JPH07248324A - ガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法 - Google Patents
ガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法Info
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- JPH07248324A JPH07248324A JP6652994A JP6652994A JPH07248324A JP H07248324 A JPH07248324 A JP H07248324A JP 6652994 A JP6652994 A JP 6652994A JP 6652994 A JP6652994 A JP 6652994A JP H07248324 A JPH07248324 A JP H07248324A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 誤差成分を少なくし、ベースラインが湾曲し
て変動しても、またピークが小さくても、再現性良くピ
ーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行うことができ
るようにする。 【構成】 濃度信号波形における各山Ｐ１，Ｐ２のピー
クスタート点ＳT1，ＳT2およびピークエンド点ＥN1，Ｅ
N2を求め、ピークスタート点ＳT1，ＳT2，ピークエンド
点ＥN1，ＥN2、ゲートオン点ＧON、ゲートオフ点ＧOFF
の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形を近似ベ
ースラインとし、この近似ベースラインの面積ＳB を求
め、濃度信号波形のトータル面積ＳA より近似ベースラ
インの面積ＳB を差し引いてピーク面積ＳP を求め、こ
の求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成分の濃
度測定を行う。
て変動しても、またピークが小さくても、再現性良くピ
ーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行うことができ
るようにする。 【構成】 濃度信号波形における各山Ｐ１，Ｐ２のピー
クスタート点ＳT1，ＳT2およびピークエンド点ＥN1，Ｅ
N2を求め、ピークスタート点ＳT1，ＳT2，ピークエンド
点ＥN1，ＥN2、ゲートオン点ＧON、ゲートオフ点ＧOFF
の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形を近似ベ
ースラインとし、この近似ベースラインの面積ＳB を求
め、濃度信号波形のトータル面積ＳA より近似ベースラ
インの面積ＳB を差し引いてピーク面積ＳP を求め、こ
の求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成分の濃
度測定を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被測定ガス成分の濃
度測定を行うガスクロマトグラフにおけるピーク面積測
定方法に関するものである。
度測定を行うガスクロマトグラフにおけるピーク面積測
定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】石油化学プロセスや鉄鋼プロセスなどに
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行っ
たりするための検出装置として、ガスクロマトグラフが
従来から用いられている。このガスクロマトグラフにお
いては、周期的に、キャリアガス（ヘリウムガス，窒素
ガスなど）とサンプルガスとを混合し、この混合ガスに
含まれる被測定ガス成分を所定のゲート時間帯に出現さ
せるものとし、このゲート時間帯の開始時点であるゲー
トオン点から終了時点であるゲートオフ点までの濃度信
号値をサンプリングし、このサンプリングした濃度信号
値を積算してゲート時間帯における濃度信号波形のトー
タル面積を求める一方、ゲート時間帯の濃度信号波形に
含まれるキャリアガスにより生ずる信号波形に相当する
ベースラインを近似して求め、この求めた近似ベースラ
インの面積を上記トータル面積より差し引いてピーク面
積を求め、この求めたピーク面積に基づいて被測定ガス
成分の濃度測定を行うようにしている。
おいてプロセスガスの成分分析を行い、その分析結果に
基づいて各プロセス工程を監視したり、各種制御を行っ
たりするための検出装置として、ガスクロマトグラフが
従来から用いられている。このガスクロマトグラフにお
いては、周期的に、キャリアガス（ヘリウムガス，窒素
ガスなど）とサンプルガスとを混合し、この混合ガスに
含まれる被測定ガス成分を所定のゲート時間帯に出現さ
せるものとし、このゲート時間帯の開始時点であるゲー
トオン点から終了時点であるゲートオフ点までの濃度信
号値をサンプリングし、このサンプリングした濃度信号
値を積算してゲート時間帯における濃度信号波形のトー
タル面積を求める一方、ゲート時間帯の濃度信号波形に
含まれるキャリアガスにより生ずる信号波形に相当する
ベースラインを近似して求め、この求めた近似ベースラ
インの面積を上記トータル面積より差し引いてピーク面
積を求め、この求めたピーク面積に基づいて被測定ガス
成分の濃度測定を行うようにしている。
【０００３】すなわち、図７にその濃度信号波形の一例
を示すように、周期Ｔ毎にキャリアガスとサンプルガス
とを混合し、この混合ガスに含まれる被測定ガス成分
（この例では２成分）をゲート時間帯（ＧON〜ＧOFF ）
に出現させるものとし、このゲート時間帯の開始時点で
あるゲートオン点ＧONから終了時点であるゲートオフ点
ＧOFF までの濃度信号値をサンプリングし、このサンプ
リングした濃度信号値を積算してゲート時間帯における
濃度信号波形のトータル面積ＳT を求める一方、ＧONで
の濃度信号値とＧOFF での濃度信号値とを直線で結んで
近似ベースライン（図示破線で示す信号波形）とし、こ
の近似ベースラインの面積ＳB をトータル面積ＳT より
差し引いてピーク面積ＳP を求め、この求めたピーク面
積ＳP に基づいて被測定ガス成分の濃度（この例では２
成分の混合濃度）測定を行う。
を示すように、周期Ｔ毎にキャリアガスとサンプルガス
とを混合し、この混合ガスに含まれる被測定ガス成分
（この例では２成分）をゲート時間帯（ＧON〜ＧOFF ）
に出現させるものとし、このゲート時間帯の開始時点で
あるゲートオン点ＧONから終了時点であるゲートオフ点
ＧOFF までの濃度信号値をサンプリングし、このサンプ
リングした濃度信号値を積算してゲート時間帯における
濃度信号波形のトータル面積ＳT を求める一方、ＧONで
の濃度信号値とＧOFF での濃度信号値とを直線で結んで
近似ベースライン（図示破線で示す信号波形）とし、こ
の近似ベースラインの面積ＳB をトータル面積ＳT より
差し引いてピーク面積ＳP を求め、この求めたピーク面
積ＳP に基づいて被測定ガス成分の濃度（この例では２
成分の混合濃度）測定を行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の濃度測定方法によると、ゲート時間帯が長か
ったり、ゲインが大きかったりして、ベースラインの湾
曲が大きくなると、誤差成分Ｓｅ（図８（ａ）参照）が
