JPH07154256A - Ａ／ｄ変換装置及び物理量検出装置 - Google Patents
Ａ／ｄ変換装置及び物理量検出装置Info
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- JPH07154256A JPH07154256A JP5296565A JP29656593A JPH07154256A JP H07154256 A JPH07154256 A JP H07154256A JP 5296565 A JP5296565 A JP 5296565A JP 29656593 A JP29656593 A JP 29656593A JP H07154256 A JPH07154256 A JP H07154256A
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
- H03K5/26—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being duration, interval, position, frequency, or sequence
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/64—Analogue/digital converters with intermediate conversion to phase of sinusoidal or similar periodical signals
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 動作条件の変動に伴い生じる数値化誤差を自
己補正可能なＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換装置を
備えた物理量検出装置を提供する。 【構成】 磁気変化を検出する物理量検出装置を、発振
器１６，１８から磁気変化に応じて変化する発振周波数
のパルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢを出力させ、カウンタ・デ
コーダ部２２，２４により、各パルス信号ＣＫＡ，ＣＫ
Ｂから、磁気変化に対応して位相差が変化するパルス信
号ＰＡ，ＰＣと、パルス信号ＰＡに対して発振器１６の
発振周波数に応じた所定の位相差を有するパルス信号Ｐ
Ｂとを生成し、更に、パルス位相差符号化回路３０に
て、パルス信号ＰＡとＰＣとの位相差、及びパルス信号
ＰＡとＰＢとの位相差を夫々数値化して、除算器５０に
より、その数値化されたデジタル値ＤＣ，ＤＢの比率Ｄ
Ｄ（＝ＤＢ／ＤＣ）を求め、この値ＤＤから磁気変化を
表す検出信号ＰＯを生成するように構成する。
己補正可能なＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換装置を
備えた物理量検出装置を提供する。 【構成】 磁気変化を検出する物理量検出装置を、発振
器１６，１８から磁気変化に応じて変化する発振周波数
のパルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢを出力させ、カウンタ・デ
コーダ部２２，２４により、各パルス信号ＣＫＡ，ＣＫ
Ｂから、磁気変化に対応して位相差が変化するパルス信
号ＰＡ，ＰＣと、パルス信号ＰＡに対して発振器１６の
発振周波数に応じた所定の位相差を有するパルス信号Ｐ
Ｂとを生成し、更に、パルス位相差符号化回路３０に
て、パルス信号ＰＡとＰＣとの位相差、及びパルス信号
ＰＡとＰＢとの位相差を夫々数値化して、除算器５０に
より、その数値化されたデジタル値ＤＣ，ＤＢの比率Ｄ
Ｄ（＝ＤＢ／ＤＣ）を求め、この値ＤＤから磁気変化を
表す検出信号ＰＯを生成するように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、入力信号のレベル又は
位相差を数値化するＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換
装置を備えた物理量検出装置に関する。
位相差を数値化するＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換
装置を備えた物理量検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、例えば車両用エンジン制御装
置等、制御対象の動作状態を各種センサにより検出し
て、制御対象をフィードバック制御する制御装置では、
高精度な制御を実現するためにマイクロコンピュータ等
の論理演算回路が使用されている。そして、こうした制
御装置では、センサにより得られたアナログ検出信号を
そのまま取り扱うことができないため、その検出信号を
数値化するＡ／Ｄ変換装置が使用されている。
置等、制御対象の動作状態を各種センサにより検出し
て、制御対象をフィードバック制御する制御装置では、
高精度な制御を実現するためにマイクロコンピュータ等
の論理演算回路が使用されている。そして、こうした制
