JPH07280665A - 温度分布検出方法 - Google Patents
温度分布検出方法Info
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- JPH07280665A JPH07280665A JP6093935A JP9393594A JPH07280665A JP H07280665 A JPH07280665 A JP H07280665A JP 6093935 A JP6093935 A JP 6093935A JP 9393594 A JP9393594 A JP 9393594A JP H07280665 A JPH07280665 A JP H07280665A
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- temperature
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバー分布型温度計により計測される
温度分布の距離分解能を向上させる。 【構成】 下記の工程を備えた温度分布検出方法を提供
する。 (a)温度測定領域に配置された光ファイバー21の一
端からパルス光を入射する工程、(b)光ファイバー2
1の一端から出射するパルス光の後方散乱光の強度から
温度測定領域内の温度分布を検出する工程、および
(c)後方散乱光から求められた温度分布の極大値を、
その温度極大値を含む温度上昇区間の幅により定まる補
正計数を用いて補正する工程。
温度分布の距離分解能を向上させる。 【構成】 下記の工程を備えた温度分布検出方法を提供
する。 (a)温度測定領域に配置された光ファイバー21の一
端からパルス光を入射する工程、(b)光ファイバー2
1の一端から出射するパルス光の後方散乱光の強度から
温度測定領域内の温度分布を検出する工程、および
(c)後方散乱光から求められた温度分布の極大値を、
その温度極大値を含む温度上昇区間の幅により定まる補
正計数を用いて補正する工程。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、いわゆる光ファイバー
分布型温度計を用いた温度分布検出方法に関する。
分布型温度計を用いた温度分布検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】高温、高圧ガスを収納する圧力容器など
において、表面温度が局部的に上昇する領域(以下、ヒ
ートスポットと称する)が生じると、その領域の金属材
料の強度が低下し、内部圧力による容器の破壊といった
重大な事態を引き起こす可能性がある。このようなヒー
トスポットにより引き起こされる現象を未然に防止する
ためには、容器の表面温度分布を計測・監視し、ヒート
スポットの発生を早期に発見する必要がある。
において、表面温度が局部的に上昇する領域(以下、ヒ
ートスポットと称する)が生じると、その領域の金属材
料の強度が低下し、内部圧力による容器の破壊といった
重大な事態を引き起こす可能性がある。このようなヒー
トスポットにより引き起こされる現象を未然に防止する
ためには、容器の表面温度分布を計測・監視し、ヒート
スポットの発生を早期に発見する必要がある。
【0003】ヒートスポットの発生を発見するために
は、二次元的あるいは三次元的に拡がりのある容器の表
面温度を万遍なく監視する必要がある。しかし、従来温
度計測に幅広く使用されている熱電対など、素子が配置
された箇所のごく近傍の温度が計測可能な点計測素子で
は、ヒートスポット監視の目的にかなう密度で点計測素
子を配置することが事実上不可能である。従って、少な
くとも一次元的な広がりを持った温度分布が測定可能な
温度測定手段により容器の表面温度を監視することが望
まれており、その一つの手段として、光ファイバーケー
ブルの長手方向に沿って連続的に温度計測を行うことが
できる光ファイバー分布型温度計の使用が試みられ始め
ている。
は、二次元的あるいは三次元的に拡がりのある容器の表
面温度を万遍なく監視する必要がある。しかし、従来温
度計測に幅広く使用されている熱電対など、素子が配置
された箇所のごく近傍の温度が計測可能な点計測素子で
は、ヒートスポット監視の目的にかなう密度で点計測素
子を配置することが事実上不可能である。従って、少な
くとも一次元的な広がりを持った温度分布が測定可能な
温度測定手段により容器の表面温度を監視することが望
まれており、その一つの手段として、光ファイバーケー
ブルの長手方向に沿って連続的に温度計測を行うことが
できる光ファイバー分布型温度計の使用が試みられ始め
