JPH0721882B2 - 光磁気記録再生装置 - Google Patents
光磁気記録再生装置Info
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- JPH0721882B2 JPH0721882B2 JP16528287A JP16528287A JPH0721882B2 JP H0721882 B2 JPH0721882 B2 JP H0721882B2 JP 16528287 A JP16528287 A JP 16528287A JP 16528287 A JP16528287 A JP 16528287A JP H0721882 B2 JPH0721882 B2 JP H0721882B2
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- G11B11/10586—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form characterised by the selection of the material
- G11B11/10589—Details
- G11B11/10593—Details for improving read-out properties, e.g. polarisation of light
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光磁気ディスクに光ビームを微小スポットと
して照射し、情報の記録再生を行う光磁気記録再生装置
に関するものである。
して照射し、情報の記録再生を行う光磁気記録再生装置
に関するものである。
光磁気記録においては、記録媒体として垂直磁化膜を用
い、これに直線偏光化された光ビームを微小スポットと
して照射し、記録媒体の磁化が上向きか下向きかにより
反射光の偏光面が逆方向に回転するというカー効果を用
いて情報の再生を行う。カー効果による偏光面の回転角
（カー回転角）は約0.1度と小さいため、通常は記録層
に隣接して干渉層を設け、これによる干渉効果を利用し
て実効的なカー回転角を約１度に増幅し、再生時のSN比
の向上をはかっている。
い、これに直線偏光化された光ビームを微小スポットと
して照射し、記録媒体の磁化が上向きか下向きかにより
反射光の偏光面が逆方向に回転するというカー効果を用
いて情報の再生を行う。カー効果による偏光面の回転角
（カー回転角）は約0.1度と小さいため、通常は記録層
に隣接して干渉層を設け、これによる干渉効果を利用し
て実効的なカー回転角を約１度に増幅し、再生時のSN比
の向上をはかっている。
第４図に従来の光磁気記録再生装置に用いる光磁気ディ
スクの断面を示す。光磁気ディスクの基板１には、トラ
ッキング用に同心円状または螺旋状の溝が形成されてお
り、その上に干渉層2,記録層３が成膜されている。光ビ
ーム21は対物レンズ６で微小スポットに絞られ、溝部23
の間である溝間部22の記録層上に照射される。
スクの断面を示す。光磁気ディスクの基板１には、トラ
ッキング用に同心円状または螺旋状の溝が形成されてお
り、その上に干渉層2,記録層３が成膜されている。光ビ
ーム21は対物レンズ６で微小スポットに絞られ、溝部23
の間である溝間部22の記録層上に照射される。
第５図には、従来の光磁気記録再生装置において、第４
図の光磁気ディスクに光ビームを照射し、情報の記録再
生を行うための光学系の構成を示す。半導体レーザ24か
ら出射した光ビーム21は、コリメートレンズ26で平行光
化され、整形プリズム８で等方化されたのち、ビームス
プリッタ9,10を透過して直線偏光となり、対物レンズ６
でディスク11上に集光される。ディスク11からの反射光
の一部はビームスプリッタ10で反射され、検光子12を透
過したのちレンズ13を通り光検出器25に入射する。検光
子12により、ディスク11からの反射光の偏光面の回転の
向きが光検出器25への入射光の強弱に変換され、情報の
再生が行える。また、ディスク11からの反射光の一部は
ビームスプリッタ９で反射され、レンズ16を通りビーム
スプリッタ17で二分割されたのち、一方はナイフエッジ
18を通してフォーカスサーボ用光検出器19に、他方は直
接トラックサーボ用光検出器20に入射する。ナイフエッ
ジ法，プッシュプル法の原理により、フォーカスサー
ボ、トラックサーボがそれぞれ行われる。
図の光磁気ディスクに光ビームを照射し、情報の記録再
