JPH07297345A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents

半導体装置用リードフレーム

Info

Publication number
JPH07297345A
JPH07297345A JP6091137A JP9113794A JPH07297345A JP H07297345 A JPH07297345 A JP H07297345A JP 6091137 A JP6091137 A JP 6091137A JP 9113794 A JP9113794 A JP 9113794A JP H07297345 A JPH07297345 A JP H07297345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bus bar
wire
inner lead
lead frame
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6091137A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoya Ishida
基哉 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP6091137A priority Critical patent/JPH07297345A/ja
Publication of JPH07297345A publication Critical patent/JPH07297345A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48095Kinked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】インナリードからバスバーを越えて半導体チッ
プにボンディングするボンディング距離を短く保ちなが
ら、ワイヤのバスバーへの短絡不良を低減する。 【構成】バスバー6をせん断加工により垂直方向にダウ
ンセットする。せん断加工の深さは絶縁フィルム9の厚
さよりも浅くする。ダウンセット加工されたバスバー6
を越えてインナリード2から半導体チップ11上にワイ
ヤボンディングすると、ワイヤ8とバスバー6との距離
3 を大きく取れ、しかもワイヤ長l3 も曲げ加工によ
りダウンセットした場合に比して短くて済む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は絶縁フィルムを介して半
導体チップ上に接着される半導体装置用リードフレーム
に係り、特にボンディングワイヤのバスバーへの接触を
なくすように改善したものに関する。
【0002】
【従来の技術】IC、なかでもDRAMは、近年、メモ
リ容量が増加し、これに伴って半導体チップも大型化し
てきている。半導体チップの配線面に絶縁フィルムを介
してリードを接着する構造のパッケージは、LOC(L
ead On Chip)構造のパッケージと呼ばれて
いる。このLOC構造タイプの半導体装置用パッケージ
は、金属タブにチップを搭載する従来構造のパッケージ
や、リードに絶縁フィルムを介してチップを接着するC
OL(Chip On Lead)構造と呼ばれるもの
に比べ、パッケージに対するチップの占有率を高めてい
る。
【0003】そのリードフレーム形状は、例えば、図3
に示すようになってる。リード1はインナリード2とア
ウタリード3とから主に構成され、その中間部がダムバ
ー4によって外枠5に保持される。インナリード2の内
側にはさらに電源を共通化するバスバー6が設けられ
る。バスバー6はリード1の方向に対して直交する方向
に走っているが、途中でインナリード2、2間に入り込
む枝路7を何本か持っている。この枝路7は図3のA部
拡大図であある図4に示すように、バスバー6とインナ
リード2とのワイヤ8のボンディング位置条件を同じに
するために設けられる。
【0004】このリードフレーム10はインナリード2
とバスバー枝路7との裏面側に、両面に接着剤を塗布し
た絶縁樹脂9の一面を貼り付け、絶縁樹脂9の他面に半
導体チップ11を貼り付ける。そして、インナリード2
からバスバー6を越えて半導体チップ11のボンディン
グパッドにワイヤ8をボンディングする。バスバー6の
枝路7からも半導体チップ11に同じ条件でボンディン
グされる。ボンディング後、中央部からダムバー4の部
分までモールド樹脂で封止され最終的にパッケージ化さ
れる。
【0005】上述したインナリード2からバスバー6を
越えて半導体チップ11のボンディングパッドにワイヤ
8をループ状にボンディングするが、そのとき図4のV
−V線矢視断面図である図5に示すように、インナリー
ド2の延長上にバスバー6があるので、ワイヤ8とバス
バー6との距離d1 が近く、ワイヤ8の撓みなどによる
バスバー6への短絡が問題となる。
【0006】このため、少しでもワイヤ8とバスバー6
との距離d1 を遠くするために、従来は、図6のよう
に、バスバー6にダウンセットをかけることにより、バ
スバー6をインナリード2の位置よりも下にしてワイヤ
8の接触防止を図っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したバスバーのダ
ウンセット加工は、従来構造やCOLタイプのリードフ
レームに施されているダウンセット加工と同様に、曲げ
加工によっている。このため、ワイヤ8の接触防止は図
れるものの、バスバーに斜めの延長部分が生じるので広
い範囲でリードにダウンセットを施すことになり、イン
ナリード2からバスバー6を越えてボンディングされる
ワイヤのワイヤ長l2 が、ダウンセットしない図5のワ
イヤ長l1 に比較して長くなってしまう。
【0008】しかし、LOCタイプのパッケージは、一
方で、より小型化を目的としているため、狭い範囲でダ
ウンセットを施すとともに、ワイヤ8を可能な限り短く
することが要請され、その点から言って、比較的広い加