ている。
【0004】この光ファイバー分布型温度計は、例えば
特公平3−64812号公報に開示されており、光ファ
イバーにレーザー光を照射したとき、ファイバー中の分
子の振動、回転がもたらすラマン散乱による反射光のう
ち入射光の波長より高波長側及び低波長側に出現するス
トークス光及びアンチストークス光の強度が、反射部分
の温度に依存して変化することを利用し、光ファイバー
周囲の温度を計測する。このとき、光ファイバーの入射
端にレーザーパルス光を照射すれば、このレーザーパル
ス光を照射してから後方散乱光として入射端に戻ってく
るまでの遅延時間と光ファイバー内における光速度によ
って入射端から反射部分までの距離が求められるので、
光ファイバー分布型温度計によれば光ファイバーの周囲
の温度をその長手方向に沿って連続的に計測することが
できる。
特公平3−64812号公報に開示されており、光ファ
イバーにレーザー光を照射したとき、ファイバー中の分
子の振動、回転がもたらすラマン散乱による反射光のう
ち入射光の波長より高波長側及び低波長側に出現するス
トークス光及びアンチストークス光の強度が、反射部分
の温度に依存して変化することを利用し、光ファイバー
周囲の温度を計測する。このとき、光ファイバーの入射
端にレーザーパルス光を照射すれば、このレーザーパル
ス光を照射してから後方散乱光として入射端に戻ってく
るまでの遅延時間と光ファイバー内における光速度によ
って入射端から反射部分までの距離が求められるので、
光ファイバー分布型温度計によれば光ファイバーの周囲
の温度をその長手方向に沿って連続的に計測することが
できる。
【0005】光ファイバー分布型温度計によって計測さ
れる温度分布の距離分解能は、使用するレーザーパルス
光のパルス幅に依存することが知られている。これは、
現実に使用されているレーザーパルス光は理想インパル
スではないため、無視できないパルス幅を有するレーザ
ーパルス光が光ファイバー内を伝播した際、図6に示す
ようにパルス1の立ち上がり部1aが(a)に示される
実温度分布2の温度上昇区間(ヒートスポット)2aを
通過してから(c)に示したように立ち下がり部1bが
温度上昇区間2aを通過するまでに所定の時間T、つま
りパルス幅に相当する時間が経過してしまい、後方散乱
光から得られる計測温度分布3は、温度上昇領域2aに
対してパルス幅に比例した(d)に示された如く遷移領
域を有するものになる。数学的には、(d)の計測温度
分布3は実温度分布2とパルス波形1とのコンボリュー
ションで与えられる(特開平4ー50624号公報参
照)。従って、パルス幅が長くなるほど計測温度分布の
遷移領域の影響が大きくなり、計測温度分布と実温度分
布との乖離が無視できなくなる。
れる温度分布の距離分解能は、使用するレーザーパルス
光のパルス幅に依存することが知られている。これは、
現実に使用されているレーザーパルス光は理想インパル
スではないため、無視できないパルス幅を有するレーザ
ーパルス光が光ファイバー内を伝播した際、図6に示す
ようにパルス1の立ち上がり部1aが(a)に示される
実温度分布2の温度上昇区間(ヒートスポット)2aを
通過してから(c)に示したように立ち下がり部1bが
温度上昇区間2aを通過するまでに所定の時間T、つま
りパルス幅に相当する時間が経過してしまい、後方散乱
光から得られる計測温度分布3は、温度上昇領域2aに
対してパルス幅に比例した(d)に示された如く遷移領
域を有するものになる。数学的には、(d)の計測温度
分布3は実温度分布2とパルス波形1とのコンボリュー
ションで与えられる(特開平4ー50624号公報参
照)。従って、パルス幅が長くなるほど計測温度分布の
遷移領域の影響が大きくなり、計測温度分布と実温度分
布との乖離が無視できなくなる。
【0006】しかし、レーザーパルス光による光ファイ
バーからの後方散乱光のパワーは非常に弱く、特に、パ
ワー=強度×時間であるため、パルス幅を短くすればす
るほど後方散乱光のパワーは弱くなる。従って、レーザ
ーパルス幅の短縮化は、後方散乱光に対して信号処理を
行う電子回路の要求する信号対ノイズ比(S/N比)に
より制限され、現在の回路技術ではレーザーのパルス照
射時間は数ナノ秒、パルス幅にして1〜2m程度が限界
である。
バーからの後方散乱光のパワーは非常に弱く、特に、パ
ワー=強度×時間であるため、パルス幅を短くすればす
るほど後方散乱光のパワーは弱くなる。従って、レーザ
ーパルス幅の短縮化は、後方散乱光に対して信号処理を
行う電子回路の要求する信号対ノイズ比(S/N比)に
より制限され、現在の回路技術ではレーザーのパルス照
