JPH07244107A - Ｉｃのｘ−ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方法 - Google Patents
Ｉｃのｘ−ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方法Info
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- JPH07244107A JPH07244107A JP6060118A JP6011894A JPH07244107A JP H07244107 A JPH07244107 A JP H07244107A JP 6060118 A JP6060118 A JP 6060118A JP 6011894 A JP6011894 A JP 6011894A JP H07244107 A JPH07244107 A JP H07244107A
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- capacitance
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタを用い、独
立パターンに接続する周囲回路網を考慮して、基板に対
するＩＣの逆配置を正確に検出する。 【構成】 基板１０に実装半田付けしたＩＣ１２の入力
又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６に接続す
る独立パターン２０と基板１０のグランド２２との間に
存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられた電荷を放電し
た後、その浮遊容量２４に対する直流の定電圧或いは定
電流充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後
の所定時間経過時の電圧或いは電流を測定して浮遊容量
２４の値を算出し、その浮遊容量２４の値を他の同一基
板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値と
比べることによってＩＣの配置の正逆を判定する。
立パターンに接続する周囲回路網を考慮して、基板に対
するＩＣの逆配置を正確に検出する。 【構成】 基板１０に実装半田付けしたＩＣ１２の入力
又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６に接続す
る独立パターン２０と基板１０のグランド２２との間に
存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられた電荷を放電し
た後、その浮遊容量２４に対する直流の定電圧或いは定
電流充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後
の所定時間経過時の電圧或いは電流を測定して浮遊容量
２４の値を算出し、その浮遊容量２４の値を他の同一基
板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値と
比べることによってＩＣの配置の正逆を判定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＸ−Ｙ方式インサーキッ
トテスタを用いて行うプリント基板に実装半田付けした
ＩＣ（集積回路）の逆配置検出方法に関する。
トテスタを用いて行うプリント基板に実装半田付けした
ＩＣ（集積回路）の逆配置検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、ＩＣを実装半田付けしたプリント
基板は小形化と量産化に適するため、種々の電子装置に
採用され需要が著しく増加している。しかし、その使用
に際してはＩＣの実装状態を常に厳しく検査する必要が
ある。何故なら、適正に実装されていないと、ＩＣの単
なる損傷に止まらず、装置全体の破壊に至ったりするか
らである。一般に、デジタルＩＣはその表裏を明確に区
別できる形状となっているが、その本体の正面側と背面
側からそれぞれ突出する各ピンは点対称の位置にある。
しかも、ＩＣの種類に関係なく、電源ピンとグランドピ
ンとが点対称の位置にある。それ故、基板に対し、誤っ
てＩＣの正面側と背面側を逆にして配置し、実装半田付
けしてしまうことがある。このため、電源ピンとグラン
ドピンとが逆に設置されていないかを検査すれば、ＩＣ
の配置が正常か、逆かの判定が可能になる。ところが、
プリント基板に実装されたＩＣの場合、測定にはＩＣの
各ピンにつながっている周囲の回路網が影響するため、
インサーキットテスタを用いても、電源ピンとグランド
ピンとの配置の正逆を検査するのは容易でない。
基板は小形化と量産化に適するため、種々の電子装置に
採用され需要が著しく増加している。しかし、その使用
に際してはＩＣの実装状態を常に厳しく検査する必要が
ある。何故なら、適正に実装されていないと、ＩＣの単
なる損傷に止まらず、装置全体の破壊に至ったりするか
らである。一般に、デジタルＩＣはその表裏を明確に区
別できる形状となっているが、その本体の正面側と背面
側からそれぞれ突出する各ピンは点対称の位置にある。
しかも、ＩＣの種類に関係なく、電源ピンとグランドピ
ンとが点対称の位置にある。それ故、基板に対し、誤っ
てＩＣの正面側と背面側を逆にして配置し、実装半田付
けしてしまうことがある。このため、電源ピンとグラン
ドピンとが逆に設置されていないかを検査すれば、ＩＣ
の配置が正常か、逆かの判定が可能になる。ところが、
プリント基板に実装されたＩＣの場合、測定にはＩＣの
各ピンにつながっている周囲の回路網が影響するため、
インサーキットテスタを用いても、電源ピンとグランド
ピンとの配置の正逆を検査するのは容易でない。
【０００３】そこで、本出願人は先に昭和６２年特許願
第３２７５９８号として、検査の対象となるプリント基
板に実装半田付けした電源ピン、グランドピン、入力ピ
ン、出力ピンを有するＩＣに対し、両電源電圧の和はそ
のＩＣに含まれる保護ダイオードの立ち上がり電圧より
大きいが、各電源電圧単独ではその立ち上がり電圧より
小さくなる第１電源と第２電源とを用い、第１電源電圧
を電源ピンとグランドピンとに印加し、第２電源電圧を
電流計を介して電源ピン又はグランドピンと入力ピン又
は出力ピンとに印加し、その電流計が指示する電流値を
先に正常配置されたＩＣを有する良品基板を用いて測定
しておいた基準となる正常配置時の電流値と比較し、正
常配置時と逆配置時とで電流値が大きく異なることを利
用して正常配置、逆配置を判定する方法を提示した。
第３２７５９８号として、検査の対象となるプリント基
板に実装半田付けした電源ピン、グランドピン、入力ピ
ン、出力ピンを有するＩＣに対し、両電源電圧の和はそ
のＩＣに含まれる保護ダイオードの立ち上がり電圧より
大きいが、各電源電圧単独ではその立ち上がり電圧より
小さくなる第１電源と第２電源とを用い、第１電源電圧
を電源ピンとグランドピンとに印加し、第２電源電圧を
電流計を介して電源ピン又はグランドピンと入力ピン又
は出力ピンとに印加し、その電流計が指示する電流値を
先に正常配置されたＩＣを有する良品基板を用いて測定
しておいた基準となる正常配置時の電流値と比較し、正
