JPH07211816A - パッケージした集積回路及びその製造方法 - Google Patents
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- JPH07211816A JPH07211816A JP6316867A JP31686794A JPH07211816A JP H07211816 A JPH07211816 A JP H07211816A JP 6316867 A JP6316867 A JP 6316867A JP 31686794 A JP31686794 A JP 31686794A JP H07211816 A JPH07211816 A JP H07211816A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高い熱伝導特性の経路を有するパッケージし
た集積回路及びその製造方法を提供する。 【構成】 本集積回路パッケージは、熱伝導性スラグを
受納するために形成された開口を有する基板に形成され
る。集積回路チップを該スラグの片側に装着し、且つ該
スラグの反対側表面は基板の下側に露出させる。該チッ
プを基板へワイヤボンドさせ且つ従来の態様で封止す
る。基板及びスラグの下側に、回路基板へ装着するため
の半田ボールを取付ける。回路基板へ装着されると、ス
ラグ及び半田ボールを介してチップと回路基板との間に
熱伝導性の高い経路が与えられる。
た集積回路及びその製造方法を提供する。 【構成】 本集積回路パッケージは、熱伝導性スラグを
受納するために形成された開口を有する基板に形成され
る。集積回路チップを該スラグの片側に装着し、且つ該
スラグの反対側表面は基板の下側に露出させる。該チッ
プを基板へワイヤボンドさせ且つ従来の態様で封止す
る。基板及びスラグの下側に、回路基板へ装着するため
の半田ボールを取付ける。回路基板へ装着されると、ス
ラグ及び半田ボールを介してチップと回路基板との間に
熱伝導性の高い経路が与えられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置パッケージ
の技術分野に関するものであって、更に詳細には、その
場合における熱伝導技術の改良に関するものである。更
に詳細には、本発明は、パッケージした集積回路及びそ
の製造方法に関するものである。
の技術分野に関するものであって、更に詳細には、その
場合における熱伝導技術の改良に関するものである。更
に詳細には、本発明は、パッケージした集積回路及びそ
の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ソリッドステート電子装置の製造におい
て継続的な発展がなされており、その結果集積回路の機
能性、集積度及び性能が増加している。散逸される電力
の量、従って最近の集積回路によって発生される熱の量
は、一般的に、集積回路の密度及び速度が増加すると共
に増加している。従って、集積回路によって発生される
熱を取除くことは、最近の集積回路パッケージ及びシス
テム設計者にとって重大な関心事であり、特に、高温で
動作される場合に集積回路の信頼性が劣化したり性能が
失われたりすることを考慮すると、集積回路によって発
生される熱を除去することは重要なことである。
て継続的な発展がなされており、その結果集積回路の機
能性、集積度及び性能が増加している。散逸される電力
の量、従って最近の集積回路によって発生される熱の量
は、一般的に、集積回路の密度及び速度が増加すると共
に増加している。従って、集積回路によって発生される
熱を取除くことは、最近の集積回路パッケージ及びシス
テム設計者にとって重大な関心事であり、特に、高温で
動作される場合に集積回路の信頼性が劣化したり性能が
失われたりすることを考慮すると、集積回路によって発
生される熱を除去することは重要なことである。
【0003】更に、電子システムをより小型のものとす
る傾向も継続して存在しており、複雑性が高く且つ高性
能の集積回路によって発生される熱問題を悪化させてい
る。例えば、ラップトップ又はノート型のコンピュータ
は最近極めてポピュラーなものとなっているが、例えば
パーソナルデジタルアシスタント(PDA)等のより小
型のコンピュータシステムに対する圧力が市場には継続
して存在している。然しながら、これらの小型のシステ
ムは例えば集積回路の対流冷却用のファンの使用等の大
型のコンピュータシステムにおいて使用可能な熱を除去
する技術の多くを排除するものである。そうであるか