射時間は数ナノ秒、パルス幅にして1〜2m程度が限界
である。
【0007】図5は計測温度分布3と実温度分布2との
関係の一例を示す図であり、ΔTは実温度分布2の温度
上昇区間の温度差、Δtは計測温度分布3の温度上昇区
間の温度差、Lは温度上昇区間(ヒートスポット)2a
の幅である。図示例ではレーザーパルス幅を固定(1.4
m)しているので、ヒートスポット2aの幅Lが狭くな
ることにより相対的にパルス幅が長くなるため、遷移領
域の幅が長くなって温度分布3のピーク値にまで影響を
及ぼす結果になる。図5の結果から、ヒートスポット2
aの幅Lが3m以下になると、計測温度分布3と実温度
分布2との乖離が無視できなくなる。
関係の一例を示す図であり、ΔTは実温度分布2の温度
上昇区間の温度差、Δtは計測温度分布3の温度上昇区
間の温度差、Lは温度上昇区間(ヒートスポット)2a
の幅である。図示例ではレーザーパルス幅を固定(1.4
m)しているので、ヒートスポット2aの幅Lが狭くな
ることにより相対的にパルス幅が長くなるため、遷移領
域の幅が長くなって温度分布3のピーク値にまで影響を
及ぼす結果になる。図5の結果から、ヒートスポット2
aの幅Lが3m以下になると、計測温度分布3と実温度
分布2との乖離が無視できなくなる。
【0008】圧力容器などの用途で検出すべきヒートス
ポットの幅は1m以下であることが多く、たとえ光ファ
イバーを円形に曲げて敷設して長手方向の長さを稼いだ
としても、光ファイバーの許容最小曲げ半径の制限か
ら、1m×1m程度の領域内に敷設できる光ファイバー
の長さは3m程度に過ぎない。従って、従来の光ファイ
バー分布型温度計では、圧力容器等に生じるヒートスポ
ットを正確に計測することができなかった。
ポットの幅は1m以下であることが多く、たとえ光ファ
イバーを円形に曲げて敷設して長手方向の長さを稼いだ
としても、光ファイバーの許容最小曲げ半径の制限か
ら、1m×1m程度の領域内に敷設できる光ファイバー
の長さは3m程度に過ぎない。従って、従来の光ファイ
バー分布型温度計では、圧力容器等に生じるヒートスポ
ットを正確に計測することができなかった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、光フ
ァイバー分布型温度計により計測される温度分布の距離
分解能を向上させることの可能な温度検出方法を提供す
ることにある。
ァイバー分布型温度計により計測される温度分布の距離
分解能を向上させることの可能な温度検出方法を提供す
ることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上述の目的
に鑑みて鋭意研究をした結果、計測温度分布の温度上昇
区間の幅と、実温度分布の温度差に対する計測温度分布
の温度差の比との間に所定の関連性があるとの知見を得
ることができ、これに基づいて本発明を為すに至った。
に鑑みて鋭意研究をした結果、計測温度分布の温度上昇
区間の幅と、実温度分布の温度差に対する計測温度分布
の温度差の比との間に所定の関連性があるとの知見を得
ることができ、これに基づいて本発明を為すに至った。
【0011】そこで、請求項1の発明は、下記の工程を
備えた温度分布検出方法からなる。 (a)温度測定領域に配置された光ファイバーの一端か
らパルス光を入射する工程と、(b)前記光ファイバー
の前記一端から出射する前記パルス光の後方散乱光の強
度から前記温度測定領域内の温度分布を検出する工程
と、(c)前記後方散乱光から求められた前記温度分布
の極大値を、その温度極大値を含む温度上昇区間の幅に
より定まる補正計数を用いて補正する工程。
備えた温度分布検出方法からなる。 (a)温度測定領域に配置された光ファイバーの一端か
らパルス光を入射する工程と、(b)前記光ファイバー
の前記一端から出射する前記パルス光の後方散乱光の強
度から前記温度測定領域内の温度分布を検出する工程
と、(c)前記後方散乱光から求められた前記温度分布
の極大値を、その温度極大値を含む温度上昇区間の幅に
より定まる補正計数を用いて補正する工程。
【0012】請求項2の発明は、請求項1に記載の温度
分布検出方法において、前記温度測定領域を高温容器の
表面領域とした。また、請求項3の発明は、請求項2に
記載の温度分布検出方法において、前記高温容器を、発
電所における加圧流動床ボイラー用高温ガス除塵装置の
容器とした。
分布検出方法において、前記温度測定領域を高温容器の
表面領域とした。また、請求項3の発明は、請求項2に
記載の温度分布検出方法において、前記高温容器を、発
電所における加圧流動床ボイラー用高温ガス除塵装置の
容器とした。
【0013】