大きくなり、ピーク面積ＳP を再現性良く求めることが
できなくなって、濃度の測定精度が悪化する。また、ガ
ス濃度が低くなり、ピークが小さくなると（図８（ｂ）
参照）、近似ベースラインの面積ＳB がトータル面積Ｓ
T を上回り、ピーク面積ＳP が負となり、濃度測定がで
きなくなってしまう。
うな従来の濃度測定方法によると、ゲート時間帯が長か
ったり、ゲインが大きかったりして、ベースラインの湾
曲が大きくなると、誤差成分Ｓｅ（図８（ａ）参照）が
大きくなり、ピーク面積ＳP を再現性良く求めることが
できなくなって、濃度の測定精度が悪化する。また、ガ
ス濃度が低くなり、ピークが小さくなると（図８（ｂ）
参照）、近似ベースラインの面積ＳB がトータル面積Ｓ
T を上回り、ピーク面積ＳP が負となり、濃度測定がで
きなくなってしまう。
【０００５】本発明はこのような課題を解決するために
なされたもので、その目的とするところは、ベースライ
ンが湾曲して変動しても、またピークが小さくても、再
現性良くピーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行う
ことの可能なガスクロマトグラフにおけるピーク面積測
定方法を提供することにある。
なされたもので、その目的とするところは、ベースライ
ンが湾曲して変動しても、またピークが小さくても、再
現性良くピーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行う
ことの可能なガスクロマトグラフにおけるピーク面積測
定方法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、その第１発明（請求項１に係る発明）は、濃
度信号波形における各山のピークスタート点およびピー
クエンド点を求め、この求めた各山のピークスタート
点，ピークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃
度信号値を直線で結んで得られる信号波形を近似ベース
ラインとし、この近似ベースラインの面積を濃度信号波
形のトータル面積より差し引いてピーク面積を求めるよ
うにしたものである。また、その第２発明（請求項２に
係る発明）は、濃度信号波形における各山のピークスタ
ート点およびピークエンド点を求め、この求めた各山の
ピークスタート点からピークエンド点までの領域を除く
定周期サンプリング点、各山のピークスタート点，ピー
クエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形を近似ベースラインと
し、この近似ベースラインの面積を濃度信号波形のトー
タル面積より差し引いてピーク面積を求めるようにした
ものである。また、その第３発明（請求項３に係る発
明）は、濃度信号波形における各山のピークスタート点
およびピークエンド点を求め、この求めた最初の山のピ
ークスタート点から最後の山のピークエンド点までの領
域を除く定周期サンプリング点、最初の山のピークスタ
ート点、最後の山のピークエンド点、ゲートオン点、ゲ
ートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波
形を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの面
積を濃度信号波形のトータル面積より差し引いてピーク
面積を求めるようにしたものである。
るために、その第１発明（請求項１に係る発明）は、濃
度信号波形における各山のピークスタート点およびピー
クエンド点を求め、この求めた各山のピークスタート
点，ピークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃
度信号値を直線で結んで得られる信号波形を近似ベース
ラインとし、この近似ベースラインの面積を濃度信号波
形のトータル面積より差し引いてピーク面積を求めるよ
うにしたものである。また、その第２発明（請求項２に
係る発明）は、濃度信号波形における各山のピークスタ
ート点およびピークエンド点を求め、この求めた各山の
ピークスタート点からピークエンド点までの領域を除く
定周期サンプリング点、各山のピークスタート点，ピー
クエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形を近似ベースラインと
し、この近似ベースラインの面積を濃度信号波形のトー
タル面積より差し引いてピーク面積を求めるようにした
ものである。また、その第３発明（請求項３に係る発
明）は、濃度信号波形における各山のピークスタート点
およびピークエンド点を求め、この求めた最初の山のピ
ークスタート点から最後の山のピークエンド点までの領
域を除く定周期サンプリング点、最初の山のピークスタ
ート点、最後の山のピークエンド点、ゲートオン点、ゲ
ートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波
形を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの面
積を濃度信号波形のトータル面積より差し引いてピーク
面積を求めるようにしたものである。
【０００７】
【作用】したがってこの発明によれば、その第１発明で
は、濃度信号波形における各山のピークスタート点，ピ
ークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号
値を直線で結んで得られる信号波形が近似ベースライン
とされ、この近似ベースラインの面積が濃度信号波形の
トータル面積より差し引かれてピーク面積が求まる。ま
た、その第２発明では、濃度信号波形における各山のピ
ークスタート点からピークエンド点までの領域を除く定
周期サンプリング点、各山のピークスタート点，ピーク
エンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値を
直線で結んで得られる信号波形が近似ベースラインとさ
れ、この近似ベースラインの面積が濃度信号波形のトー
タル面積より差し引かれてピーク面積が求められる。ま
た、その第３発明では、濃度信号波形における最初の山
のピークスタート点から最後の山のピークエンド点まで
の領域を除く定周期サンプリング点、最初の山のピーク
スタート点、最後の山のピークエンド点、ゲートオン
点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られる
信号波形が近似ベースラインとされ、この近似ベースラ
インの面積が濃度信号波形のトータル面積より差し引か
れてピーク面積が求められる。
は、濃度信号波形における各山のピークスタート点，ピ
ークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号
値を直線で結んで得られる信号波形が近似ベースライン
とされ、この近似ベースラインの面積が濃度信号波形の
トータル面積より差し引かれてピーク面積が求まる。ま
た、その第２発明では、濃度信号波形における各山のピ
ークスタート点からピークエンド点までの領域を除く定
周期サンプリング点、各山のピークスタート点，ピーク
エンド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値を
直線で結んで得られる信号波形が近似ベースラインとさ
れ、この近似ベースラインの面積が濃度信号波形のトー
