JPH07180043A - マルチアーク放電方式のイオンプレーティング装置 - Google Patents
マルチアーク放電方式のイオンプレーティング装置Info
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- JPH07180043A JPH07180043A JP5323823A JP32382393A JPH07180043A JP H07180043 A JPH07180043 A JP H07180043A JP 5323823 A JP5323823 A JP 5323823A JP 32382393 A JP32382393 A JP 32382393A JP H07180043 A JPH07180043 A JP H07180043A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 真空チャンバ1内に2つの陰極a・bが設け
られている。プラズマを収束させた後に拡散させるよう
な磁界を形成する電磁石6が、上記陰極a・bの前方に
設けられている。 【効果】 電磁石6の形成する磁界の影響を受けて、各
陰極a・bの前方においてプラズマが収束された後に拡
散されるので、各陰極a・bから蒸発した金属イオンの
プラズマ中での混合率が従来よりも向上し、コーティン
グ対象物11の真空チャンバ1内の位置に関係なく、ど
の位置でも合金膜の混合比が略同じとなる。また、収束
されたプラズマ中でのイオン化率の向上により、従来に
比べてドロップレットの低減を図ることもできる。
られている。プラズマを収束させた後に拡散させるよう
な磁界を形成する電磁石6が、上記陰極a・bの前方に
設けられている。 【効果】 電磁石6の形成する磁界の影響を受けて、各
陰極a・bの前方においてプラズマが収束された後に拡
散されるので、各陰極a・bから蒸発した金属イオンの
プラズマ中での混合率が従来よりも向上し、コーティン
グ対象物11の真空チャンバ1内の位置に関係なく、ど
の位置でも合金膜の混合比が略同じとなる。また、収束
されたプラズマ中でのイオン化率の向上により、従来に
比べてドロップレットの低減を図ることもできる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空中でのアーク放電
による陰極金属(蒸発源)の蒸発およびイオン化を利用
してコーティング対象物をコーティングするアーク放電
方式のイオンプレーティング装置に関し、特に、真空中
に複数の異なる蒸発源を設けて合金膜をコーティングす
ることができるマルチアーク放電方式のイオンプレーテ
ィング装置に関するものである。
による陰極金属(蒸発源)の蒸発およびイオン化を利用
してコーティング対象物をコーティングするアーク放電
方式のイオンプレーティング装置に関し、特に、真空中
に複数の異なる蒸発源を設けて合金膜をコーティングす
ることができるマルチアーク放電方式のイオンプレーテ
ィング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】イオンプレーティング装置には、陰極金
属のイオン化率およびイオンエネルギーが高く、成膜速
度が速く、且つ、膜の密着性に優れたアーク放電方式の
イオンプレーティング装置がある。このアーク放電方式
のイオンプレーティング装置では、陰極金属を目的とす
る混合比の合金とすることにより、コーティング対象物
に合金膜をコーティングすることができる。
属のイオン化率およびイオンエネルギーが高く、成膜速
度が速く、且つ、膜の密着性に優れたアーク放電方式の
イオンプレーティング装置がある。このアーク放電方式
のイオンプレーティング装置では、陰極金属を目的とす
る混合比の合金とすることにより、コーティング対象物
に合金膜をコーティングすることができる。
【0003】しかしながら、上記の方法で合金膜をコー
ティングする場合、目的とする混合比の合金陰極(蒸発
源)をまず製作する必要があり、陰極製作の技術が必要
である。また、合金膜の混合比を変更しようとする場
合、その度に混合比の異なる合金陰極を製作する必要が
あり、合金膜の混合比を容易に変更することができない
等の問題がある。
ティングする場合、目的とする混合比の合金陰極(蒸発
源)をまず製作する必要があり、陰極製作の技術が必要
である。また、合金膜の混合比を変更しようとする場
合、その度に混合比の異なる合金陰極を製作する必要が
あり、合金膜の混合比を容易に変更することができない
等の問題がある。
【0004】そこで、従来より、図3に示すように、真
空チャンバ51内に材質の異なる2つの陰極金属a・b
を設置し、陰極aと陰極bとでアーク電流比を変えるこ
とによって、陰極a・bの金属の混合比を制御して所望
の混合比の合金膜をコーティング対象物52の表面にコ
ーティングする方法が用いられている。
