JPH0723533B2 - Method for producing resin body coated with silicon oxide - Google Patents

Method for producing resin body coated with silicon oxide

Info

Publication number
JPH0723533B2
JPH0723533B2 JP62081760A JP8176087A JPH0723533B2 JP H0723533 B2 JPH0723533 B2 JP H0723533B2 JP 62081760 A JP62081760 A JP 62081760A JP 8176087 A JP8176087 A JP 8176087A JP H0723533 B2 JPH0723533 B2 JP H0723533B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin body
silicon dioxide
silicon
coating layer
silicon oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62081760A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63247349A (en
Inventor
義行 福本
敦士 満生
忠宏 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP62081760A priority Critical patent/JPH0723533B2/en
Publication of JPS63247349A publication Critical patent/JPS63247349A/en
Publication of JPH0723533B2 publication Critical patent/JPH0723533B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシリコン酸化物被覆樹脂体の製造方法に関す
る。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for producing a silicon oxide-coated resin body.

〔従来の技術〕 真空蒸着法やイオンプレーティング法によってシリコン
酸化物の薄膜を形成することは従来公知である。たとえ
ば特開昭49−60369号公報には1×10-5トール〜8×10
-4トールの酸素雰囲気下に一酸化ケイ素を加熱してプラ
スチック上に二酸化ケイ素を真空蒸着する方法が記載さ
れ、VACUUM Vol.14、385〜392(1964)及びJournal of Ap
plied Physics Vol.34、347〜351(1962)には真空蒸着に
より一酸化ケイ素被膜を形成することが記載されてい
る。
[Prior Art] It is conventionally known to form a silicon oxide thin film by a vacuum deposition method or an ion plating method. For example, in JP-A-49-60369, 1 × 10 -5 Torr to 8 × 10 5
A method of vacuum-depositing silicon dioxide on plastic by heating silicon monoxide in an oxygen atmosphere of -4 Torr is described in VACUUM Vol. 14, 385-392 (1964) and Journal of Ap.
Plied Physics Vol.34, 347-351 (1962) describes forming a silicon monoxide film by vacuum vapor deposition.

シリコン酸化物薄膜が積層された樹脂体は絶縁体やメガ
ネなどの光学用途に使用されており、薄膜を硬質化する
ために薄膜を厚くすることが要求されている。
A resin body in which a silicon oxide thin film is laminated is used for optical applications such as insulators and glasses, and it is required to thicken the thin film in order to harden the thin film.

しかしながら一酸化ケイ素は酸素や水蒸気等との反応性
が高く、一酸化ケイ素薄膜の応力は経時的に変化し、か
つ膜厚を厚くすれば残留応力が大きくなり、脱膜しやす
くなるので厚膜化することはできない。又、二酸化ケイ
素は一酸化ケイ素に比較して化学的活性が小さく、樹脂
体との密着性が悪いので、膜厚を厚くすれば脱膜しやす
くなる。
However, since silicon monoxide has high reactivity with oxygen and water vapor, the stress of the silicon monoxide thin film changes with time, and if the film thickness is made thicker, the residual stress becomes larger and it becomes easier to remove the film. It cannot be transformed. Further, silicon dioxide has a smaller chemical activity than silicon monoxide and has poor adhesiveness to the resin body, and therefore, if the film thickness is increased, the film can be easily removed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

本発明の目的は上記欠点に鑑み、3μm以上の厚膜のシ
リコン酸化物被膜が強固に密着した樹脂体の製造方法を
提供することにある。
In view of the above drawbacks, an object of the present invention is to provide a method for producing a resin body in which a silicon oxide film having a thickness of 3 μm or more is firmly adhered.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

以下、本発明のシリコン酸化物被覆樹脂体の製造方法を
図面を参照して説明する。
Hereinafter, a method for producing a silicon oxide-coated resin body of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の製造方法で用いられる装置の一例を示
す模式図である。図中1は真空槽であり、排気口2に連
結される排気装置(図示せず)によって高真空に排気さ
れるようになされている。真空槽1内には被蒸発物質
4、41が供給された、加熱及び冷却装置付きの銅ハース
3、31が配設されている。尚、銅ハース3と31は任意に
位置の交換が可能になされている。銅ハース3の上方に
は電極に接続されたイオン化電極5が設置され、蒸発物
質をイオン化できるようになされている。又イオン化電
極5のさらに上方には、ポリエーテルサルフォンからな
る樹脂体7を固定するための基板6が設けられ、基板6
は電極に接続されている。尚、8はガス導入口である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an apparatus used in the manufacturing method of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a vacuum chamber, which is evacuated to a high vacuum by an exhaust device (not shown) connected to an exhaust port 2. Inside the vacuum chamber 1, copper hearths 3 and 31 with heating and cooling devices, to which substances to be evaporated 4 and 41 are supplied, are arranged. The positions of the copper hearths 3 and 31 can be arbitrarily exchanged. An ionization electrode 5 connected to the electrode is installed above the copper hearth 3 so that the evaporated substance can be ionized. Further, a substrate 6 for fixing a resin body 7 made of polyether sulfone is provided above the ionization electrode 5, and the substrate 6
Are connected to the electrodes. In addition, 8 is a gas inlet.