タル面積より差し引かれてピーク面積が求められる。ま
た、その第３発明では、濃度信号波形における最初の山
のピークスタート点から最後の山のピークエンド点まで
の領域を除く定周期サンプリング点、最初の山のピーク
スタート点、最後の山のピークエンド点、ゲートオン
点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られる
信号波形が近似ベースラインとされ、この近似ベースラ
インの面積が濃度信号波形のトータル面積より差し引か
れてピーク面積が求められる。
【０００８】
〔実施例１〕以下、本発明を実施例に基づき詳細に説明
する。図１に濃度信号波形の一例を示し、図２にこの濃
度信号波形に適用される被測定ガス成分の濃度測定処理
フローを示す。本実施例においては、ステップ２０１で
の「ゲートオン点ＧON？」のＹＥＳに従い、その濃度信
号波形における濃度信号値のサンプリング（周期ｔ1 で
のサンプリング）およびそのサンプリングした濃度信号
値の積算を開始すると共に（ステップ２０２）、ゲート
オン点ＧONでの濃度信号値およびその時刻を記憶する
（ステップ２０３）。
する。図１に濃度信号波形の一例を示し、図２にこの濃
度信号波形に適用される被測定ガス成分の濃度測定処理
フローを示す。本実施例においては、ステップ２０１で
の「ゲートオン点ＧON？」のＹＥＳに従い、その濃度信
号波形における濃度信号値のサンプリング（周期ｔ1 で
のサンプリング）およびそのサンプリングした濃度信号
値の積算を開始すると共に（ステップ２０２）、ゲート
オン点ＧONでの濃度信号値およびその時刻を記憶する
（ステップ２０３）。
【０００９】そして、サンプリングした濃度信号値の今
回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々の傾きαを
求め、この傾きαと所定のスレッショルドレベルα
S1（正の値）とを比較し（ステップ２０４）、傾きαが
スレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形
の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断し、この
ピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびその時刻を
記憶し（ステップ２０５）、ステップ２０６へ進む。ス
テップ２０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定の
スレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較する。こ
のステップ２０６において、傾きαがスレッショルドレ
ベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の山Ｐ１の
ピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエンド点ＥN1
での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステップ２０
７）、ステップ２０８へ進む。
回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々の傾きαを
求め、この傾きαと所定のスレッショルドレベルα
S1（正の値）とを比較し（ステップ２０４）、傾きαが
スレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形
の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断し、この
ピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびその時刻を
記憶し（ステップ２０５）、ステップ２０６へ進む。ス
テップ２０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定の
スレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較する。こ
のステップ２０６において、傾きαがスレッショルドレ
ベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の山Ｐ１の
ピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエンド点ＥN1
での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステップ２０
７）、ステップ２０８へ進む。
【００１０】ステップ２０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ２０４へ戻る。
ステップ２０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ２０５）、ステップ２０６へ進む。ステッ
プ２０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ２０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ２０７）、ステップ２
０８へ進む。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ２０４へ戻る。
ステップ２０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ２０５）、ステップ２０６へ進む。ステッ
プ２０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ２０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ２０７）、ステップ２
０８へ進む。
【００１１】ステップ２０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ２０４へ戻る。
ステップ２０４では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定
のスレッショルドレベルαS1とを比較する。ここで、図
１に示した濃度信号波形では、Ｐ２に続く次の山が生じ
ていないため、ステップ２０４でのＮＯに応ずる繰り返
し処理中、ステップ２０８において「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」がＹＥＳとなる。これにより、ステップ２０９
へ進み、ゲートオフ点ＧOFF での濃度信号値およびその
時刻を記憶する。そして、ステップ２１０へ進み、ステ
ップ２０２で開始した濃度信号値の積算を終了して、ゲ
ート時間帯ＧON〜ＧOFF における濃度信号波形のトータ
ル面積ＳT を得る。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ２０４へ戻る。
ステップ２０４では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定
のスレッショルドレベルαS1とを比較する。ここで、図
１に示した濃度信号波形では、Ｐ２に続く次の山が生じ
ていないため、ステップ２０４でのＮＯに応ずる繰り返