空チャンバ51内に材質の異なる2つの陰極金属a・b
を設置し、陰極aと陰極bとでアーク電流比を変えるこ
とによって、陰極a・bの金属の混合比を制御して所望
の混合比の合金膜をコーティング対象物52の表面にコ
ーティングする方法が用いられている。
【0005】上記の方法を用いたマルチアーク放電方式
のイオンプレーティング装置は、陰極aと真空チャンバ
51との間にアーク電圧を印加する第1アーク電源53
と、陰極bと真空チャンバ51との間にアーク電圧を印
加する第2アーク電源54を備えており、上記の両アー
ク電源53・54はともに可変定電流電源である。
のイオンプレーティング装置は、陰極aと真空チャンバ
51との間にアーク電圧を印加する第1アーク電源53
と、陰極bと真空チャンバ51との間にアーク電圧を印
加する第2アーク電源54を備えており、上記の両アー
ク電源53・54はともに可変定電流電源である。
【0006】上記真空チャンバ51と同電位のトリガ5
5・56をそれぞれ陰極a・bに接触させた後に開放す
ることによってアーク放電が起こり、斜線で示すような
プラズマ領域57・58が発生する。このとき、陰極a
・bの表面上におけるアーク放電が発生した局所的な部
分(アークスポット)にアーク電流が集中してジュール
加熱が生じ、陰極a・bの金属が溶融蒸発し、金属原子
や溶融金属粒子が放出される。各陰極a・bから蒸発し
た金属原子や金属粒子は、上記のプラズマ領域57・5
8中で、電子或いは真空チャンバ51内に導入されてい
る導入ガスと衝突し、導入ガスとともにイオン化され
る。真空チャンバ51内にセットされたコーティング対
象物52には、定電圧のバイアス電源59から負のバイ
アス電圧(例えば、コーティング時は−200V程度)
が印加されており、イオン化された金属がコーティング
対象物52の方へ加速されてコーティング対象物52の
表面に付着する。
5・56をそれぞれ陰極a・bに接触させた後に開放す
ることによってアーク放電が起こり、斜線で示すような
プラズマ領域57・58が発生する。このとき、陰極a
・bの表面上におけるアーク放電が発生した局所的な部
分(アークスポット)にアーク電流が集中してジュール
加熱が生じ、陰極a・bの金属が溶融蒸発し、金属原子
や溶融金属粒子が放出される。各陰極a・bから蒸発し
た金属原子や金属粒子は、上記のプラズマ領域57・5
8中で、電子或いは真空チャンバ51内に導入されてい
る導入ガスと衝突し、導入ガスとともにイオン化され
る。真空チャンバ51内にセットされたコーティング対
象物52には、定電圧のバイアス電源59から負のバイ
アス電圧(例えば、コーティング時は−200V程度)
が印加されており、イオン化された金属がコーティング
対象物52の方へ加速されてコーティング対象物52の
表面に付着する。
【0007】上記のイオンプレーティング装置では、第
1アーク電源53と第2アーク電源54とのアーク放電
電流比を変えることによって、陰極a・bから蒸発する
金属の比を任意に変えることができ、コーティング対象
物52をコーティングする合金膜の混合比を容易に変更
することができる。
1アーク電源53と第2アーク電源54とのアーク放電
電流比を変えることによって、陰極a・bから蒸発する
金属の比を任意に変えることができ、コーティング対象
物52をコーティングする合金膜の混合比を容易に変更
することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のイオンプレーティング装置では、プラズマ領域57
・58が、各陰極a・bの前方に限られるため、各陰極
a・bから蒸発した金属のイオンも、各陰極a・bの前
方の限られた領域において発生し易い。このため、コー
ティング対象物52におけるA・B・Cの各場所で、合
金膜の混合比が異なるといった不都合が生じる。
来のイオンプレーティング装置では、プラズマ領域57
・58が、各陰極a・bの前方に限られるため、各陰極
a・bから蒸発した金属のイオンも、各陰極a・bの前
方の限られた領域において発生し易い。このため、コー
ティング対象物52におけるA・B・Cの各場所で、合
金膜の混合比が異なるといった不都合が生じる。
【0009】本発明は、上記に鑑みなされたものであ
り、その目的は、コーティング対象物の設置位置に関係
なく、コーティング対象物の表面に略同じ混合比の合金
膜をコーティングすることができるマルチアーク放電方
式のイオンプレーティング装置を提供することにある。
り、その目的は、コーティング対象物の設置位置に関係
なく、コーティング対象物の表面に略同じ混合比の合金
膜をコーティングすることができるマルチアーク放電方
式のイオンプレーティング装置を提供することにある。
【0010】また、本発明の他の目的は、従来よりもド
ロップレットの低減を図れ、成膜表面粗さを改善するこ
とができるマルチアーク放電方式のイオンプレーティン