ら、最近の多くのシステムにおいては、システム内の集
積回路から熱を除去する主要なモードとして熱伝導を使
用している。
る傾向も継続して存在しており、複雑性が高く且つ高性
能の集積回路によって発生される熱問題を悪化させてい
る。例えば、ラップトップ又はノート型のコンピュータ
は最近極めてポピュラーなものとなっているが、例えば
パーソナルデジタルアシスタント(PDA)等のより小
型のコンピュータシステムに対する圧力が市場には継続
して存在している。然しながら、これらの小型のシステ
ムは例えば集積回路の対流冷却用のファンの使用等の大
型のコンピュータシステムにおいて使用可能な熱を除去
する技術の多くを排除するものである。そうであるか
ら、最近の多くのシステムにおいては、システム内の集
積回路から熱を除去する主要なモードとして熱伝導を使
用している。
【0004】更に、従来技術においては、ボールグリッ
ドアレイ(BGA)型の集積回路パッケージが最近ポピ
ュラーになっている。従来のBGAパッケージはレイア
ウト及び配列状態がピングリッドアレイ(PGA)パッ
ケージと類似しており、集積回路パッケージの下側にお
いて矩形状又は正方形アレイの接続部を与えるものであ
る。然しながら、PGAパッケージにおいて使用される
ピンコネクタの代わりに、BGAパッケージでは各コネ
クタの位置に配置させた半田ボールを使用するものであ
る。当該技術分野において公知の如く、BGAパッケー
ジは、半田ボールをリフローさせることによってプリン
ト回路基板へ取付け、プリント回路基板の表面における
導体へ接続をさせる。BGAパッケージは自己整合型で
あるという重要な利点を有している。何故ならば、半田
の表面張力がBGAパッケージをプリント回路基板上の
対応する導体と適切なアライメント即ち整合状態とさせ
る傾向を有しているからである。
ドアレイ(BGA)型の集積回路パッケージが最近ポピ
ュラーになっている。従来のBGAパッケージはレイア
ウト及び配列状態がピングリッドアレイ(PGA)パッ
ケージと類似しており、集積回路パッケージの下側にお
いて矩形状又は正方形アレイの接続部を与えるものであ
る。然しながら、PGAパッケージにおいて使用される
ピンコネクタの代わりに、BGAパッケージでは各コネ
クタの位置に配置させた半田ボールを使用するものであ
る。当該技術分野において公知の如く、BGAパッケー
ジは、半田ボールをリフローさせることによってプリン
ト回路基板へ取付け、プリント回路基板の表面における
導体へ接続をさせる。BGAパッケージは自己整合型で
あるという重要な利点を有している。何故ならば、半田
の表面張力がBGAパッケージをプリント回路基板上の
対応する導体と適切なアライメント即ち整合状態とさせ
る傾向を有しているからである。
【0005】更に、従来技術においては、種々のタイプ
のBGA集積回路パッケージが公知であり、例えば「キ
ャビティアップ」及び「キャビティダウン」型の両方の
ものがある。従来のキャビティアップBGAパッケージ
は、集積回路チップの面を上側に向けてパッケージ基板
のキャビティ即ち凹所(又はその表面上)に装着し、該
パッケージとこの上側上のチップとの間にワイヤボンド
を取付け、次いで該チップとボンドワイヤの上にトラン
スファ成形又はその他の方法でプラスチックを供給しチ
ップとワイヤに対して環境に対する保護を与える。半田
ボールはチップと反対側の基板の側に設け、且つパッケ
ージしたチップをシステムプリント回路基板へ装着す
る。チップ下側の位置において基板を貫通してメッキし
たビアを使用することが公知であるが、それはパッケー
ジしたチップが装着されているプリント回路基板上の導
体からオフセットしており、該チップからその外部環境
への熱伝導を与えている。
のBGA集積回路パッケージが公知であり、例えば「キ
ャビティアップ」及び「キャビティダウン」型の両方の
ものがある。従来のキャビティアップBGAパッケージ
は、集積回路チップの面を上側に向けてパッケージ基板
のキャビティ即ち凹所(又はその表面上)に装着し、該
パッケージとこの上側上のチップとの間にワイヤボンド
を取付け、次いで該チップとボンドワイヤの上にトラン
スファ成形又はその他の方法でプラスチックを供給しチ
ップとワイヤに対して環境に対する保護を与える。半田
ボールはチップと反対側の基板の側に設け、且つパッケ
ージしたチップをシステムプリント回路基板へ装着す
る。チップ下側の位置において基板を貫通してメッキし
たビアを使用することが公知であるが、それはパッケー
ジしたチップが装着されているプリント回路基板上の導