常配置時と逆配置時とで電流値が大きく異なることを利
用して正常配置、逆配置を判定する方法を提示した。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなＩＣの逆配置検出方法はＩＣに含まれる保護ダイオ
ードを利用する方法であり、ピンボード方式即ち実装基
板を検査治具たるフィクスチュアー（ピンボード）上に
乗せて固定するインサーキットテスタによって実施する
ことを前提としているので問題がある。何故なら、ピン
ボード方式ではＩＣのピンの数だけ測定プローブを必要
とするし、多品種少量生産の基板検査に適さないからで
ある。
うなＩＣの逆配置検出方法はＩＣに含まれる保護ダイオ
ードを利用する方法であり、ピンボード方式即ち実装基
板を検査治具たるフィクスチュアー（ピンボード）上に
乗せて固定するインサーキットテスタによって実施する
ことを前提としているので問題がある。何故なら、ピン
ボード方式ではＩＣのピンの数だけ測定プローブを必要
とするし、多品種少量生産の基板検査に適さないからで
ある。
【０００５】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、Ｘ−Ｙ方式インサーキットテス
タを用い、ピンを介して独立パターンに接続する周囲回
路網を考慮して、基板に対するＩＣの逆配置を正確に検
出方法を提供することを目的とする。
てなされたものであり、Ｘ−Ｙ方式インサーキットテス
タを用い、ピンを介して独立パターンに接続する周囲回
路網を考慮して、基板に対するＩＣの逆配置を正確に検
出方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式インサーキットテス
タによる逆配置検出方法では、基板１０に実装半田付け
したＩＣ１２の入力又は出力ピンに相当する少なくとも
１ピン１６を接続する独立パターン２０と基板のグラン
ド２２との間に存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられ
た電荷を放電した後、その浮遊容量２４に対する直流の
定電圧充電を開始し、その過渡期間内における充電開始
後の所定時間ｔ0 が経過した時の電流Ｉ1 を測定して浮
遊容量２４の値Ｃを算出し、その浮遊容量２４の値Ｃを
先に同様にして算出した他の同一基板の配置が正常な同
一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 と比べることによ
ってＩＣ１２の配置の正逆を判定する。
に、本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式インサーキットテス
タによる逆配置検出方法では、基板１０に実装半田付け
したＩＣ１２の入力又は出力ピンに相当する少なくとも
１ピン１６を接続する独立パターン２０と基板のグラン
ド２２との間に存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられ
た電荷を放電した後、その浮遊容量２４に対する直流の
定電圧充電を開始し、その過渡期間内における充電開始
後の所定時間ｔ0 が経過した時の電流Ｉ1 を測定して浮
遊容量２４の値Ｃを算出し、その浮遊容量２４の値Ｃを
先に同様にして算出した他の同一基板の配置が正常な同
一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 と比べることによ
ってＩＣ１２の配置の正逆を判定する。
【０００７】又は、基板１０に実装半田付けしたＩＣ１
２の入力又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６
を接続する独立パターン２０と基板１０のグランド２２
との間に存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられた電荷
を放電した後、その浮遊容量２４に対する直流の定電流
充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後の所
定時間ｔ0 が経過した時の電圧Ｖ1 を測定して浮遊容量
２４の値Ｃを算出し、その浮遊容量２４の値Ｃを先に同
様にして算出した他の同一基板の配置が正常な同一ＩＣ
の同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 と比べることによってＩ
Ｃ１２の配置の正逆を判定する。
２の入力又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６
を接続する独立パターン２０と基板１０のグランド２２
との間に存在する浮遊の静電容量２４に蓄えられた電荷
を放電した後、その浮遊容量２４に対する直流の定電流
充電を開始し、その過渡期間内における充電開始後の所
定時間ｔ0 が経過した時の電圧Ｖ1 を測定して浮遊容量
２４の値Ｃを算出し、その浮遊容量２４の値Ｃを先に同
様にして算出した他の同一基板の配置が正常な同一ＩＣ
の同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 と比べることによってＩ
Ｃ１２の配置の正逆を判定する。
【０００８】
【作用】上記の方法を実施するには、先ず入力又は出力
ピンに相当する少なくとも１ピン１６を接続する独立パ
ターン２０と基板のグランド２２とにそれぞれプローブ
３８、４０を当接して、それまで浮遊容量２４に蓄えら
れていた電荷を放電する。その後、両プローブ３８、４
０を介して、浮遊容量２４に対する直流の定電圧Ｖ0 の
印加による充電を開始する。そして、その過渡期間内に
おける充電開始後の所定時間ｔ0 が経過した時に浮遊容
量２４に流れる電流Ｉ1 を測定する。すると、浮遊容量
２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0 ）／Ｖ0 の式より算出で
きる。それ故、先に同様にして他の同一基板の配置が正
常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を算出して
おくと、浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊容量の値
Ｃ0と比べることができる。
ピンに相当する少なくとも１ピン１６を接続する独立パ
ターン２０と基板のグランド２２とにそれぞれプローブ
３８、４０を当接して、それまで浮遊容量２４に蓄えら
れていた電荷を放電する。その後、両プローブ３８、４
０を介して、浮遊容量２４に対する直流の定電圧Ｖ0 の
印加による充電を開始する。そして、その過渡期間内に
おける充電開始後の所定時間ｔ0 が経過した時に浮遊容
量２４に流れる電流Ｉ1 を測定する。すると、浮遊容量
２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0 ）／Ｖ0 の式より算出で
きる。それ故、先に同様にして他の同一基板の配置が正
常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を算出して
おくと、浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊容量の値
Ｃ0と比べることができる。