本発明においては、真空槽1の減圧度が小さいと一酸化
ケイ素を真空蒸着もしくはイオンプレーティングした際
に、残存酸素によって一酸化ケイ素が二酸化ケイ素に変
化し、コーティング層の二酸化ケイ素の比率が高くなっ
て密着力が低下するので5×10-4トール以下に減圧され
る。尚、この減圧の範囲内であれば槽1内に窒素や水蒸
気を注入してもよい。そして、銅ハース3に被蒸発物質
4として一酸化ケイ素を供給し、銅ハース3を加熱して
一酸化ケイ素を蒸発させ樹脂体7上に厚さ0.05〜3μm
のコーティング層を形成する。この際、イオンプレーテ
ィング法によってコーティングするにはイオン化電極に
直流電圧を印加し、アーク放電を発生させて蒸発した一
酸化ケイ素の一部をイオン化すればよく、さらに基板6
にも負の直流電圧を印加してもよい。尚、この印加電圧
は基板6の温度上昇をまねくので、樹脂体7の樹脂の耐
熱性によって適宜決定される。
In the present invention, when the vacuum degree of the vacuum chamber 1 is small, when the silicon monoxide is vacuum-deposited or ion-plated, the residual oxygen changes the silicon monoxide into silicon dioxide, and the ratio of silicon dioxide in the coating layer is high. Since the adhesion is reduced, the pressure is reduced to 5 × 10 -4 Torr or less. It should be noted that nitrogen or water vapor may be injected into the tank 1 as long as it is within this reduced pressure range. Then, silicon monoxide is supplied to the copper hearth 3 as the substance 4 to be evaporated, and the copper hearth 3 is heated to evaporate the silicon monoxide to a thickness of 0.05 to 3 μm on the resin body 7.
To form a coating layer. At this time, for coating by the ion plating method, a DC voltage may be applied to the ionization electrode to generate arc discharge and ionize a part of the evaporated silicon monoxide.
Alternatively, a negative DC voltage may be applied. Since the applied voltage causes the temperature of the substrate 6 to rise, it is appropriately determined by the heat resistance of the resin of the resin body 7.

次に、被蒸発物質41として二酸化ケイ素が供給された銅
ハース31と銅ハース3の位置を交代させ、銅ハース31を
加熱して二酸化ケイ素を蒸発させ、コーティング層上に
二酸化ケイ素層を形成する。コーティング層は一酸化ケ
イ素を主体とするものであるから、酸素に接触すると容
易に酸化されるのでコーティング層を形成後、真空槽1
の減圧状態を維持し、ひき続いて二酸化ケイ素層を形成
するのが好ましい。
Next, the positions of the copper hearth 31 and the copper hearth 3 supplied with silicon dioxide as the substance to be evaporated 41 are changed, and the copper hearth 31 is heated to evaporate the silicon dioxide and form a silicon dioxide layer on the coating layer. . Since the coating layer is mainly composed of silicon monoxide, it is easily oxidized when it comes into contact with oxygen. Therefore, after forming the coating layer, the vacuum chamber 1
It is preferable to maintain the reduced pressure state of, and subsequently to form the silicon dioxide layer.

上記コーティング層は5×10-4トール以下の減圧状態で
一酸化ケイ素が真空蒸着もしくはイオンプレーティング
法によって形成された層であるから、少量の二酸化ケイ
素を含む一酸化ケイ素よりなる層である。従ってコーテ
ィング層の厚みが薄くなると二酸化ケイ素の比率が高く
なり密着性が低下するので、コーティング層は0.05〜3
μmに形成される。
The coating layer is a layer formed of silicon monoxide containing a small amount of silicon dioxide, since silicon monoxide is a layer formed by vacuum deposition or ion plating under a reduced pressure of 5 × 10 −4 Torr or less. Therefore, the thinner the coating layer, the higher the proportion of silicon dioxide and the lower the adhesion.
formed to a thickness of μm.