【作用】温度上昇区間の幅から計測温度分布の極大値を
補正する理由は次のようなものである。
補正する理由は次のようなものである。
【0014】まず、ある特定の点から戻ってくる後方散
乱光の強度から求められる温度計測値は、その点のみで
なく隣接する光ファイバーの実温度分布に影響され、次
の式により決定されるものとする。
乱光の強度から求められる温度計測値は、その点のみで
なく隣接する光ファイバーの実温度分布に影響され、次
の式により決定されるものとする。
【0015】
【数1】
【0016】ここに、Δtmes:計測温度値 p :極大値の位置 Δtact:実温度値 x :光ファイバーの一端からの距離 また、指数関数のべき数の中の(2.33/1.5)と
いう値は、温度上昇区間の幅が3m(±1.5m)であ
るときに計測温度値を実温度値の98%(±2.33
σ)とするための係数である。
いう値は、温度上昇区間の幅が3m(±1.5m)であ
るときに計測温度値を実温度値の98%(±2.33
σ)とするための係数である。
【0017】上述の式(1)に基づいて、実温度分布とし
て幅0.5mから3mのステップ状温度上昇区間を与え
たときの計測温度値の極大値の追従率
て幅0.5mから3mのステップ状温度上昇区間を与え
たときの計測温度値の極大値の追従率
【0018】
【数2】
【0019】の計算値を算出するとともに、光ファイバ
ーの所定の長さの部分を電気炉内にいれてステップ状の
温度上昇空間を実際に与えたときの計測温度値の実測値
に対する追従率の実測値を算出し、これら計算値及び実
測値を比較したところ、次の表に示すような結果を得
た。
ーの所定の長さの部分を電気炉内にいれてステップ状の
温度上昇空間を実際に与えたときの計測温度値の実測値
に対する追従率の実測値を算出し、これら計算値及び実
測値を比較したところ、次の表に示すような結果を得
た。
【0020】
【表1】
【0021】この結果より、上述の式(2)の仮定は精度
良く光ファイバー分布型温度計の特性を表すことが確認
された。
良く光ファイバー分布型温度計の特性を表すことが確認
された。
【0022】次いで、圧力容器等に実際に出現するヒー
トスポットの温度分布に近い三角形状の実温度分布を種
々の底辺の幅について仮定し、計測温度分布の極大値を
算出して追従率の計算値を算出した。その結果を次の表
2に示す。
トスポットの温度分布に近い三角形状の実温度分布を種
々の底辺の幅について仮定し、計測温度分布の極大値を
算出して追従率の計算値を算出した。その結果を次の表
2に示す。
【0023】
【表2】
【0024】従って、実温度分布の底辺の幅さえ知れれ
ば追従率が求められ、この追従率の逆数を補正係数とし
て用いれば計測温度分布の極大値を補正することができ
る。しかし、実際の測定においては、光ファイバー分布
型温度計が正確な実温度分布を表示しない以上、実温度
分布の底辺の幅を知ることはできず、上述の手法から実
温度分布の極大値を求めることはできない。従って、光
ファイバー分布型温度計から得られる計測温度分布から
補正係数を求める必要が生じる。
ば追従率が求められ、この追従率の逆数を補正係数とし
て用いれば計測温度分布の極大値を補正することができ
る。しかし、実際の測定においては、光ファイバー分布
型温度計が正確な実温度分布を表示しない以上、実温度
分布の底辺の幅を知ることはできず、上述の手法から実
温度分布の極大値を求めることはできない。従って、光
ファイバー分布型温度計から得られる計測温度分布から
補正係数を求める必要が生じる。
【0025】そこで、請求項1の発明では、光ファイバ
ー分布型温度計から得られる計測温度分布の温度上昇区
間の幅と、実温度分布の温度差に対する計測温度分布の
温度差の比との間の関係に注目し、光ファイバーの一端
から出射するパルス光の後方散乱光の強度から温度測定
領域内の計測温度分布を求め、この計測温度分布の温度
上昇区間の幅により定まる補正計数を用いて温度分布の
極大値を補正し、実温度分布を推定する。
ー分布型温度計から得られる計測温度分布の温度上昇区
間の幅と、実温度分布の温度差に対する計測温度分布の
温度差の比との間の関係に注目し、光ファイバーの一端
から出射するパルス光の後方散乱光の強度から温度測定
領域内の計測温度分布を求め、この計測温度分布の温度
上昇区間の幅により定まる補正計数を用いて温度分布の
極大値を補正し、実温度分布を推定する。
【0026】極大値の補正値を求める方法は、一例とし
て次の式による。
て次の式による。
【0027】
【数3】
【0028】ここに、tactmax:実温度分布極大値の推
