JPH0722797A - 電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方法 - Google Patents
電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方法Info
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- JPH0722797A JPH0722797A JP5160803A JP16080393A JPH0722797A JP H0722797 A JPH0722797 A JP H0722797A JP 5160803 A JP5160803 A JP 5160803A JP 16080393 A JP16080393 A JP 16080393A JP H0722797 A JPH0722797 A JP H0722797A
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Abstract
について、メンテナンス不良によると思われるものにつ
いては、照明の照度変化、部品認識結果による部品廃棄
率の変化により検知して未然に防ぐ。 【構成】部品認識の照度変化を自動的に計測して部品照
明ランプの交換が必要であることを告知するとともに、
単位時間当たりの部品認識エラー数の増加を検知して自
動的に認識データの再度作成を行うことにより、部品認
識ユニットのメンテナンス不良による部品廃棄率を低下
させ、電子部品実装機の生産効率の低下を防ぐ。
Description
る部品認識部のメンテナンス方法に関するものである。
の向上のための部品の小型化と多品種化とともに製品基
板の品質の向上が求められており、部品を認識・判定し
て実装する電子部品実装機が利用されるようになってき
ている。
結果による廃棄率が多い場合の操作者の対応に付いて説
明する。図3の電子部品実装機において、部品認識ユニ
ット31の所にきた部品に付いてその都度部品認識処理
を行い、その部品の良・不良を外形から判断している。
ここで操作者は電子部品実装機にて集計される生産状況
のデータの中から部品認識において不良と判断された部
品認識エラーの率が多いと感じたときにそのための対応
を取る。
る。操作者が部品認識エラーの率が多いと判断する(ス
テップ21)と、まず操作者は図4に示す部品認識ユニ
ット41とその周辺の認識カメラ42,43などの清掃
を行う(ステップ22)。ここで清掃を行う理由として
は、図5において、ノズル44に吸着された電子部品4
5を認識する部品認識ユニット41には多くの鏡やレン
ズが使われ、さらに部品照明のためにも光の反射板など
が用いられていて、これらの部品が製品基板生産中に埃
や稼働部の油などで汚れて部品認識カメラ42,43に
届く照度が低下することが多くなるためである。清掃の
結果、部品認識エラー率が下がっていないと判断した場
合(ステップ23)、照度の低下が原因ではないかとい
う判断の基に部品照明のランプを交換する(ステップ2
4)。ここで、部品認識に用いられる照明の照度変化に
付いて説明する。
プの代表的な照明変動の一例を示し、図6のように、寿
命とともに一気に光の出力が低下している。ランプを交
換しても部品認識エラー率が低下しないと判断したとき
(ステップ25)、操作者は部品認識を実行するために
あらかじめ必要となる認識データをその認識環境の基に
再度作成して生産を継続する(ステップ26)。
ラー率の多くなっていることに気付くタイミングや、部
品照明の照度の低下の度合いの判断には操作者の熟練を
要する。さらに、部品の形状として部品認識カメラまで
到達する光は部品照明用のランプからくるものだけでな
く、電子部品実装機に搭載されている他の照明や、電子
部品実装機の設置されている場所の照明なども含まれて
いて、部品認識環境としての変化を操作者が捕らえるこ
とは困難である。結果として、部品の廃棄数を無用に多
くしてしまい、生産時間が長くなってしまう。
テナンス不良による部品廃棄を未然に防ぐことができる
部品認識部メンテナンス方法を提供することを目的とす
る。
に本発明の電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方
法は、部品認識環境の変化を部品認識カメラの取り込む
光の照度の変化と部品認識エラー率によって自動的に電
子部品実装機が判断し、メンテナンスの時期に達したこ
とを警告できるようにしたものである。
の増加という定量的な値で自動的に電子部品実装機が部
品廃棄率を低下させるための対応を取ることができると
ともにメンテナンス不良による部品廃棄率の増加に気付
くために操作者の熟練を必要としなくなる。
て説明する。図1は本発明の一実施例の電子部品実装機
における部品認識部のメンテナンス方法のフローチャー
トである。まず、電子部品実装機による生産を開始する
前に、部品照明用のランプを交換する時期を知るための
照度の値と部品認識データを再度作成する必要のある部
品認識エラー率の値を設定しておく。
基板の生産を開始して、部品認識エラーが発生したとき
(ステップ11)、電子部品実装機はまず部品認識用の
照明の照度を計測し、あらかじめ設定された設定値との
比較を行う(ステップ12)。ここで、計測した照度が
設定値よりも低かった場合は、図3に示す分子部品実装
機のディスプレイ32にランプの交換が必要であること
を表示して操作者に知らせる(ステップ18)。そして
電子部品実装機の生産動作を停止させ(ステップ1
9)、操作者はランプの交換を行い(ステップ20)、
その後生産を継続する(ステップ14)。
