JP3302487B2 - 周波数分析装置 - Google Patents

周波数分析装置

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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高速フーリエ変換(FF
T:Fast Fourier Transform)を利用した周波数測定装置
に係り、特に測定しようとしている目的の信号、例え
ば、商用電源に起因する所定の高調波成分のノイズを含
む鉄道用信号の周波数測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本出願人が、先に、特開平5−1368
34号公報で提案しているように、FFTを利用して周
波数を分析することは公知である。
【0003】従来のこの種の周波数分析においては、被
測定信号(fs)の最高周波数の2倍以上のサンプリング
周波数(fs/2)でサンプリングし、そのサンプリングし
た値をFFT分析するようにしている。
【0004】さらに説明をすると、今、図4に示される
ような、被測定信号が50Hを基準としているものとす
る。そして、50±0.1Hz の精度で測定する場合
は、少なくとも1/0.1=10(秒)間サンプリング
してFFT分析に供される。
【0005】図2(b)は、FFT分析した結果の表で
あり、49.9Hz の振幅(1.1V)が最も大きく、
したがって、この49.9Hz が被測定信号の周波数と
判定される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
周波数測定の例は、測定精度を50±0.1Hz とした
ときであるが、これを50±0.01Hz としたとき
は、サンプリング時間は、少なくとも1/0.01=1
00(秒)必要とするとともに、サンプリング数が増加
した分だけ、FFT分析の所要時間も長くなるという問
題点を含んでいる。
【0007】そこで、本発明は、このような問題点を解
決するためになされたものであって、例えば、鉄道用信
号の周波数を測定する場合、その信号には既知の高調波
ノイズが含まれていることに注目し、その高調波成分を
利用して従来装置よりも処理時間が短く、または従来装
置と同じ処理時間であればより高精度に測定することの
できる周波数測定装置を提供することを目的としてい
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る周波数測定
装置は、上記目的を達成するために、被測定信号の周波
数のn次の周波数を有する高調波信号を選択する高調波
選択手段と、選択された高調波信号を所定時間サンプリ
ングするサンプリング手段と、サンプリングされた値を
FFT周波数分析を行って最大の周波数成分の周波数を
抽出する抽出手段と、抽出された最大の周波数成分の周
波数を前記n次で除して被測定信号の周波数を算出する
算出手段と、を有することを特徴としている。
【0009】
【作用】上記構成において、算出手段は、サンプリング
手段が選択された高調波信号を所定時間サンプリングし
て得た値をFFT周波数分析を行って最大の周波数成分
の周波数を求め、これを高調波の次数、つまりn次で除
して被測定信号の周波数を算出する。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は、一実施例に係る周波数測定装置の概略構
成図であって、ここでは、架線Lに流れる信号の周波数
を測定する例が示されている。
【0011】この架線Lには、図4に示されるように、
50Hz を基本とする信号が供給されているものとす
る。また、この信号には、商用電源に起因する数字の複
数の高調波、例えば(100Hz ,150Hz ,200
Hz …がノイズとして含まれていることが分っているも
のとする。そして、本実施例装置では、これら高調波の
うち10次の500Hz が選択されて後述の周波数分析
に供される。なお、一般に、実際の列車制御信号中に
は、商用電源に起因する高調波が含まれている。
【0012】図中、Tは、架線Lに供給されている信号
を所定の値に降圧するトランス、Fは高調波500Hz
周辺の信号を選択するバンドパスフィルタ、1はバンド
パスフィルタ1の出力信号をサンプリングするサンプリ
ング回路、2はサンプリングされたアナログ信号をディ
ジタル値に変換するA/D変換器、3はディジタル値を
記憶する第1バッファ回路、4は周知のFFT周波数分
析器、5はFFT周波数分析の結果を記憶する第2バッ
ファ回路、及び6は高調波の次数(本実施例では10
次)で所定の高調波を割算する割算回路である。
【0013】次に、本実施例装置の周波数測定動作を図
