JPH07235632A - コンデンサユニットおよびコンデンサユニット内蔵電子回路装置 - Google Patents

コンデンサユニットおよびコンデンサユニット内蔵電子回路装置

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JPH07235632A
JPH07235632A JP6022789A JP2278994A JPH07235632A JP H07235632 A JPH07235632 A JP H07235632A JP 6022789 A JP6022789 A JP 6022789A JP 2278994 A JP2278994 A JP 2278994A JP H07235632 A JPH07235632 A JP H07235632A
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electronic circuit
capacitor
circuit device
module
power supply
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JP6022789A
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Hideo Yamamura
英穂 山村
Masakazu Yamamoto
雅一 山本
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電子回路を使用する装置において、電源系のイ
ンピーダンスを、広い周波数帯域にわたり、低く抑える
ことができる、電源雑音バイパス用のコンデンサユニッ
トを提供し、高速動作に適した電子回路装置を構成す
る。 【構成】コンデンサモジュール41と信号通過モジュー
ル42とを、概略同一平面となるように組合せ配置し
て、一体構成としたコンデンサユニット4を構成し、電
子回路(例えば、LSI2)と、電子回路同士の接続を
行う配線基板との間に、コンデンサユニットを配設し、
電子回路と配線基板との接続を行う一方で、電源系の雑
音をバイパスする構成の電子回路装置とした。 【効果】電子回路とコンデンサとの配線が短くなり、配
線のインダクタンスが、減少するので、電源系のインピ
ーダンスが、広い周波数帯域で低くなり、電子回路の高
速動作が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンデンサの構成に係
り、特に、高速で動作する電子回路装置に好適なコンデ
ンサの構成、および、それを使用する電子回路装置の構
成に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体の動作速度と集積度の進歩は著し
く、従来の電子装置では実現不可能であった、画像処
理、計算処理、通信処理、マルチメディア処理に代表さ
れる複雑で高速な処理機能を有する小型の電子装置が、
動作速度や集積度の高い半導体回路を使用することで実
現されている。上述のような電子装置を実現するには、
動作速度や集積度の高い半導体回路を安定に動作させこ
と、すなわち、電源ノイズ電圧を規定値以下に抑え、半
導体回路の誤動作を防止することが、極めて大切な問題
である。電源ノイズ電圧は、電子回路の動作による消費
電流の変動と、電源系のインピーダンスが原因で発生す
るもので、消費電流の変動をΔI、電源系のインピーダ
ンスをZとすると、電源ノイズ電圧Vnは、概略次式
(1)のように示される。 Vn=ΔI×Z …(1) 従って、電子回路の消費電流の変動がΔIであって、電
源ノイズ電圧をVn以下に抑える必要があったとする
と、電源系のインピーダンスZが、式(2)に示す関係
を満たすように、電源系のインピーダンスを低くした電
源系が必要となる。 Z≦Vn/ΔI …(2) 具体例を挙げれば、消費電流の変動ΔIが1A、許容で
きる電源ノイズ電圧Vnが1Vであったとすると、Vn
/ΔI=1V/1A=1Ωであるから、電源系のインピ
ーダンスZは1Ω以下にする必要がある。また、ΔIが
5Aであると、電源系のインピーダンスZは0.2Ω以
下にする必要がある。
【0003】電源系のインピーダンスを低減する手法と
して、バイパスコンデンサを用いる方法が知られてい
る。これは、コンデンサを異なる種類の電源同士、もし
くは、電源とグランドとの配線の間に接続するもので、
このコンデンサを電子回路の近くに設け、電子回路への
電源系のインピーダンスを低減するものである。具体的
には、たとえ電源装置の出力インピーダンスが小さくと
も、電源装置と動作する電子回路とを結ぶ配線のインダ
クタンスにより、電源系のインピーダンスが上昇するの
で、容量が充分大きい、すなわちインピーダンスの充分
小さいコンデンサを、電子回路の近傍に配設し、このイ
ンダクタンスの影響を除去するものである。この場合、
このコンデンサと電子回路とを結ぶ配線のインダクタン
スが、新たにインピーダンスを上昇させる要素となるの
で、このインダクタンスが充分小さくなるように、すな
わち、この配線は充分短くなるように、コンデンサは電
子回路のごく近傍に配設するものである。このような、
電源系のインピーダンス低減を目的としたバイパスコン
デンサの配置方法は、従来から、以下で示すような、様
々な方法が示されている。
【0004】図22は、従来のバイパスコンデンサを配
置した、電子回路装置の一部を示した断面図である。こ
の例は、リード挿入型部品を用いた電子回路装置の例を
示しており、バイパスコンデンサ1aは、電子回路であ
るLSI2aの近傍に配設し、LSI2aと同様に、配
線基板3に取り付けられ、配線基板3内部の電源配線3
3により接続されている。なお、同図において、21は
LSI2aのリード、31は配線基板3に設けたスルー
ホール、32は同じく配線基板3に設けた信号配線を示
している。
【0005】図23も、従来のバイパスコンデンサを配
置した、電子回路装置の一部を示した断面図である。こ
の例は、チップ型部品を使用し、コンデンサ1とLSI
2bを、接続パッド34により、配線基板3に表面実装
している点が、図22の電子回路装置と異なる。一般に