体からオフセットしており、該チップからその外部環境
への熱伝導を与えている。
【0006】従来のキャビティダウン集積回路パッケー
ジでは、集積回路チップを基板のキャビティ即ち凹所又
はその表面上に装着し、次いでボンドワイヤを取付け且
つチップの周りにプラスチックをモールド即ち成形させ
る。このタイプのパッケージにおいては、半田ボールは
基板のチップと同じ側に設けられ、従って、パッケージ
したチップを回路基板へ取付けた後に該チップはひっく
り返して配設される。キャビティダウンパッケージの基
板内に設けた熱伝導性スラグに対してチップを装着する
ことが公知であり、その場合に該スラグは装着した後に
チップと反対側において露出される。スラグの露出され
た上側表面へヒートシンクを装着することが可能であ
り、従って該ヒートシンクは上側に延在し且つ対流冷却
を容易とさせる。この構成は、例えばラップトップ、ノ
ートサイズ及びハンドヘルド型のコンピュータ等の最近
の小型のコンピュータシステムにとって特に適している
わけではない。何故ならば、これらの小型のシステムは
ファンを収納することが不可能であり、ハウジング内に
おいて何等空気の対流を起こさせるように設計されてい
ないからである。
ジでは、集積回路チップを基板のキャビティ即ち凹所又
はその表面上に装着し、次いでボンドワイヤを取付け且
つチップの周りにプラスチックをモールド即ち成形させ
る。このタイプのパッケージにおいては、半田ボールは
基板のチップと同じ側に設けられ、従って、パッケージ
したチップを回路基板へ取付けた後に該チップはひっく
り返して配設される。キャビティダウンパッケージの基
板内に設けた熱伝導性スラグに対してチップを装着する
ことが公知であり、その場合に該スラグは装着した後に
チップと反対側において露出される。スラグの露出され
た上側表面へヒートシンクを装着することが可能であ
り、従って該ヒートシンクは上側に延在し且つ対流冷却
を容易とさせる。この構成は、例えばラップトップ、ノ
ートサイズ及びハンドヘルド型のコンピュータ等の最近
の小型のコンピュータシステムにとって特に適している
わけではない。何故ならば、これらの小型のシステムは
ファンを収納することが不可能であり、ハウジング内に
おいて何等空気の対流を起こさせるように設計されてい
ないからである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の点に
鑑みなされたものであって、上述した如き従来技術の欠
点を解消し、パッケージしたチップからそれが装着され
ている回路基板への熱伝導を改善した集積回路パッケー
ジ及びその製造方法を提供することを目的とする。本発
明の別の目的とするところは、キャビティアップ型の構
成を有するパッケージした集積回路及びその製造方法を
提供することである。本発明の更に別の目的とするとこ
ろは、ボールグリッドアレイ(BGA)型のパッケージ
した集積回路及びその製造方法を提供することである。
本発明の更に別の目的とするところは、対流冷却の必要
性を減少させたパッケージした集積回路及びその製造方
法を提供することである。
鑑みなされたものであって、上述した如き従来技術の欠
点を解消し、パッケージしたチップからそれが装着され
ている回路基板への熱伝導を改善した集積回路パッケー
ジ及びその製造方法を提供することを目的とする。本発
明の別の目的とするところは、キャビティアップ型の構
成を有するパッケージした集積回路及びその製造方法を
提供することである。本発明の更に別の目的とするとこ
ろは、ボールグリッドアレイ(BGA)型のパッケージ
した集積回路及びその製造方法を提供することである。
本発明の更に別の目的とするところは、対流冷却の必要
性を減少させたパッケージした集積回路及びその製造方
法を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、キャビティア
ップ型のボールグリッドアレイ(BGA)パッケージに
おいて実現することが可能である。例えば銅から形成さ
れた熱伝導性スラグをパッケージ基板のキャビティ即ち
凹所内に挿入する。該基板はそれ自身プリント回路基板
から形成されるものであるか、又は単一、二重又は多重
層型のセラミック基板とすることが可能である。該スラ
グの表面を該基板の下側上で露出させる。集積回路チッ
プを該スラグへ取付け、且つ該チップ上のボンドパッド
とパッケージ導体との間にボンドを形成し、次いでプラ
スチックをモールド又は供給することによってチップの
封止を行なう。パッケージの端子に対応する位置におい