し処理中、ステップ２０８において「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」がＹＥＳとなる。これにより、ステップ２０９
へ進み、ゲートオフ点ＧOFF での濃度信号値およびその
時刻を記憶する。そして、ステップ２１０へ進み、ステ
ップ２０２で開始した濃度信号値の積算を終了して、ゲ
ート時間帯ＧON〜ＧOFF における濃度信号波形のトータ
ル面積ＳT を得る。
【００１２】そして、ステップ２１１へ進み、先に求め
たゲートオン点ＧON、山Ｐ１のピークスタート点ＳT1，
ピークエンド点ＥN1、山Ｐ２のピークスタート点ＳT2，
ピークエンド点ＥN2、ゲートオフ点ＧOFF の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形（図示破線で示す波
形）を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの
面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面積ＳB を上
記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面積ＳP を求
め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成
分の濃度測定を行う。ここで、図１と図７とを対比して
分かるように、本実施例では近似ベースラインが実際の
ベースラインに近づいており、これにより誤差成分を少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。
たゲートオン点ＧON、山Ｐ１のピークスタート点ＳT1，
ピークエンド点ＥN1、山Ｐ２のピークスタート点ＳT2，
ピークエンド点ＥN2、ゲートオフ点ＧOFF の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形（図示破線で示す波
形）を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの
面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面積ＳB を上
記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面積ＳP を求
め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成
分の濃度測定を行う。ここで、図１と図７とを対比して
分かるように、本実施例では近似ベースラインが実際の
ベースラインに近づいており、これにより誤差成分を少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。
【００１３】〔実施例２〕図３に濃度信号波形の一例を
示し、図４にこの濃度信号波形に適用される被測定ガス
成分の濃度測定処理フローを示す。本実施例において
は、ステップ４０１での「ゲートオン点ＧON？」のＹＥ
Ｓに従いその濃度信号波形における濃度信号値のサンプ
リング（周期ｔ1 でのサンプリング）およびそのサンプ
リングした濃度信号値の積算、および上記サンプリング
周期ｔ1 よりも長い周期ｔ2 で濃度信号値のサンプリン
グ（定周期サンプリング）を開始すると共に（ステップ
４０２）、ゲートオン点ＧONでの濃度信号値およびその
時刻を記憶する（ステップ４０３）。
示し、図４にこの濃度信号波形に適用される被測定ガス
成分の濃度測定処理フローを示す。本実施例において
は、ステップ４０１での「ゲートオン点ＧON？」のＹＥ
Ｓに従いその濃度信号波形における濃度信号値のサンプ
リング（周期ｔ1 でのサンプリング）およびそのサンプ
リングした濃度信号値の積算、および上記サンプリング
周期ｔ1 よりも長い周期ｔ2 で濃度信号値のサンプリン
グ（定周期サンプリング）を開始すると共に（ステップ
４０２）、ゲートオン点ＧONでの濃度信号値およびその
時刻を記憶する（ステップ４０３）。
【００１４】そして、周期ｔ1 でサンプリングした濃度
信号値の今回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々
の傾きαを求め、この傾きαと所定のスレッショルドレ
ベルαS1（正の値）とを比較し（ステップ４０４）、傾
きαがスレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信
号波形の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断
し、このピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびそ
の時刻を記憶し（ステップ４０５）、ステップ４０６へ
進む。ステップ４０６では濃度信号波形の刻々の傾きα
と所定のスレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較
する。このステップ４０６において、傾きαがスレッシ
ョルドレベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の
山Ｐ１のピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエン
ド点ＥN1での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステ
ップ４０７）、ステップ４０８へ進む。
信号値の今回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々
の傾きαを求め、この傾きαと所定のスレッショルドレ
ベルαS1（正の値）とを比較し（ステップ４０４）、傾
きαがスレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信
号波形の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断
し、このピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびそ
の時刻を記憶し（ステップ４０５）、ステップ４０６へ
進む。ステップ４０６では濃度信号波形の刻々の傾きα
と所定のスレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較
する。このステップ４０６において、傾きαがスレッシ
ョルドレベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の
山Ｐ１のピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエン
ド点ＥN1での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステ
ップ４０７）、ステップ４０８へ進む。
【００１５】ステップ４０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ４０４へ戻る。
ステップ４０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ４０５）、ステップ４０６へ進む。ステッ
プ４０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ４０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ４０７）、ステップ４