グ装置を提供することにある。
ロップレットの低減を図れ、成膜表面粗さを改善するこ
とができるマルチアーク放電方式のイオンプレーティン
グ装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のマルチアーク放
電方式のイオンプレーティング装置は、真空チャンバ内
に複数の蒸発源が設けられており、アーク放電によって
各蒸発源から成膜粒子を蒸発させてプラズマ中でイオン
化し、イオン化した成膜粒子を加速して真空チャンバ内
に設けられたコーティング対象物へ付着させるものであ
って、上記の課題を解決するために、以下の手段が講じ
られていることを特徴とするものである。
電方式のイオンプレーティング装置は、真空チャンバ内
に複数の蒸発源が設けられており、アーク放電によって
各蒸発源から成膜粒子を蒸発させてプラズマ中でイオン
化し、イオン化した成膜粒子を加速して真空チャンバ内
に設けられたコーティング対象物へ付着させるものであ
って、上記の課題を解決するために、以下の手段が講じ
られていることを特徴とするものである。
【0012】即ち、上記イオンプレーティング装置は、
プラズマを収束させた後に拡散させるような磁界を、上
記真空チャンバ内における上記複数の蒸発源の前方に形
成する磁界形成手段を備えている。
プラズマを収束させた後に拡散させるような磁界を、上
記真空チャンバ内における上記複数の蒸発源の前方に形
成する磁界形成手段を備えている。
【0013】
【作用】上記の構成によれば、真空チャンバ内に複数の
蒸発源が設けられており、各蒸発源を構成する金属を異
なる材質のものにすると、コーティング対象物の表面に
合金膜を成膜することができ、また、各蒸発源のアーク
放電電流を変えることによって合金膜の組成比を容易に
変えることができる。
蒸発源が設けられており、各蒸発源を構成する金属を異
なる材質のものにすると、コーティング対象物の表面に
合金膜を成膜することができ、また、各蒸発源のアーク
放電電流を変えることによって合金膜の組成比を容易に
変えることができる。
【0014】上記複数の蒸発源の前方には、磁界形成手
段によってプラズマを収束させた後に拡散させるような
磁界が形成されている。この磁界形成手段が形成する磁
界の影響を受けて、各蒸発源の前方においてプラズマが
収束されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子がプラ
ズマ中の電子やイオンと衝突する確率が非常に高く、成
膜粒子のイオン化が促進される。また、プラズマ中でイ
オン化された各蒸発源から蒸発した成膜粒子は、上記の
プラズマが収束された部分で効率的に混合される。
段によってプラズマを収束させた後に拡散させるような
磁界が形成されている。この磁界形成手段が形成する磁
界の影響を受けて、各蒸発源の前方においてプラズマが
収束されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子がプラ
ズマ中の電子やイオンと衝突する確率が非常に高く、成
膜粒子のイオン化が促進される。また、プラズマ中でイ
オン化された各蒸発源から蒸発した成膜粒子は、上記の
プラズマが収束された部分で効率的に混合される。
【0015】また、プラズマは、磁界によって収束され
た後に拡散されるので、プラズマが収束された部分で効
率良く混合された各成膜粒子イオンは、プラズマ中で大
きくひろがりながら混合されるので、混合率がさらに高
くなる。
た後に拡散されるので、プラズマが収束された部分で効
率良く混合された各成膜粒子イオンは、プラズマ中で大
きくひろがりながら混合されるので、混合率がさらに高
くなる。
【0016】このように、各蒸発源から蒸発した成膜粒
子のプラズマ中での混合率が従来よりも向上するので、
コーティング対象物の真空チャンバ内の位置に関係な
く、どの位置でも合金膜の混合比が略同じとなる。ま
た、収束されたプラズマ中でのイオン化率の向上によ
り、従来に比べてドロップレットの低減を図ることもで
きる。
子のプラズマ中での混合率が従来よりも向上するので、
コーティング対象物の真空チャンバ内の位置に関係な
く、どの位置でも合金膜の混合比が略同じとなる。ま
た、収束されたプラズマ中でのイオン化率の向上によ
り、従来に比べてドロップレットの低減を図ることもで
きる。
【0017】
【実施例】本発明の一実施例について図1および図2に
基づいて説明すれば、以下の通りである。
基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0018】本実施例に係るマルチアーク放電方式のイ
オンプレーティング装置は、エンハンスドアークと呼称
される技術を応用したものであり、図1に示すように、
真空チャンバ1を有し、この真空チャンバ1内の所定位
置には材質の異なる2つの陰極金属(蒸発源)a・bが