測値 tavg :温度上昇区間内の平均温度 C :極大値補正計数 tmesmax:計測温度分布の極大値
測値 tavg :温度上昇区間内の平均温度 C :極大値補正計数 tmesmax:計測温度分布の極大値
【0029】計測温度分布の温度上昇区間の幅を測定す
る方法としては、温度上昇区間の立ち上がりの起点及び
立ち下がりの終点を特定することは困難であるから、計
測温度分布の極大値の5〜20%の高さを横切る線と交
わる2点間の幅を用いることが望ましい。図4は、三角
形状の実温度分布を与えたときに光ファイバー分布型温
度計から得られる計測温度分布の極大値の10%の高さ
における幅と、補正係数Cとの関係の一例を示す図であ
る。そして、この補正係数Cを用いて、計測温度分布の
極大値を補正して実温度分布極大値を推測する。
る方法としては、温度上昇区間の立ち上がりの起点及び
立ち下がりの終点を特定することは困難であるから、計
測温度分布の極大値の5〜20%の高さを横切る線と交
わる2点間の幅を用いることが望ましい。図4は、三角
形状の実温度分布を与えたときに光ファイバー分布型温
度計から得られる計測温度分布の極大値の10%の高さ
における幅と、補正係数Cとの関係の一例を示す図であ
る。そして、この補正係数Cを用いて、計測温度分布の
極大値を補正して実温度分布極大値を推測する。
【0030】
【実施例】本発明を外部保温付きの圧力容器の鉄皮温度
分布計測及びヒートスポット検出に応用した例を説明す
る。
分布計測及びヒートスポット検出に応用した例を説明す
る。
【0031】本実施例に適用される圧力容器は、発電所
に用いられる加圧流動床ボイラー用の高温ガス除塵装置
の一部をなすものである。この圧力容器10は、図2に
示すように、円筒状の筒体の上下が閉塞された形状に形
成され、その寸法は全高16m、外径3.2 mである。圧力
容器10は厚さ24mmの鉄皮11(材質は炭素鋼)から
形成されている。
に用いられる加圧流動床ボイラー用の高温ガス除塵装置
の一部をなすものである。この圧力容器10は、図2に
示すように、円筒状の筒体の上下が閉塞された形状に形
成され、その寸法は全高16m、外径3.2 mである。圧力
容器10は厚さ24mmの鉄皮11(材質は炭素鋼)から
形成されている。
【0032】圧力容器10は、10気圧、850℃の高
温加圧ガスを中に含むものであり、圧力容器10を内部
の熱から保護するために図示しない内部断熱層が鉄皮1
1の内面に設けられているとともに、鉄皮11の内面に
おいてガス中に含まれる水蒸気、酸等が結露することに
より鉄皮11が腐食することを防止するために、鉄皮1
1の外表面にも図示しない保温層が施され、鉄皮11が
冷えすぎることを防止している。従って、保温容器10
の外部から鉄皮の状態を直接監視することが困難であ
り、内部断熱層の異常などによって鉄皮に局部的な加熱
部分(ヒートスポット)が生じた場合、発見が遅れて重
大な事態を招くおそれがある。そこで、外部保温層の施
工前に光ファイバーを鉄皮11の外表面に敷設し、光フ
ァイバー分布型温度計により鉄皮11の外表面の温度分
布を監視してヒートスポットの検出を行った。
温加圧ガスを中に含むものであり、圧力容器10を内部
の熱から保護するために図示しない内部断熱層が鉄皮1
1の内面に設けられているとともに、鉄皮11の内面に
おいてガス中に含まれる水蒸気、酸等が結露することに
より鉄皮11が腐食することを防止するために、鉄皮1
1の外表面にも図示しない保温層が施され、鉄皮11が
冷えすぎることを防止している。従って、保温容器10
の外部から鉄皮の状態を直接監視することが困難であ
り、内部断熱層の異常などによって鉄皮に局部的な加熱
部分(ヒートスポット)が生じた場合、発見が遅れて重
大な事態を招くおそれがある。そこで、外部保温層の施
工前に光ファイバーを鉄皮11の外表面に敷設し、光フ
ァイバー分布型温度計により鉄皮11の外表面の温度分
布を監視してヒートスポットの検出を行った。
【0033】図1は、本実施例に用いた光ファイバー分
布型温度計を示すブロック図である。この図において、
21は圧力容器10の鉄皮11外表面に敷設された測定
用光ファイバーである。光ファイバー21としては、コ
ア径50μm、クラッド径125μmのマルチモードグ
レーデッドインデックス型珪素系光ファイバーを用い、
ポリイミド樹脂により被覆した後、ステンレス鋼製のシ
ース管で保護した状態で圧力容器10に敷設した。
布型温度計を示すブロック図である。この図において、
21は圧力容器10の鉄皮11外表面に敷設された測定
用光ファイバーである。光ファイバー21としては、コ
ア径50μm、クラッド径125μmのマルチモードグ