チップ型コンデンサは、リード挿入型コンデンサよりも
自己インダクタンスが小さく、高い周波数まで低いイン
ピーダンスを呈する点で優れている。具体的には、チッ
プコンデンサの自己インダクタンスは、大きさにもよる
が、1.5〜2nHなので、このインピーダンスは10
6〜80MHzで1Ω、21〜16MHzで0.2Ωに
なり、この周波数が、これらのインピーダンスを維持で
きる周波数帯域の上限となる。より詳細には、インダク
タンスにコンデンサからLSIまでの配線のインダクタ
ンスが加算されるから、この上限周波数は更に小さくな
る。
【0006】上述のように、コンデンサの対応周波数の
上限は、容量ではなく、インダクタンスで決るので、バ
イパスコンデンサを配置する一方で、コンデンサからL
SIまでの配線を短くして、インダクタンスを低下させ
る方法も、従来から示されている。図24は、従来のバ
イパスコンデンサを配置し、かつ、コンデンサからLS
Iまでの配線を短くした、電子回路装置の一部を示した
断面図である。これは、コンデンサ1にチップ型コンデ
ンサを用いた他、LSIとしては、半田ボール接続型の
部品を使用したもので、シリコンチップ22、これを接
続する半田ボール23、パッケージ基板24、パッケー
ジキャップ26、パッケージ基板24を配線基板3に接
続するための半田ボール25から成る構成のLSI2A
を使用している。この技術では、上述の従来例より、L
SI2A内の配線が短くでき、インダクタンスが小さ
く、より高い周波数まで低いインピーダンスを呈する点
で優れている。
【0007】図25も、図24と同様な電子回路装置の
一部を示した断面図であり、米国特許4,328,53
0号公報に記載のものである。この技術では、シリコン
チップ22が、半田ボール23により直接、配線基板3
に接続される。すなわち、コンデンサとシリコンチップ
すなわちLSIとの配線距離が短いので、図24の電子
回路装置よりも高い周波数まで低いインピーダンスを呈
する点で優れている。更に、アイビーエム ジャーナル
オブ リサーチ アンドディベロップメント、第36
巻、第5号、1992年9月(IBM Journal
of Research and Developm
ent,Vol.36 No.5 September
1992)において、コンデンサを、積層型で半田ボ
ールで接続する形態として、自己インダクタンスの極め
て小さくする技術が示されており、これが、現時点にお
いて、電源系の高周波化に対応した、低インピーダンス
化の技術として、最高峰の技術であることが知られてい
る。この例では、コンデンサの自己インダクタンスは1
35pH、コンデンサからLSIまでの配線のインダク
タンスは約1nHなので、このインピーダンスは159
で1Ω、32MHzで0.2Ωになり、この周波数が、
これらのインピーダンスを維持できる周波数スペクトラ
ムの上限となる。
【0008】また、低インピーダンス化の技術として、
LSIのパッケージ内にコンデンサを内蔵させる方法
も、従来から示されている。図26は、パッケージ内に
コンデンサを内蔵させた、従来のLSIの構成を示す断
面図であり、それぞれ(A)は垂直断面図、(B)は平
面断面図を示している。これは、LSI2cのモールド
27の内部にコンデンサ1cを内蔵させ、コンデンサ1
cとシリコンチップ22とを結ぶ、ボンディングワイヤ
28とリード21とから成る配線を短くして、このイン
ダクタンスを低減したものである。チップコンデンサを
使用しているので、自己インダクタンスは1.5〜2n
Hであり、このインピーダンスは106〜80MHzで
1Ω、21〜16MHzで0.2Ωになり、この周波数
が、これらのインピーダンスを維持できる周波数スペク
トラムの上限となる。より詳細には、リードの一部分と
ボンディングワイヤ28のインダクタンスがインピーダ
ンスを増大させるので、周波数の上限値はより小さくな
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】電子回路の高速化と集
積度の向上は続いており、上述したような、今までに開
発された技術をもってしても、電源ノイズ電圧を規定値
以下に抑え、半導体回路の誤動作を防止するには充分で
ない場合が、今後も生じてくる。電子回路の動作速度を
高速化すると、式(2)の関係を維持すべき周波数帯域
は、当然高周波側に広くなる。例えば、電子回路の扱う
信号の周波数が100MHzであれば、100MHz以
下の周波数帯域で、周波数が200MHzになれば、2
00MHz以下の周波数帯域で式(2)を満足すること
が必要となり、電源系の設計を難しくするものである。
【0010】また、電子回路の集積度が増大すると、多
くの場合消費電流も増大して、消費電流の変動も増大す
るので、式(2)を満足する電源系のインピーダンスの
値を小さくすることも必要となり、これも、電源系の設
計を難しくするものである。さらに、例えば、電子回路
がCMOS型の場合は、回路の消費電流が動作速度に比
例するように、半導体回路の動作速度の高速化で、回路
中の配線の充放電の回数が増大し、消費電流と消費電流
の変動を増大させる。すなわち、半導体回路の動作速度
の高速化によっても、式(2)を満足する電源系のイン
ピーダンスの値が小さくなり、電源系の設計をさらに難
しくする。このように、電子回路の動作速度、集積度が
増大すると、電源系のインピーダンスを、より高い周波
数に対応させ、その値を小さくすることが必要となる。
【0011】本発明の目的は、上述した、従来の電子回
路装置における、電源系の課題を解決するための、より
改善された技術を提供するものである。すなわち、電源
系のインピーダンスを、高周波に至るまで低インピーダ
ンスとする、従来より高度な低インピーダンス化技術を
提供するものである。より詳細には、コンデンサと電子
回路を結ぶ配線のインダクタンスを低減し、また、コン
デンサ自体のインダクタンスを低減する技術を提供し
て、電源系のインピーダンスの高周波対応、低インピー
ダンス化をより高度に達成しようとするものである。そ
して、この技術により、電子回路の動作速度と集積度が
向上した際の電子回路装置の安定な動作を実現し、利用
者により便利で快適な生活を実現し、産業界の発展に寄
与するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】電子回路の電源系におけ
る、雑音のバイパスコンデンサと電子回路とを結ぶ配線
を短くして、そのインダクタンスを低減するために、コ
ンデンサを、電子回路と、電子回路同士の接続を行なう
配線基板との間に配設接続し、電子回路の電源系の雑音
をバイパスする構成とする。より具体的には、以下のよ
うな手段を電子回路を搭載する装置に備えた。 (1)コンデンサを、電子回路の下面に配置し、これを
半田ボールで電子回路に接続し給電する一方で、コンデ
ンサの自己インダクタンスを低減するために、コンデン
サには、円柱状や多角柱状の上下2面に、半田ボールに
より配線基板や電子回路との接続を行うための平面を有
する、概略柱状の形状を有し、この上面と下面の2面
に、半田ボールにより配線基板や電子回路との接続を行
う接続電極を配設し、さらに、内部は、例えば、チタン
酸バリウムセラミックで代表されるような高誘電体を挟
んで、コンデンサを形成するための、少なくとも1対の
コンデンサ電極と、高誘電体と、スルーホールとから成
り、2面の接続電極同士、および、コンデンサ電極をス
ルーホールに接続する構成とした、配線基板と電子回路
との接続電極間距離を小さくする、薄膜多層のコンデン
サモジュールを使用する。
【0013】(2)コンデンサを、配線基板と電子回路
との間に配設しても、信号が接続されるよう、少なくと
も配線基板と電子回路との接続を行なう接続電極と、例
えば、ムライトセラミックで代表されるような低誘電体
と、スルーホールとから成る、コンデンサと厚さが概略
同一な、薄膜の信号通過モジュールを設け、これを電子
回路の下面に配置して半田ボールでLSIに接続し、電
子回路との信号接続を確保する構成とする。
【0014】(3)前記コンデンサモジュールと信号通
過モジュールとを、概略同一平面になるよう、組合せ配
置し、これらを一体構成として成るコンデンサユニット
を設け、このコンデンサユニットを、配線基板と電子回
路との間に配設し、半田ボールで電子回路に接続するこ
とにより、電子回路への給電と、電源系雑音のバイパス
と、信号接続とを実施可能な構成とする。ここで、コン
デンサユニットにおいて、コンデンサモジュールと信号
通過モジュールとを、一体構成とする手段としては、例
えば、エポキシ系樹脂で代表されるような絶縁性と接着
性を有する接着材で、直接接続する、あるいは、少なく
とも、基板の両面に電気接続用の接続電極と、基板の内
部に、前記接続電極同士を接続するための、スルーホー
ルとから成る、信号と電源を通過させる基板を設け、こ
の基板に、半田ボールでコンデンサモジュールと信号通
過モジュールとを接続する手段等が挙げられる。もちろ
ん、後者で示した基板は、装置の使用される状況に対応
して、コンデンサモジュールと信号通過モジュールとの
両面(すなわち、配線基板側と電子回路側)に設けても
良いし、いづれか一方だけに設けても良い。また、基板
内部に電源パターンを入れて、耐雑音能力を向上させる
ことも可能である。
【0015】(4)前記コンデンサユニットに、シリコ
ンチップやLSI等の電子回路を搭載して、一体化した
電子回路装置を構成し、これを配線基板に接続する構成
としても良い。 (5)前記のコンデンサユニットや電子回路装置は、そ
れらが使用される環境に対応して、モールドを施した
り、カバーをかけたりして、コンデンサユニットや電子
回路装置を保護する構成とすることもできる。
【0016】
【作用】上述のような、コンデンサを、電子回路と、電
子回路同士の接続を行なう配線基板との間に配設接続
し、電子回路の電源系の雑音をバイパスする構成をとる
ため、コンデンサと電子回路とを結ぶ配線が短くなり、
配線のインダクタンスが大幅に低減する。より詳細に
は、以下の作用により、電源系のインピーダンスを、高
周波に至るまで低インピーダンスとして、高速動作する
電子回路を提供する。
【0017】(1)コンデンサとして、薄膜多層のコン
デンサモジュールを用いるので、接続電極間の距離を小
さくでき、コンデンサの自己インダクタンスが低減す
る。すなわち、インダクタンス成分の小さい、従ってよ
り高い周波数まで低いインピーダンスに対応した電源系
を実現することができる。
【0018】(2)コンデンサモジュールと厚さが概略
同一な、薄膜の信号通過モジュールを設けたので、コン
デンサを、配線基板と電子回路との間に配設しても、こ
の信号通過モジュールにより、配線基板と電子回路との
信号接続が確保できる。 (3)厚さが概略同一なコンデンサモジュールと信号通
過モジュールとを、一体構成にしたコンデンサユニット
を設け、これを電子回路と、電子回路同士の接続を行な
う配線基板との間に配設したので、コンデンサを、電子
回路と、電子回路同士の接続を行なう配線基板との間に
配設接続する構成でも、短い配線の接続が、容易かつ確
実にできる。また、装置の使用される環境等に対応し
て、予め定めた何種類かの異なる構造を有するコンデン
サユニットから、最適なものを選択し、これにより、電
子回路と配線基板とを接続する構成なので、経済的な装
置が実現できる。
【0019】(4)装置としての所定の機能を有するシ
リコンチップやLSI等の電子回路を選択し、これを予
めコンデンサユニットに接続した電子回路装置を設け、
この電子回路装置を、配線基板に接続する構成とすれ
ば、さらに、組立て等が容易で経済的な装置が実現でき
る。
【0020】(5)コンデンサユニットや電子回路装置
は、環境に対応して、モールド等により保護できる構成
なので、様々な装置に使用できる。
【0021】
【実施例】以下、図面を用いて、本発明によるコンデン
サモジュール、および、このコンデンサモジュールを使
用した電子回路装置の実施例を詳細に説明する。 <実施例1>まず始めに、本発明による、電源系のイン
ピーダンスを、広い周波数帯域にわたり、低く維持する
電子回路装置(以下、LSIと称する)と組合せて使用
するコンデンサモジュールおよび信号通過モジュールの
構成について説明する。 (1)コンデンサモジュールの構成 図1は、本発明によるバイパスコンデンサの一実施例で
あるコンデンサモジュールの構成を示す側断面図であ
る。