並設されている。上記の陰極aと真空チャンバ1との間
には、可変定電流電源である第1アーク電源2から、ア
ーク放電のための数十ボルト程度のアーク電圧が印加さ
れるようになっている。また、上記の陰極bと真空チャ
ンバ1との間には、可変定電流電源である第2アーク電
源3から、アーク放電のための数十ボルト程度のアーク
電圧が印加されるようになっている。また、上記の各陰
極a・bの近傍には、各陰極a・bにおいてアーク放電
を容易に発生させるための、真空チャンバ1と同電位の
トリガ4・5が設けられている。
オンプレーティング装置は、エンハンスドアークと呼称
される技術を応用したものであり、図1に示すように、
真空チャンバ1を有し、この真空チャンバ1内の所定位
置には材質の異なる2つの陰極金属(蒸発源)a・bが
並設されている。上記の陰極aと真空チャンバ1との間
には、可変定電流電源である第1アーク電源2から、ア
ーク放電のための数十ボルト程度のアーク電圧が印加さ
れるようになっている。また、上記の陰極bと真空チャ
ンバ1との間には、可変定電流電源である第2アーク電
源3から、アーク放電のための数十ボルト程度のアーク
電圧が印加されるようになっている。また、上記の各陰
極a・bの近傍には、各陰極a・bにおいてアーク放電
を容易に発生させるための、真空チャンバ1と同電位の
トリガ4・5が設けられている。
【0019】また、上記真空チャンバ1内には、プラズ
マを収束させた後に拡散させるような磁界を、上記真空
チャンバ1内における上記陰極a・bの前方に形成する
磁界形成手段としての電磁石6が設けられている。この
電磁石6は、陰極a・bの前方位置に陰極a・bを取り
巻くようにして設けられた円筒状のコア7と、上記のコ
ア7の外周部に巻回された円筒状電磁コイル8と、この
電磁コイル8を被覆して磁力線回路を形成する、磁性材
からなる磁力回路部9とを有している。また、上記コア
7の一部分が切欠され、エアギャップ10が形成されて
いる。
マを収束させた後に拡散させるような磁界を、上記真空
チャンバ1内における上記陰極a・bの前方に形成する
磁界形成手段としての電磁石6が設けられている。この
電磁石6は、陰極a・bの前方位置に陰極a・bを取り
巻くようにして設けられた円筒状のコア7と、上記のコ
ア7の外周部に巻回された円筒状電磁コイル8と、この
電磁コイル8を被覆して磁力線回路を形成する、磁性材
からなる磁力回路部9とを有している。また、上記コア
7の一部分が切欠され、エアギャップ10が形成されて
いる。
【0020】また、上記真空チャンバ1内の所定位置に
は、コーティング対象物11がセットできるようになっ
ており、このコーティング対象物11には、定電圧電源
であるバイアス電源12より−100〜−1000V程
度の負のバイアス電圧が印加されるようになっている。
は、コーティング対象物11がセットできるようになっ
ており、このコーティング対象物11には、定電圧電源
であるバイアス電源12より−100〜−1000V程
度の負のバイアス電圧が印加されるようになっている。
【0021】また、上記真空チャンバ1には、N2 ガス
等のガスをチャンバ内に導入するためのガス導入部1a
が設けられている。
等のガスをチャンバ内に導入するためのガス導入部1a
が設けられている。
【0022】上記の構成において、イオンプレーティン
グ装置の動作を以下に説明する。
グ装置の動作を以下に説明する。
【0023】上記円筒状の電磁コイル8に電流を流す
と、磁力回路(コア7−磁力回路部9−コア7)が形成
され、コア7に形成されたエアギャップ10によって、
陰極a・bの前方に形成される磁界が、電磁コイル8の
中心付近に絞り込まれる(図2参照)。また、エアギャ
ップ10によって電磁コイル8の中心付近に大きく絞り
込まれた磁界は、そこから離れるに連れて大きくひろが
る。
と、磁力回路(コア7−磁力回路部9−コア7)が形成
され、コア7に形成されたエアギャップ10によって、
陰極a・bの前方に形成される磁界が、電磁コイル8の
中心付近に絞り込まれる(図2参照)。また、エアギャ
ップ10によって電磁コイル8の中心付近に大きく絞り
込まれた磁界は、そこから離れるに連れて大きくひろが
る。
【0024】次に、コーティングしようとする合金膜の
混合比に応じて、第1アーク電源2と第2アーク電源3
とのアーク電圧比を調整し、真空チャンバ1内にN2 ガ
ス等のガスを導入し、トリガ4・5をそれぞれ陰極a・
bに接触させた後に開放することによってアーク放電を
生じさせてプラズマを生成する。このとき発生するプラ
ズマは、上記電磁石6によって形成された磁界の作用を
受け、真空チャンバ1内には図1中に斜線で示すような
プラズマ領域13が発生する。特に、プラズマ中の電子
やイオンは、図2に示すように、磁力線にからみついて
旋回運動を行ない電磁コイル8の中心付近に集中するの
で、電磁コイル8の中心付近のプラズマ密度が非常に高