【０００９】その際、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 がプ
ローブ３８を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ３８を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６に接続していれば、
両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異なって
いるため、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮
遊容量の値Ｃ0より２〜３割減少する。又、基準となる
浮遊容量の値Ｃ0 がプローブ３８を出力ピンに接続する
独立パターンに当接して算出したものであると、実際に
プローブ３８を当接する独立パターン２０が入力ピン１
６に接続していれば、両独立パターン２０等に接続する
周囲回路網が異なっているため、算出した浮遊容量２４
の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割増加
する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際に
プローブ３８を当接する独立パターンに接続するピンと
実際にプローブ３８を当接する独立パターン２０に接続
するピン１６との種類が等しいと、両独立パターン２０
等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、浮遊容量２
４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくな
る。それ故、ＩＣ１２の配置の正逆を判定することが可
能になる。
ローブ３８を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ３８を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６に接続していれば、
両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異なって
いるため、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮
遊容量の値Ｃ0より２〜３割減少する。又、基準となる
浮遊容量の値Ｃ0 がプローブ３８を出力ピンに接続する
独立パターンに当接して算出したものであると、実際に
プローブ３８を当接する独立パターン２０が入力ピン１
６に接続していれば、両独立パターン２０等に接続する
周囲回路網が異なっているため、算出した浮遊容量２４
の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割増加
する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際に
プローブ３８を当接する独立パターンに接続するピンと
実際にプローブ３８を当接する独立パターン２０に接続
するピン１６との種類が等しいと、両独立パターン２０
等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、浮遊容量２
４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくな
る。それ故、ＩＣ１２の配置の正逆を判定することが可
能になる。
【００１０】又、上記の他の方法を実施する場合にも、
入力又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６を接
続する独立パターン２０と基板１０のグランド２２とに
それぞれプローブ７４、７６を当接して、それまで浮遊
容量２４に蓄えられていた電荷を放電する。その後、両
プローブ７４、７６を介して、浮遊容量２４に対する直
流の定電流Ｉ0 による充電を開始する。そして、その過
渡期間内における充電開始後の所定時間ｔ0 が経過した
時の浮遊容量２４の両端電圧Ｖ1 を測定する。すると、
浮遊容量２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0 ）／Ｖ0 の式よ
り算出できる。それ故、先に同様にして他の同一基板の
配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を
算出しておくと、浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊
容量の値Ｃ0と比べることができる。
入力又は出力ピンに相当する少なくとも１ピン１６を接
続する独立パターン２０と基板１０のグランド２２とに
それぞれプローブ７４、７６を当接して、それまで浮遊
容量２４に蓄えられていた電荷を放電する。その後、両
プローブ７４、７６を介して、浮遊容量２４に対する直
流の定電流Ｉ0 による充電を開始する。そして、その過
渡期間内における充電開始後の所定時間ｔ0 が経過した
時の浮遊容量２４の両端電圧Ｖ1 を測定する。すると、
浮遊容量２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0 ）／Ｖ0 の式よ
り算出できる。それ故、先に同様にして他の同一基板の
配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を
算出しておくと、浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊
容量の値Ｃ0と比べることができる。
【００１１】その際、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 がプ
ローブ７４を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ７４を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６に接続していれば、
両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異なって
いるため、やはり算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割減少するし、基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0がプローブ７４を出力ピンに接続
する独立パターンに当接して算出したものであると、実
際にプローブ７４を当接する独立パターン２０が入力ピ
ン１６に接続していれば、両独立パターン２０等に接続
する周囲回路網が異なっているため、やはり算出した浮
遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２
〜３割増加する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算
出する際にプローブ７４を当接する独立パターンに接続
するピンと実際にプローブ７４を当接する独立パターン
２０に接続するピン１６との種類が等しいと、両独立パ
ターン２０等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、
浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0にほ
ぼ等しくなる。それ故、ＩＣ１２の配置の正逆を判定す
ることが可能になる。
ローブ７４を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ７４を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６に接続していれば、
両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異なって
いるため、やはり算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割減少するし、基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0がプローブ７４を出力ピンに接続
する独立パターンに当接して算出したものであると、実
際にプローブ７４を当接する独立パターン２０が入力ピ
ン１６に接続していれば、両独立パターン２０等に接続
する周囲回路網が異なっているため、やはり算出した浮
遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２
〜３割増加する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算
出する際にプローブ７４を当接する独立パターンに接続
するピンと実際にプローブ７４を当接する独立パターン
２０に接続するピン１６との種類が等しいと、両独立パ
ターン２０等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、
浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0にほ
ぼ等しくなる。それ故、ＩＣ１２の配置の正逆を判定す
ることが可能になる。
【００１２】
【実施例】以下、添付図面に基づいて、本発明の実施例
を説明する。図１は本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式イン
サーキットテスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊
容量に対する直流定電圧充電による計測回路を示す図で
ある。図中、１０は被検査基板、１２はその基板１０に
表面実装半田付けした検査の対象となるフラットパッケ
ージＩＣ、１４はＩＣ１２の本体、１６（１６ａ、１６
ｂ、１６ｃ、１６ｄ）、１８（１８ａ、１８ｂ）は本体
１４の正、背面側からそれぞれ突出する入力又は出力ピ
ン、電源又はグランドピン、２０は入力又は出力ピン１
６ａと接続する独立パターン、２２は基板１０のグラン
ド、２４は独立パターン２０と基板１０のグランド２２
との間に存在し、独立パターン２０に接続する周囲回路
網の影響を受ける浮遊の静電容量である。又、２６は浮
遊容量２４を計測する回路、２８はその直流定電圧電
源、３０、３２（３２ａ、３２ｂ）は開閉式スイッチ、
３４は電流計、３６は計測回路２６のグランド、３８、
４０は独立パターン２０と基板１０のグランド２２に当
接するプローブである。
を説明する。図１は本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式イン
サーキットテスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊
容量に対する直流定電圧充電による計測回路を示す図で
ある。図中、１０は被検査基板、１２はその基板１０に
表面実装半田付けした検査の対象となるフラットパッケ
ージＩＣ、１４はＩＣ１２の本体、１６（１６ａ、１６
ｂ、１６ｃ、１６ｄ）、１８（１８ａ、１８ｂ）は本体
１４の正、背面側からそれぞれ突出する入力又は出力ピ
ン、電源又はグランドピン、２０は入力又は出力ピン１
６ａと接続する独立パターン、２２は基板１０のグラン
ド、２４は独立パターン２０と基板１０のグランド２２
との間に存在し、独立パターン２０に接続する周囲回路
網の影響を受ける浮遊の静電容量である。又、２６は浮
遊容量２４を計測する回路、２８はその直流定電圧電
源、３０、３２（３２ａ、３２ｂ）は開閉式スイッチ、
３４は電流計、３６は計測回路２６のグランド、３８、
４０は独立パターン２０と基板１０のグランド２２に当
接するプローブである。
【００１3】図２は図１に示した計測回路を有するＸ−
Ｙ方式インサーキットテスタの構成を示すブロック図で
ある。図中、４２はＸ−Ｙ方式インサーキットテスタ、
４４はその操作部、４６はＸ−Ｙ−Ｚ制御部、４８は測
定部、５０はコントローラである。この操作部４４には
キーボード、表示装置、プリンタ、フロッピーディスク
ドライバ等の入出力機器を備える。そして、Ｘ−Ｙ−Ｚ
制御部４６により２組のＸ−Ｙユニット（図示なし）に
それぞれ備えたサーボモータ等を駆動し、それ等のＸ−
Ｙユニットを制御して、各Ｘ−Ｙユニットに備えたプロ
ーブ３８、４０を測定台上でＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそ
れぞれ適宜移動する。又、測定部４８は計測回路２６を
有し、適宜の電圧、電流信号等を切換器を介して各Ｘ−
Ｙユニットに備えたプローブ３８、４０に与え、それ等
のプローブ３８、４２が接触する箇所の電流、電圧等を
検出し、浮遊容量２４等の測定を行なう。
Ｙ方式インサーキットテスタの構成を示すブロック図で
ある。図中、４２はＸ−Ｙ方式インサーキットテスタ、
４４はその操作部、４６はＸ−Ｙ−Ｚ制御部、４８は測
定部、５０はコントローラである。この操作部４４には
キーボード、表示装置、プリンタ、フロッピーディスク
ドライバ等の入出力機器を備える。そして、Ｘ−Ｙ−Ｚ
制御部４６により２組のＸ−Ｙユニット（図示なし）に
それぞれ備えたサーボモータ等を駆動し、それ等のＸ−
Ｙユニットを制御して、各Ｘ−Ｙユニットに備えたプロ
ーブ３８、４０を測定台上でＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向にそ
れぞれ適宜移動する。又、測定部４８は計測回路２６を
有し、適宜の電圧、電流信号等を切換器を介して各Ｘ−
Ｙユニットに備えたプローブ３８、４０に与え、それ等
のプローブ３８、４２が接触する箇所の電流、電圧等を
検出し、浮遊容量２４等の測定を行なう。
【００１４】これ等の操作部４４、Ｘ−Ｙ−Ｚ制御部４
６、測定部４８はＣＰＵを備えたコントローラ５０によ
ってそれぞれ制御する。コントローラ５０は例えば図３
に示すようなマイクロコンピュータであり、ＣＰＵ（中
央処理装置）５２、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）５
４、ＲＡＭ（読み出し書き込み可能メモリ）５６、入出
力ポート５８、バスライン６０等から構成されている。
ＣＰＵ５０はマイクロコンピュータの中心となる頭脳部
に相当し、プログラムの命令に従って全体に対する制御
を実行すると共に、算術、論理演算を行ない、その結果
も一時的に記憶する。又、周辺装置に対しても適宜制御
を行なっている。ＲＯＭ５４にはＸ−Ｙ方式インサーキ
ットテスタ４２の全体を制御するための制御プログラム