【0022】また、図2は、コンデンサモジュールに用
いられる電極のパターンを示すパターン図であり、それ
ぞれ、同図(A)は、コンデンサモジュールと他の回路
素子との接続を行なう接続パッド、同図(B)は、コン
デンサを構成するための第1の電極、同図(C)は、コ
ンデンサを構成するための第2の電極のパターンを示し
ている。
【0023】図1に示したように、コンデンサモジュー
ル41は、誘電体55の上下両面に、半田ボール等によ
り他の回路素子との接続を行なう為の、図2(A)で示
したパターン有する半田ボール接続パッド51を設け、
誘電体55の内部には、スルーホール52と52aを設
け、上下面の半田ボール接続パッド51を接続すると同
時に、図2(B)および図2(C)で示したパターン有
する、コンデンサ電極である第1のコンデンサ電極53
と第2のコンデンサ電極54を配設し、それぞれ、第1
のコンデンサ電極53はスルーホール52に、第2のコ
ンデンサ電極54はスルーホール52aに接続する構成
とした。この2種の第1のコンデンサ電極53と第2の
コンデンサ電極54が誘電体55を挟んで対向して、コ
ンデンサを形成する。誘電体55には、所望の容量が得
られる誘電率の材質を用い、また、コンデンサ電極の層
数も同様に決める。ここでは、比誘電率5000のチタ
ン酸バリュームセラミックを用い、誘電体層の厚さを2
5μmとし、6層の電極を用いて、10nFの容量を得
た。
【0024】(2)信号通過モジュールの構成 図3は、本発明による、LSIと他の回路素子との信号
の接続を行なう為の、信号通過モジュールの構成を示す
側断面図である。信号通過モジュール42は、上述のコ
ンデンサモジュール41と同様な構成であり、誘電体5
7の上下両面に、半田ボール等により他の回路素子との
接続を行なう為の、図2(A)で示したパターン有する
半田ボール接続パッド51を設け、誘電体57内部に設
けたスルーホール52で接続する構成とした。誘電体5
7には、スルーホール52間の容量が大きいと漏話を生
ずるので、誘電率の小さい材料が好ましく、比誘電率が
6のムライトセラミックを用いた。その結果、隣接スル
ーホール間の容量は0.5pFとなった。
【0025】この実施例では、内層なしの構造とした
が、シールドなどの目的で、内層をコンデンサモジュー
ル41におけるコンデンサ電極53、54と同様に内蔵
させても良い。この場合、シールド配線をグラウンドあ
るいは電源に接続するために、信号用以外の半田ボール
接続パッドおよびスルーホールを用意すれば良い。
【0026】また、コンデンサモジュール41を、内層
のコンデンサ電極53、54なしで作成することもで
き、すなわち、信号通過モジュール42のように半田接
続パッド51とスルーホール52からなる構造で作成す
ることもでき、この場合、容量は0.25nFになる。
この構造は、簡素で、微細な加工技術なしに、あるいは
同じ加工技術でよりスルーホールピッチの細かい製品を
作成することができるので、製造面で優れている。
【0027】なお、上述のコンデンサモジュール41と
信号通過モジュール42とは、LSI内部や、LSIと
他の回路素子との接続を行なう場合に、組合せて使用で
きるように、厚さが同一になるように仕上げた。この構
造の顕著な特徴は、コンデンサモジュールと信号通過モ
ジュールは別個に製造し、後に1つの装置に組み込める
ように、同様な構造において、異なる材料を使用して製
造可能なことである。すなわち、コンデンサモジュール
では誘電体に高い誘電率の材質を用いて大きなバイパス
コンデンサ容量を実現し、信号通過モジュールでは低い
誘電率の材料を用いて小さなスルーホール間容量を達成
することが、同一の製造工程において可能となるもので
ある。
【0028】<実施例2>次に、上述した、コンデンサ
モジュール41および信号通過モジュール42とLSI
とを組合せた、本発明による電子回路装置の構成につい
て説明する。図4は、本発明による電子回路装置の第1
の実施例を示す断面図であり、それぞれ、(A)は垂直
断面図、(B)は(A)のX−X’での水平断面図であ
る。
【0029】電子回路装置は、LSI2と、コンデンサ
モジュール41および信号通過モジュール42と、図示
してない配線基板3を介して、他の回路素子との接続を
行なう再配線基板43とから成り、これらが半田ボール
により接続されて構成されるものである。より詳細に説
明すると、LSI2は、シリコンチップ22と、シリコ
ンチップ22の各電極と半田ボール23で電気的に接続
される通過基板46と、パッケージキャップ26とで構
成した。なお、通過基板46内部には、上下面の電極を
接続するスルーホール47があり、下面の電極は半田ボ
ール45により、実施例1で示したような、コンデンサ
モジュール41あるいは信号通過モジュール42が接続
され、シリコンチップ22への給電や、外部回路との信
号送受信を行なうものである。コンデンサモジュール4
1あるいは信号通過モジュール42の上面の電極は、半
田ボール45により、LSI2に接続され、下面の電極
は半田ボール44により再配線基板43に接続される。
この再配線基板43内部にも、上面と下面とを結線し、
他の回路素子との接続を行なう為のスルーホール43b
がある。さらに、再配線基板43の下面には、図示して
ない配線基板3への接続用の半田ボール25が接続され
ている。すなわち、本発明による電子回路装置は、コン
デンサモジュール41、信号通過モジュール42、およ
び再配線基板43に、表裏の電極を電気的に接続する配
線を有するので、シリコンチップ22上の各電極が、再
配線基板43の下面に接続された半田ボールと電気的に
接続され、電子回路装置として動作可能となる構成であ
る。なお、本実施例では、コンデンサモジュール41お
よび信号通過モジュール42を、シリコンチップ22と
垂直方向から見て、重なる位置にだけ、再配線基板43
上に配置した。すなわち、再配線基板43の周辺部2s
には、コンデンサモジュール41および信号通過モジュ
ール42を搭載していない。また、後述の実施例で詳細
に説明するが、上述したコンデンサモジュール41およ
び信号通過モジュール42と、再配線基板43とを一体
化した、コンデンサユニット4として、これをLSI2