て及びスラグの露出された表面上の位置において、パッ
ケージの下側に半田ボールを取付ける。システム回路基
板へ取付けた後に、夫々のシステム回路基板端子への他
の半田ボールコネクタの電気的接続と共に、システム回
路基板導体とスラグとの間に熱的接続を形成する。従っ
て、スラグはチップとシステム回路基板との間に直接的
な熱伝導を与え、チップから熱を伝導させる場合にシス
テム回路基板の熱伝導特性を有効に利用する。
ップ型のボールグリッドアレイ(BGA)パッケージに
おいて実現することが可能である。例えば銅から形成さ
れた熱伝導性スラグをパッケージ基板のキャビティ即ち
凹所内に挿入する。該基板はそれ自身プリント回路基板
から形成されるものであるか、又は単一、二重又は多重
層型のセラミック基板とすることが可能である。該スラ
グの表面を該基板の下側上で露出させる。集積回路チッ
プを該スラグへ取付け、且つ該チップ上のボンドパッド
とパッケージ導体との間にボンドを形成し、次いでプラ
スチックをモールド又は供給することによってチップの
封止を行なう。パッケージの端子に対応する位置におい
て及びスラグの露出された表面上の位置において、パッ
ケージの下側に半田ボールを取付ける。システム回路基
板へ取付けた後に、夫々のシステム回路基板端子への他
の半田ボールコネクタの電気的接続と共に、システム回
路基板導体とスラグとの間に熱的接続を形成する。従っ
て、スラグはチップとシステム回路基板との間に直接的
な熱伝導を与え、チップから熱を伝導させる場合にシス
テム回路基板の熱伝導特性を有効に利用する。
【0009】
【実施例】図1及び2を参照すると、本発明の第一の好
適実施例に基づいて構成されたパッケージした集積回路
8が示されている。本発明のこの実施例に基づくパッケ
ージした集積回路8は図1及び2の各々において既にシ
ステム回路基板20へ取付けられた状態で示してある
が、当業者にとって明らかな如く、本発明のこの実施例
に基づくパッケージした集積回路8は、しばしば、個別
的に製造され且つ販売され、その購入者がコンピュータ
又はその他の最終的な装置においてパッケージした集積
回路8をシステム回路基板20へ取付ける場合もある。
適実施例に基づいて構成されたパッケージした集積回路
8が示されている。本発明のこの実施例に基づくパッケ
ージした集積回路8は図1及び2の各々において既にシ
ステム回路基板20へ取付けられた状態で示してある
が、当業者にとって明らかな如く、本発明のこの実施例
に基づくパッケージした集積回路8は、しばしば、個別
的に製造され且つ販売され、その購入者がコンピュータ
又はその他の最終的な装置においてパッケージした集積
回路8をシステム回路基板20へ取付ける場合もある。
【0010】更に、以下の説明は単一の集積回路チップ
を収容するパッケージの具体的な例を使用するが、勿
論、本発明は、例えば、ハイブリッド集積回路又はマル
チチップモジュールにおける如く、複数個の集積回路チ
ップを回路基板へ装着するか又はパッケージングする場
合にも適用可能なものである。
を収容するパッケージの具体的な例を使用するが、勿
論、本発明は、例えば、ハイブリッド集積回路又はマル
チチップモジュールにおける如く、複数個の集積回路チ
ップを回路基板へ装着するか又はパッケージングする場
合にも適用可能なものである。
【0011】パッケージした集積回路8の活性要素は半
導体チップ10であり、それは例えばマイクロプロセ
サ、メモリ、ロジック装置、アナログ装置又は当該技術
分野において公知の如く単一チップ集積回路において実
現されるその他の電子的機能を有する装置等のソリッド
ステート集積回路装置である。本発明のこの実施例によ
れば、チップ10の底部(非活性)表面を、基板14内
に設けられている導電性スラグ12へ取付けている。
導体チップ10であり、それは例えばマイクロプロセ
サ、メモリ、ロジック装置、アナログ装置又は当該技術
分野において公知の如く単一チップ集積回路において実
現されるその他の電子的機能を有する装置等のソリッド
ステート集積回路装置である。本発明のこの実施例によ
れば、チップ10の底部(非活性)表面を、基板14内
に設けられている導電性スラグ12へ取付けている。
【0012】基板14はセラミック基板、プリント回路
基板、又はその他の同様の基板とすることが可能であ
り、該基板は、チップ10から及びチップ10への電気
信号を担持するための導体24が該基板の上又はその中
(図2参照)に設けられており、且つ導電性スラグ12
がその中に設けられる開口又は受容部が設けられてい