生を行うための光学系の構成を示す。半導体レーザ24か
ら出射した光ビーム21は、コリメートレンズ26で平行光
化され、整形プリズム８で等方化されたのち、ビームス
プリッタ9,10を透過して直線偏光となり、対物レンズ６
でディスク11上に集光される。ディスク11からの反射光
の一部はビームスプリッタ10で反射され、検光子12を透
過したのちレンズ13を通り光検出器25に入射する。検光
子12により、ディスク11からの反射光の偏光面の回転の
向きが光検出器25への入射光の強弱に変換され、情報の
再生が行える。また、ディスク11からの反射光の一部は
ビームスプリッタ９で反射され、レンズ16を通りビーム
スプリッタ17で二分割されたのち、一方はナイフエッジ
18を通してフォーカスサーボ用光検出器19に、他方は直
接トラックサーボ用光検出器20に入射する。ナイフエッ
ジ法，プッシュプル法の原理により、フォーカスサー
ボ、トラックサーボがそれぞれ行われる。
従来の光磁気記録再生装置においては、ディスクの溝部
または溝間部のみに情報を記録する。溝部と溝間部の両
方に情報を記録できれば記録密度を２倍にすることがで
きるが、その際には、溝部の情報を再生する時は隣接す
る溝間部からの信号が混入し、溝間部の情報を再生する
時は隣接する溝部からの信号が混入するため、クロスト
ークが劣化するという問題点がある。
または溝間部のみに情報を記録する。溝部と溝間部の両
方に情報を記録できれば記録密度を２倍にすることがで
きるが、その際には、溝部の情報を再生する時は隣接す
る溝間部からの信号が混入し、溝間部の情報を再生する
時は隣接する溝部からの信号が混入するため、クロスト
ークが劣化するという問題点がある。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解消し、ク
ロストークの劣化が十分小さく記録密度を２倍にするこ
とが可能な光磁気記録再生装置を提供することにある。
ロストークの劣化が十分小さく記録密度を２倍にするこ
とが可能な光磁気記録再生装置を提供することにある。
本発明は、同心円状または螺旋状の溝が形成された基板
上に少なくとも光磁気記録層と、この光磁気記録層にお
けるカー回転角の実効的な値を変化させるための干渉層
が成膜された光磁気ディスクに、光ビームを微小スポッ
トとして照射し情報の記録再生を行う光磁気記録再生装
置において、前記干渉層は基板の溝部と溝間部で異なる
厚さを有し、前記基板の溝部における干渉層の厚さは、
第１の波長に対する実効的なカー回転角が第１の波長と
は異なる波長の第２の波長に対する実効的なカー回転角
よりも大きくなるように設定されており、前記基板の溝
間部における干渉層の厚さは、前記第２の波長に対する
実効的なカー回転角が前記第１の波長に対する実効的な
カー回転角よりも大きくなるように設定されており、か
つ前記基板の溝部に前記第１の波長の光ビーム、前記基
板の溝間部に前記第２の波長の光ビームをそれぞれ照射
して情報の記録再生を行う手段を有することを特徴とし
ている。
上に少なくとも光磁気記録層と、この光磁気記録層にお
けるカー回転角の実効的な値を変化させるための干渉層
が成膜された光磁気ディスクに、光ビームを微小スポッ
トとして照射し情報の記録再生を行う光磁気記録再生装
置において、前記干渉層は基板の溝部と溝間部で異なる
厚さを有し、前記基板の溝部における干渉層の厚さは、
第１の波長に対する実効的なカー回転角が第１の波長と
は異なる波長の第２の波長に対する実効的なカー回転角
よりも大きくなるように設定されており、前記基板の溝
間部における干渉層の厚さは、前記第２の波長に対する
実効的なカー回転角が前記第１の波長に対する実効的な
カー回転角よりも大きくなるように設定されており、か
つ前記基板の溝部に前記第１の波長の光ビーム、前記基
板の溝間部に前記第２の波長の光ビームをそれぞれ照射
して情報の記録再生を行う手段を有することを特徴とし
ている。
光磁気記録層と干渉層が存在する場合の実効的なカー回
転角は、干渉層の厚さに対して周期的に変化する。その
周期は、照射する光ビームの波長が短いほど小さい。
転角は、干渉層の厚さに対して周期的に変化する。その
周期は、照射する光ビームの波長が短いほど小さい。
第２図は、干渉層の厚さｄに対する実効的なカー回転角
θＫの変化の様子を、二種類の波長λ1,λ２（λ１＜λ
２）について示したものである。図において、ｄ＝d1の
場合は波長λ１に対する実効的なカー回転角が波長λ２