等が格納されている。又、ＲＡＭ５６は外部から入力し
たデータ、ＩＣの逆配置検出処理プログラム、各プロー
ブ３８、４０を用いて検出したデータ、それ等のデータ
からＣＰＵ５２で演算したデータ等の各種データを記憶
する。入出力ポート５８には操作部４４、Ｘ−Ｙ−Ｚ制
御部４６、測定部４８等が接続する。バスライン６０は
それ等を接続するためのアドレスバスライン、データバ
スライン、制御バスライン等を含み、周辺装置とも適宜
結合する。
６、測定部４８はＣＰＵを備えたコントローラ５０によ
ってそれぞれ制御する。コントローラ５０は例えば図３
に示すようなマイクロコンピュータであり、ＣＰＵ（中
央処理装置）５２、ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）５
４、ＲＡＭ（読み出し書き込み可能メモリ）５６、入出
力ポート５８、バスライン６０等から構成されている。
ＣＰＵ５０はマイクロコンピュータの中心となる頭脳部
に相当し、プログラムの命令に従って全体に対する制御
を実行すると共に、算術、論理演算を行ない、その結果
も一時的に記憶する。又、周辺装置に対しても適宜制御
を行なっている。ＲＯＭ５４にはＸ−Ｙ方式インサーキ
ットテスタ４２の全体を制御するための制御プログラム
等が格納されている。又、ＲＡＭ５６は外部から入力し
たデータ、ＩＣの逆配置検出処理プログラム、各プロー
ブ３８、４０を用いて検出したデータ、それ等のデータ
からＣＰＵ５２で演算したデータ等の各種データを記憶
する。入出力ポート５８には操作部４４、Ｘ−Ｙ−Ｚ制
御部４６、測定部４８等が接続する。バスライン６０は
それ等を接続するためのアドレスバスライン、データバ
スライン、制御バスライン等を含み、周辺装置とも適宜
結合する。
【００１５】このようなＸ−Ｙ方式インサーキットテス
タ４２を用いて、フラットパッケージＩＣ１２の配置状
態を検査する場合、先ずインサーキットテスタ４２に備
えた２組のＸ−Ｙユニットをそれぞれ制御し、一方のプ
ローブ３８を例えば正面側の左端にある入力又は出力ピ
ン１６ａと接続する独立パターン２０の測定点に当接
し、他方のプローブ４０を基板１０のグランド２２或い
はグランド２２に接続する独立パターン（図示なし）の
測定点に当接する。そして、両プローブ３８、４０に接
続する開閉式スイッチ３０を閉じ、両開閉式スイッチ３
２を開き、それまで浮遊容量２４に蓄えられていた電荷
を放電する。その後、開閉式スイッチ３０を開いて、両
開閉式スイッチ３２を閉じ、電源２８より両プローブ３
８、４０を介して、直流の定電圧Ｖ0 を印加し、浮遊容
量２４に対する充電を開始する。
タ４２を用いて、フラットパッケージＩＣ１２の配置状
態を検査する場合、先ずインサーキットテスタ４２に備
えた２組のＸ−Ｙユニットをそれぞれ制御し、一方のプ
ローブ３８を例えば正面側の左端にある入力又は出力ピ
ン１６ａと接続する独立パターン２０の測定点に当接
し、他方のプローブ４０を基板１０のグランド２２或い
はグランド２２に接続する独立パターン（図示なし）の
測定点に当接する。そして、両プローブ３８、４０に接
続する開閉式スイッチ３０を閉じ、両開閉式スイッチ３
２を開き、それまで浮遊容量２４に蓄えられていた電荷
を放電する。その後、開閉式スイッチ３０を開いて、両
開閉式スイッチ３２を閉じ、電源２８より両プローブ３
８、４０を介して、直流の定電圧Ｖ0 を印加し、浮遊容
量２４に対する充電を開始する。
【００１６】すると、充電開始後の過渡期間内におい
て、しばらく時間ｔの経過と共に浮遊容量２４に流れる
電流Ｉが反比例して減少する。そこで、定電圧印加回路
に直列接続する電流計３４により過渡期間内における充
電開始後の所定時間ｔ0 が経過した時の電流Ｉ1 を測定
する。すると、浮遊容量２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0）
／Ｖ0 の式より算出できる。それ故、先に同様にして他
の同一基板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容
量の値Ｃ0 を算出しておくと、浮遊容量２４の値Ｃを基
準となる浮遊容量の値Ｃ0と比べることができる。
て、しばらく時間ｔの経過と共に浮遊容量２４に流れる
電流Ｉが反比例して減少する。そこで、定電圧印加回路
に直列接続する電流計３４により過渡期間内における充
電開始後の所定時間ｔ0 が経過した時の電流Ｉ1 を測定
する。すると、浮遊容量２４の値ＣがＣ＝（Ｉ1 ・ｔ0）
／Ｖ0 の式より算出できる。それ故、先に同様にして他
の同一基板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容
量の値Ｃ0 を算出しておくと、浮遊容量２４の値Ｃを基
準となる浮遊容量の値Ｃ0と比べることができる。
【００１７】その際、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 がプ
ローブ３８を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ３８を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６ａに接続していれ
ば、両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異な
っているため、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準とな
る浮遊容量の値Ｃ0 より２〜３割減少する。又、基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0 がプローブ３８を出力ピンに接続
する独立パターンに当接して算出したものであると、実
際にプローブ３８を当接する独立パターン２０が入力ピ
ン１６ａに接続していれば、両独立パターン２０等に接
続する周囲回路網が異なっているため、算出した浮遊容
量２４の値Ｃは、基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜
３割増加する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出
する際にプローブ３８を当接する独立パターンに接続す
るピンと実際にプローブ３８を当接する独立パターン２
０に接続するピン１６ａとの種類が等しいと、両独立パ
ターン２０等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、
算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値
Ｃ0 にほぼ等しくなる。
ローブ３８を入力ピンに接続する独立パターンに当接し
て算出したものであると、実際にプローブ３８を当接す
る独立パターン２０が出力ピン１６ａに接続していれ
ば、両独立パターン２０等に接続する周囲回路網が異な
っているため、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準とな
る浮遊容量の値Ｃ0 より２〜３割減少する。又、基準と
なる浮遊容量の値Ｃ0 がプローブ３８を出力ピンに接続
する独立パターンに当接して算出したものであると、実
際にプローブ３８を当接する独立パターン２０が入力ピ
