JPH0721447B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
- Publication number
- JPH0721447B2 JPH0721447B2 JP62247003A JP24700387A JPH0721447B2 JP H0721447 B2 JPH0721447 B2 JP H0721447B2 JP 62247003 A JP62247003 A JP 62247003A JP 24700387 A JP24700387 A JP 24700387A JP H0721447 B2 JPH0721447 B2 JP H0721447B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- test
- time
- sampling
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、材料試験機に関し、特に荷重と伸びのデータ
記憶を支障なく行なえるようにしたものに関する。
記憶を支障なく行なえるようにしたものに関する。
［従来の技術］ 材料試験機においては、荷重検出器および伸び検出器か
らの荷重・伸びデータを一定時間間隔でサンプリングし
てメモリに記憶し、演算処理を行なうタイムインターバ
ルデータ処理が行われている。
らの荷重・伸びデータを一定時間間隔でサンプリングし
てメモリに記憶し、演算処理を行なうタイムインターバ
ルデータ処理が行われている。
［発明が解決しようとする問題点］ 上記のように試験中の荷重・伸びデータをメモリに一定
間隔で格納してデータ処理する場合、メモリの容量制限
によって試験開始後からある時間を越えると、それ以後
のデータがメモリに保存できなくなってデータ解析が不
可能になるという問題点があった。そのため、長時間の
試験でデータの変化がゆるやかな場合に特に問題となっ
ていた。
間隔で格納してデータ処理する場合、メモリの容量制限
によって試験開始後からある時間を越えると、それ以後
のデータがメモリに保存できなくなってデータ解析が不
可能になるという問題点があった。そのため、長時間の
試験でデータの変化がゆるやかな場合に特に問題となっ
ていた。
そこで本発明は、データサンプリングに際して全試験工
程のデータ収集を行うことができる材料試験機を提供す
ることを目的とする。
程のデータ収集を行うことができる材料試験機を提供す
ることを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 本発明は上記問題点を解決するために、次のような構成
を採用した。
を採用した。
すなわち、本発明にかかる材料試験機は、材料試験中に
おける荷重検出器および伸び検出器からの荷重および伸
びのサンプリングデータをメモリに書き込み記憶し演算
処理することによって荷重−伸び特性等を測定する材料
試験機において、予想される試験時間を設定する試験時
間設定手段と、該設定手段によって設定される試験時間
とサンプリングデータを格納するメモリの記憶容量とか
らサンプリング時間を演算し、演算して求められたサン
プリング時間に基づいてデータの記憶を制御する演算制
御手段とを備えたことを特徴としている。
おける荷重検出器および伸び検出器からの荷重および伸
びのサンプリングデータをメモリに書き込み記憶し演算
処理することによって荷重−伸び特性等を測定する材料
試験機において、予想される試験時間を設定する試験時
間設定手段と、該設定手段によって設定される試験時間
とサンプリングデータを格納するメモリの記憶容量とか
らサンプリング時間を演算し、演算して求められたサン
プリング時間に基づいてデータの記憶を制御する演算制
御手段とを備えたことを特徴としている。
［作用］ 試験時間設定手段によってあらかじめ予想される試験時
間が設定される。演算制御手段によってこの予想時間と
メモリの記憶容量とからサンプリング時間が求められ、
このサンプリング時間に基づいてデータのサンプリング
が行われるので、試験開始から予想試験時間の間のデー
タがメモリに格納され、全試験データについての解析を
行うことができる。
間が設定される。演算制御手段によってこの予想時間と
メモリの記憶容量とからサンプリング時間が求められ、
このサンプリング時間に基づいてデータのサンプリング
が行われるので、試験開始から予想試験時間の間のデー
タがメモリに格納され、全試験データについての解析を
行うことができる。
［実施例］ 第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。材料試験機１のクロスヘッド２およびテーブル４に