とは独立した部品として、取扱うこともできる。
【0030】本実施例では、コンデンサモジュール41
および信号通過モジュール42を、図4(B)の水平断
面図で示すように、タイルを貼るように市松模様に交互
に、シリコンチップ22と垂直方向から見て、重なる位
置にだけ、再配線基板43上に配置した。コンデンサモ
ジュール41の電極には、シリコンチップ22と再配線
基板43の内部にある電源配線とグラウンド配線(いず
れも図示せず)が接続される。また、信号通過モジュー
ル42の電極には、シリコンチップ22と再配線基板4
3の信号配線が、必要に応じてグラウンド配線などとと
もに接続される。すなわち、シリコンチップ22と再配
線基板43の電源およびグラウンドならびに信号用の電
極が、それぞれ接続可能となるように配置した。
【0031】なお、これらのコンデンサモジュール41
および信号通過モジュール42の形状および配置方法
は、個々の装置の設計上の都合に合わせれば良く、本発
明はこれを規制するものではない。例えば、図5は、先
の図4(B)に相当する、本実施例による電子回路装置
の第2の実施例を示す水平断面図であり、コンデンサモ
ジュール41および信号通過モジュール42の形状およ
び配置方法を変更したものである。これは、シリコンチ
ップ22内の回路の構成上の都合により、信号や電源お
よびグラウンドの電極の配置および形状を、双方とも
に、短冊形状のコンデンサモジュール41aおよび信号
通過モジュール42aに変更した実施例である。このよ
うに、種々雑多な形状のコンデンサモジュールおよび信
号通過モジュールが混在しても良い。また、都合によっ
ては、搭載しない箇所があっても良い。
【0032】図4に示した、本実施例(第1の実施例)
での、シリコンチップ22からコンデンサモジュール4
1に至る配線のインダクタンスを測定した結果、インダ
クタンスは、半田ボール部23、45で12pH、スル
ーホール部47で80pHであり、コンデンサモジュー
ル41に設けた9個の端子分の総合インダクタンスは約
100pHであった。本実施例では、このコンデンサモ
ジュールが8個搭載されているから、インダクタンスは
約13pH、容量は80nFとなる。すなわち、インダ
クタンス成分のインピーダンスは、12GHz以下で1
Ω、2.4GHz以下で0.2Ω以下になり、周波数範
囲の上限が12GHz、2.4GHzという高い周波数
範囲においても、電源系のインピーダンスを低くするこ
とができた。これを、時間領域で見た雑音波形に変換し
てみると、それぞれ、立上り時間29ps、150ps
のパルスに相当するから、この程度の波形を持つ電子回
路や電子装置の電源ノイズは充分低減され、誤動作が起
こることはない。
【0033】なお、容量成分のインピーダンスは、容量
が合計で80nFであるから、2MHz以上で1Ω以
下、10MHz以上で0.2Ω以下になる。また、コン
デンサモジュールを内層のコンデンサ電極なしで作成し
た場合、容量成分のインピーダンスは、容量が合計で2
nFであるから、80MHz以上で1Ω以下、400M
Hz以上で0.2Ω以下になる。より低い周波数でのイ
ンピーダンス低減は、必要に応じて、従来技術を用いて
LSIの外に、より大きい容量のコンデンサを設ければ
良い。以上のように、本発明による電子回路装置の第1
の実施例では、低い電源インピーダンスを維持できる周
波数の上限は12GHz、あるいは2.4GHzとなっ
た。
【0034】<実施例3>以下、図面を用いて、本発明
による電子回路装置の別の実施例を示して行くが、これ
らは、本質的に上述した実施例と同じ動作原理と作用を
持つものであり、装置の使用目的(例えば、経済性の追
及、防振や防湿に代表される劣悪な環境への対策)に応
じて、実施の形態を変化させたものである。本実施例
は、実施例2で示した電子回路装置に、さらに、電源ノ
イズを低減する対策を付加したものである。
【0035】図6は、本発明による電子回路装置の第3
の実施例を示す断面図である。これは、図1で示した第
1の実施例である電子回路装置の通過基板46と再配線
基板43の内部に、電源層パターン56を内蔵した通過
基板46aと再配線基板43aを使用するものである。
本実施例も、前述の実施例と同様に、コンデンサモジュ
ール41および信号通過モジュール42を、シリコンチ
ップ22と垂直方向から見て、重なる位置にだけ配置し
た。すなわち、再配線基板43の周辺部2sには、コン
デンサモジュール41および信号通過モジュール42を
搭載していないものである。ここで、電源層パターン5
6は、同種の電源のスルーホール同士、グラウンドのス
ルーホール同士を接続する。この電源層パターン56を
設けることにより、LSI2全体のノイズ電圧分布を平
準化することができる。すなわち、シリコンチップ22
内部の、特定の部分の消費電流変動が大きいとき、該当
部位のコンデンサモジュール41の電源ノイズ抑制効果
に加えて、電源層パターン56で接続された他のコンデ
ンサモジュール41による効果で助ける作用がある。ま
た、シリコンチップ22内部のある部位で、消費電流が
増加する変動が発生し、他の部位で減少する変動が発生
した場合、電源層パターン56が接続されることによ
り、変動成分を相殺し、LSIの外界に与える消費電流
変動を減らす効果があり、これは電源ノイズの現象をも
たらす。また、製造上の不良等の原因で、電源の半田ボ
ールの一部が接続されていなかった場合も、電源層パタ
ーン56により、シリコンチップ22には電源が接続さ
れるので、回路は正常に動作する効果もある。このよう
に、電源層パターン56は電源ノイズの低減に寄与す
る。なお、電子回路装置の使用される環境に対応して、
電線層パターン56は、通過基板46aもしくは再配線
基板43aの、いづれか一方のみに内蔵させても良い。
【0036】図7は、本発明による電子回路装置の第4
の実施例を示す断面図である。これは、上述した第1の
実施例から第3の実施例では、コンデンサモジュール4
1と信号通過モジュール42とが、ほぼシリコンチップ
22と同じ面積領域内に配置されていたのに対し、本実
施例では、その外側の領域2sにも、コンデンサモジュ
ール41bを配置したものである。すなわち、この追加
した領域2sに、コンデンサモジュールを41bを配置