０８へ進む。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ４０４へ戻る。
ステップ４０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ４０５）、ステップ４０６へ進む。ステッ
プ４０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ４０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ４０７）、ステップ４
０８へ進む。
【００１６】ステップ４０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ４０４へ戻る。
ステップ４０４では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定
のスレッショルドレベルαS1とを比較する。ここで、図
３に示した濃度信号波形では、Ｐ２に続く次の山が生じ
ていないため、ステップ４０４でのＮＯに応ずる繰り返
し処理中、ステップ４０８において「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」がＹＥＳとなる。これにより、ステップ４０９
へ進み、ゲートオフ点ＧOFF での濃度信号値およびその
時刻を記憶する。そして、ステップ４１０へ進み、ステ
ップ４０２で開始した濃度信号値の積算および定周期サ
ンプリングを終了して、ゲート時間帯ＧON〜ＧOFF にお
ける濃度信号波形のトータル面積ＳT を得る。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ４０４へ戻る。
ステップ４０４では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定
のスレッショルドレベルαS1とを比較する。ここで、図
３に示した濃度信号波形では、Ｐ２に続く次の山が生じ
ていないため、ステップ４０４でのＮＯに応ずる繰り返
し処理中、ステップ４０８において「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」がＹＥＳとなる。これにより、ステップ４０９
へ進み、ゲートオフ点ＧOFF での濃度信号値およびその
時刻を記憶する。そして、ステップ４１０へ進み、ステ
ップ４０２で開始した濃度信号値の積算および定周期サ
ンプリングを終了して、ゲート時間帯ＧON〜ＧOFF にお
ける濃度信号波形のトータル面積ＳT を得る。
【００１７】そして、ステップ４１１へ進み、先に求め
たゲートオン点ＧON、山Ｐ１のピークスタート点ＳT1か
らピークエンド点ＥN1までの呂域および山Ｐ２のピーク
スタート点ＳT2からピークエンド点ＥN2までの領域を除
く定周期サンプリング点、ピークスタート点ＳT1，
ＳT2、ピークエンド点ＥN1，ＥN2、ゲートオフ点ＧOFF
の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形（図示破
線で示す波形）を近似ベースラインとし、この近似ベー
スラインの面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面
積ＳB を上記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面
積ＳP を求め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被
測定ガス成分の濃度測定を行う。ここで、図３と図１と
を対比して分かるように、本実施例では近似ベースライ
ンが実際のベースラインにさらに近づいており、これに
より誤差成分をさらに少なくし、ベースラインが湾曲し
て変動しても、またピークが小さくても、再現性良くピ
ーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行うことが可能
となる。
たゲートオン点ＧON、山Ｐ１のピークスタート点ＳT1か
らピークエンド点ＥN1までの呂域および山Ｐ２のピーク
スタート点ＳT2からピークエンド点ＥN2までの領域を除
く定周期サンプリング点、ピークスタート点ＳT1，
ＳT2、ピークエンド点ＥN1，ＥN2、ゲートオフ点ＧOFF
の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形（図示破
線で示す波形）を近似ベースラインとし、この近似ベー
スラインの面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面
積ＳB を上記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面
積ＳP を求め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被
測定ガス成分の濃度測定を行う。ここで、図３と図１と
を対比して分かるように、本実施例では近似ベースライ
ンが実際のベースラインにさらに近づいており、これに
より誤差成分をさらに少なくし、ベースラインが湾曲し
て変動しても、またピークが小さくても、再現性良くピ
ーク面積を測定し、精度良く濃度測定を行うことが可能
となる。
【００１８】〔実施例３〕図５に濃度信号波形（各山が
完全に分離していないような濃度信号波形）の一例を示
し、図６にこの濃度信号波形に適用される被測定ガス成
分の濃度測定処理フローを示す。本実施例においては、
ステップ６０１での「ゲートオン点ＧON？」のＹＥＳに
従い、その濃度信号波形における濃度信号値のサンプリ
ング（周期ｔ1 でのサンプリング）およびそのサンプリ
ングした濃度信号値の積算、および上記サンプリング周
期ｔ1 よりも長い周期ｔ2 での濃度信号値のサンプリン
グ（定周期サンプリング）を開始すると共に（ステップ
６０２）、ゲートオン点ＧONでの濃度信号値およびその
時刻を記憶する（ステップ６０３）。
完全に分離していないような濃度信号波形）の一例を示
し、図６にこの濃度信号波形に適用される被測定ガス成
分の濃度測定処理フローを示す。本実施例においては、
ステップ６０１での「ゲートオン点ＧON？」のＹＥＳに
従い、その濃度信号波形における濃度信号値のサンプリ
ング（周期ｔ1 でのサンプリング）およびそのサンプリ
ングした濃度信号値の積算、および上記サンプリング周
期ｔ1 よりも長い周期ｔ2 での濃度信号値のサンプリン
グ（定周期サンプリング）を開始すると共に（ステップ
６０２）、ゲートオン点ＧONでの濃度信号値およびその
時刻を記憶する（ステップ６０３）。
【００１９】そして、周期ｔ1 でサンプリングした濃度
信号値の今回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々
の傾きαを求め、この傾きαと所定のスレッショルドレ
ベルαS1（正の値）とを比較し（ステップ６０４）、傾
きαがスレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信
号波形の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断
し、このピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびそ
