査用配線および
信号用配線と絶縁膜を介して第１の修復用配線が形成さ
れ、上記マトリクス基板の外部に第２の修復用配線が配
設されたものである。
マトリクス状に配列された走査用配線と信号用配線およ
び表示部を有するマトリクス基板、上記マトリクス基板
に対向する対向基板、上記マトリクス基板と対向基板の
間に挟持された表示材料を備えたマトリクス型表示装置
において、上記マトリクス基板に上記走査用配線および
信号用配線と絶縁膜を介して第１の修復用配線が形成さ
れ、上記マトリクス基板の外部に第２の修復用配線が配
設されたものである。
【００１３】請求項２に係る発明は、請求項１記載のマ
トリクス型表示装置において、第２の修復用配線が対向
基板に配設されているものである。
トリクス型表示装置において、第２の修復用配線が対向
基板に配設されているものである。
【００１４】請求項３に係る発明は、請求項１記載のマ
トリクス型表示装置において、マトリクス基板上に、第
２の修復用配線と電気的に接続するための複数個の接続
端子が設けられているものである。
トリクス型表示装置において、マトリクス基板上に、第
２の修復用配線と電気的に接続するための複数個の接続
端子が設けられているものである。
【００１５】請求項４に係る発明は、請求項１記載のマ
トリクス型表示装置において、マトリクス基板上に接続
端子が形成され、上記接続端子は絶縁膜に形成されたス
ルーホールを介して第１の修復用配線と電気的に接続さ
れているものである。
トリクス型表示装置において、マトリクス基板上に接続
端子が形成され、上記接続端子は絶縁膜に形成されたス
ルーホールを介して第１の修復用配線と電気的に接続さ
れているものである。
【００１６】請求項５に係る発明は、請求項１〜３いず
れかに記載のマトリクス型表示装置において、第１の修
復用配線と走査用配線または信号用配線との交差部の絶
縁膜を破壊して上記第１の修復用配線と走査用配線また
は信号用配線とを電気的に接続し、この接続部の両側の
上記第１の修復用配線を切断し、上記接続部と第２の修
復用配線とを電気的に接続する断線修復方法である。
れかに記載のマトリクス型表示装置において、第１の修
復用配線と走査用配線または信号用配線との交差部の絶
縁膜を破壊して上記第１の修復用配線と走査用配線また
は信号用配線とを電気的に接続し、この接続部の両側の
上記第１の修復用配線を切断し、上記接続部と第２の修
復用配線とを電気的に接続する断線修復方法である。
【００１７】請求項６に係る発明は、請求項４に記載の
マトリクス型表示装置において、第１の修復用配線と走
査用配線または信号用配線との交差部の絶縁膜を破壊し
て上記第１の修復用配線と走査用配線または信号用配線
とを電気的に接続し、この接続部の両側の上記第１の修
復用配線を切断し、接続端子と第２の修復用配線とを電
気的に接続する断線修復方法である。
マトリクス型表示装置において、第１の修復用配線と走
査用配線または信号用配線との交差部の絶縁膜を破壊し
て上記第１の修復用配線と走査用配線または信号用配線
とを電気的に接続し、この接続部の両側の上記第１の修
復用配線を切断し、接続端子と第２の修復用配線とを電
気的に接続する断線修復方法である。
【００１８】
【作用】請求項１、請求項５および請求項６に係る発明
によれば、第１の修復配線と走査用配線または信号用配
線とを電気的に接続し、さらに、上記第１の修復用配線
とマトリクス基板の外部に設けた上記第２の修復用配線
とを電気的に接続することによって断線を修復すること
ができ、上記第２の修復用配線は交差部がなく寄生容量
が減少するので、表示品質の低下を抑えることができる
とともに、上記マトリクス基板の外部に上記第２の修復
用配線を設けたので、上記マトリクス基板を大きくする
必要がなくなり上記第２の修復用配線を微細な径にする
必要もなく、接続が容易にでき、信頼性および歩留りも
向上する。
によれば、第１の修復配線と走査用配線または信号用配
線とを電気的に接続し、さらに、上記第１の修復用配線
とマトリクス基板の外部に設けた上記第２の修復用配線
とを電気的に接続することによって断線を修復すること
ができ、上記第２の修復用配線は交差部がなく寄生容量
が減少するので、表示品質の低下を抑えることができる
とともに、上記マトリクス基板の外部に上記第２の修復
用配線を設けたので、上記マトリクス基板を大きくする
必要がなくなり上記第２の修復用配線を微細な径にする
必要もなく、接続が容易にでき、信頼性および歩留りも
向上する。
【００１９】請求項２に係る発明によれば、第２の修復
用配線を対向基板に設けて上記対向基板のスペースを利
用しているので、マトリクス基板の外形を小さくすると
ともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で小型
なものとすることができる。