る。ボンドワイヤ15が導体24を従来の態様でチップ
10上のボンドパッドへ接続している。メッキしたビア
19が基板14の上表面上の導体24と基板14の下表
面上の半田ボール18との間に電気的接続を与えてい
る。本発明のこの実施例によれば、半田ボール18は従
来のボールグリッドアレイの態様で配列されており、且
つパッケージした集積回路8が装着されるシステム回路
基板20の上表面上のランド又はその他の表面導体23
(図2参照)に対応している。プラスチックモールド組
成物、エポキシ、ポッティング組成物、又はその他の従
来の集積回路封止物から形成される封止物16がチップ
10及びワイヤ15を被覆し、環境保護及び機械的保護
を与えている。
基板、又はその他の同様の基板とすることが可能であ
り、該基板は、チップ10から及びチップ10への電気
信号を担持するための導体24が該基板の上又はその中
(図2参照)に設けられており、且つ導電性スラグ12
がその中に設けられる開口又は受容部が設けられてい
る。ボンドワイヤ15が導体24を従来の態様でチップ
10上のボンドパッドへ接続している。メッキしたビア
19が基板14の上表面上の導体24と基板14の下表
面上の半田ボール18との間に電気的接続を与えてい
る。本発明のこの実施例によれば、半田ボール18は従
来のボールグリッドアレイの態様で配列されており、且
つパッケージした集積回路8が装着されるシステム回路
基板20の上表面上のランド又はその他の表面導体23
(図2参照)に対応している。プラスチックモールド組
成物、エポキシ、ポッティング組成物、又はその他の従
来の集積回路封止物から形成される封止物16がチップ
10及びワイヤ15を被覆し、環境保護及び機械的保護
を与えている。
【0013】導電性スラグ12は、好適には、熱伝導性
の高い物質から形成されており、従ってチップ10から
の熱はスラグ12を介して容易に伝導させることが可能
である。更に、チップ10の本体へ電気的接続を行なう
場合には、導電性スラグ12も、好適には、導電性のも
のとすることが可能である。導電性スラグ12の好適な
物質は銅であるが、熱伝導性である当該技術分野におい
て公知のその他の物質とすることも可能であり、且つ、
所望により、スラグ12に対し導電性のものとすること
が可能である。
の高い物質から形成されており、従ってチップ10から
の熱はスラグ12を介して容易に伝導させることが可能
である。更に、チップ10の本体へ電気的接続を行なう
場合には、導電性スラグ12も、好適には、導電性のも
のとすることが可能である。導電性スラグ12の好適な
物質は銅であるが、熱伝導性である当該技術分野におい
て公知のその他の物質とすることも可能であり、且つ、
所望により、スラグ12に対し導電性のものとすること
が可能である。
【0014】スラグ12とシステム回路基板20内の熱
伝導体との間に熱的接続を与えるために、スラグ12の
下側でそれと接触してアレイ状に半田ボール18が配設
されている。図2の実施例においては、導電性トレース
22はシステム回路基板20上の幅広のトレースであ
り、スラグ12及び半田ボール18を介してチップ10
から熱を伝導させることが可能である。一方、システム
回路基板20が多層構造の場合には、スラグ12は半田
ボール18によってシステム回路基板20内の接地面へ
接続させることが可能である。いずれの場合において
も、導体22又は接地面は接地又は別の基板バイアス電
圧ヘバイアスさせることが可能であり、その場合に、ス
ラグ12はチップ10に対しての適切な接地を与える。
伝導体との間に熱的接続を与えるために、スラグ12の
下側でそれと接触してアレイ状に半田ボール18が配設
されている。図2の実施例においては、導電性トレース
22はシステム回路基板20上の幅広のトレースであ
り、スラグ12及び半田ボール18を介してチップ10
から熱を伝導させることが可能である。一方、システム
回路基板20が多層構造の場合には、スラグ12は半田
ボール18によってシステム回路基板20内の接地面へ
接続させることが可能である。いずれの場合において
も、導体22又は接地面は接地又は別の基板バイアス電
圧ヘバイアスさせることが可能であり、その場合に、ス
ラグ12はチップ10に対しての適切な接地を与える。
【0015】パッケージした集積回路8の製造は、スラ
グ12を基板14の対応するキャビティ即ち凹所内へ挿
入することによって開始される。スラグ12は、好適に
は、機械的強度を得るためにこのキャビティ内へエポキ
シで接着される。次いで、例えば導電性のエポキシ又は