ン１６ａに接続していれば、両独立パターン２０等に接
続する周囲回路網が異なっているため、算出した浮遊容
量２４の値Ｃは、基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜
３割増加する。又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出
する際にプローブ３８を当接する独立パターンに接続す
るピンと実際にプローブ３８を当接する独立パターン２
０に接続するピン１６ａとの種類が等しいと、両独立パ
ターン２０等に接続する周囲回路網がほぼ等しいため、
算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊容量の値
Ｃ0 にほぼ等しくなる。
【００１８】それ故、浮遊容量２４の値Ｃが基準となる
浮遊容量の値Ｃ0 と異なっていれば、ＩＣ１２が基板１
０に対して逆配置になっていると判定できる。しかし、
浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ0 とほ
ぼ同一であっても、それだけではＩＣ１２が基板１０に
対して正常に配置されていると即断できない。何故な
ら、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっていて
も、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際にプロー
ブ３８を当接する独立パターンに接続するピンと実際に
プローブ３８を当接する独立パターン２０に接続するピ
ン１６ａとの種類が等しいと、算出した浮遊容量の値Ｃ
は基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくなるからで
ある。
浮遊容量の値Ｃ0 と異なっていれば、ＩＣ１２が基板１
０に対して逆配置になっていると判定できる。しかし、
浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ0 とほ
ぼ同一であっても、それだけではＩＣ１２が基板１０に
対して正常に配置されていると即断できない。何故な
ら、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっていて
も、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際にプロー
ブ３８を当接する独立パターンに接続するピンと実際に
プローブ３８を当接する独立パターン２０に接続するピ
ン１６ａとの種類が等しいと、算出した浮遊容量の値Ｃ
は基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくなるからで
ある。
【００１９】そこで、浮遊容量２４の値Ｃが基準となる
浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しい場合には一方のプローブ
３８を移動し、隣の入力又は出力ピン１６ｂと接続する
独立パターン（図示なし）の測定点に当接して、同様に
基板１０のグランド２２との間に存在する浮遊容量の値
を算出し、基準となる浮遊容量の値と比べる。このよう
にして、一方のプローブ３８を順次移動しながら、ＩＣ
１２の入力又は出力ピン１６と接続する独立パターン毎
にそれぞれ浮遊容量の値を算出して、対応する基準とな
る浮遊容量の値と繰り返して比べて行なった時、いずれ
かの浮遊容量の値と対応する基準となる浮遊容量の値と
が異なれば、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっ
ていると判定できる。又、いずれの浮遊容量の値も対応
する基準となる浮遊容量の値とほぼ等しければ、ＩＣ１
２が基板１０に対して正常に配置されていると判定でき
る。なお、このようなＩＣ１２の逆配置検出方法は各独
立パターンに接続する入力又は出力ピン１６が複数本の
場合にも適用できる。因みに、電源又はグランドピン１
８の位置は明らかなので、当然それ等のピン１８は除い
て、浮遊容量の値を算出する。
浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しい場合には一方のプローブ
３８を移動し、隣の入力又は出力ピン１６ｂと接続する
独立パターン（図示なし）の測定点に当接して、同様に
基板１０のグランド２２との間に存在する浮遊容量の値
を算出し、基準となる浮遊容量の値と比べる。このよう
にして、一方のプローブ３８を順次移動しながら、ＩＣ
１２の入力又は出力ピン１６と接続する独立パターン毎
にそれぞれ浮遊容量の値を算出して、対応する基準とな
る浮遊容量の値と繰り返して比べて行なった時、いずれ
かの浮遊容量の値と対応する基準となる浮遊容量の値と
が異なれば、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっ
ていると判定できる。又、いずれの浮遊容量の値も対応
する基準となる浮遊容量の値とほぼ等しければ、ＩＣ１
２が基板１０に対して正常に配置されていると判定でき
る。なお、このようなＩＣ１２の逆配置検出方法は各独
立パターンに接続する入力又は出力ピン１６が複数本の
場合にも適用できる。因みに、電源又はグランドピン１
８の位置は明らかなので、当然それ等のピン１８は除い
て、浮遊容量の値を算出する。
【００２０】図４は他の本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式
インサーキットテスタによる逆配置検出方法を実施する
浮遊容量に対する直流定電圧充電による計測回路を示す
図である。図中、６２は計測回路、６４はその直流定電
圧電源、６６、６８（６８ａ、６８ｂ）は開閉式スイッ
チ、７０は電流計、７２は計測回路６２のグランド、７
４、７６は独立パターン２０と基板１０のグランド２２
に当接するプローブである。フラットパッケージＩＣ１
２の配置状態を検査する場合、先ずＸ−Ｙ方式インサー
キットテスタ４２に備えた２組のＸ−Ｙユニットをそれ
ぞれ制御し、一方のプローブ７４を左端にある入力又は
出力ピン１６ａと接続する独立パターン２０の測定点に
当接し、他方のプローブ７６を基板１０のグランド２２
の測定点に当接する。そして、両プローブ７４、７６に
接続する開閉式スイッチ６６を閉じ、両開閉式スイッチ
６８を開き、それまで浮遊容量２４に蓄えられていた電
荷を放電する。その後、開閉式スイッチ６６を開いて、
両開閉式スイッチ６８を閉じ、電源６４より両プローブ
７４、７６を介して、直流の定電流Ｉ0 を流し、浮遊容
量２４に対する充電を開始する。
インサーキットテスタによる逆配置検出方法を実施する
浮遊容量に対する直流定電圧充電による計測回路を示す
図である。図中、６２は計測回路、６４はその直流定電
圧電源、６６、６８（６８ａ、６８ｂ）は開閉式スイッ
チ、７０は電流計、７２は計測回路６２のグランド、７
４、７６は独立パターン２０と基板１０のグランド２２
に当接するプローブである。フラットパッケージＩＣ１
２の配置状態を検査する場合、先ずＸ−Ｙ方式インサー
キットテスタ４２に備えた２組のＸ−Ｙユニットをそれ
ぞれ制御し、一方のプローブ７４を左端にある入力又は
出力ピン１６ａと接続する独立パターン２０の測定点に