用配線を対向基板に設けて上記対向基板のスペースを利
用しているので、マトリクス基板の外形を小さくすると
ともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で小型
なものとすることができる。
【００２０】請求項３に係る発明によれば、第２の修復
用配線と電気的に接続するための複数個の接続端子が設
けられているので、複数個の断線修復に対応することが
できる。
用配線と電気的に接続するための複数個の接続端子が設
けられているので、複数個の断線修復に対応することが
できる。
【００２１】請求項４に係る発明によれば、第１の修復
用配線と接続端子との電気的な接続を、絶縁膜に設けた
スルーホール介して行うことによって、上記接続をマト
リクス基板の面から突出しないようにすることができ
る。
用配線と接続端子との電気的な接続を、絶縁膜に設けた
スルーホール介して行うことによって、上記接続をマト
リクス基板の面から突出しないようにすることができ
る。
【００２２】
実施例１．図１は本発明によるマトリクス型表示装置の
一実施例を示す平面図であり、図２は図１の部分拡大断
面図である。図に示すように、マトリクス基板１上に、
行方向に平行な、例えば、Ｃｒ（クロム）からなる走査
用配線（Ｙ1，Ｙ2，Ｙ3，……Ｙn-1，Ｙn）２、この走
査用配線２と絶縁されて列方向に平行な、例えば、Ａｌ
（アルミニウム）からなる信号用配線（Ｘ1，Ｘ2，Ｘ
3，…Ｘj…Ｘk-1，Ｘk，…Ｘm-1，Ｘm）３、走査用配線
２と信号用配線３の一端に接続された信号パッド４並び
に表示部５の外周を取り囲み、走査用配線２および信号
用配線３と絶縁膜で絶縁された第１の修復用配線６、１
群の信号用配線毎に接続端子８が形成され、マトリクス
基板１の外部に別途形成された第２の修復用配線７が配
設されている。上記第１および第２の修復用配線６、７
はＡｌ，Ｃｒなどの導電性の良い材料を用いて形成され
ている。
一実施例を示す平面図であり、図２は図１の部分拡大断
面図である。図に示すように、マトリクス基板１上に、
行方向に平行な、例えば、Ｃｒ（クロム）からなる走査
用配線（Ｙ1，Ｙ2，Ｙ3，……Ｙn-1，Ｙn）２、この走
査用配線２と絶縁されて列方向に平行な、例えば、Ａｌ
（アルミニウム）からなる信号用配線（Ｘ1，Ｘ2，Ｘ
3，…Ｘj…Ｘk-1，Ｘk，…Ｘm-1，Ｘm）３、走査用配線
２と信号用配線３の一端に接続された信号パッド４並び
に表示部５の外周を取り囲み、走査用配線２および信号
用配線３と絶縁膜で絶縁された第１の修復用配線６、１
群の信号用配線毎に接続端子８が形成され、マトリクス
基板１の外部に別途形成された第２の修復用配線７が配
設されている。上記第１および第２の修復用配線６、７
はＡｌ，Ｃｒなどの導電性の良い材料を用いて形成され
ている。
【００２３】図２は、図１の構成において断線が生じた
時の修復方法を説明する平面図である。図に示されてい
るように、信号用配線３のうちのｘjに断線（ｇ−ｈ）
が生じた時、まず、Ｘjと第１の修復用配線６との交点
ａおよびｂに約５〜１０μｍ径のレーザを数箇所照射
し、Ｘjと第１の修復用配線６との間の絶縁膜を破壊し
て、Ｘjと第１の修復用配線６とを電気的に接続する。
図３はレーザ照射によって絶縁膜が破壊され、Ｘjと第
１の修復用配線６とが電気的に接続された状態を示す断
面図である。
時の修復方法を説明する平面図である。図に示されてい
るように、信号用配線３のうちのｘjに断線（ｇ−ｈ）
が生じた時、まず、Ｘjと第１の修復用配線６との交点
ａおよびｂに約５〜１０μｍ径のレーザを数箇所照射
し、Ｘjと第１の修復用配線６との間の絶縁膜を破壊し
て、Ｘjと第１の修復用配線６とを電気的に接続する。
図３はレーザ照射によって絶縁膜が破壊され、Ｘjと第
１の修復用配線６とが電気的に接続された状態を示す断
面図である。
【００２４】次に、第１の修復用配線６のＸj近傍ｂお
よびｅと接続端子８とをワイヤーボンディング等の方法
で電気的に接続した後、第１の修復用配線６のｉ，ｊ，
ｋおよびｌを上記レーザ照射等の方法で切断する。
よびｅと接続端子８とをワイヤーボンディング等の方法
で電気的に接続した後、第１の修復用配線６のｉ，ｊ，
ｋおよびｌを上記レーザ照射等の方法で切断する。
【００２５】さらに、マトリクス基板に形成された接続
端子８とマトリクス基板の外部に設けられた第２の修復
用配線７とを電気的に接続することによって、ａ→ｂ→
接続端子８→第２の修復配線７→接続端子８→ｅ→ｆ→
ｈの迂回経路が形成され、断線箇所の先端にも信号電圧
が供給される。
端子８とマトリクス基板の外部に設けられた第２の修復
用配線７とを電気的に接続することによって、ａ→ｂ→
接続端子８→第２の修復配線７→接続端子８→ｅ→ｆ→
ｈの迂回経路が形成され、断線箇所の先端にも信号電圧
が供給される。