3のフローチャートを用いて説明する。
【0014】先ず、架線Lに供給される信号(被測定信
号)が50Hz であり、この信号を50±0.1Hz の
精度で測定するものとする。また、選択する特定の高調
波は被測定信号の周波数(50Hz )の10次の500
Hz とし、バンドパスフィルタFのフィルタ特性及び割
算回路6の定数が設定される(ステップ100、ステッ
プ102。以下、ステップをSとする。)
【0014】したがって、サンプリング回路1は500
Hz 近辺のアナログ信号をサンプリングし、A/D変換
器2は、このサンプリングされたアナログ信号をディジ
タル信号に変換する。このディジタル信号は、第1バッ
ファ回路3に記憶させる。これらの処理を予め設定され
ている時間行う。この例では、1秒である(S104、
S106)。なお、サンプリング周波数は、従来と同様
に、少なくとも最高周波数fsの2倍(fs/2)である。
【0015】FFT分析器4は、所定のアルゴリズムに
従って第1バッファ3に記憶されているサンプリング値
の分析を行い、その結果は、図2(a)に示されるよう
に、周波数成分と振幅とを対応させて第2バッファ回路
5に記憶される(S108)。
【0016】次いで、割算回路6は、第2バッファ回路
5中に記憶されている値のうち、最も振幅の大きい周波
数を選択し、これを高調波の次数(10次)で割算を行
って、周波数の測定値を出力する(110、S11
2)。
【0017】図2(a)の例では、499Hz が最大で
あり、この値が次数(10次)で除されて499/10
=49.9Hz が出力されることを示している。
【0018】この測定結果の49.9Hz は、サプリン
グ時間1秒であり、同図(b)のサンプリング時間10
秒の従来の測定結果と同じ精度であることを示してい
る。
【0019】上述のように、本実施例装置は、高調波を
分析して周波数を測定するようにしているので、処理時
間を短縮することが可能となる。また、時間を従来と同
じにすれば、その測定値の精度を高くすることができ
る。
【0020】なお、上述の実施例では、選択する高調波
を10次の500Hz としたが、これ以上でもまたは以
下でもよい。もし、10次以上の場合は、さらに処理時
間が短縮される。
【0021】
【発明の効果】本発明に係る周波数測定装置は、被測定
信号の周波数のn次の周波数を有する高調波信号を選択
する高調波選択手段と、選択された高調波信号を所定時
間サンプリングするサンプリング手段と、サンプリング
された値をFFT周波数分析を行って最大の周波数成分
の周波数を抽出する抽出手段と、抽出された最大の周波
数成分の周波数を前記n次で除して被測定信号の周波数
を算出する算出手段とからなるので、処理時間を短くし
て従来と同程度の精度で周波数を測定でき、また、同程
度の処理時間を満たしたときは、高精度に周波数測定が
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る周波数測定装置の概略
構成図である。
【図2】(a)は本発明のFFT分析結果を示し、
(b)は従来のFFT分析結果を示す表である。
【図3】測定動作を示すフローチャートである。
【図4】架線に流れる信号波形図である。
【符号の説明】
1 A/D変換器 2 サンプリング回路 3 第1バッファ回路 4 FFT分析回路 5 第2バッファ回路 6 割算回路 T トランス F バンドパスフィルタ l 架線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−162462(JP,A) 特開 昭59−164964(JP,A) 特開 昭62−159058(JP,A) 特開 昭61−56975(JP,A) 特開 昭55−129761(JP,A) 実開 平1−75877(JP,U) 実開 昭60−139279(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 23/02 G01R 23/16 G01R 23/20

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定信号の周波数のn次の周波数を有
    する高調波信号を選択する高調波選択手段と、 選択された高調波信号を所定時間サンプリングするサン
    プリング手段と、 サンプリングされた値をFFT周波数分析を行って最大
    の周波数成分の周波数を抽出する抽出手段と、 抽出された最大の周波数成分の周波数を前記n次で除し
    て被測定信号の周波数を算出する算出手段と、 を有することを特徴とする周波数測定装置。
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