くなり、プラズマ集光部ができる。そして、上記のプラ
ズマ集光部から離れるに連れて、プラズマが発散する。
混合比に応じて、第1アーク電源2と第2アーク電源3
とのアーク電圧比を調整し、真空チャンバ1内にN2 ガ
ス等のガスを導入し、トリガ4・5をそれぞれ陰極a・
bに接触させた後に開放することによってアーク放電を
生じさせてプラズマを生成する。このとき発生するプラ
ズマは、上記電磁石6によって形成された磁界の作用を
受け、真空チャンバ1内には図1中に斜線で示すような
プラズマ領域13が発生する。特に、プラズマ中の電子
やイオンは、図2に示すように、磁力線にからみついて
旋回運動を行ない電磁コイル8の中心付近に集中するの
で、電磁コイル8の中心付近のプラズマ密度が非常に高
くなり、プラズマ集光部ができる。そして、上記のプラ
ズマ集光部から離れるに連れて、プラズマが発散する。
【0025】また、このとき、陰極a・bの表面上にお
けるアーク放電が発生した局所的な部分(アークスポッ
ト)にアーク電流が集中してジュール加熱が生じ、陰極
a・bの金属が溶融蒸発し、成膜粒子としての金属原子
や溶融金属粒子が放出される。上記のアークスポットは
短時間で消滅し、新たに放電条件を備えた新しいアーク
スポットに放電が移行する。このように、アークスポッ
トは短時間活動した後に消滅し、またすぐに再活動する
といった過程を繰り返しながら陰極a・bの表面上を動
き回る。
けるアーク放電が発生した局所的な部分(アークスポッ
ト)にアーク電流が集中してジュール加熱が生じ、陰極
a・bの金属が溶融蒸発し、成膜粒子としての金属原子
や溶融金属粒子が放出される。上記のアークスポットは
短時間で消滅し、新たに放電条件を備えた新しいアーク
スポットに放電が移行する。このように、アークスポッ
トは短時間活動した後に消滅し、またすぐに再活動する
といった過程を繰り返しながら陰極a・bの表面上を動
き回る。
【0026】各陰極a・bの表面上のアークスポットの
軌道は、電磁石6によって形成された上記の磁界の影響
を受ける。即ち、アークスポットは、図2に示すよう
に、陰極a・bの表面と交差する磁力線との間の鋭角方
向に力Fを受ける。このため、アークスポットは、各陰
極a・b表面上において、電磁コイル8の中心付近に局
限される。
軌道は、電磁石6によって形成された上記の磁界の影響
を受ける。即ち、アークスポットは、図2に示すよう
に、陰極a・bの表面と交差する磁力線との間の鋭角方
向に力Fを受ける。このため、アークスポットは、各陰
極a・b表面上において、電磁コイル8の中心付近に局
限される。
【0027】このように、金属原子や溶融金属粒子の発
生源となるアークスポットが電磁コイル8の中心付近に
局限されるので、各陰極a・bから蒸発する金属は、電
磁コイル8の中心付近に集中する。
生源となるアークスポットが電磁コイル8の中心付近に
局限されるので、各陰極a・bから蒸発する金属は、電
磁コイル8の中心付近に集中する。
【0028】このように、各陰極a・bから蒸発した金
属原子や金属粒子は、上記のプラズマ領域13中で、電
子や導入ガスと衝突し、導入ガスとともにイオン化され
る。上述したように、電磁コイル8の中心付近は、電子
やイオンが磁界によって閉じ込められてプラズマ密度が
非常に高くなったプラズマ集光部が形成されているの
で、上記の蒸発金属が電子やイオンと衝突する確率が非
常に高く、蒸発金属のイオン化が促進される。このた
め、本イオンプレーティング装置では、100%近いイ
オン化率が得られる。
属原子や金属粒子は、上記のプラズマ領域13中で、電
子や導入ガスと衝突し、導入ガスとともにイオン化され
る。上述したように、電磁コイル8の中心付近は、電子
やイオンが磁界によって閉じ込められてプラズマ密度が
非常に高くなったプラズマ集光部が形成されているの
で、上記の蒸発金属が電子やイオンと衝突する確率が非
常に高く、蒸発金属のイオン化が促進される。このた
め、本イオンプレーティング装置では、100%近いイ
オン化率が得られる。
【0029】上記のように、電磁石6の形成する磁界の
影響を受けて、アークスポットが電磁コイル8の中心付
近に局限され、且つ、プラズマが電磁コイル8の中心付
近に収束されるので、各陰極a・bから蒸発した金属は
ともに電磁コイル8の中心付近でイオン化され易く、各
陰極a・bの金属イオンの混合率は非常に高くなる。
影響を受けて、アークスポットが電磁コイル8の中心付
近に局限され、且つ、プラズマが電磁コイル8の中心付
近に収束されるので、各陰極a・bから蒸発した金属は
ともに電磁コイル8の中心付近でイオン化され易く、各
陰極a・bの金属イオンの混合率は非常に高くなる。
【0030】また、電磁石6の形成する磁界の影響を受
けて、プラズマ集光部から離れるに連れてプラズマが発
散するので、プラズマ集光部でイオン化して混合された
各陰極a・bの金属イオンも、その後、大きくひろが