御装置では、センサにより得られたアナログ検出信号を
そのまま取り扱うことができないため、その検出信号を
数値化するＡ／Ｄ変換装置が使用されている。
【０００３】また従来より、例えば特開平３−１２５５
１４号公報，特開平３−２２０８１４号公報等に開示さ
れているように、検出対象物の位置や回転速度等の物理
量を検出する物理量検出装置（センサ）として、検出対
象物の物理量の変化に応じて特性が変化する検出素子
と、検出素子の特性変化に応じて発振周波数が変化する
発振回路とからなる一対の発振装置を用いて、物理量の
変化に応じて位相差が変化する２個のパルス信号を生成
し、このパルス信号の位相差を、パルス位相差符号化回
路（時間Ａ／Ｄ変換装置）により数値化して出力する物
理量検出装置が提案されている。
１４号公報，特開平３−２２０８１４号公報等に開示さ
れているように、検出対象物の位置や回転速度等の物理
量を検出する物理量検出装置（センサ）として、検出対
象物の物理量の変化に応じて特性が変化する検出素子
と、検出素子の特性変化に応じて発振周波数が変化する
発振回路とからなる一対の発振装置を用いて、物理量の
変化に応じて位相差が変化する２個のパルス信号を生成
し、このパルス信号の位相差を、パルス位相差符号化回
路（時間Ａ／Ｄ変換装置）により数値化して出力する物
理量検出装置が提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
た時間Ａ／Ｄ変換装置や一般のＡ／Ｄ変換装置を用いて
入力信号のレベルや位相差を数値化する場合、電源電圧
や周囲温度等の動作条件が変動すると、Ａ／Ｄ変換装置
の動作特性が変化して、数値化した値が実際とは異なる
値になってしまうことがあった。
た時間Ａ／Ｄ変換装置や一般のＡ／Ｄ変換装置を用いて
入力信号のレベルや位相差を数値化する場合、電源電圧
や周囲温度等の動作条件が変動すると、Ａ／Ｄ変換装置
の動作特性が変化して、数値化した値が実際とは異なる
値になってしまうことがあった。
【０００５】例えば、上記時間Ａ／Ｄ変換装置を備えた
物理量検出装置を自動車に搭載してエンジン制御等の各
種制御を行う場合、バッテリ出力が低下している状態で
スタータスイッチをオンしたり、電源供給ラインに誘導
ノイズが重畳されると、物理量検出装置の電源電圧が変
動するため、こうした電源電圧の変動時に物理量検出装
置により得られた値は実際の物理量とは対応しなくな
り、この状態ではエンジン等の制御対象を誤制御してし
まうことになる。
物理量検出装置を自動車に搭載してエンジン制御等の各
種制御を行う場合、バッテリ出力が低下している状態で
スタータスイッチをオンしたり、電源供給ラインに誘導
ノイズが重畳されると、物理量検出装置の電源電圧が変
動するため、こうした電源電圧の変動時に物理量検出装
置により得られた値は実際の物理量とは対応しなくな
り、この状態ではエンジン等の制御対象を誤制御してし
まうことになる。
【０００６】本発明は、こうした問題に鑑みなされたも
ので、動作条件の変動に伴い生じる数値化誤差を自己補
正可能なＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換装置を備え
た物理量検出装置を提供することを目的としている。
ので、動作条件の変動に伴い生じる数値化誤差を自己補
正可能なＡ／Ｄ変換装置及びこのＡ／Ｄ変換装置を備え
た物理量検出装置を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めになされた請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置は、入力
信号を数値化するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段
に、数値化すべき数値化信号と共に、所定の基準信号を
入力し、これら各信号を夫々数値化させる信号入力手段
と、上記Ａ／Ｄ変換手段にて数値化された上記数値化信
号及び上記基準信号の値を夫々読み込み、上記数値化信
号の上記基準信号に対する比率を演算して、該演算結果
を上記数値化信号の真の値として出力する演算手段と、
を備えたことを特徴としている。
めになされた請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置は、入力
信号を数値化するＡ／Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段
に、数値化すべき数値化信号と共に、所定の基準信号を
入力し、これら各信号を夫々数値化させる信号入力手段
と、上記Ａ／Ｄ変換手段にて数値化された上記数値化信
号及び上記基準信号の値を夫々読み込み、上記数値化信
号の上記基準信号に対する比率を演算して、該演算結果
を上記数値化信号の真の値として出力する演算手段と、
を備えたことを特徴としている。
【０００８】また請求項２に記載のＡ／Ｄ変換装置は、
請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置において、上記Ａ／Ｄ
変換手段として、２個のパルス信号の位相差を数値化す