し、LSI2全体として、容量を増強し、電源ノイズを
低減することを目的としている。追加されたコンデンサ
モジュール41bは、通過基板46aや再配線基板43
a内部の電源層パターン56で他のコンデンサモジュー
ル41と接続している。なお、電源層パターン56は、
第3の実施例と同様に、通過基板46aもしくは再配線
基板43aの、いづれか一方のみに用意しても良い。こ
の場合、電源層パターン56を有するどちらか一方の基
板に、追加したコンデンサモジュール41bを接続す
る。もちろん、通過基板46aおよび再配線基板43a
の両方が、電源層パターン56を有する場合、コンデン
サモジュール41と同様に、追加したコンデンサモジュ
ール41bを、図7で示した右端のコンデンサモジュー
ル41bのように、両方の基板に接続できるし、また、
図7で示した左端のコンデンサモジュール41bのよう
に、いづれか一方の基板に接続しても良い(本実施例で
は、通過基板46aに接続した)。
【0037】<実施例4>本実施例では、上述の実施例
で示した電子回路装置に、防湿等の環境対策を付加した
実施例や、これらの電子回路装置を、さらに経済的に実
現した実施例を示す。図8は、本発明による電子回路装
置の第5の実施例を示す断面図である。これは、上述し
た第1の実施例の電子回路装置(図4)において、コン
デンサモジュール41および信号通過モジュール42の
周辺2sをモールド61で封止したものである。モール
ド61により、各モジュール、半田ボールなどが、湿
度、結露、腐食から守られ、また、LSI2全体の機械
的強度が向上する。
【0038】また、図9も、本発明による電子回路装置
の第6の実施例を示す断面図である。これも、上述した
第1の実施例の電子回路装置(図4)において、パッケ
ージキャップ26の代りに、シリコンチップ22をモー
ルド61で封止し、製造コストの低減を図ったものであ
る。
【0039】図10は、本発明による電子回路装置の第
7の実施例を示す断面図である。これは、実施例1で示
したように、コンデンサモジュール41と信号通過モジ
ュール42を同じ厚さにすることにより、第1の実施例
の電子回路装置(図4)において、LSI2の通過基板
46を削除可能として、より経済的な電子回路装置を実
現したものである。すなわち、第1の実施例の電子回路
装置(図4)において、通過基板46は、LSI2にお
いて、シリコンチップ22と再配線基板43との接続面
を平坦にして、接続を確実に行うことを目的としたもの
であり、コンデンサモジュール41と信号通過モジュー
ル42を同じ厚さに作れば、通過基板46は必ずしも必
要ではないことに着目して、これを削除して経済化を図
ったものである。これに伴って、パッケージキャップ2
6が再配線基板43に接続され、電子回路装置全体が1
つのパッケージキャップ26で封止され、安価に製造で
きる構造になった。
【0040】また、図11も、本発明による電子回路装
置の第8の実施例を示す断面図である。これは、図10
で示した第7の実施例の電子回路装置において、パッケ
ージキャップ26の代りに、電子回路装置全体をモール
ド61で封止したものであり、さらに、安価な構造とな
った。
【0041】図12は、本発明による電子回路装置の第
9の実施例を示す断面図である。これは、第1の実施例
の電子回路装置(図4)において、配線基板3(同図に
おいて、図示せず)との接続を行う再配線基板43を、
通過基板46と同様な通過基板48に変更し、電子回路
装置の小型化を実現したものである。すなわち、電子回
路装置において、図示していない配線基板3の、半田ボ
ール接続パッドのピッチが細かくできる場合、上述した
実施例のように、再配線基板43内部のスルーホール4
3bで、ピッチを拡大して、シリコンチップ22の半田
ボール接続パッドのピッチと整合を取る必要がないの
で、本実施例のような通過基板48を使用して、電子回
路装置を小型化するものである。
【0042】なお、上述した実施例で、防湿等の環境対
策を付加した実施例を説明したが、逆に、電子回路装置
の使用される環境が良好な場合には、以下で示す実施例
のように、使用部品を削減して経済化をさらに進めるこ
とも、もちろん可能である。
【0043】図13および図14は、それぞれ、本発明
による電子回路装置の第10の実施例および第11の実
施例を示す断面図である。第10の実施例は、図12の
第9の実施例で示した電子回路装置において、LSI2
のパッケージキャップ26を取り去ったものである。そ
の結果、本実施例では、通過基板46が小形化され、通
過基板48と同一のものが使用できるので、部品種の種
類を減少させると供に、電子回路装置が小形化された。
さらに、上述した第7の実施例(図10)と同様に、コ
ンデンサモジュール41と信号通過モジュール42を同
じ厚さで作れば、半田ボールの高さは揃っているので、
通過基板48は不要となり、第11の実施例のように、
第10の実施例から、通過基板48を取り去ることもで
きる。その結果、電子回路装置が一層小型経済化でき
た。
【0044】<実施例5>本発明による、実施例2から
実施例4で示した、雑音対策や、耐環境性の対策および
小型経済化の対策を、組合せた電子回路装置も実現でき
る。図15は、本発明による電子回路装置の第12の実
施例を示す断面図である。これは、図12で示した第9
の実施例の電子回路装置において、第3の実施例の電子
回路装置(図6)と同様、通過基板46と48の代わり
に、電源層パターン56を追加した通過基板46aと4
8aを使用し、さらに、第4の実施例の電子回路装置
(図7)と同様に、コンデンサモジュール41bを追加
したものである。また、これらのバリエーションも考え
られる。例えば、電源層パターンが片方の通過基板にし
かない例などである。さらに、第5の実施例(図8)や
第6の実施例(図9)の電子回路装置ように、必要に応
じてモールド61を施すことも可能である。
【0045】<実施例6>本発明によれば、上述した電
子回路装置のなかから、シリコンチップ22やパッケー
ジキャップ26もしくはモールド61という、LSI2
の一部である、電子回路としての機能を実現する回路部
分や、その保護機構を分離し、残りのコンデンサモジュ