に対するそれよりも大きく、ｄ＝d2の場合は波長λ２に
対する実効的なカー回転角が波長λ１に対するそれより
も大きくなることがわかる。そこで、例えば干渉層の厚
さを溝間部ではd1、溝部ではd2に設定し、溝間部には波
長λ１、溝部には波長λ２の光ビームをそれぞれ照射し
て情報の記録再生を行うようにすれば、光ビームが照射
される溝間部または溝部からの信号に比べ、それに隣接
する溝部または溝間部からの信号は実効的なカー回転角
に対応して小さくなる。従ってクロストークの劣化を抑
制することができる。
θＫの変化の様子を、二種類の波長λ1,λ２（λ１＜λ
２）について示したものである。図において、ｄ＝d1の
場合は波長λ１に対する実効的なカー回転角が波長λ２
に対するそれよりも大きく、ｄ＝d2の場合は波長λ２に
対する実効的なカー回転角が波長λ１に対するそれより
も大きくなることがわかる。そこで、例えば干渉層の厚
さを溝間部ではd1、溝部ではd2に設定し、溝間部には波
長λ１、溝部には波長λ２の光ビームをそれぞれ照射し
て情報の記録再生を行うようにすれば、光ビームが照射
される溝間部または溝部からの信号に比べ、それに隣接
する溝部または溝間部からの信号は実効的なカー回転角
に対応して小さくなる。従ってクロストークの劣化を抑
制することができる。
第１図に本発明の光磁気記録再生装置の一実施例に用い
る光磁気ディスクの断面を示す。光磁気ディスクの基板
１は例えばポリカーボネートであり、トラッキング用に
同心円状または螺旋状の溝が形成されている。干渉層２
は例えばSi3N4であり、溝間部22における厚さはd1、溝
部23における厚さはd2（d1＜d2）である。記録層３は例
えばTbFeCoである。光ビーム４は例えば波長λ１＝660n
m、光ビーム５は例えばλ２＝830nmであり、共通の対物
レンズ６で微小スポットに絞られ、それぞれ溝間部22,
溝部23の記録層上に照射される。d1,d2,λ1,λ２は第２
図に示す関係を満足しており、作用の項で述べたように
クロストークの劣化を抑制することができる。
る光磁気ディスクの断面を示す。光磁気ディスクの基板
１は例えばポリカーボネートであり、トラッキング用に
同心円状または螺旋状の溝が形成されている。干渉層２
は例えばSi3N4であり、溝間部22における厚さはd1、溝
部23における厚さはd2（d1＜d2）である。記録層３は例
えばTbFeCoである。光ビーム４は例えば波長λ１＝660n
m、光ビーム５は例えばλ２＝830nmであり、共通の対物
レンズ６で微小スポットに絞られ、それぞれ溝間部22,
溝部23の記録層上に照射される。d1,d2,λ1,λ２は第２
図に示す関係を満足しており、作用の項で述べたように
クロストークの劣化を抑制することができる。
第３図には、本発明の光磁気記録再生装置の一実施例に
おいて、第１図の光磁気ディスクに光ビームを照射し、
情報の記録再生を行うための光学系の構成を示す。
おいて、第１図の光磁気ディスクに光ビームを照射し、
情報の記録再生を行うための光学系の構成を示す。
半導体レーザアレイ７から出射した光ビーム４（波長λ
１＝660nm）と光ビーム５（波長λ２＝830nm）は、共通
のコリメートレンズ26で平行光化され、共通の整形プリ
ズム８で等方化されたのち、共通のビームスプリッタ9,
10を透過して直線偏光となり、共通の対物レンズ６でそ
れぞれディスク11上に集光される。光ビーム４はディス
ク11の溝間部22に集光され、光ビーム５は溝部23に集光
される。
１＝660nm）と光ビーム５（波長λ２＝830nm）は、共通
のコリメートレンズ26で平行光化され、共通の整形プリ
ズム８で等方化されたのち、共通のビームスプリッタ9,
10を透過して直線偏光となり、共通の対物レンズ６でそ
れぞれディスク11上に集光される。光ビーム４はディス
ク11の溝間部22に集光され、光ビーム５は溝部23に集光
される。
溝間部22および溝部23からの各反射光の一部はビームス
プリッタ17で反射され、共通の検光子12を透過したのち
共通のレンズ13を通り光検出器アレイ14に入射する。検
光子12により、ディスク11からの各反射光の偏光面の回
転の向きが光検出器アレイ14への入射光の強弱に変換さ
れ、情報の再生が行える。また、ディスク11からの各反
射光の一部はビームスプリッタ９で反射され、波長フィ
ルタ15により光ビーム４のみが取り出される。これは、
フォーカスサーボ，トラックサーボは一方の光ビームに
対して行えば他方の光ビームは自動的に位置決めされる