工範囲を必要とする曲げ加工は望ましくない。また、ワ
イヤ8の使用長が長くなり材料コストが増加する点も望
ましくない。
【0009】本発明の目的は、狭い範囲でリードにダウ
ンセット加工を施すことによって、前述した従来技術の
欠点を解消し、ワイヤ使用長が短く、パッケージサイズ
を大きくすることなくバスバーへのボンディングワイヤ
の接触防止を図ることが可能な半導体装置用リードフレ
ームを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体チップ
上に絶縁フィルムを介してインナリードが接着され、該
インナリードからインナリードの内側にあるバスバーを
越えて半導体チップにワイヤボンディングされる半導体
装置用リードフレームにおいて、バスバーをせん断加工
によりダウンセットしたものである。
【0011】
【作用】せん断加工によりバスバーにダウンセットを施
すと、曲げ加工のように斜めの部分が生じることなく、
バスバーを厚さ方向に垂直に下げることができる。した
がって、曲げ加工によりダウンセットを施した場合より
も加工長が短くなるため、パッケージサイズを大きくす
ることなくボンディングワイヤの短絡不良を大幅に低減
することができる。
【0012】
【実施例】以下、本発明の半導体装置用リードフレーム
の実施例を図1を用いて説明する。半導体装置用リード
フレーム10は、従来例と同様に半導体チップ11上に
絶縁フィルム9を介してインナリード2が接着された構
造になっている。絶縁フィルム9は半導体チップ11と
インナリード2との間に介在しているが、ダウンセット
加工を施すためにバスバー6との間には介在していな
い。バスバー6は、枝路7(図3、図4参照)との間
で、その厚さ方向に、せん断加工によるダウンセット加
工が施される。せん断加工によりバスバー6にダウンセ
ット加工を施すと、曲げ加工のように斜めの加工部分が
生じることなく、バスバー6を厚さ方向に垂直に下げる
ことができる。
【0013】せん断によるダウンセット加工後、押し下
げられたバスバー6を越えてインナリード2からワイヤ
8をICチップ11のボンディングパッドにボンディン
グする。すると、ワイヤ8とバスバー6との距離d3
大きく取れるので、ワイヤ8がバスバー6と接触するの
を大幅に低減できる。また、ダウンセットをせん断加工
により施したので、曲げ加工によりダウンセット加工を
施した場合よりも、狭い範囲でバスバー6にダウンセッ
トを施すことができるから、パッケージの小型化が図れ
る。また、ワイヤ8の使用長さl3 もダウンセットしな
い場合と同程度に短くすることが可能であり、材料コス
トの軽減が図れる。特にワイヤが金線である場合にはそ
のコスト低減はより大きなものとなる。
【0014】バスバー6に対する厚さ方向のせん断深さ
は任意であるが、半導体チップ11に接触しないように
するため、絶縁フィルム9の厚さよりも深くてはいけな
い。通常、絶縁フィルム9の厚さはその両面に設けた接
着剤を含めて100μm程度であるので、それより浅く
せん断加工する。
【0015】なお、LOCタイプのリードフレームでは
バスバー以外にも、図2に示すように、インナリード2
を半導体チップ11に接触しないようにするために、イ
ンナリード2にもダウンセット加工を施すが、この部分
についても、せん断加工を用いることができる。このよ
うにすると、LOC構造のパッケージをより小型化する
ことができる。
【0016】
【発明の効果】本発明はバスバーをせん断加工によりダ
ウンセットして、斜めの部分が生じないようにしたの
で、ワイヤ使用長を短く抑えることができるとともに、
パッケージサイズを大きくすることなくボンディングワ
イヤの短絡不良を大幅に低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体装置用リードフレームの実施例
を説明するためのバスバーにせん断加工によるダウンセ
ットを施した断面図である。
【図2】本実施例のバスバーに加えてせん断加工により
ダウンセットを施したインナリードの斜視図。
【図3】本発明と従来例とに共通するLOCタイプのリ
ードフレーム例の平面図である。
【図4】図3のA部の拡大図である。
【図5】図4のV−V線矢視断面図である。
【図6】図5のバスバーに曲げ加工によるダウンセット
を施した断面図である。
【符号の説明】
2 インナリード 6 バスバー 8 ワイヤ 9 絶縁フィルム 10 リードフレーム 11 半導体チップ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体チップ上に絶縁フィルムを介してイ
    ンナリードが接着され、該インナリードからインナリー
    ドの内側にあるバスバーを越えて半導体チップにワイヤ
    ボンディングされる半導体装置用リードフレームにおい
    て、上記バスバーをせん断加工によりダウンセットした
    ことを特徴とする半導体装置用リードフレーム。
  2. 【請求項2】上記インナリードがさらにせん断加工によ
    りダウンセットされていることを特徴とする請求項1に
    記載の半導体装置用リードフレーム。
JP6091137A 1994-04-28 1994-04-28 半導体装置用リードフレーム Pending JPH07297345A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6091137A JPH07297345A (ja) 1994-04-28 1994-04-28 半導体装置用リードフレーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6091137A JPH07297345A (ja) 1994-04-28 1994-04-28 半導体装置用リードフレーム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07297345A true JPH07297345A (ja) 1995-11-10