ール41と信号通過モジュール42や通過基板46とい
う、LSI2の接続および雑音対策を実現する部分のみ
を一体化した、コンデンサユニットを構成することもで
きる。そして、このコンデンサユニットの上に、電子回
路装置として所望の機能を有するシリコンチップ22を
選択し、これを搭載することで、上述のような電子回路
装置を構成することもできる。
【0046】図16は、本発明によるコンデンサユニッ
トの実施例を示す断面図である。これは、図6で示し
た、本発明による第3の実施例である電子回路装置か
ら、シリコンチップ22およびパッケージキャップ26
を分離したものを、コンデンサユニット4としたもので
ある。すなわち、電子回路装置を構成する場合、このコ
ンデンサユニット4の上に、所望の機能を有するシリコ
ンチップ22を適宜選択して搭載し、コンデンサユニッ
ト4を、しかるべき配線基板3(図示せず)に搭載すれ
ば良いものである。このようなコンデンサユニット4を
用いれば、従来の電子回路装置に使用されているよう
な、既存のシリコンチップ22に対しても、本発明によ
る電源系の低インピーダンス化の技術を適用したい場合
は、コンデンサユニット4に、このシリコンチップ22
を搭載するだけで、簡単に適用できるようになり、従来
の電子回路装置の電源系の低インピーダンス化や高速化
が可能となる。もちろん、この場合には、新たなシリコ
ンチップ22の開発は不要であり、さらに、コンデンサ
ユニット4は、様々な電子回路装置に対して共通に使用
できる部品であるから、非常に経済的な電子回路装置が
実現できる。
【0047】図17は、本発明によるコンデンサユニッ
トの別の実施例を示す断面図である。これは、図15で
示した、本発明による第12の実施例である電子回路装
置から、シリコンチップ22およびパッケージキャップ
26を分離したものを、コンデンサユニット4Aとした
ものである。なお、上述の実施例2から実施例4で示し
た電子回路装置の構成と同様に、本発明のコンデンサユ
ニットにおいても、装置が使用される環境等に対応さ
せ、小型経済化を図ったコンデンサユニットの構成が可
能である。
【0048】図18は、本発明によるコンデンサユニッ
トの別の実施例を示す断面図である。これは、コンデン
サユニット4Aにおいて、各通過基板46aおよび48
aの代わりに、通過基板46aおよび48aから電源層
パターン56を除去した通過基板46および48を使用
し、さらに、コンデンサモジュール41bを除去したも
の、または、図13で示した、本発明による第10の実
施例である電子回路装置ら、シリコンチップ22を分離
したものを、コンデンサユニット4Bとし、小型経済化
を実現したものである。
【0049】図19も、本発明によるコンデンサユニッ
トの別の実施例を示す断面図である。これは、図18で
示したコンデンサユニット4Bを、さらに経済化したも
のであり、コンデンサモジュール41と信号通過モジュ
ール42を同じ厚さで構成することで、通過基板46と
48のいづれか一方、もしくは両方を削除したものであ
る。図19において、(A)は通過基板46のみを削除
したコンデンサユニット4Cを、(B)は通過基板46
と48の両方を削除したコンデンサユニット4Dをそれ
ぞれ示している。なお、コンデンサユニット4Dを構成
するに当たり、コンデンサモジュール41と信号通過モ
ジュール42とを、エポキシ系樹脂等の接手段62によ
り接続して一体化した。また、上述した各コンデンサユ
ニットに対して、必要に応じてモールドや他の封止を実
施して、防湿や防振等に代表される耐環境性の強化を図
っても良い。
【0050】いずれにしても、本発明によれば、電子回
路装置に要求される機能および動作環境条件に対応し
て、上述した様々なコンデンサユニットを選択し、これ
にシリコンチップを搭載して、配線基板に取り付けれ
ば、簡単な構成で、電源系のインピーダンスを、広い周
波数帯域まで低く維持できる電子回路装置が実現可能と
なる。
【0051】図20は、本発明によるコンデンサユニッ
トを使用した電子回路装置の断面図である。同図が示す
ように、電子回路装置を構成する場合は、配線基板3の
上に、本発明によるコンデンサユニット(本実施例で
は、上述したコンデンサユニット4Aを使用)を搭載
し、さらに、シリコンチップを含むLSI2をコンデン
サユニット4Aの上に搭載するだけで良い。
【0052】<実施例7>本実施例では、上述の実施例
で説明した、コンデンサユニットおよび電子回路装置
を、配線基板の上に複数個搭載した、電子回路装置の一
構成例を示す。図21は、本発明による電子回路装置の
一構成例を示した断面図である。本実施例では、従来の
電子回路装置のように、バイパスコンデンサをLSIの
周辺に配置する必要はなくなるので、LSI同士の実装
に代表される、部品同士の実装間隔を、小さくすること
が可能となる。すなわち、LSI2の間にバイパスコン
デンサが無いので、LSI2同士の間隔Aは2mm、L
SI2同士の搭載ピッチBは34mmで、配線基板3に
おける最短配線長が約2mm、平均配線長が34mmと
なり、それぞれの配線遅延時間は15psと250ps
であった。
【0053】この結果を、図24で示した従来の電子回
路装置の構成と比較すると、従来の装置では、LSI2
Aの間にバイパスコンデンサ1が配置されたために、L
SI2A同士の間隔Aは2mm、LSI2A同士の搭載
ピッチBは40mmで、配線基板3における最短配線長
が約8mm、平均配線長が40mmとなり、それぞれの
配線遅延時間は60psと300psであった。
【0054】すなわち、本発明によれば、従来の電子回
路装置より、接続配線が短くなり、配線遅延時間が短縮
される他、インダクタンスも減少するので、配線遅延時
間が0.25〜0.85倍に短縮され、高速な電子回路
装置の実現が可能となる。
【0055】
【発明の効果】以上、実施例にて詳細に説明したよう
に、本発明のコンデンサユニットおよび電子回路装置に
よれば、電源系のインピーダンスを、従来の電子回路装
置と比較して、大幅に広い周波数帯域まで低く維持でき
るようになる。例えば、従来の電子回路装置において
は、1Ωのインピーダンスを維持する周波数の上限が1
06〜80MHz、0.2Ωのインピーダンスを維持す