の時刻を記憶し（ステップ６０５）、ステップ６０６へ
進む。ステップ６０６では濃度信号波形の刻々の傾きα
と所定のスレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較
する。このステップ６０６において、傾きαがスレッシ
ョルドレベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の
山Ｐ１のピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエン
ド点ＥN1での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステ
ップ６０７）、ステップ６０８へ進む。
信号値の今回値と前回値とからその濃度信号波形の刻々
の傾きαを求め、この傾きαと所定のスレッショルドレ
ベルαS1（正の値）とを比較し（ステップ６０４）、傾
きαがスレッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信
号波形の最初の山Ｐ１のピークスタート点ＳT1と判断
し、このピークスタート点ＳT1での濃度信号値およびそ
の時刻を記憶し（ステップ６０５）、ステップ６０６へ
進む。ステップ６０６では濃度信号波形の刻々の傾きα
と所定のスレッショルドレベルαS2（負の値）とを比較
する。このステップ６０６において、傾きαがスレッシ
ョルドレベルαS2以上となれば、濃度信号波形の最初の
山Ｐ１のピークエンド点ＥN1と判断し、このピークエン
ド点ＥN1での濃度信号値およびその時刻を記憶し（ステ
ップ６０７）、ステップ６０８へ進む。
【００２０】ステップ６０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ６０４へ戻る。
ステップ６０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ６０５）、ステップ６０６へ進む。ステッ
プ６０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ６０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ６０７）、ステップ６
０８へ進む。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ６０４へ戻る。
ステップ６０４では、濃度信号波形の刻々の傾きαと所
定のスレッショルドレベルαS1とを比較し、傾きαがス
レッショルドレベルαS1以上となれば、濃度信号波形の
次の山Ｐ２のピークスタート点ＳT2と判断し、このピー
クスタート点ＳT2での濃度信号値およびその時刻を記憶
し（ステップ６０５）、ステップ６０６へ進む。ステッ
プ６０６では濃度信号波形の刻々の傾きαと所定のスレ
ッショルドレベルαS2とを比較する。このステップ６０
６において、傾きαがスレッショルドレベルαS2以上と
なれば、濃度信号波形の次の山Ｐ２のピークエンド点Ｅ
N2と判断し、このピークエンド点ＥN2での濃度信号値お
よびその時刻を記憶し（ステップ６０７）、ステップ６
０８へ進む。
【００２１】ステップ６０８では、「ゲートオフ点Ｇ
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ６０４へ戻る。
以下同様の処理を繰り返し、山Ｐ３のピークスタート点
ＳT3，ピークエンド点ＥN3、山Ｐ４のピークスタート点
ＳT4，ピークエンド点ＥN4での濃度信号値およびその時
刻を記憶する。ここで、図５に示した濃度信号波形で
は、Ｐ４に続く次の山が生じていないため、ステップ６
０４でのＮＯに応ずる繰り返し処理中、ステップ６０８
において「ゲートオフ点ＧOFF ？」がＹＥＳとなる。こ
れにより、ステップ６０９へ進み、ゲートオフ点ＧOFF
での濃度信号値およびその時刻を記憶する。そして、ス
テップ６１０へ進み、ステップ６０２で開始した濃度信
号値の積算および定周期サンプリングを終了して、ゲー
ト時間帯ＧON〜ＧOFF における濃度信号波形のトータル
面積ＳT を得る。
OFF ？」をチェックしたうえ、ステップ６０４へ戻る。
以下同様の処理を繰り返し、山Ｐ３のピークスタート点
ＳT3，ピークエンド点ＥN3、山Ｐ４のピークスタート点
ＳT4，ピークエンド点ＥN4での濃度信号値およびその時
刻を記憶する。ここで、図５に示した濃度信号波形で
は、Ｐ４に続く次の山が生じていないため、ステップ６
０４でのＮＯに応ずる繰り返し処理中、ステップ６０８
において「ゲートオフ点ＧOFF ？」がＹＥＳとなる。こ
れにより、ステップ６０９へ進み、ゲートオフ点ＧOFF
での濃度信号値およびその時刻を記憶する。そして、ス
テップ６１０へ進み、ステップ６０２で開始した濃度信
号値の積算および定周期サンプリングを終了して、ゲー
ト時間帯ＧON〜ＧOFF における濃度信号波形のトータル
面積ＳT を得る。
【００２２】そして、ステップ６１１へ進み、先に求め
たゲートオン点ＧON、最初の山Ｐ１のピークスタート点
ＳT1から最後の山Ｐ４のピークエンド点ＥN1までの領域
を除く定周期サンプリング点、ピークスタート点ＳT1，
ピークエンド点ＥN4、ゲートオフ点ＧOFF の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形（図示破線で示す波
形）を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの
面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面積ＳB を上
記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面積ＳP を求
め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成
分の濃度測定を行う。ここで、図５と図３とを対比して
分かるように、本実施例では、各山が完全に分離してい
ないような濃度信号波形であっても、近似ベースライン
を実際のベースラインに近づけるものとして、誤差成分
を少なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、また
ピークが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、
精度良く濃度測定を行うことが可能となる。
たゲートオン点ＧON、最初の山Ｐ１のピークスタート点
ＳT1から最後の山Ｐ４のピークエンド点ＥN1までの領域
を除く定周期サンプリング点、ピークスタート点ＳT1，
ピークエンド点ＥN4、ゲートオフ点ＧOFF の濃度信号値
を直線で結んで得られる信号波形（図示破線で示す波
形）を近似ベースラインとし、この近似ベースラインの
面積ＳB を求め、この近似ベースラインの面積ＳB を上
記トータル面積ＳT より差し引いてピーク面積ＳP を求
め、この求めたピーク面積ＳP に基づいて被測定ガス成
分の濃度測定を行う。ここで、図５と図３とを対比して
分かるように、本実施例では、各山が完全に分離してい
ないような濃度信号波形であっても、近似ベースライン
を実際のベースラインに近づけるものとして、誤差成分
を少なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、また