る時間Ａ／Ｄ変換手段を備え、上記信号入力手段が、該
時間Ａ／Ｄ変換手段に対して、数値化すべき位相差を有
する２個の数値化パルスと、該２個の数値化パルスの内
の一方の数値化パルスに対して所定の位相差を有する基
準パルスとを夫々入力し、上記２個の数値化パルスの位
相差、及び上記所定の位相差を有する数値化パルスと基
準パルスとの位相差、を夫々数値化させることを特徴と
している。
請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置において、上記Ａ／Ｄ
変換手段として、２個のパルス信号の位相差を数値化す
る時間Ａ／Ｄ変換手段を備え、上記信号入力手段が、該
時間Ａ／Ｄ変換手段に対して、数値化すべき位相差を有
する２個の数値化パルスと、該２個の数値化パルスの内
の一方の数値化パルスに対して所定の位相差を有する基
準パルスとを夫々入力し、上記２個の数値化パルスの位
相差、及び上記所定の位相差を有する数値化パルスと基
準パルスとの位相差、を夫々数値化させることを特徴と
している。
【０００９】次に請求項３に記載の物理量検出装置は、
請求項２に記載のＡ／Ｄ変換装置を備えた物理量検出装
置であって、検出対象の物理量を検出する検出素子と、
該検出素子による物理量の検出値に応じて位相差が変化
する２個のパルス信号を上記数値化パルスとして生成す
る数値化パルス生成手段と、該数値化パルス生成手段と
同一条件で動作し、該数値化パルス生成信号が生成した
２個の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して
所定の位相差を有する基準パルスを生成する基準パルス
生成手段と、を備えたことを特徴としている。
請求項２に記載のＡ／Ｄ変換装置を備えた物理量検出装
置であって、検出対象の物理量を検出する検出素子と、
該検出素子による物理量の検出値に応じて位相差が変化
する２個のパルス信号を上記数値化パルスとして生成す
る数値化パルス生成手段と、該数値化パルス生成手段と
同一条件で動作し、該数値化パルス生成信号が生成した
２個の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して
所定の位相差を有する基準パルスを生成する基準パルス
生成手段と、を備えたことを特徴としている。
【００１０】
【作用及び発明の効果】上記のように構成された請求項
１に記載のＡ／Ｄ変換装置においては、まず信号入力手
段が、Ａ／Ｄ変換手段に対して、数値化すべき数値化信
号と共に所定の基準信号を入力し、これら各信号を夫々
数値化させる。すると、演算手段が、Ａ／Ｄ変換手段に
て数値化された数値化信号及び基準信号の値を夫々読み
込み、数値化信号の基準信号に対する比率を演算して、
その演算結果を数値化信号の真の値として出力する。
１に記載のＡ／Ｄ変換装置においては、まず信号入力手
段が、Ａ／Ｄ変換手段に対して、数値化すべき数値化信
号と共に所定の基準信号を入力し、これら各信号を夫々
数値化させる。すると、演算手段が、Ａ／Ｄ変換手段に
て数値化された数値化信号及び基準信号の値を夫々読み
込み、数値化信号の基準信号に対する比率を演算して、
その演算結果を数値化信号の真の値として出力する。
【００１１】すなわち、電源電圧や周囲温度等の動作条
件の変動によってＡ／Ｄ変換手段による数値化結果に誤
差が生じた場合、その誤差の比率は、数値化した信号に
よらず一定となる。従って、Ａ／Ｄ変換手段に、値の異
なる２種の信号を夫々数値化させた場合、各信号の数値
化結果は、動作条件の変動によって誤差が生じるもの
の、その比率は、動作条件の変動にかかわらず常に一定
の値となる。そこで、本発明では、Ａ／Ｄ変換手段に、
数値化すべき数値化信号と基準信号とを夫々入力して数
値化させ、その数値化結果から、数値化信号の基準信号
に対する比率を求め、この比率を数値化信号の値とする
のである。
件の変動によってＡ／Ｄ変換手段による数値化結果に誤
差が生じた場合、その誤差の比率は、数値化した信号に
よらず一定となる。従って、Ａ／Ｄ変換手段に、値の異
なる２種の信号を夫々数値化させた場合、各信号の数値
化結果は、動作条件の変動によって誤差が生じるもの
の、その比率は、動作条件の変動にかかわらず常に一定
の値となる。そこで、本発明では、Ａ／Ｄ変換手段に、
数値化すべき数値化信号と基準信号とを夫々入力して数
値化させ、その数値化結果から、数値化信号の基準信号
に対する比率を求め、この比率を数値化信号の値とする
のである。
【００１２】従って、本発明によれば、Ａ／Ｄ変換手段
の動作条件が変動しても、数値化結果としては常に数値
化信号に対応した値を得ることができるようになる。ま
た、本発明によれば、Ａ／Ｄ変換手段の電源電圧や周囲
温度等の動作条件の変動に対する数値化誤差を補正する
ことができるだけでなく、Ａ／Ｄ変換手段の製造上のば
らつきや電磁ノイズ等の外乱による数値化誤差も補正す
ることができる。
の動作条件が変動しても、数値化結果としては常に数値
化信号に対応した値を得ることができるようになる。ま
た、本発明によれば、Ａ／Ｄ変換手段の電源電圧や周囲
温度等の動作条件の変動に対する数値化誤差を補正する