共晶マウント等の従来のダイ取付技術によってチップ1
0をスラグ12の上表面へ装着させる。次いで、例えば
熱圧着又は超音波ボンディング等の従来の技術によっ
て、ボンドワイヤ15を基板14とチップ10との間に
取付ける。ワイヤボンドプロセスを完了すると、従来の
態様でチップ10及びワイヤ15の上に封止物16を形
成する。図1及び2の例においては、封止物16は従来
のトランスファ成形によって形成する。一方、封止物1
6は、従来の態様でチップ10及び基板14の上に塊の
状態で供給し且つ硬化させることが可能である。半田ボ
ール18は、例えば、基板14の下側に半田マスク(不
図示)を設けることにより従来の態様で、基板14及び
スラグ12の下側に形成させる。
グ12を基板14の対応するキャビティ即ち凹所内へ挿
入することによって開始される。スラグ12は、好適に
は、機械的強度を得るためにこのキャビティ内へエポキ
シで接着される。次いで、例えば導電性のエポキシ又は
共晶マウント等の従来のダイ取付技術によってチップ1
0をスラグ12の上表面へ装着させる。次いで、例えば
熱圧着又は超音波ボンディング等の従来の技術によっ
て、ボンドワイヤ15を基板14とチップ10との間に
取付ける。ワイヤボンドプロセスを完了すると、従来の
態様でチップ10及びワイヤ15の上に封止物16を形
成する。図1及び2の例においては、封止物16は従来
のトランスファ成形によって形成する。一方、封止物1
6は、従来の態様でチップ10及び基板14の上に塊の
状態で供給し且つ硬化させることが可能である。半田ボ
ール18は、例えば、基板14の下側に半田マスク(不
図示)を設けることにより従来の態様で、基板14及び
スラグ12の下側に形成させる。
【0016】パッケージした集積回路8の製造を完了
し、且つパッケージした形態で所望の電気的テストを行
なった後に、パッケージした集積回路8はシステム回路
基板20へ装着する準備がなされる。パッケージした集
積回路8のマウント即ち装着は、好適には、BGAパッ
ケージを回路基板へ表面装着するためのウエーブ半田付
け又はその他の従来の技術によって行なうことが可能で
ある。
し、且つパッケージした形態で所望の電気的テストを行
なった後に、パッケージした集積回路8はシステム回路
基板20へ装着する準備がなされる。パッケージした集
積回路8のマウント即ち装着は、好適には、BGAパッ
ケージを回路基板へ表面装着するためのウエーブ半田付
け又はその他の従来の技術によって行なうことが可能で
ある。
【0017】図3は本発明の第二実施例に基づいて構成
したパッケージした集積回路50の断面を示している。
本発明のこの実施例によれば、パッケージした集積回路
50は、熱伝導性のスラグ32の上に装着したチップ3
0を有している。スラグ32は基板34内に配設されて
おり、この実施例においては、基板34は多層回路基板
であって、その中に多層の導体を有している。基板34
における多層の導体は、基板34のチップキャビティ近
傍の階段状の配列状態によって示される如く、ランドの
複数個のシェルによって提供される。スラグ32をエポ
キシ又はその他の方法で接着乃至は固定する横方向表面
33を提供するために、基板34の下側に切除部分が設
けられている。この構成においては、スラグ32は基板
34を貫通して突出しチップ30が装着された小さな部
分を有しており、基板34の下側においてより大きな部
分が露出されている。この構成は、チップ30をその上
部に受納するのにスラグ32を適切な寸法とすることを
可能としており、最小のワイヤ長さでもって基板34上
のボンドワイヤランドを配列するための最大の面積を与
えており、一方下側において熱伝導のための表面積を最
大のものとすることを可能としている。
したパッケージした集積回路50の断面を示している。
本発明のこの実施例によれば、パッケージした集積回路
50は、熱伝導性のスラグ32の上に装着したチップ3
0を有している。スラグ32は基板34内に配設されて
おり、この実施例においては、基板34は多層回路基板
であって、その中に多層の導体を有している。基板34
における多層の導体は、基板34のチップキャビティ近
傍の階段状の配列状態によって示される如く、ランドの
複数個のシェルによって提供される。スラグ32をエポ
キシ又はその他の方法で接着乃至は固定する横方向表面
33を提供するために、基板34の下側に切除部分が設
けられている。この構成においては、スラグ32は基板
34を貫通して突出しチップ30が装着された小さな部
分を有しており、基板34の下側においてより大きな部