ピークが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、
精度良く濃度測定を行うことが可能となる。
【００２３】すなわち、各山が完全に分離していない図
５に示したような濃度信号波形に対して実施例２の技術
を適用すると、ＳT1，ＥN1，ＳT2，ＥN2，ＳT3，ＥN3，
ＳT4，ＥN4での濃度信号値を直線で結んだ疑似ベースラ
インが得られ、実際のベースラインと大きくかけ離れて
しまう。これに対して、本実施例では、ＥN1，ＳT2，Ｅ
N2，ＳT3，ＥN3，ＳT4での濃度信号値が疑似ベースライ
ンの作成に際して除去されるので、各山が完全に分離し
ていないような濃度信号波形であっても、近似ベースラ
インを実際のベースラインに近づけることができる。な
お、上述した各実施例においては、濃度信号波形に山が
複数出現している例で説明したが、山が一つの場合（被
測定ガス成分が１成分の場合）であっても同様にして適
用されることは言うまでもない。また、実施例２および
実施例３においては、周期ｔ2 を周期ｔ1 よりも長くし
たが、周期ｔ2 を可変として周期ｔ1と等しくするなど
としてもよい。
５に示したような濃度信号波形に対して実施例２の技術
を適用すると、ＳT1，ＥN1，ＳT2，ＥN2，ＳT3，ＥN3，
ＳT4，ＥN4での濃度信号値を直線で結んだ疑似ベースラ
インが得られ、実際のベースラインと大きくかけ離れて
しまう。これに対して、本実施例では、ＥN1，ＳT2，Ｅ
N2，ＳT3，ＥN3，ＳT4での濃度信号値が疑似ベースライ
ンの作成に際して除去されるので、各山が完全に分離し
ていないような濃度信号波形であっても、近似ベースラ
インを実際のベースラインに近づけることができる。な
お、上述した各実施例においては、濃度信号波形に山が
複数出現している例で説明したが、山が一つの場合（被
測定ガス成分が１成分の場合）であっても同様にして適
用されることは言うまでもない。また、実施例２および
実施例３においては、周期ｔ2 を周期ｔ1 よりも長くし
たが、周期ｔ2 を可変として周期ｔ1と等しくするなど
としてもよい。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように本
発明によれば、その第１発明では、濃度信号波形におけ
る各山のピークスタート点，ピークエンド点、ゲートオ
ン点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られ
る信号波形が近似ベースラインとされ、この近似ベース
ラインの面積が濃度信号波形のトータル面積より差し引
かれてピーク面積が求まるものとなり、近似ベースライ
ンを実際のベースラインに近づけるものとして、誤差成
分を少なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、ま
たピークが小さくても、再現性良くピーク面積を測定
し、精度良く濃度測定を行うことが可能となる。また、
その第２発明では、濃度信号波形における各山のピーク
スタート点からピークエンド点までの領域を除く定周期
サンプリング点、各山のピークスタート点，ピークエン
ド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線
で結んで得られる信号波形が近似ベースラインとされ、
この近似ベースラインの面積が濃度信号波形のトータル
面積より差し引かれてピーク面積が求められるものとな
り、第１発明よりも近似ベースラインを実際のベースラ
インにさらに近づけるものとして、誤差成分をさらに少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。また、その第３
発明では、濃度信号波形における最初の山のピークスタ
ート点から最後の山のピークエンド点までの領域を除く
定周期サンプリング点、最初の山のピークスタート点、
最後の山のピークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ
点の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形が近似
ベースラインとされ、この近似ベースラインの面積が濃
度信号波形のトータル面積より差し引かれてピーク面積
が求められるものとなり、各山が完全に分離していない
ような濃度信号波形であっても、近似ベースラインを実
際のベースラインに近づけるものとして、誤差成分を少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。
発明によれば、その第１発明では、濃度信号波形におけ
る各山のピークスタート点，ピークエンド点、ゲートオ
ン点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られ
る信号波形が近似ベースラインとされ、この近似ベース
ラインの面積が濃度信号波形のトータル面積より差し引
かれてピーク面積が求まるものとなり、近似ベースライ
ンを実際のベースラインに近づけるものとして、誤差成
分を少なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、ま
たピークが小さくても、再現性良くピーク面積を測定
し、精度良く濃度測定を行うことが可能となる。また、
その第２発明では、濃度信号波形における各山のピーク
スタート点からピークエンド点までの領域を除く定周期
サンプリング点、各山のピークスタート点，ピークエン
ド点、ゲートオン点、ゲートオフ点の濃度信号値を直線
で結んで得られる信号波形が近似ベースラインとされ、
この近似ベースラインの面積が濃度信号波形のトータル
面積より差し引かれてピーク面積が求められるものとな
り、第１発明よりも近似ベースラインを実際のベースラ
インにさらに近づけるものとして、誤差成分をさらに少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。また、その第３
発明では、濃度信号波形における最初の山のピークスタ
ート点から最後の山のピークエンド点までの領域を除く
定周期サンプリング点、最初の山のピークスタート点、
最後の山のピークエンド点、ゲートオン点、ゲートオフ
点の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形が近似
ベースラインとされ、この近似ベースラインの面積が濃
度信号波形のトータル面積より差し引かれてピーク面積
が求められるものとなり、各山が完全に分離していない
ような濃度信号波形であっても、近似ベースラインを実
際のベースラインに近づけるものとして、誤差成分を少
なくし、ベースラインが湾曲して変動しても、またピー
クが小さくても、再現性良くピーク面積を測定し、精度
良く濃度測定を行うことが可能となる。
【図１】 濃度信号波形の一例を示す図である。
【図２】 実施例１における被測定ガス成分の濃度測定
処理フローを示す図である。
処理フローを示す図である。
【図３】 濃度信号波形の一例を示す図である。
【図４】 実施例２における被測定ガス成分の濃度測定
処理フローを示す図である。
処理フローを示す図である。
【図５】 濃度信号波形の一例を示す図である。
【図６】 実施例３における被測定ガス成分の濃度測定
処理フローを示す図である。
処理フローを示す図である。
【図７】 従来のピーク面積測定方法を説明するための
濃度信号波形の一例を示す図である。
濃度信号波形の一例を示す図である。