り、プラズマ中の各陰極a・bの金属イオンの混合率が
さらに高くなる。
けて、プラズマ集光部から離れるに連れてプラズマが発
散するので、プラズマ集光部でイオン化して混合された
各陰極a・bの金属イオンも、その後、大きくひろが
り、プラズマ中の各陰極a・bの金属イオンの混合率が
さらに高くなる。
【0031】この後、プラズマ中の各陰極a・bの金属
イオンは、バイアス電源12から−200V程度の負の
バイアス電圧が印加されたコーティング対象物11の方
へ電界により加速されてコーティング対象物11の表面
に付着する。この場合、上記のようにコーティング対象
物11の前方においてひろがりを持ったプラズマ領域1
3が形成されており、そのプラズマ領域13中の各陰極
a・bの金属イオンの混合率が高いので、コーティング
対象物11におけるA・B・Cの各場所の合金膜の混合
比は略同じとなる。
イオンは、バイアス電源12から−200V程度の負の
バイアス電圧が印加されたコーティング対象物11の方
へ電界により加速されてコーティング対象物11の表面
に付着する。この場合、上記のようにコーティング対象
物11の前方においてひろがりを持ったプラズマ領域1
3が形成されており、そのプラズマ領域13中の各陰極
a・bの金属イオンの混合率が高いので、コーティング
対象物11におけるA・B・Cの各場所の合金膜の混合
比は略同じとなる。
【0032】尚、コーティングしようとする合金膜の混
合比を変更する場合、第1アーク電源2と第2アーク電
源3とのアーク電流比を変えるだけで、任意の混合比の
合金膜をコーティング対象物11表面にコーティングす
ることができる。
合比を変更する場合、第1アーク電源2と第2アーク電
源3とのアーク電流比を変えるだけで、任意の混合比の
合金膜をコーティング対象物11表面にコーティングす
ることができる。
【0033】また、上述のように、本イオンプレーティ
ング装置では、イオン化率が非常に高い(従来のマルチ
アーク放電方式のイオンプレーティング装置では80%
程度のイオン化率であるが、本イオンプレーティング装
置では100%近いイオン化率が得られる)ので、従来
のようにイオン化されなかった溶融金属粒子がコーティ
ング対象物の表面に付着することによって生じるドロッ
プレットが殆ど生じることがなく、成膜した表面は非常
にスムースとなり、成膜表面粗さが従来に比べて大幅に
改善される。
ング装置では、イオン化率が非常に高い(従来のマルチ
アーク放電方式のイオンプレーティング装置では80%
程度のイオン化率であるが、本イオンプレーティング装
置では100%近いイオン化率が得られる)ので、従来
のようにイオン化されなかった溶融金属粒子がコーティ
ング対象物の表面に付着することによって生じるドロッ
プレットが殆ど生じることがなく、成膜した表面は非常
にスムースとなり、成膜表面粗さが従来に比べて大幅に
改善される。
【0034】以上のように、本実施例のマルチアーク放
電方式のイオンプレーティング装置は、真空チャンバ1
内に2つの陰極a・bが設けられており、アーク放電に
よって各陰極a・bから成膜粒子を蒸発させてプラズマ
中でイオン化し、イオン化した成膜粒子を電界によって
加速して真空チャンバ1内に設けられたコーティング対
象物11へ付着させるものであって、プラズマを収束さ
せた後に拡散させるような磁界を、上記真空チャンバ1
内における陰極a・bの前方に形成する磁界形成手段と
しての電磁石6を備えている構成である。
電方式のイオンプレーティング装置は、真空チャンバ1
内に2つの陰極a・bが設けられており、アーク放電に
よって各陰極a・bから成膜粒子を蒸発させてプラズマ
中でイオン化し、イオン化した成膜粒子を電界によって
加速して真空チャンバ1内に設けられたコーティング対
象物11へ付着させるものであって、プラズマを収束さ
せた後に拡散させるような磁界を、上記真空チャンバ1
内における陰極a・bの前方に形成する磁界形成手段と
しての電磁石6を備えている構成である。
【0035】これにより、電磁石6の形成する磁界の影
響を受けて、各陰極a・bの前方においてプラズマが収
束された後に拡散されるので、各陰極a・bから蒸発し
た金属イオンのプラズマ中での混合率が従来よりも向上
し、コーティング対象物11の真空チャンバ1内の位置
に関係なく、どの位置でも合金膜の混合比が略同じとな
る。また、収束されたプラズマ中でのイオン化率の向上
により、従来に比べてドロップレットの低減を図ること
もできる。
響を受けて、各陰極a・bの前方においてプラズマが収
束された後に拡散されるので、各陰極a・bから蒸発し
た金属イオンのプラズマ中での混合率が従来よりも向上
し、コーティング対象物11の真空チャンバ1内の位置
に関係なく、どの位置でも合金膜の混合比が略同じとな
る。また、収束されたプラズマ中でのイオン化率の向上
により、従来に比べてドロップレットの低減を図ること