ため、一方の光ビームのみを取り出してサーボに用いれ
ばよいからである。光ビーム４はレンズ16を通りビーム
スプリッタ17で二分割されたのち、一方はナイフエッジ
18を通してフォーカスサーボ用光検出器19に、他方は直
線トラックサーボ用光検出器20に入射し、フォーカスサ
ーボ，トラックサーボがそれぞれ行われる。
プリッタ17で反射され、共通の検光子12を透過したのち
共通のレンズ13を通り光検出器アレイ14に入射する。検
光子12により、ディスク11からの各反射光の偏光面の回
転の向きが光検出器アレイ14への入射光の強弱に変換さ
れ、情報の再生が行える。また、ディスク11からの各反
射光の一部はビームスプリッタ９で反射され、波長フィ
ルタ15により光ビーム４のみが取り出される。これは、
フォーカスサーボ，トラックサーボは一方の光ビームに
対して行えば他方の光ビームは自動的に位置決めされる
ため、一方の光ビームのみを取り出してサーボに用いれ
ばよいからである。光ビーム４はレンズ16を通りビーム
スプリッタ17で二分割されたのち、一方はナイフエッジ
18を通してフォーカスサーボ用光検出器19に、他方は直
線トラックサーボ用光検出器20に入射し、フォーカスサ
ーボ，トラックサーボがそれぞれ行われる。
以上のような構成によれば、ディスクの溝部と溝間部に
同時に記録再生を行うことができるため、従来に比べて
記録密度が２倍になるとともにデータ転送速度も２倍に
できる。しかも光学系の大きさは従来とほぼ同じであ
る。
同時に記録再生を行うことができるため、従来に比べて
記録密度が２倍になるとともにデータ転送速度も２倍に
できる。しかも光学系の大きさは従来とほぼ同じであ
る。
以上述べた実施例においては、基板にポリカーボネー
ト、干渉層にSi3N4、記録層にTbFeCoを用いているが、
他の材料でもよい。例えば基板にはPMMA、干渉層にはAl
N、記録層にはGdTbFe等が考えられる。また、本実施例
のディスクは基板上に干渉層，記録層の二層が設けられ
ているが、他に、基板と記録層の間に二種類の干渉層を
設ける構成や、記録層の上にさらに干渉層や反射層を設
ける構成などが考えられる。いずれの場合も、少なくと
も一つの干渉層の厚さが溝部と溝間部で異なっており、
二種類の波長λ1,λ２に対する実効的なカー回転角の大
小関係が溝部と溝間部で逆になっていれば、本発明の効
果は得られる。λ1,λ２はもちろん660nm,830nm以外の
値でもかまわない。また、本実施例においては、二つの
光ビームに対して半導体レーザアレイ，共通の光学系，
光検出器アレイを用いているが、独立の半導体レーザ，
独立の光学系，独立の光検出器等を用いてもよい。ま
た、二つの光ビームに対して独立にサーボを行うことも
可能である。
ト、干渉層にSi3N4、記録層にTbFeCoを用いているが、
他の材料でもよい。例えば基板にはPMMA、干渉層にはAl
N、記録層にはGdTbFe等が考えられる。また、本実施例
のディスクは基板上に干渉層，記録層の二層が設けられ
ているが、他に、基板と記録層の間に二種類の干渉層を
設ける構成や、記録層の上にさらに干渉層や反射層を設
ける構成などが考えられる。いずれの場合も、少なくと
も一つの干渉層の厚さが溝部と溝間部で異なっており、
二種類の波長λ1,λ２に対する実効的なカー回転角の大
小関係が溝部と溝間部で逆になっていれば、本発明の効
果は得られる。λ1,λ２はもちろん660nm,830nm以外の
値でもかまわない。また、本実施例においては、二つの
光ビームに対して半導体レーザアレイ，共通の光学系，
光検出器アレイを用いているが、独立の半導体レーザ，
独立の光学系，独立の光検出器等を用いてもよい。ま
た、二つの光ビームに対して独立にサーボを行うことも
可能である。
本発明によれば、従来の光磁気記録再生装置に比べてク
ロストークの劣化を抑制したままで記録密度を２倍に向
上させた光磁気記録再生装置が得られる。
ロストークの劣化を抑制したままで記録密度を２倍に向
上させた光磁気記録再生装置が得られる。
第１図は本発明の光磁気記録再生装置の一実施例に用い
る光磁気ディスクの断面図、 第２図は干渉層の厚さｄに対する実効的なカー回転角θ
Ｋの変化を示す曲線図、 第３図は本発明の光磁気記録再生装置の一実施例に用い
る光学系の構成図、 第４図は従来の光磁気記録再生装置に用いる光磁気ディ
スクの断面図、 第５図は従来の光磁気記録再生装置に用いる光学系の構