レーデッドインデックス型珪素系光ファイバーを用い、
ポリイミド樹脂により被覆した後、ステンレス鋼製のシ
ース管で保護した状態で圧力容器10に敷設した。
【0034】22は方向性結合器として作用する光カプ
ラーであり、光信号は図中矢印方向にのみ流れる。23
は一方に1端子、他方に2端子を有する光スイッチであ
り、後述する制御装置26からの制御信号に応じて他方
側の2端子のうち一方を一方側の端子に接続する。24
はレーザー光源であり、制御装置26からの制御信号を
トリガーとして中心波長1.6 μm、パルス継続時間7n
sのレーザーパルスを出力する。25は光強度を検出す
る検出器である。
ラーであり、光信号は図中矢印方向にのみ流れる。23
は一方に1端子、他方に2端子を有する光スイッチであ
り、後述する制御装置26からの制御信号に応じて他方
側の2端子のうち一方を一方側の端子に接続する。24
はレーザー光源であり、制御装置26からの制御信号を
トリガーとして中心波長1.6 μm、パルス継続時間7n
sのレーザーパルスを出力する。25は光強度を検出す
る検出器である。
【0035】26は制御装置であり、たとえばマイクロ
コンピューターから構成される。制御装置26は光スイ
ッチ23及びレーザー光源24に制御信号を出力してこ
れらの制御を行うとともに、検出器25からの検出信号
を取り込んで計測温度分布を算出し、さらに計測温度分
布の極大値を補正する。算出結果、補正結果等はディス
プレイ27に表示される。さらに、補正された極大値が
所定値より大きい場合にディスプレイ27に警告表示を
行う。制御装置26の動作の詳細は後述する。
コンピューターから構成される。制御装置26は光スイ
ッチ23及びレーザー光源24に制御信号を出力してこ
れらの制御を行うとともに、検出器25からの検出信号
を取り込んで計測温度分布を算出し、さらに計測温度分
布の極大値を補正する。算出結果、補正結果等はディス
プレイ27に表示される。さらに、補正された極大値が
所定値より大きい場合にディスプレイ27に警告表示を
行う。制御装置26の動作の詳細は後述する。
【0036】圧力容器10の鉄皮11の外表面は、図2
に示すように約1m×約1mの矩形状の区画12に区分
され、各区画12には番地が付けられた。光ファイバー
21は、各区画12内の全長が約3mとなるように、図
2に示すように蛇行して敷設された。光ファイバー21
は、図3に示すようにステンレス鋼製のシース管13内
に収容された状態でアルミニウム箔テープ14により圧
力容器10の鉄皮11の表面に固定し、さらに耐熱パテ
15により鉄皮11の表面に接着した。
に示すように約1m×約1mの矩形状の区画12に区分
され、各区画12には番地が付けられた。光ファイバー
21は、各区画12内の全長が約3mとなるように、図
2に示すように蛇行して敷設された。光ファイバー21
は、図3に示すようにステンレス鋼製のシース管13内
に収容された状態でアルミニウム箔テープ14により圧
力容器10の鉄皮11の表面に固定し、さらに耐熱パテ
15により鉄皮11の表面に接着した。
【0037】圧力容器10の鉄皮11の外表面の温度分
布監視動作を説明する。まず、制御装置26からの制御
信号により30秒毎にレーザーパルスを発生させ、光ス
イッチ23により入射端側に定められた光カプラー22
にレーザーパルスを送出し、この入射端側から光ファイ
バー21にレーザーパルスを入射した。本実施例では、
制御装置26からの制御信号により光スイッチ23を制
御すれば、いずれの端部を入射端側とすることができ
る。光ファイバー21からの後方散乱光は入射端側の光
カプラー22によりもう1つの光スイッチ23に入射
し、検出器25によりその強度が検出された。検出され
た後方散乱光強度は制御装置26に入力された。
布監視動作を説明する。まず、制御装置26からの制御
信号により30秒毎にレーザーパルスを発生させ、光ス
イッチ23により入射端側に定められた光カプラー22
にレーザーパルスを送出し、この入射端側から光ファイ
バー21にレーザーパルスを入射した。本実施例では、
制御装置26からの制御信号により光スイッチ23を制
御すれば、いずれの端部を入射端側とすることができ
る。光ファイバー21からの後方散乱光は入射端側の光
カプラー22によりもう1つの光スイッチ23に入射
し、検出器25によりその強度が検出された。検出され
た後方散乱光強度は制御装置26に入力された。
【0038】制御装置26は、A/D変換処理及び平均
化処理を行って、光ファイバー21からの後方散乱光強
度のうちストークス光の強度及び反ストークス光の強度
を測定し、これら2つの光強度から各番地ごとに計測温