【００２６】上記構成のマトリクス型表示装置によれ
ば、第１の修復配線６と走査用配線２または信号用配線
３とを電気的に接続し、さらに、マトリクス基板１の外
部に設けた第２の修復用配線７とを電気的に接続するこ
とによって断線を修復することができ、第２の修復用配
線７は交差部がなく寄生容量が減少するので、表示品質
の低下を抑えることができるとともに、マトリクス基板
１の外部に第２の修復用配線７を設けたので、マトリク
ス基板１を大きくする必要がなくなり第２の修復用配線
７を微細な径にする必要もなく、接続が容易にでき、信
頼性および歩留りも向上する。
ば、第１の修復配線６と走査用配線２または信号用配線
３とを電気的に接続し、さらに、マトリクス基板１の外
部に設けた第２の修復用配線７とを電気的に接続するこ
とによって断線を修復することができ、第２の修復用配
線７は交差部がなく寄生容量が減少するので、表示品質
の低下を抑えることができるとともに、マトリクス基板
１の外部に第２の修復用配線７を設けたので、マトリク
ス基板１を大きくする必要がなくなり第２の修復用配線
７を微細な径にする必要もなく、接続が容易にでき、信
頼性および歩留りも向上する。
【００２７】また、複数個の接続端子８を形成したので
複数個の断線に対応することができる。
複数個の断線に対応することができる。
【００２８】なお、第１の修復用配線６と接続端子８と
の電気的な接続は、絶縁膜にスルーホールを設け、この
スルーホール介して行うことによって、マトリクス基板
の面から突出しないようにするとともに、第１の修復用
配線トノワイヤーボンデイングにおける技術上および信
頼性の問題が解決できる。
の電気的な接続は、絶縁膜にスルーホールを設け、この
スルーホール介して行うことによって、マトリクス基板
の面から突出しないようにするとともに、第１の修復用
配線トノワイヤーボンデイングにおける技術上および信
頼性の問題が解決できる。
【００２９】実施例２．図４は本発明によるマトリクス
型表示装置の他の実施例を示す平面図である。図におい
て、１はマトリクス基板、９は対向基板である。マトリ
クス基板１上には、実施例１と同様に走査用配線２、信
号用配線３、信号パッド４、第１の修復用配線６および
第１の修復用配線６のｂおよｅに電気的に接続された接
続端子８が形成され、対向基板９上には、接続端子８と
対向する第２接続端子１０とこれに電気的に接続された
第２の修復用配線７が配置されている。第２接続端子１
０および第２の修復用配線７は共通電極１１の外周部に
設けられ、共通電極１１に電圧を供給するための共通電
極用配線（図示せず）と絶縁されている。
型表示装置の他の実施例を示す平面図である。図におい
て、１はマトリクス基板、９は対向基板である。マトリ
クス基板１上には、実施例１と同様に走査用配線２、信
号用配線３、信号パッド４、第１の修復用配線６および
第１の修復用配線６のｂおよｅに電気的に接続された接
続端子８が形成され、対向基板９上には、接続端子８と
対向する第２接続端子１０とこれに電気的に接続された
第２の修復用配線７が配置されている。第２接続端子１
０および第２の修復用配線７は共通電極１１の外周部に
設けられ、共通電極１１に電圧を供給するための共通電
極用配線（図示せず）と絶縁されている。
【００３０】図４に示したように、信号用配線３のうち
のＸ1にｇ−ｈの断線が発生したとき、Ｘ1と第１の修復
用配線６との交差点ａおよびｆの絶縁膜をレーザ照射等
の方法で破壊してＸ1と第１の修復用配線６とを電気的
に接続する。次に、Ｘ1とＸ2との間およびｂおよびｅの
間のｉおよびｊの位置で第１の修復用配線６をレーザ照
射等の方法で切断し、接続端子８と対向する第２接続端
子１０とを導電ペースト等を介して突き合わせることに
よって修復される。
のＸ1にｇ−ｈの断線が発生したとき、Ｘ1と第１の修復
用配線６との交差点ａおよびｆの絶縁膜をレーザ照射等
の方法で破壊してＸ1と第１の修復用配線６とを電気的
に接続する。次に、Ｘ1とＸ2との間およびｂおよびｅの
間のｉおよびｊの位置で第１の修復用配線６をレーザ照
射等の方法で切断し、接続端子８と対向する第２接続端
子１０とを導電ペースト等を介して突き合わせることに
よって修復される。
【００３１】上記マトリクス型表示装置によれば、第２
の修復用配線７を対向基板に設けて対向基板のスペース
を利用しているので、マトリクス基板の外形を小さくす
るとともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で
小型なものとすることができる。
の修復用配線７を対向基板に設けて対向基板のスペース
を利用しているので、マトリクス基板の外形を小さくす
るとともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で
小型なものとすることができる。
【００３２】