成図である。 １……基板 ２……干渉層 ３……記録層 4,5,21……光ビーム ６……対物レンズ ７……半導体レーザアレイ ８……整形プリズム 9,10,17……ビームスプリッタ 11……ディスク 12……検光子 13,16……レンズ 14……光検出器アレイ 15……波長フィルタ 18……ナイフエッジ 19……フォーカスサーボ用光検出器 20……トラックサーボ用光検出器 22……溝間部 23……溝部 24……半導体レーザ 25……光検出器 25……コリメートレンズ
る光磁気ディスクの断面図、 第２図は干渉層の厚さｄに対する実効的なカー回転角θ
Ｋの変化を示す曲線図、 第３図は本発明の光磁気記録再生装置の一実施例に用い
る光学系の構成図、 第４図は従来の光磁気記録再生装置に用いる光磁気ディ
スクの断面図、 第５図は従来の光磁気記録再生装置に用いる光学系の構
成図である。 １……基板 ２……干渉層 ３……記録層 4,5,21……光ビーム ６……対物レンズ ７……半導体レーザアレイ ８……整形プリズム 9,10,17……ビームスプリッタ 11……ディスク 12……検光子 13,16……レンズ 14……光検出器アレイ 15……波長フィルタ 18……ナイフエッジ 19……フォーカスサーボ用光検出器 20……トラックサーボ用光検出器 22……溝間部 23……溝部 24……半導体レーザ 25……光検出器 25……コリメートレンズ
Claims (1)
- 【請求項１】同心円状または螺旋状の溝が形成された基
板上に少なくとも光磁気記録層と、この光磁気記録層に
おけるカー回転角の実効的な値を変化させるための干渉
層が成膜された光磁気ディスクに、光ビームを微小スポ
ットとして照射し情報の記録再生を行う光磁気記録再生
装置において、前記干渉層は基板の溝部と溝間部で異な
る厚さを有し、前記基板の溝部における干渉層の厚さ
は、第１の波長に対する実効的なカー回転角が第１の波
長とは異なる波長の第２の波長に対する実効的なカー回
転角よりも大きくなるように設定されており、前記基板
の溝間部における干渉層の厚さは、前記第２の波長に対
する実効的なカー回転角が前記第１の波長に対する実効
的なカー回転角よりも大きくなるように設定されてお
り、かつ前記基板の溝部に前記第１の波長の光ビーム、
前記基板の溝間部に前記第２の波長の光ビームをそれぞ
れ照射して情報の記録再生を行う手段を有することを特
徴とする光磁気記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16528287A JPH0721882B2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | 光磁気記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16528287A JPH0721882B2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | 光磁気記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6410446A JPS6410446A (en) | 1989-01-13 |
| JPH0721882B2 true JPH0721882B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=15809368
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16528287A Expired - Lifetime JPH0721882B2 (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 | 光磁気記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721882B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2737612B2 (ja) * | 1993-11-02 | 1998-04-08 | 日本電気株式会社 | 光ディスク |
-
1987
- 1987-07-03 JP JP16528287A patent/JPH0721882B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6410446A (en) | 1989-01-13 |
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