度分布を算出した。光ファイバー21のある点における
温度分布は、次の関係式から導き出される。
化処理を行って、光ファイバー21からの後方散乱光強
度のうちストークス光の強度及び反ストークス光の強度
を測定し、これら2つの光強度から各番地ごとに計測温
度分布を算出した。光ファイバー21のある点における
温度分布は、次の関係式から導き出される。
【0039】
【数4】
【0040】ここに、Ia:上記点からの後方散乱光強度
のうち反ストークス光の強度 Is:上記点からの後方散乱光強度のうちストークス光の
強度 ν0:入射レーザーパルスの波数 νk:ラマンシフト h:プランク定数 v:光ファイバー21内の光速度 k:ボルツマン定数 T:上記点の絶対温度 また、光ファイバー21の入射端から上記点までの距離
lは、入射端にレーザーパルスを入射してから後方散乱
光として再び入射端に戻ってくるまでの遅延時間Δtと
光ファイバー21内の光速度vから、l=(v・Δt)
/2として求められる。
のうち反ストークス光の強度 Is:上記点からの後方散乱光強度のうちストークス光の
強度 ν0:入射レーザーパルスの波数 νk:ラマンシフト h:プランク定数 v:光ファイバー21内の光速度 k:ボルツマン定数 T:上記点の絶対温度 また、光ファイバー21の入射端から上記点までの距離
lは、入射端にレーザーパルスを入射してから後方散乱
光として再び入射端に戻ってくるまでの遅延時間Δtと
光ファイバー21内の光速度vから、l=(v・Δt)
/2として求められる。
【0041】ついで、各番地の計測温度分布のうち、周
囲の平均温度より約20℃以上温度の高い極大値(ピー
ク)を検出し、このピーク値と番地内の平均温度との差
の10%の温度を有する2点の幅、つまり温度上昇区間
の幅を検出した。そして、図4に示すような温度上昇区
間の幅により定まる補正計数を用いて計測温度分布の極
大値を補正し、実温度分布の極大値を推定した。
囲の平均温度より約20℃以上温度の高い極大値(ピー
ク)を検出し、このピーク値と番地内の平均温度との差
の10%の温度を有する2点の幅、つまり温度上昇区間
の幅を検出した。そして、図4に示すような温度上昇区
間の幅により定まる補正計数を用いて計測温度分布の極
大値を補正し、実温度分布の極大値を推定した。
【0042】各番地名、計測温度分布の極大値、実温度
分布の極大推定値、番地内の平均温度、温度上昇区間の
幅はディスプレイ27に表示した。そして、実温度分布
の極大推定値が予め設定した警報設定値以上になると、
ディスプレイ27に警報表示を行った。
分布の極大推定値、番地内の平均温度、温度上昇区間の
幅はディスプレイ27に表示した。そして、実温度分布
の極大推定値が予め設定した警報設定値以上になると、
ディスプレイ27に警報表示を行った。
【0043】本発明者の実験結果によれば、ヒートスポ
ットの幅、厳密には温度上昇区間の幅が30cm程度の
場合であっても、その極大値をほぼ正確に推測すること
ができた。本実施例の圧力容器では、30cm以下の幅
を有するヒートスポットは生じにくいと考えられるの
で、本実施例によれば圧力容器10に生じるヒートスポ
ットの発生を正確に検出することができた。
ットの幅、厳密には温度上昇区間の幅が30cm程度の
場合であっても、その極大値をほぼ正確に推測すること
ができた。本実施例の圧力容器では、30cm以下の幅
を有するヒートスポットは生じにくいと考えられるの
で、本実施例によれば圧力容器10に生じるヒートスポ
ットの発生を正確に検出することができた。
【0044】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、光ファイバーからの後方散乱光強度から求められ
た温度分布の温度上昇区間の幅により定まる補正計数を
用いて温度分布の極大値を補正しているので、パルス光
の幅により定まる温度分布計測の距離分解能を越えた温
度分布計測の距離分解能を得ることができ、光ファイバ
ー分布型温度計により計測される温度分布の距離分解能
を向上させることが可能になる。
れば、光ファイバーからの後方散乱光強度から求められ
た温度分布の温度上昇区間の幅により定まる補正計数を
用いて温度分布の極大値を補正しているので、パルス光
の幅により定まる温度分布計測の距離分解能を越えた温
度分布計測の距離分解能を得ることができ、光ファイバ
ー分布型温度計により計測される温度分布の距離分解能
を向上させることが可能になる。
【図1】本発明の実施例である温度分布検出方法が適用
される光ファイバー分布型温度計を示すブロック図であ
る。
される光ファイバー分布型温度計を示すブロック図であ
る。