又、二酸化ケイ素層の厚みは上記コーティング層と二酸
化ケイ素層の合計厚みが3μm以上になるように決定さ
れればよいが、コーティング層の厚みより厚くされるの
が好ましく、より好ましくは3〜20μmである。
The thickness of the silicon dioxide layer may be determined so that the total thickness of the coating layer and the silicon dioxide layer is 3 μm or more, but it is preferably thicker than the thickness of the coating layer, more preferably 3 to 20 μm. is there.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明のシリコン酸化物被覆樹脂体の製造方法の構成は
上述の通りであり、厚みが3μm以上の厚膜のシリコン
酸化物が被覆されたポリエーテルサルフォンからなる樹
脂体を容易に製造することができ、得られたポリエーテ
ルサルフォンからなる樹脂体には表面硬度が高く、耐擦
傷性のすぐれたシリコン酸化物層が強固に密着してお
り、プラスチックレンズ、窓ガラス、その他表面硬化プ
ラスチック製品として好適に使用できる。
The configuration of the method for producing a silicon oxide-coated resin body of the present invention is as described above, and a resin body made of polyether sulfone coated with a thick film of silicon oxide having a thickness of 3 μm or more can be easily produced. The resulting resin body made of polyethersulfone has a high surface hardness and a silicon oxide layer with excellent scratch resistance firmly adheres to it, and plastic lenses, window glass, and other surface-hardened plastic products Can be suitably used as.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の実施例を説明する。 Next, examples of the present invention will be described.

実施例1〜4、比較例3、4 第1図に示した装置において樹脂体7としてポリエーテ
ルサルフォンフイルムを設置し、第1表に示した所定圧
力まで減圧し、イオン化電極5に50V印加し、基板6は
アース状態にして、被蒸発物質4として一酸化ケイ素が
供給された銅ハース3を加熱して、イオンプレーティン
グ法により一酸化ケイ素のコーティング層を形成し、引
続いて、イオン化電極5及び基板6をアース状態にし、
被蒸発物質41として二酸化ケイ素が供給された銅ハース
31を銅ハース3と置換えた後加熱して真空蒸着法によっ
て、コーティング層上に二酸化ケイ素層を積層した。コ
ーティング層及び二酸化ケイ素層の厚みを測定し第1表
に示した。又、表面硬度試験(ヌープ硬度、荷重25gで
測定)及びヒートサイクルテスト(−20℃1時間保持と
100℃1時間保持を100回繰返した後光学顕微鏡で表面状
態を観察)を行い結果を第1表に示した。尚ポリエーテ
ルサルフォンフイルムのヌープ硬度は20Kg/mm2であっ
た。
Examples 1 to 4 and Comparative Examples 3 and 4 In the apparatus shown in FIG. 1, a polyether sulfone film was installed as the resin body 7, the pressure was reduced to the predetermined pressure shown in Table 1, and 50 V was applied to the ionization electrode 5. Then, the substrate 6 is grounded, and the copper hearth 3 to which silicon monoxide is supplied as the substance to be evaporated 4 is heated to form a coating layer of silicon monoxide by the ion plating method, and then ionized. The electrode 5 and the substrate 6 are grounded,
Copper hearth supplied with silicon dioxide as the substance to be evaporated 41
After replacing 31 with copper hearth 3, it was heated and a silicon dioxide layer was laminated on the coating layer by vacuum deposition. The thicknesses of the coating layer and the silicon dioxide layer were measured and are shown in Table 1. In addition, surface hardness test (Knoop hardness, load 25g) and heat cycle test (hold at -20 ℃ for 1 hour)
After maintaining at 100 ° C. for 1 hour 100 times, the surface condition was observed with an optical microscope) and the results are shown in Table 1. The Knoop hardness of the polyether sulfone film was 20 kg / mm 2 .

実施例5〜8 真空槽内を1×10-5トールまで減圧した後、第1表に示
したガスを注入して2×10-4トールにした以外は実施例
1で行ったと同様にしてコーテイング層及び二酸化ケイ
素層を積層し、各槽の厚みを第1表に示した。又、表面
硬度試験及びヒートサイクルテストを行い、結果を第1
表に示した。
Examples 5 to 8 As in Example 1, except that the pressure in the vacuum chamber was reduced to 1 × 10 −5 Torr, and then the gas shown in Table 1 was injected to 2 × 10 −4 Torr. A coating layer and a silicon dioxide layer were laminated, and the thickness of each tank is shown in Table 1. In addition, the surface hardness test and the heat cycle test were performed, and the result was the first
Shown in the table.

比較例1 実施例1において、一酸化ケイ素のコーティング層を形
成することなく真空蒸着法によって厚さ13μmの二酸化
ケイ素層を積層したところ、二酸化ケイ素層は一部膜剥
離していた。
Comparative Example 1 When a 13 μm-thick silicon dioxide layer was laminated by a vacuum deposition method without forming a coating layer of silicon monoxide in Example 1, a part of the silicon dioxide layer was exfoliated.