当接し、他方のプローブ７６を基板１０のグランド２２
の測定点に当接する。そして、両プローブ７４、７６に
接続する開閉式スイッチ６６を閉じ、両開閉式スイッチ
６８を開き、それまで浮遊容量２４に蓄えられていた電
荷を放電する。その後、開閉式スイッチ６６を開いて、
両開閉式スイッチ６８を閉じ、電源６４より両プローブ
７４、７６を介して、直流の定電流Ｉ0 を流し、浮遊容
量２４に対する充電を開始する。
【００２１】すると、当然充電開始後の過渡期間内にお
いて、しばらく時間ｔの経過と共に浮遊容量２４の両端
電圧Ｖが比例して増加する。そこで、電圧計７０により
過渡期間内における充電開始後の所定時間ｔ0 が経過し
た時の電圧Ｖ1 を測定する。すると、浮遊容量２４の値
ＣをＣ＝（Ｉ0 ・ｔ0 ）／Ｖ1 の式より算出できる。そ
れ故、先に同様にして他の同一基板の配置が正常な同一
ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を算出しておくと、
浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊容量の値Ｃ0と比
べることができる。その際、基準となる浮遊容量の値Ｃ
0 がプローブ７４を入力ピンに接続する独立パターンに
当接して算出したものであると、実際にプローブ７４を
当接する独立パターン２０が出力ピン１６ａに接続して
いれば、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊
容量の値Ｃ0より２〜３割減少し、基準となる浮遊容量
の値Ｃ0 がプローブ７４を出力ピンに接続する独立パタ
ーンに当接して算出したものであると、実際にプローブ
７４を当接する独立パターン２０が入力ピン１６ａに接
続していれば、両独立パターン２０等に接続する周囲回
路網が異なっているため、算出した浮遊容量２４の値Ｃ
は基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割増加する。
又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際にプロー
ブ７４を当接する独立パターンに接続するピンと実際に
プローブ７４を当接する独立パターン２０に接続するピ
ン１６ａとの種類が等しいと、両独立パターン２０等に
接続する周囲回路網がほぼ等しいため、浮遊容量２４の
値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくなる。
いて、しばらく時間ｔの経過と共に浮遊容量２４の両端
電圧Ｖが比例して増加する。そこで、電圧計７０により
過渡期間内における充電開始後の所定時間ｔ0 が経過し
た時の電圧Ｖ1 を測定する。すると、浮遊容量２４の値
ＣをＣ＝（Ｉ0 ・ｔ0 ）／Ｖ1 の式より算出できる。そ
れ故、先に同様にして他の同一基板の配置が正常な同一
ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値Ｃ0 を算出しておくと、
浮遊容量２４の値Ｃを基準となる浮遊容量の値Ｃ0と比
べることができる。その際、基準となる浮遊容量の値Ｃ
0 がプローブ７４を入力ピンに接続する独立パターンに
当接して算出したものであると、実際にプローブ７４を
当接する独立パターン２０が出力ピン１６ａに接続して
いれば、算出した浮遊容量２４の値Ｃは基準となる浮遊
容量の値Ｃ0より２〜３割減少し、基準となる浮遊容量
の値Ｃ0 がプローブ７４を出力ピンに接続する独立パタ
ーンに当接して算出したものであると、実際にプローブ
７４を当接する独立パターン２０が入力ピン１６ａに接
続していれば、両独立パターン２０等に接続する周囲回
路網が異なっているため、算出した浮遊容量２４の値Ｃ
は基準となる浮遊容量の値Ｃ0より２〜３割増加する。
又、基準となる浮遊容量の値Ｃ0 を算出する際にプロー
ブ７４を当接する独立パターンに接続するピンと実際に
プローブ７４を当接する独立パターン２０に接続するピ
ン１６ａとの種類が等しいと、両独立パターン２０等に
接続する周囲回路網がほぼ等しいため、浮遊容量２４の
値Ｃは基準となる浮遊容量の値Ｃ0 にほぼ等しくなる。
【００２２】それ故、浮遊容量２４の値Ｃが基準となる
浮遊容量の値Ｃ0 と異なっていれば、ＩＣ１２が基板１
０に対して逆配置になっていると判定できる。しかし、
浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ0 とほ
ぼ同一であっても、やはりそれだけではＩＣ１２が基板
１０に対して正常に配置されていると即断できない。そ
こで、浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ
0 にほぼ等しい場合には一方のプローブ７４を移動し、
隣の入力又は出力ピン１６ｂと接続する独立パターン
（図示なし）の測定点に当接して、同様に基板１０のグ
ランド２２との間に存在する浮遊容量の値を算出し、基
準となる浮遊容量の値と比べる。このようにして、一方
のプローブ７４をやはり順次移動しながら、ＩＣ１２の
入力又は出力ピン１６と接続する独立パターン毎にそれ
ぞれ浮遊容量の値を算出して、対応する基準となる浮遊
容量の値と繰り返して比べて行なった時、いずれかの浮
遊容量の値と対応する基準となる浮遊容量の値とが異な
れば、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっている
と判定できるし、いずれの浮遊容量の値も対応する基準
となる浮遊容量の値とほぼ等しければ、ＩＣ１２が基板
１０に対して正常に配置されていると判定できる。
浮遊容量の値Ｃ0 と異なっていれば、ＩＣ１２が基板１
０に対して逆配置になっていると判定できる。しかし、
浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ0 とほ
ぼ同一であっても、やはりそれだけではＩＣ１２が基板
１０に対して正常に配置されていると即断できない。そ
こで、浮遊容量２４の値Ｃが基準となる浮遊容量の値Ｃ
0 にほぼ等しい場合には一方のプローブ７４を移動し、
隣の入力又は出力ピン１６ｂと接続する独立パターン
（図示なし）の測定点に当接して、同様に基板１０のグ
ランド２２との間に存在する浮遊容量の値を算出し、基
準となる浮遊容量の値と比べる。このようにして、一方
のプローブ７４をやはり順次移動しながら、ＩＣ１２の
入力又は出力ピン１６と接続する独立パターン毎にそれ
ぞれ浮遊容量の値を算出して、対応する基準となる浮遊
容量の値と繰り返して比べて行なった時、いずれかの浮
遊容量の値と対応する基準となる浮遊容量の値とが異な
れば、ＩＣ１２が基板１０に対して逆配置になっている
と判定できるし、いずれの浮遊容量の値も対応する基準
となる浮遊容量の値とほぼ等しければ、ＩＣ１２が基板
１０に対して正常に配置されていると判定できる。
【００２３】なお、上記実施例では本発明を表面実装型
ＩＣに適用した例を説明したが、ディップ型ＩＣについ
ても当然適用することができる。
ＩＣに適用した例を説明したが、ディップ型ＩＣについ
ても当然適用することができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、Ｘ−Ｙ方
式インサーキットテスタを用いて、入力又は出力ピンに