【図2】本発明の実施例である温度分布検出方法の検出
対象である圧力容器を示す平面図である。
対象である圧力容器を示す平面図である。
【図3】光ファイバーの敷設方法を説明するための断面
図である。
図である。
【図4】補正係数と温度上昇区間の幅との関係の一例を
示す図である。
示す図である。
【図5】計測温度分布と実温度分布との関係の一例を示
す図である。
す図である。
【図6】(a)は実温度分布の一例を示す図、(b)、
(c)はともにレーザーパルスを示す波形図、(d)は
計測温度分布の一例を示す図である。
(c)はともにレーザーパルスを示す波形図、(d)は
計測温度分布の一例を示す図である。
10 圧力容器 11 鉄皮 12 区画 21 光ファイバー 24 レーザー光源 25 検出器 26 制御装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 東 勝美 神奈川県川崎市幸区塚越3丁目474番地2 旭硝子株式会社玉川分室内 (72)発明者 鳥山 彰 東京都千代田区丸の内二丁目1番2号 旭 硝子株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 下記の工程を備えたことを特徴とする温
度分布検出方法。 (a)温度測定領域に配置された光ファイバーの一端か
らパルス光を入射する工程と、(b)前記光ファイバー
の前記一端から出射する前記パルス光の後方散乱光の強
度から前記温度測定領域内の温度分布を検出する工程
と、(c)前記後方散乱光から求められた前記温度分布
の極大値を、その温度極大値を含む温度上昇区間の幅に
より定まる補正計数を用いて補正する工程。 - 【請求項2】前記温度測定領域が高温容器の表面領域で
ある請求項1に記載の温度分布検出方法。 - 【請求項3】前記高温容器が、発電所における加圧流動
床ボイラー用高温ガス除塵装置の容器である請求項2に
記載の温度分布検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6093935A JPH07280665A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 温度分布検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6093935A JPH07280665A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 温度分布検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07280665A true JPH07280665A (ja) | 1995-10-27 |
Family
ID=14096299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6093935A Pending JPH07280665A (ja) | 1994-04-08 | 1994-04-08 | 温度分布検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07280665A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005195502A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Occ Techno Ltd | 光ファイバ型温度計測装置及び温度計測方法 |
CN114018429A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-02-08 | 浙江中欣动力测控技术有限公司 | 一种用于煤制氢气化炉炉壁的壁温监测方法及装置 |
-
1994
- 1994-04-08 JP JP6093935A patent/JPH07280665A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005195502A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Occ Techno Ltd | 光ファイバ型温度計測装置及び温度計測方法 |
CN114018429A (zh) * | 2021-10-22 | 2022-02-08 | 浙江中欣动力测控技术有限公司 | 一种用于煤制氢气化炉炉壁的壁温监测方法及装置 |
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