【発明の効果】請求項１、請求項５および請求項６に係
る発明によれば、第１の修復用配線と走査用配線または
信号用配線とを電気的に接続し、さらに、上記第１の修
復用配線とマトリクス基板の外部に設けた上記第２の修
復用配線とを電気的に接続することによって断線を修復
することができ、上記第２の修復用配線は交差部がなく
寄生容量が減少するので、表示品質の低下を抑えること
ができるとともに、上記マトリクス基板の外部に上記第
２の修復用配線を設けたので、上記マトリクス基板を大
きくする必要がなくなり上記第２の修復用配線を微細な
径にする必要もなく、接続が容易にでき、信頼性および
歩留りも向上する。
る発明によれば、第１の修復用配線と走査用配線または
信号用配線とを電気的に接続し、さらに、上記第１の修
復用配線とマトリクス基板の外部に設けた上記第２の修
復用配線とを電気的に接続することによって断線を修復
することができ、上記第２の修復用配線は交差部がなく
寄生容量が減少するので、表示品質の低下を抑えること
ができるとともに、上記マトリクス基板の外部に上記第
２の修復用配線を設けたので、上記マトリクス基板を大
きくする必要がなくなり上記第２の修復用配線を微細な
径にする必要もなく、接続が容易にでき、信頼性および
歩留りも向上する。
【００３３】請求項２に係る発明によれば、第２の修復
用配線を対向基板に設けて上記対向基板のスペースを利
用しているので、マトリクス基板の外形を小さくすると
ともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で小型
なものとすることができる。
用配線を対向基板に設けて上記対向基板のスペースを利
用しているので、マトリクス基板の外形を小さくすると
ともに、マトリクス型表示装置を断線修復が可能で小型
なものとすることができる。
【００３４】請求項３に係る発明によれば、複数個の断
線修復に対応することができる。
線修復に対応することができる。
【００３５】請求項４に係る発明によれば、第１の修復
用配線と接続端子との電気的な接続を、絶縁膜にスルー
ホールを設け、このスルーホール介して行うことによっ
て、マトリクス基板の面から突出しないようにすること
ができる。
用配線と接続端子との電気的な接続を、絶縁膜にスルー
ホールを設け、このスルーホール介して行うことによっ
て、マトリクス基板の面から突出しないようにすること
ができる。
【図１】本発明のマトリクス型表示装置の一実施例を示
す平面図である。
す平面図である。
【図２】図１のマトリクス型表示装置の断線修復方法を
説明する平面図である。
説明する平面図である。
【図３】図２のマトリクス型表示装置の部分拡大断面図
である。
である。
【図４】本発明のマトリクス型表示装置の他の実施例を
示す平面図である。
示す平面図である。
【図５】従来のマトリクス型表示装置の一実施例を示す
平面図である。
平面図である。
【図６】図５のマトリクス型表示装置の断線修復方法を
説明する平面図である。
説明する平面図である。
【図７】図５のマトリクス型表示装置の断線修復方法を
説明する平面図である。
説明する平面図である。
【図８】従来のマトリクス型表示装置の他の実施例を示
す平面図である。
す平面図である。
【符号の説明】 １ マトリクス基板、２ 走査用配線、３ 信号用配
線、４信号パッド、５ 表示部、６ 第１の修復用配
線、７ 第２の修復用配線、８接続端子、９ 対向基
板、１０ 第２接続端子、１１ 共通電極
線、４信号パッド、５ 表示部、６ 第１の修復用配
線、７ 第２の修復用配線、８接続端子、９ 対向基
板、１０ 第２接続端子、１１ 共通電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 谷内 滋 熊本県菊池郡西合志町御代志997番地 株 式会社アドバンスト・ディスプレイ内
Claims (6)
- 【請求項１】マトリクス状に配列された走査用配線と信
号用配線および表示部を有するマトリクス基板、上記マ
トリクス基板に対向する対向基板、上記マトチクス基板
と対向基板の間に挟持された表示材料を備えたマトリク
ス型表示装置において、上記マトリクス基板に上記走査
用配線および信号用配線と絶縁膜を介して第１の修復用
配線が形成され、上記マトリクス基板の外部に第２の修
復用配線が配設されたことを特徴とするマトリクス型表
示装置。 - 【請求項２】第２の修復用配線が対向基板に配設されて
いることを特徴とする請求項１記載のマトリクス型表示
装置。 - 【請求項３】マトリクス基板上に、第２の修復用配線と
電気的に接続するための複数個の接続端子が設けられて
いることを特徴とする請求項１記載のマトリクス型表示
装置。 - 【請求項４】マトリクス基板上に接続端子が形成され、
上記接続端子は絶縁膜に形成されたスルーホールを介し