相当する少なくとも１ピンに接続する独立パターンと基
板のグランドとの間に存在する浮遊の静電容量の値を算
出し、その浮遊容量の値を先に同様にして算出した他の
同一基板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量
の値と比べることにより、独立パターンに接続する周囲
回路網を考慮して、基板に対するＩＣの逆配置を正確に
検出することができる。
式インサーキットテスタを用いて、入力又は出力ピンに
相当する少なくとも１ピンに接続する独立パターンと基
板のグランドとの間に存在する浮遊の静電容量の値を算
出し、その浮遊容量の値を先に同様にして算出した他の
同一基板の配置が正常な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量
の値と比べることにより、独立パターンに接続する周囲
回路網を考慮して、基板に対するＩＣの逆配置を正確に
検出することができる。
【図１】本発明によるＩＣのＸ−Ｙ方式インサーキット
テスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊容量に対す
る直流定電圧充電による計測回路を示す図である。
テスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊容量に対す
る直流定電圧充電による計測回路を示す図である。
【図２】同計測回路を有するＸ−Ｙ方式インサーキット
テスタの構成を示すブロック図である。
テスタの構成を示すブロック図である。
【図３】同Ｘ−Ｙ方式インサーキットテスタのコントロ
ーラの構成を示すブロック図である。
ーラの構成を示すブロック図である。
【図４】他の本発明によるＸ−Ｙ方式ＩＣのインサーキ
ットテスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊容量に
対する直流定電流充電による計測回路を示す図である。
ットテスタによる逆配置検出方法を実施する浮遊容量に
対する直流定電流充電による計測回路を示す図である。
１０…被検査基板 １２…ＩＣ １４…本体 １６…入
力又は出力ピン １８…電源又はグランドピン ２０…
独立パターン ２２…基板のグランド ２４…浮遊容量
２６、６２…計測回路 ２８…直流定電圧電源 ３
０、３２、６６、６８…開閉式スイッチ ３４…電流計
３６、７２…計測回路のグランド ３８、４０、７
４、７６…プローブ
力又は出力ピン １８…電源又はグランドピン ２０…
独立パターン ２２…基板のグランド ２４…浮遊容量
２６、６２…計測回路 ２８…直流定電圧電源 ３
０、３２、６６、６８…開閉式スイッチ ３４…電流計
３６、７２…計測回路のグランド ３８、４０、７
４、７６…プローブ
Claims (2)
- 【請求項１】 基板に実装半田付けしたＩＣのＸ−Ｙ方
式インサーキットテスタによる逆配置検出方法におい
て、上記ＩＣの入力又は出力ピンに相当する少なくとも
１ピンを接続する独立パターンと基板のグランドとの間
に存在する浮遊の静電容量に蓄えられた電荷を放電した
後、その浮遊容量に対する直流の定電圧充電を開始し、
その過渡期間内における充電開始後の所定時間経過時の
電流を測定して浮遊容量の値を算出し、その浮遊容量の
値を先に同様にして算出した他の同一基板の配置が正常
な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値と比べることによ
ってＩＣの配置の正逆を判定することを特徴とするＩＣ
のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方
法。 - 【請求項２】 基板に実装半田付けしたＩＣのＸ−Ｙ方
式インサーキットテスタによる逆配置検出方法におい
て、上記ＩＣの入力又は出力ピンに相当する少なくとも
１ピンを接続する独立パターンと基板のグランドとの間
に存在する浮遊の静電容量に蓄えられた電荷を放電した
後、その浮遊容量に対する直流の定電流充電を開始し、
その過渡期間内における充電開始後の所定時間経過時の
電圧を測定して浮遊容量の値を算出し、その浮遊容量の
値を先に同様にして算出した他の同一基板の配置が正常
な同一ＩＣの同一箇所の浮遊容量の値と比べることによ
ってＩＣの配置の正逆を判定することを特徴とするＩＣ
のＸ−Ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6060118A JPH07244107A (ja) | 1994-03-03 | 1994-03-03 | Ｉｃのｘ−ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6060118A JPH07244107A (ja) | 1994-03-03 | 1994-03-03 | Ｉｃのｘ−ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07244107A true JPH07244107A (ja) | 1995-09-19 |
Family
ID=13132895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6060118A Pending JPH07244107A (ja) | 1994-03-03 | 1994-03-03 | Ｉｃのｘ−ｙ方式インサーキットテスタによる逆配置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07244107A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102097405A (zh) * | 2009-10-27 | 2011-06-15 | 索尼电脑娱乐公司 | 电子元件和检查系统 |
| US8030944B2 (en) * | 2008-04-07 | 2011-10-04 | King Yuan Electronics Co., Ltd. | Method for continuity test of integrated circuit |
| JP2016033511A (ja) * | 2014-07-29 | 2016-03-10 | ヤマハファインテック株式会社 | プリント基板検査装置及び検査方法 |
-
1994
- 1994-03-03 JP JP6060118A patent/JPH07244107A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8030944B2 (en) * | 2008-04-07 | 2011-10-04 | King Yuan Electronics Co., Ltd. | Method for continuity test of integrated circuit |
| CN102097405A (zh) * | 2009-10-27 | 2011-06-15 | 索尼电脑娱乐公司 | 电子元件和检查系统 |
| JP2016033511A (ja) * | 2014-07-29 | 2016-03-10 | ヤマハファインテック株式会社 | プリント基板検査装置及び検査方法 |
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