は上方つかみ具３と下方つかみ具５とが取り付けられ、
試験片７が把持される。クロスヘッド２の移動によって
試験片７に加えられる荷重はロードセル８によって検出
され、試験片７の伸びは検出器９によって検出される。
る。材料試験機１のクロスヘッド２およびテーブル４に
は上方つかみ具３と下方つかみ具５とが取り付けられ、
試験片７が把持される。クロスヘッド２の移動によって
試験片７に加えられる荷重はロードセル８によって検出
され、試験片７の伸びは検出器９によって検出される。
ロードセル８からの荷重検出信号は荷重増幅器11で増幅
されA/D変換器13に入力される。伸び検出器９からの伸
び検出信号は伸び増幅器12で増幅されA/D変換器14に入
力される。A/D変換器13,14でA/D変換された荷重および
伸びのサンプリングデータは、CPU16へ入力されるとと
もにRAM18へ書き込まれる。CPU16はROM17に書き込まれ
た処理手順に従ってRAM18へのデータの書き込み、読み
出しを行い、これらのデータに基づいて演算処理をし、
演算結果をI/O装置20を介して表示装置へ出力する。
されA/D変換器13に入力される。伸び検出器９からの伸
び検出信号は伸び増幅器12で増幅されA/D変換器14に入
力される。A/D変換器13,14でA/D変換された荷重および
伸びのサンプリングデータは、CPU16へ入力されるとと
もにRAM18へ書き込まれる。CPU16はROM17に書き込まれ
た処理手順に従ってRAM18へのデータの書き込み、読み
出しを行い、これらのデータに基づいて演算処理をし、
演算結果をI/O装置20を介して表示装置へ出力する。
CPU16には、さらに試験時間設定手段21によって設定さ
れた試験予想時間の設定信号がI/O装置20を介して入力
される。CPU16は、この設定された試験予想時間とRAM18
の記憶容量とからデータサンプリング時間を算出し、第
２図に示す処理手順にしたがってRAM18へのデータ書き
込みを行う。
れた試験予想時間の設定信号がI/O装置20を介して入力
される。CPU16は、この設定された試験予想時間とRAM18
の記憶容量とからデータサンプリング時間を算出し、第
２図に示す処理手順にしたがってRAM18へのデータ書き
込みを行う。
すなわち、実施可能な最小のデータサンプリング時間を
tsmsec（例50msec）、メモリの容量（個数）をＭ（例10
000個）とすれば、試験開始から最大TM＝ts・M/1000sec
のデータをメモリに格納することができる。したがっ
て、このサンプリング時間tsでデータの書き込みを行う
と、第３図および第４図に示すようにts毎のサンプリン
グデータDi（ｉ＝１〜Ｍ）しかメモリに格納できないこ
とになり、このデータ格納可能時間TMが試験終了時間に
およばない時に、全試験データを格納することができな
くなる。そこで試験時間設定手段21により、第５図に示
す試験予想時間Ｔを設定すると、CPU16は新たなサンプ
リング時間tDをTD＝TX1000/Msecとして求める。ここでt
DはtSの倍数とし、tD＝ntsとする。
tsmsec（例50msec）、メモリの容量（個数）をＭ（例10
000個）とすれば、試験開始から最大TM＝ts・M/1000sec
のデータをメモリに格納することができる。したがっ
て、このサンプリング時間tsでデータの書き込みを行う
と、第３図および第４図に示すようにts毎のサンプリン
グデータDi（ｉ＝１〜Ｍ）しかメモリに格納できないこ
とになり、このデータ格納可能時間TMが試験終了時間に
およばない時に、全試験データを格納することができな
くなる。そこで試験時間設定手段21により、第５図に示
す試験予想時間Ｔを設定すると、CPU16は新たなサンプ
リング時間tDをTD＝TX1000/Msecとして求める。ここでt
DはtSの倍数とし、tD＝ntsとする。
このようにして求めたサンプリング時間tDmsec毎にデー
タをメモリに格納することにより、第５図および第６図
に示すように（図示例では倍数ｎは４）試験開始後から
予想時間Ｔの間のデータが格納されることになる。
タをメモリに格納することにより、第５図および第６図
に示すように（図示例では倍数ｎは４）試験開始後から
予想時間Ｔの間のデータが格納されることになる。
そのため、試験開始後終了するまでの試験データを記憶
でき、全試験のデータについて解析が可能となる。
でき、全試験のデータについて解析が可能となる。
上記実施例では、全体の試験予想時間を設定することに
より、試験開始時点より変更されたサンプリング時間で
サンプリングデータを格納するようにしたが、初期デー
タのこまかいサンプリングが必要な時は、第７図に示す
ように、試験開始後からT1時間は、サンプリングをtsで