分が露出されている。この構成は、チップ30をその上
部に受納するのにスラグ32を適切な寸法とすることを
可能としており、最小のワイヤ長さでもって基板34上
のボンドワイヤランドを配列するための最大の面積を与
えており、一方下側において熱伝導のための表面積を最
大のものとすることを可能としている。
【0018】ボンドワイヤ35は、複数個の面の導体に
対して接続するために、基板34における導体(不図
示)をチップ30の表面上のパッドへ電気的に接続して
いる。本発明のこの実施例においては、封止物36が基
板34のキャビティ上、従ってチップ30及びワイヤ3
5の上に設けられている。本発明のこの実施例に基づく
封止物36は、注射針又はその他の液体分配器によって
供給され、次いで、所謂「チップ・オン・ボード」構成
とするために従来の態様で硬化される。
対して接続するために、基板34における導体(不図
示)をチップ30の表面上のパッドへ電気的に接続して
いる。本発明のこの実施例においては、封止物36が基
板34のキャビティ上、従ってチップ30及びワイヤ3
5の上に設けられている。本発明のこの実施例に基づく
封止物36は、注射針又はその他の液体分配器によって
供給され、次いで、所謂「チップ・オン・ボード」構成
とするために従来の態様で硬化される。
【0019】半田ボール38が基板34の底部表面上の
ランドへ取付けられる。基板34内にビア(不図示)が
設けられ、基板内の導体への電気的接続を与える。基板
34の下側における半田マスク37は、従来の態様での
形成期間中に、半田ボール38の位置を画定することに
貢献する。
ランドへ取付けられる。基板34内にビア(不図示)が
設けられ、基板内の導体への電気的接続を与える。基板
34の下側における半田マスク37は、従来の態様での
形成期間中に、半田ボール38の位置を画定することに
貢献する。
【0020】上述した第一実施例におけるように、パッ
ケージした集積回路50は赤外線(IR)半田リフロー
又はその他の従来の表面装着技術によって、システム回
路基板40へ取付けられる。スラグ32と接触している
半田ボール38は、システム回路基板40内の熱伝導体
と接続し、従って半田ボール38及びスラグ32を介し
てチップ30とシステム回路基板40との間に比較的低
い熱抵抗の経路を与えている。
ケージした集積回路50は赤外線(IR)半田リフロー
又はその他の従来の表面装着技術によって、システム回
路基板40へ取付けられる。スラグ32と接触している
半田ボール38は、システム回路基板40内の熱伝導体
と接続し、従って半田ボール38及びスラグ32を介し
てチップ30とシステム回路基板40との間に比較的低
い熱抵抗の経路を与えている。
【0021】本発明のこれらの各実施例によれば、活性
集積回路とパッケージした集積回路が装着されるシステ
ム回路基板との間に高い熱伝導性経路が設けられている
集積回路パッケージが提供される。このことは、熱伝導
によって集積回路チップから熱を除去するためのシステ
ム回路基板熱伝導特性を利用することを可能とし、従っ
て、例えばノート型コンピュータ、PDA等のハンドヘ
ルド型コンピュータ等の内部での空気の対流が存在しな
い環境において使用するのに適したものである。
集積回路とパッケージした集積回路が装着されるシステ
ム回路基板との間に高い熱伝導性経路が設けられている
集積回路パッケージが提供される。このことは、熱伝導
によって集積回路チップから熱を除去するためのシステ
ム回路基板熱伝導特性を利用することを可能とし、従っ
て、例えばノート型コンピュータ、PDA等のハンドヘ
ルド型コンピュータ等の内部での空気の対流が存在しな
い環境において使用するのに適したものである。
【0022】以上、本発明の具体的実施の態様について
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論であ
る。
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論であ
る。
【図1】 本発明の好適実施例に基づいて構成された集
積回路パッケージを示した概略断面図。
積回路パッケージを示した概略断面図。
【図2】 切除部分を包含する図1に基づく集積回路パ
ッケージを示した概略平面図。
ッケージを示した概略平面図。
【図3】 本発明の別の好適実施例に基づいて構成され
た集積回路パッケージを示した概略断面図。
た集積回路パッケージを示した概略断面図。