Family

ID=14018149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6091137A Pending JPH07297345A (ja) 1994-04-28 1994-04-28 半導体装置用リードフレーム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07297345A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09213842A (ja) * 1995-12-18 1997-08-15 Lg Semicon Co Ltd Loc半導体パッケージ及びその製造方法
JP2016004887A (ja) * 2014-06-17 2016-01-12 Shマテリアル株式会社 リードフレーム、およびリードフレームの製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09213842A (ja) * 1995-12-18 1997-08-15 Lg Semicon Co Ltd Loc半導体パッケージ及びその製造方法
JP2016004887A (ja) * 2014-06-17 2016-01-12 Shマテリアル株式会社 リードフレーム、およびリードフレームの製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5557842A (en) Method of manufacturing a semiconductor leadframe structure
US5648682A (en) Resin-sealed semiconductor device and lead frame used in a resin-sealed semiconductor device
JP2013141009A (ja) 半導体装置
JP2001274316A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US6692991B2 (en) Resin-encapsulated semiconductor device and method for manufacturing the same
JPS61236130A (ja) 半導体装置
JPH07297345A (ja) 半導体装置用リードフレーム
JPH0357236A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2686240B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2000196005A (ja) 半導体装置
JPS61241954A (ja) 半導体装置
JPH11330343A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP3195515B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2781070B2 (ja) リードフレームの製造方法
JPS61128551A (ja) 半導体装置用リ−ドフレ−ム
JPS6060743A (ja) リ−ドフレ−ム
KR200295664Y1 (ko) 적층형반도체패키지
KR200169834Y1 (ko) 반도체 패키지
JP2002016210A (ja) 半導体装置
JPH04322435A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3251436B2 (ja) リードフレーム、半導体装置及び半導体装置の製造方法
JPH05175267A (ja) 半導体装置
JPH05136320A (ja) リードフレームの製造方法
JPH04348538A (ja) ワイヤーボンディング構造
JP2000058738A (ja) リードフレーム及び半導体装置