行い、その後はtsの倍数tDでサンプリングするようにす
ればよい。この場合は、試験予想時間Ｔと初期時間T1を の関係式が成立するように設定すればよい。
より、試験開始時点より変更されたサンプリング時間で
サンプリングデータを格納するようにしたが、初期デー
タのこまかいサンプリングが必要な時は、第７図に示す
ように、試験開始後からT1時間は、サンプリングをtsで
行い、その後はtsの倍数tDでサンプリングするようにす
ればよい。この場合は、試験予想時間Ｔと初期時間T1を の関係式が成立するように設定すればよい。
［発明の効果］ 上記説明から明らかなように、本発明にかかる材料試験
機によれば、メモリの記憶容量に応じて全試験のサンプ
リングデータを格納でき全データに基づくデータ解析が
可能になった。
機によれば、メモリの記憶容量に応じて全試験のサンプ
リングデータを格納でき全データに基づくデータ解析が
可能になった。
第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図、第２
図は実施例におけるサンプリングデータ格納処理の手順
を示すフローチャート、第３図は最小のデータサンプリ
ング時間でサンプリングする状態を説明するための図、
第４図は第３図におけるサンプリングによる場合のメモ
リ状態を示す図、第５図はサンプリング時間を変更した
状態を説明するための図、第６図は第５図におけるサン
プリングによる場合のメモリ状態を示す図、第７図は変
形実施例を説明するための図である。 ８……ロードセル、９……伸び検出器 10……CPU、18……RAM 21……試験時間設定手段
図は実施例におけるサンプリングデータ格納処理の手順
を示すフローチャート、第３図は最小のデータサンプリ
ング時間でサンプリングする状態を説明するための図、
第４図は第３図におけるサンプリングによる場合のメモ
リ状態を示す図、第５図はサンプリング時間を変更した
状態を説明するための図、第６図は第５図におけるサン
プリングによる場合のメモリ状態を示す図、第７図は変
形実施例を説明するための図である。 ８……ロードセル、９……伸び検出器 10……CPU、18……RAM 21……試験時間設定手段
Claims (1)
- 【請求項１】材料試験中における荷重検出器および伸び
検出器からの荷重および伸びのサンプリングデータをメ
モリに書き込み記憶し演算処理することによって荷重−
伸び特性等を測定する材料試験機において、予想される
試験時間を設定する試験時間設定手段と、該設定手段に
よって設定される試験時間とサンプリングデータを格納
するメモリの記憶容量とからサンプリング時間を演算
し、演算して求められたサンプリング時間に基づいてデ
ータの記憶を制御する演算制御手段とを備えたことを特
徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62247003A JPH0721447B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62247003A JPH0721447B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6488331A JPS6488331A (en) | 1989-04-03 |
| JPH0721447B2 true JPH0721447B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=17156934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62247003A Expired - Lifetime JPH0721447B2 (ja) | 1987-09-30 | 1987-09-30 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721447B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07111392B2 (ja) * | 1989-08-31 | 1995-11-29 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
-
1987
- 1987-09-30 JP JP62247003A patent/JPH0721447B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6488331A (en) | 1989-04-03 |
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