高かった場合は、単位時間当たりの認識エラー率をあら
かじめ設定された値と比較し(ステップ13)、設定値
より高かった場合は部品認識データを再度自動的に電子
部品実装機が作成し直す(ステップ21)。さらに、そ
の製品基板の生産が終了したときに(ステップ15)、
認識データの再度作成を行った場合のみ(ステップ1
6)、認識ユニットとその関連ユニットの清掃が必要で
あることを電子部品実装機のディスプレイ32に表示し
て操作者に知らせる(ステップ17)。
に部品認識カメラとは別に照度計を設置して用いること
もできる。また、部品認識データを再度作成する時期の
判断条件に計測した照度を併せて用いることもできる。
識用の照明のランプ交換時期と認識ユニットとその関連
ユニットの清掃時期を適切に知ることができるととも
に、部品認識ユニットのメンテナンス不良による部品認
識結果の部品廃棄率を操作者の熟練を必要とせずに低下
させることができる。つまり、認識エラーによるマシン
の生産効率の低下と整備不良による部品の廃棄を未然に
防ぐことができる。
部メンテナンス方法のフローチャート
Claims (3)
- 【請求項1】 電子部品実装機の部品認識において照度
を計測する処理と照度の変化によって操作者に自動的に
照度の低下を知らせる処理と電子部品実装機の動作を停
止させる処理を有することを特徴とする電子部品実装機
の部品認識部メンテナンス方法。 - 【請求項2】 電子部品実装機の部品認識において認識
結果で廃棄される部品数を計測する処理とこの計測結果
により部品認識データの作成を自動的に再度行う処理と
を有することを特徴とする部品認識部メンテナンス方
法。 - 【請求項3】 電子部品実装機の部品認識において照度
を計測する処理と照度の変化により部品認識のためのデ
ータを自動的に再度作成する処理を有することを特徴と
する部品認識部メンテナンス方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16080393A JP3444626B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP16080393A JP3444626B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0722797A true JPH0722797A (ja) | 1995-01-24 |
JP3444626B2 JP3444626B2 (ja) | 2003-09-08 |
Family
ID=15722784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16080393A Expired - Fee Related JP3444626B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 電子部品実装機の部品認識部メンテナンス方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3444626B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1302805A2 (de) * | 2001-10-11 | 2003-04-16 | Leica Microsystems (Schweiz) AG | Vorrichtung zur Bestimmung der Helligkeit einer Lichtquelle in einem Mikroskop |
WO2014049766A1 (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | 富士機械製造株式会社 | 基板作業機用の認識装置 |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP16080393A patent/JP3444626B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP1302805A2 (de) * | 2001-10-11 | 2003-04-16 | Leica Microsystems (Schweiz) AG | Vorrichtung zur Bestimmung der Helligkeit einer Lichtquelle in einem Mikroskop |
EP1302805A3 (de) * | 2001-10-11 | 2003-04-23 | Leica Microsystems (Schweiz) AG | Vorrichtung zur Bestimmung der Helligkeit einer Lichtquelle in einem Mikroskop |
US6909499B2 (en) | 2001-10-11 | 2005-06-21 | Leica Microsystems (Schweiz) Ag | Light source for illumination in an optical viewing device |
WO2014049766A1 (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | 富士機械製造株式会社 | 基板作業機用の認識装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3444626B2 (ja) | 2003-09-08 |
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