比較例2 真空槽内を1×10-5トールまで減圧した後窒素ガスを導
入して2×10-4トールにし、実施例1で行ったと同様に
して厚さ6μmの一酸化ケイ素のコーティング層を形成
したところ、コーティング層は一部膜剥離していた。
Comparative Example 2 The pressure in the vacuum chamber was reduced to 1 × 10 −5 Torr, nitrogen gas was introduced to 2 × 10 −4 Torr, and a silicon monoxide coating layer having a thickness of 6 μm was obtained in the same manner as in Example 1. Was formed, the coating layer was partially peeled off.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の製造方法で用いられる装置の一例を示
す模式図である。 1……真空槽、2……排気口、3,31……銅ハース、4,41
……被蒸発物質、5……イオン化電極、6……基板、7
……樹脂体
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an apparatus used in the manufacturing method of the present invention. 1 ... Vacuum tank, 2 ... Exhaust port, 3,31 ... Copper hearth, 4,41
…… Evaporation material, 5 …… Ionization electrode, 6 …… Substrate, 7
...... Resin body

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】5×10-4トール以下の減圧下に一酸化ケイ
素を加熱蒸発させ、真空蒸着法もしくはイオンプレーテ
ィング法によってポリエーテルサルフォンからなる樹脂
体表面に0.05〜3μmのコーティング層を形成し、次に
二酸化ケイ素を加熱蒸発させ、真空蒸着法もしくはイオ
ンプレーティング法によって二酸化ケイ素層を形成し
て、前記コーティング層と二酸化ケイ素層の合計の厚み
を3μm以上にすることを特徴とするシリコン酸化物被
覆樹脂体の製造方法。
1. A coating layer of 0.05 to 3 .mu.m is formed on the surface of a resin body made of polyethersulfone by heating and evaporating silicon monoxide under a reduced pressure of 5.times.10.sup.- 4 Torr or less and by a vacuum deposition method or an ion plating method. And then evaporating the silicon dioxide by heating to form a silicon dioxide layer by a vacuum deposition method or an ion plating method so that the total thickness of the coating layer and the silicon dioxide layer is 3 μm or more. A method for producing a silicon oxide-coated resin body.
JP62081760A 1987-04-01 1987-04-01 Method for producing resin body coated with silicon oxide Expired - Lifetime JPH0723533B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62081760A JPH0723533B2 (en) 1987-04-01 1987-04-01 Method for producing resin body coated with silicon oxide

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62081760A JPH0723533B2 (en) 1987-04-01 1987-04-01 Method for producing resin body coated with silicon oxide

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63247349A JPS63247349A (en) 1988-10-14
JPH0723533B2 true JPH0723533B2 (en) 1995-03-15

Family

ID=13755405

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62081760A Expired - Lifetime JPH0723533B2 (en) 1987-04-01 1987-04-01 Method for producing resin body coated with silicon oxide

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0723533B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113699490A (en) * 2021-08-30 2021-11-26 琪锐彩光电科技(厦门)有限公司 High-wear-resistance coated resin lens coating method and preparation method and high-wear-resistance coated resin lens

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55110127A (en) * 1979-02-19 1980-08-25 Teijin Lens Kk Preparation of plastic antireflection film
JPS56147830A (en) * 1980-04-18 1981-11-17 Asahi Glass Co Ltd Formation of hard coating film

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63247349A (en) 1988-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4170662A (en) Plasma plating
EP0030732B1 (en) Transparent electrically conductive film and process for production thereof
US4983255A (en) Process for removing metallic ions from items made of glass or ceramic materials
JPH02178630A (en) Method and apparatus for forming thin polyimide film
KR100336621B1 (en) Method of depositing an io or ito thin film on polymer substrate
US5217589A (en) Method of adherent metal coating for aluminum nitride surfaces
JPH0320457A (en) Production of alumina-coated al or al-alloy member
JPH0723533B2 (en) Method for producing resin body coated with silicon oxide
JPH02138469A (en) Material for vacuum having diamond surface, surface treatment of this material for vacuum production, of diamond film surface, vacuum vessel and its parts formed by using material for vacuum, in-vacuum driving mechanism, electron release source, in-vacuum heater and vessel of vapor deposition source
JPS6350463A (en) Method and apparatus for ion plating
JPS61183810A (en) Transparent electrode
JPH0631850A (en) High gas barrier transparent conductive film
JPH04346651A (en) Metallizing method
JPS63203760A (en) Method and device for forming inorganic film to glass substrate surface
JPS63247351A (en) Manufacture of silicon compound-coated resin body
JPH0258744A (en) Optical disk memory
JPH06299347A (en) Production of electric insulating platelike material
JPH0247252A (en) Production of composite material film
JPS61104070A (en) Formation of thin film
JPS6046181B2 (en) Vacuum deposition method
JPS6226869A (en) Manufacture of photovoltaic device
JPS6229015A (en) Manufacture of transparent conducting film
JPH10121223A (en) Vacuum device and its production
JPH0542764B2 (en)
JPS61219028A (en) Formation of liquid crystal orienting film