【図８】 従来のピーク面積測定方法を適用した場合に
生ずる誤差成分を示す図である。
生ずる誤差成分を示す図である。
ＧON…ゲートオン点、ＧOFF …ゲートオフ点、ＳT1，Ｓ
T2…ピークスタート点、ＥN1，ＥN2…ピークエンド点、
Ｐ１，Ｐ２…濃度信号波形の山、ＳT …濃度信号波形の
トータル面積、ＳB …ベースラインのトータル面積、Ｓ
P …ピーク面積。
T2…ピークスタート点、ＥN1，ＥN2…ピークエンド点、
Ｐ１，Ｐ２…濃度信号波形の山、ＳT …濃度信号波形の
トータル面積、ＳB …ベースラインのトータル面積、Ｓ
P …ピーク面積。
Claims (3)
- 【請求項１】キャリアガスとサンプルガスとを混合し、
この混合ガスに含まれる被測定ガス成分を所定のゲート
時間帯に出現させるものとし、前記ゲート時間帯の開始
時点であるゲートオン点から終了時点であるゲートオフ
点までの濃度信号値をサンプリングし、このサンプリン
グした濃度信号値を積算して前記ゲート時間帯における
濃度信号波形のトータル面積を求める一方、前記ゲート
時間帯の濃度信号波形に含まれる前記キャリアガスによ
り生ずる信号波形に相当するベースラインを近似して求
め、この求めた近似ベースラインの面積を前記トータル
面積より差し引いてピーク面積を求めるガスクロマトグ
ラフにおけるピーク面積測定方法において、 前記濃度信号波形における各山のピークスタート点およ
びピークエンド点を求め、 この求めたピークスタート点，ピークエンド点、前記ゲ
ートオン点、前記ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結
んで得られる信号波形を近似ベースラインとし、 この近似ベースラインの面積を前記トータル面積より差
し引いてピーク面積を求めるようにしたことを特徴とす
るガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法。 - 【請求項２】 キャリアガスとサンプルガスとを混合
し、この混合ガスに含まれる被測定ガス成分を所定のゲ
ート時間帯に出現させるものとし、前記ゲート時間帯の
開始時点であるゲートオン点から終了時点であるゲート
オフ点までの濃度信号値をサンプリングし、このサンプ
リングした濃度信号値を積算して前記ゲート時間帯にお
ける濃度信号波形のトータル面積を求める一方、前記ゲ
ート時間帯の濃度信号波形に含まれる前記キャリアガス
により生ずる信号波形に相当するベースラインを近似し
て求め、この求めた近似ベースラインの面積を前記トー
タル面積より差し引いてピーク面積を求めるガスクロマ
トグラフにおけるピーク面積測定方法において、 前記濃度信号波形における各山のピークスタート点およ
びピークエンド点を求め、 この求めた各山のピークスタート点からピークエンド点
までの各領域を除く定周期サンプリング点、前記ピーク
スタート点，ピークエンド点、前記ゲートオン点、前記
ゲートオフ点の濃度信号値を直線で結んで得られる信号
波形を近似ベースラインとし、 この近似ベースラインの面積を前記トータル面積より差
し引いてピーク面積を求めるようにしたことを特徴とす
るガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法。 - 【請求項３】 キャリアガスとサンプルガスとを混合
し、この混合ガスに含まれる被測定ガス成分を所定のゲ
ート時間帯に出現させるものとし、前記ゲート時間帯の
開始時点であるゲートオン点から終了時点であるゲート
オフ点までの濃度信号値をサンプリングし、このサンプ
リングした濃度信号値を積算して前記ゲート時間帯にお
ける濃度信号波形のトータル面積を求める一方、前記ゲ
ート時間帯の濃度信号波形に含まれる前記キャリアガス
により生ずる信号波形に相当するベースラインを近似し
て求め、この求めた近似ベースラインの面積を前記トー
タル面積より差し引いてピーク面積を求めるガスクロマ
トグラフにおけるピーク面積測定方法において、 前記濃度信号波形における各山のピークスタート点およ
びピークエンド点を求め、 この求めた最初の山のピークスタート点から最後の山の
ピークエンド点までの領域を除く定周期サンプリング
点、前記最初の山のピークスタート点、前記最後の山の
ピークエンド点、前記ゲートオン点、前記ゲートオフ点
の濃度信号値を直線で結んで得られる信号波形を近似ベ
ースラインとし、 この近似ベースラインの面積を前記トータル面積より差
し引いてピーク面積を求めるようにしたことを特徴とす
るガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6652994A JPH07248324A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | ガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6652994A JPH07248324A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | ガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07248324A true JPH07248324A (ja) | 1995-09-26 |
Family
ID=13318505
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6652994A Pending JPH07248324A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | ガスクロマトグラフにおけるピーク面積測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07248324A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150790A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| WO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
-
1994
- 1994-03-11 JP JP6652994A patent/JPH07248324A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150790A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| WO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2015-04-23 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
| CN105637360A (zh) * | 2013-10-17 | 2016-06-01 | 株式会社岛津制作所 | 波形中的峰值端点检测方法及检测装置 |
| JPWO2015056329A1 (ja) * | 2013-10-17 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | 波形中のピーク端点検出方法および検出装置 |
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