る周波数の上限が21〜16MHz程度であったのに対
して、本発明による電子回路装置においては、1Ωのイ
ンピーダンスを維持する周波数の上限が12GHz、
0.2Ωのインピーダンスを維持する周波数の上限が
2.4GHz程度と約100倍広くすることができる。
【0056】すなわち、約100倍の動作速度で電子回
路装置を動作させても、誤動作しない電子回路装置が提
供できるものである。したがって、本発明のコンデンサ
ユニット、および、コンデンサユニットを使用する電子
回路装置は、電源系のインピーダンスを大幅に広い周波
数帯域まで低く維持する他、配線を短くして遅延を防ぐ
ことにより、高速で動作可能な電子回路装置を、簡単か
つ経済的に提供するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるコンデンサモジュールの構成例を
示す断面図。
【図2】同じく、コンデンサモジュールの電極のパター
ンを示すパターン図。
【図3】本発明による信号通過モジュールの構成例を示
す断面図。
【図4】本発明による電子回路装置の構成例を示す断面
図。
【図5】本発明による電子回路装置の別の構成例を示す
断面図。
【図6】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断面
図。
【図7】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断面
図。
【図8】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断面
図。
【図9】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断面
図。
【図10】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図11】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図12】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図13】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図14】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図15】同じく、電子回路装置の別の構成例を示す断
面図。
【図16】本発明によるコンデンサユニットの構成例を
示す断面図。
【図17】同じく、コンデンサユニットの別の構成例を
示す断面図。
【図18】同じく、コンデンサユニットの別の構成例を
示す断面図。
【図19】同じく、コンデンサユニットの別の構成例を
示す断面図。
【図20】同じく、コンデンサユニットを使用した電子
回路装置の構成例を示す断面図。
【図21】本発明による電子回路装置の実装成例を示す
断面図。
【図22】従来の電子回路装置の構成例を示す断面図。
【図23】同じく、別の構成例を示す断面図。
【図24】同じく、別の構成例を示す断面図。
【図25】同じく、別の構成例を示す断面図。
【図26】従来のコンデンサ内蔵型電子回路装置の構成
例を示す断面図。
【符号の説明】
1…コンデンサ、 2…LSI、
3…配線基板、4…コンデンサユニット、 21…リ
ード、 22…シリコンチップ、23…半田ボー
ル、 24…パッケージ基板、25…半田ボー
ル、26…パッケージキャップ、 27…モールド、2
8…ボンディングワイヤ 31…スルーホール、 3
2…信号配線、33…電源配線、 34…接
続パッド、41…コンデンサモジュール、42…信号通
過モジュール、43、43a…再配線基板、 43b…
スルーホール、44、45…半田ボール、 46、4
6a…通過基板、47…スルーホール、 48、
48a…通過基板、51…接続パッド、 5
2、52a…スルーホール、53、54…コンデンサ電
極、55…誘電体、56…電源パターン、 57
…誘電体、 61…モールド。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1面と第1面に対向する第2面の両面に
    電極を配設し、高誘電率の材料から成るコンデンサと前
    記電極同士を接続するスルーホールとを内蔵したコンデ
    ンサモジュールと、第1面と第1面に対向する第2面の
    両面に電極を配設し、低誘電率の材料と前記電極同士を
    接続するスルーホールとを内蔵した、前記コンデンサモ
    ジュールと概略同一厚さの信号通過モジュールとを具備
    し、前記コンデンサモジュールと信号通過モジュールと
    の、第1面同士および第2面同士を概略同一平面になる
    よう配置し、接着手段で一体化して成るコンデンサユニ
    ット。
  2. 【請求項2】上記接着手段は、少なくとも両面に電極
    と、両面の電極同士を接続するスルーホールとを配設し
    て成る基板であり、前記基板の片面の電極と、上記コン
    デンサモジュールおよび信号通過モジュールの第1面の
    電極もしくは第2面の電極とを接続することで、一体化
    して成る請求項1記載のコンデンサユニット。
  3. 【請求項3】上記基板を2個備え、上記コンデンサモジ
    ュールおよび信号通過モジュールの第1面の電極と第2
    面の電極との両方に基板を接続することで、一体化して
    成る請求項2記載のコンデンサユニット。
  4. 【請求項4】複数の電子回路と、電子回路同士を接続す
    る配線基板とから成る電子回路装置において、請求項1
    乃至3のいずれかに記載のコンデンサユニットを選択
    し、前記コンデンサユニットを前記配線基板と電子回路
    との間に配設接続して成る、コンデンサユニット内蔵電
    子回路装置。
  5. 【請求項5】電子回路と、請求項1乃至3のいずれかに
    記載のコンデンサユニットの一方の電極とを接続するこ
    とで、一体化して成るコンデンサユニット内蔵電子回路
    装置。
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