もできる。
【0036】尚、上記実施例では、2つの蒸発源(陰極
a・b)を真空チャンバ1内に設けた例を示している
が、これに限定されるものではなく、蒸発源が3つ以上
であってもよい。上記実施例は、あくまでも、本発明の
技術内容を明らかにするものであって、そのような具体
例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、
本発明の精神と特許請求の範囲内で、いろいろと変更し
て実施することができるものである。
a・b)を真空チャンバ1内に設けた例を示している
が、これに限定されるものではなく、蒸発源が3つ以上
であってもよい。上記実施例は、あくまでも、本発明の
技術内容を明らかにするものであって、そのような具体
例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、
本発明の精神と特許請求の範囲内で、いろいろと変更し
て実施することができるものである。
【0037】
【発明の効果】本発明のマルチアーク放電方式のイオン
プレーティング装置は、以上のように、プラズマを収束
させた後に拡散させるような磁界を、真空チャンバ内に
おける複数の蒸発源の前方に形成する磁界形成手段を備
えている構成である。
プレーティング装置は、以上のように、プラズマを収束
させた後に拡散させるような磁界を、真空チャンバ内に
おける複数の蒸発源の前方に形成する磁界形成手段を備
えている構成である。
【0038】それゆえ、磁界形成手段が形成する磁界の
影響を受けて、各蒸発源の前方においてプラズマが収束
されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子がプラズマ
中で効率良くイオン化されるとともに効率的に混合され
る。また、磁界の影響を受けて、プラズマは収束された
後に拡散されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子イ
オンのプラズマ中における混合率がさらに高くなる。し
たがって、コーティング対象物の真空チャンバ内の位置
に関係なく、どの位置でもコーティング対象物の表面に
成膜される合金膜の混合比が略同じとなる。また、イオ
ン化率の向上により、従来に比べてドロップレットの低
減を図ることができ、成膜表面粗さを改善することがで
きる等の効果を奏する。
影響を受けて、各蒸発源の前方においてプラズマが収束
されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子がプラズマ
中で効率良くイオン化されるとともに効率的に混合され
る。また、磁界の影響を受けて、プラズマは収束された
後に拡散されるので、各蒸発源から蒸発した成膜粒子イ
オンのプラズマ中における混合率がさらに高くなる。し
たがって、コーティング対象物の真空チャンバ内の位置
に関係なく、どの位置でもコーティング対象物の表面に
成膜される合金膜の混合比が略同じとなる。また、イオ
ン化率の向上により、従来に比べてドロップレットの低
減を図ることができ、成膜表面粗さを改善することがで
きる等の効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例を示すものであり、マルチア
ーク放電方式のイオンプレーティング装置の概略の構成
図である。
ーク放電方式のイオンプレーティング装置の概略の構成
図である。
【図2】上記イオンプレーティング装置における陰極の
前方に形成される磁界を示すと共に、その磁界の影響に
よるアークスポットの軌道および電子の運動を説明する
説明図である。
前方に形成される磁界を示すと共に、その磁界の影響に
よるアークスポットの軌道および電子の運動を説明する
説明図である。
【図3】従来例を示すものであり、マルチアーク放電方
式のイオンプレーティング装置の概略の構成図である。
式のイオンプレーティング装置の概略の構成図である。
1 真空チャンバ 2 第1アーク電源 3 第2アーク電源 6 電磁石(磁界形成手段) 7 コア 8 電磁コイル 9 磁力回路部 10 エアギャップ 11 コーティング対象物 12 バイアス電源
Claims (1)
- 【請求項1】真空チャンバ内に複数の蒸発源が設けられ
ており、アーク放電によって各蒸発源から成膜粒子を蒸
発させてプラズマ中でイオン化し、イオン化した成膜粒
子を加速して真空チャンバ内に設けられたコーティング
対象物へ付着させるマルチアーク放電方式のイオンプレ
ーティング装置において、 プラズマを収束させた後に拡散させるような磁界を、上
記真空チャンバ内における上記複数の蒸発源の前方に形
成する磁界形成手段を備えていることを特徴とするマル