8 パッケージした集積回路 10 チップ 12 導電性スラグ 14 基板 16 封止物 18 半田ボール 19 ビア 20 システム回路基板 22 導電性トレース 24 導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル ジェイ. ハンド アメリカ合衆国, テキサス 75067, ダブル オーク, サウス ウッドランド トレイル 170 (72)発明者 ロバート エイチ. ボンド アメリカ合衆国, テキサス 75023, プラノー, チャンバーレン ドライブ 2208
Claims (17)
- 【請求項1】 パッケージした集積回路において、 第一表面と第二表面とを有しており、それを貫通する開
口を有しており且つ複数個の電気的導体を有する基板が
設けられており、 熱伝導性物質から構成されており且つ第一表面と第二表
面とを有するスラグが設けられており、前記スラグは前
記基板の前記開口を貫通して延在しており、その第一表
面が前記基板の前記第一表面において露出されており、 前記スラグの前記第二表面に装着し且つ前記基板の前記
導体へ電気的に接続して集積回路チップが設けられてお
り、 前記基板の前記第一表面に配設され且つ前記基板の前記
導体と電気的に接続して複数個の電気的コネクタが設け
られており、前記複数個の電気的コネクタは回路基板へ
接続を行なうものであり、 前記回路基板への熱的接続を行なうために前記スラグの
前記第一表面に熱伝導体が設けられている、ことを特徴
とするパッケージした集積回路。 - 【請求項2】 請求項1において、前記複数個の電気的
コネクタが複数個の半田ボールを有することを特徴とす
るパッケージした集積回路。 - 【請求項3】 請求項2において、前記熱伝導体が複数
個の半田ボールを有することを特徴とするパッケージし
た集積回路。 - 【請求項4】 請求項1において、前記集積回路チップ
の上及び前記基板の前記第二表面の一部の上に封止物が
設けられていることを特徴とするパッケージした集積回
路。 - 【請求項5】 請求項4において、前記封止物が成形し
たプラスチックを有することを特徴とするパッケージし
た集積回路。 - 【請求項6】 請求項1において、前記基板がプリント
回路基板を有することを特徴とするパッケージした集積
回路。 - 【請求項7】 請求項6において、前記プリント回路基
板が多層型のものであることを特徴とするパッケージし
た集積回路。 - 【請求項8】 請求項1において、前記基板がセラミッ
ク基板を有することを特徴とするパッケージした集積回
路。 - 【請求項9】 請求項8において、前記セラミック基板
が多層型のものであることを特徴とするパッケージした
集積回路。 - 【請求項10】 請求項1において、前記スラグが銅を
有することを特徴とするパッケージした集積回路。 - 【請求項11】 請求項1において、前記スラグの第一
表面が前記スラグの第二表面より大きな表面積を有する
ことを特徴とするパッケージした集積回路。 - 【請求項12】 パッケージした集積回路の製造方法に
おいて、 反対側の第一及び第二表面を有する基板内に熱伝導性ス
ラグを挿入し、前記熱伝導性スラグは前記基板の第一表
面において露出された第一表面を有すると共にそれと反
対側に第二表面を有しており、 前記熱伝導性スラグの第二表面へ集積回路チップを装着
し、 前記集積回路チップを封止し、 前記基板の第一表面へ電気的コネクタを取付け、 前記スラグの第一表面へ熱伝導体を取付ける、ことを特
徴とする方法。 - 【請求項13】 請求項12において、前記基板へ電気
的コネクタを取付ける場合に、前記基板の第一表面へ半
田ボールを取付けることを特徴とする方法。 - 【請求項14】 請求項13において、前記スラグへ熱
伝導体を取付ける場合に、前記スラグの第一表面へ半田
ボールを取付けることを特徴とする方法。 - 【請求項15】 請求項12において、前記封止を行な
う場合に、前記チップ上へプラスチックモールド化合物
をトランスファ成形することを特徴とする方法。 - 【請求項16】 請求項12において、前記封止を行な
う場合に、前記チップ上へプラスチックを供給し、且つ
前記供給したプラスチックを硬化させることを特徴とす
る方法。 - 【請求項17】 請求項12において、前記基板へ電気
的コネクタを取付け且つ前記スラグへ熱伝導体を取付け
る場合に、前記基板及びスラグの夫々の第一表面へ半田
ボールを取付け、更にパッケージした集積回路を回路基
板へ取付けることを特徴とする方法。
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