て第１の修復用配線と電気的に接続されていることを特
徴とする請求項１記載のマトリクス型表示装置。 - 【請求項５】請求項１〜３いずれかに記載のマトリクス
型表示装置において、第１の修復用配線と走査用配線ま
たは信号用配線との交差部の絶縁膜を破壊して上記第１
の修復用配線と走査用配線または信号用配線とを電気的
に接続し、この接続部を含む両側の上記第１の修復用配
線を切断し、上記接続部と第２の修復用配線とを電気的
に接続することを特徴とする断線修復方法。 - 【請求項６】請求項４に記載のマトリクス型表示装置に
おいて、第１の修復用配線と走査用配線または信号用配
線との交差部の絶縁膜を破壊して上記第１の修復用配線
と走査用配線または信号用配線とを電気的に接続し、こ
の接続部を含む両側の上記第１の修復用配線を切断し、
接続端子と第２の修復用配線とを電気的に接続すること
を特徴とする断線修復方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9497394A JP3281176B2 (ja) | 1994-05-09 | 1994-05-09 | マトリクス型表示装置およびその断線修復方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9497394A JP3281176B2 (ja) | 1994-05-09 | 1994-05-09 | マトリクス型表示装置およびその断線修復方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07301812A true JPH07301812A (ja) | 1995-11-14 |
| JP3281176B2 JP3281176B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=14124861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9497394A Expired - Lifetime JP3281176B2 (ja) | 1994-05-09 | 1994-05-09 | マトリクス型表示装置およびその断線修復方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3281176B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20010063594A (ko) * | 1999-12-23 | 2001-07-09 | 박종섭 | 박막 트랜지스터 액정 표시소자의 리페어 방법 및 그 장치 |
| KR100477129B1 (ko) * | 1997-08-25 | 2005-07-18 | 삼성전자주식회사 | 수리선을가진액정표시장치 |
| KR100685295B1 (ko) * | 2000-05-10 | 2007-02-22 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 신호전송 배선 수리방법 |
| CN105807517A (zh) * | 2016-05-12 | 2016-07-27 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板及其断线修复方法 |
-
1994
- 1994-05-09 JP JP9497394A patent/JP3281176B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100477129B1 (ko) * | 1997-08-25 | 2005-07-18 | 삼성전자주식회사 | 수리선을가진액정표시장치 |
| KR20010063594A (ko) * | 1999-12-23 | 2001-07-09 | 박종섭 | 박막 트랜지스터 액정 표시소자의 리페어 방법 및 그 장치 |
| KR100685295B1 (ko) * | 2000-05-10 | 2007-02-22 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치의 신호전송 배선 수리방법 |
| CN105807517A (zh) * | 2016-05-12 | 2016-07-27 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 阵列基板及其断线修复方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3281176B2 (ja) | 2002-05-13 |
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