チアーク放電方式のイオンプレーティング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5323823A JPH07180043A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | マルチアーク放電方式のイオンプレーティング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5323823A JPH07180043A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | マルチアーク放電方式のイオンプレーティング装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07180043A true JPH07180043A (ja) | 1995-07-18 |
Family
ID=18159002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5323823A Pending JPH07180043A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | マルチアーク放電方式のイオンプレーティング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07180043A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007146214A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Canon Inc | 相分離膜及び構造体の製造方法 |
WO2010125756A1 (ja) | 2009-04-28 | 2010-11-04 | 株式会社神戸製鋼所 | アーク式蒸発源及びこれを用いた皮膜の製造方法 |
CN101902871A (zh) * | 2010-07-27 | 2010-12-01 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 一种空心阴极弧室 |
US9266180B2 (en) | 2010-06-23 | 2016-02-23 | Kobe Steel, Ltd. | Arc evaporation source having fast film-forming speed, coating film manufacturing method and film formation apparatus using the arc evaporation source |
CN116334536A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-06-27 | 东北大学 | 一种高韧性过渡族金属氮化物TiAl(Ni)NX硬质涂层及其制备方法 |
-
1993
- 1993-12-22 JP JP5323823A patent/JPH07180043A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007146214A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Canon Inc | 相分離膜及び構造体の製造方法 |
WO2010125756A1 (ja) | 2009-04-28 | 2010-11-04 | 株式会社神戸製鋼所 | アーク式蒸発源及びこれを用いた皮膜の製造方法 |
US9200360B2 (en) | 2009-04-28 | 2015-12-01 | Kobe Steel, Ltd. | Arc evaporation source and film forming method using the same |
US9266180B2 (en) | 2010-06-23 | 2016-02-23 | Kobe Steel, Ltd. | Arc evaporation source having fast film-forming speed, coating film manufacturing method and film formation apparatus using the arc evaporation source |
CN101902871A (zh) * | 2010-07-27 | 2010-12-01 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 一种空心阴极弧室 |
CN116334536A (zh) * | 2023-03-29 | 2023-06-27 | 东北大学 | 一种高韧性过渡族金属氮化物TiAl(Ni)NX硬质涂层及其制备方法 |
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