ことができるだけでなく、Ａ／Ｄ変換手段の製造上のば
らつきや電磁ノイズ等の外乱による数値化誤差も補正す
ることができる。
【００１３】次に、請求項２に記載のＡ／Ｄ変換装置に
おいては、Ａ／Ｄ変換手段として、２個のパルス信号の
位相差を数値化する時間Ａ／Ｄ変換手段を備えており、
信号入力手段が、この時間Ａ／Ｄ変換手段に対して、数
値化すべき位相差を有する２個の数値化パルスと、該２
個の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して所
定の位相差を有する基準パルスとを夫々入力することに
より、時間Ａ／Ｄ変換手段に、２個の数値化パルスの位
相差、及び上記所定の位相差を有する数値化パルスと基
準パルスとの位相差、を夫々数値化させる。
おいては、Ａ／Ｄ変換手段として、２個のパルス信号の
位相差を数値化する時間Ａ／Ｄ変換手段を備えており、
信号入力手段が、この時間Ａ／Ｄ変換手段に対して、数
値化すべき位相差を有する２個の数値化パルスと、該２
個の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して所
定の位相差を有する基準パルスとを夫々入力することに
より、時間Ａ／Ｄ変換手段に、２個の数値化パルスの位
相差、及び上記所定の位相差を有する数値化パルスと基
準パルスとの位相差、を夫々数値化させる。
【００１４】つまり、本発明のＡ／Ｄ変換装置は、時間
Ａ／Ｄ変換手段により２個のパルス信号の位相差を数値
化する時間Ａ／Ｄ変換装置であるため、時間Ａ／Ｄ変換
手段に対して、数値化すべき位相差を有する２個の数値
化パルスと、この数値化パルスの一方と所定の位相差を
有する基準パルスとを入力することにより、２個の数値
化パルスの位相差（数値化すべき位相差）と、所定の位
相差を有する数値化パルスと基準パルスとの位相差（基
準となる位相差）とを夫々数値化させ、その後は、請求
項１に記載のＡ／Ｄ変換装置と同様、演算手段の動作に
よって、数値化パルスと基準パルスとの位相差に対する
２個の数値化パルスの位相差の比率を求めて、この比率
を数値化パルスの位相差を表わす真の値として出力する
のである。
Ａ／Ｄ変換手段により２個のパルス信号の位相差を数値
化する時間Ａ／Ｄ変換装置であるため、時間Ａ／Ｄ変換
手段に対して、数値化すべき位相差を有する２個の数値
化パルスと、この数値化パルスの一方と所定の位相差を
有する基準パルスとを入力することにより、２個の数値
化パルスの位相差（数値化すべき位相差）と、所定の位
相差を有する数値化パルスと基準パルスとの位相差（基
準となる位相差）とを夫々数値化させ、その後は、請求
項１に記載のＡ／Ｄ変換装置と同様、演算手段の動作に
よって、数値化パルスと基準パルスとの位相差に対する
２個の数値化パルスの位相差の比率を求めて、この比率
を数値化パルスの位相差を表わす真の値として出力する
のである。
【００１５】従って、本発明によれば、請求項１に記載
のＡ／Ｄ変換装置と同様、時間Ａ／Ｄ変換手段の動作条
件が変動したとしても、数値化結果として、常に数値化
すべき位相差に対応した値を得ることができる。また次
に請求項３に記載の物理量検出装置は、請求項２に記載
のＡ／Ｄ変換装置を備えている。そして、検出素子が検
出対象の物理量を検出し、数値化パルス生成手段が、検
出素子による物理量の検出値に応じて位相差が変化する
２個のパルス信号を数値化パルスとして生成し、基準パ
ルス生成手段が、数値化パルス生成信号が生成した２個
の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して所定
の位相差を有する基準パルスを生成する。
のＡ／Ｄ変換装置と同様、時間Ａ／Ｄ変換手段の動作条
件が変動したとしても、数値化結果として、常に数値化
すべき位相差に対応した値を得ることができる。また次
に請求項３に記載の物理量検出装置は、請求項２に記載
のＡ／Ｄ変換装置を備えている。そして、検出素子が検
出対象の物理量を検出し、数値化パルス生成手段が、検
出素子による物理量の検出値に応じて位相差が変化する
２個のパルス信号を数値化パルスとして生成し、基準パ
ルス生成手段が、数値化パルス生成信号が生成した２個
の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して所定
の位相差を有する基準パルスを生成する。
【００１６】従って、これら各パルス生成手段にて生成
された２個の数値化パルスと基準パルスとが信号入力手
段を介して時間Ａ／Ｄ変換手段に入力され、時間Ａ／Ｄ
変換手段により、物理量に応じた位相差を有する２個の
数値化パルスの位相差、及び所定の位相差を有する数値
化パルスと基準パルスとの位相差が夫々数値化され、演
算手段の動作によって、基準となる位相差に対する物理
量に応じた位相差の比率が求められ、その値が、物理量
を表わす真の値として出力されることになる。
された２個の数値化パルスと基準パルスとが信号入力手
段を介して時間Ａ／Ｄ変換手段に入力され、時間Ａ／Ｄ
変換手段により、物理量に応じた位相差を有する２個の
数値化パルスの位相差、及び所定の位相差を有する数値
化パルスと基準パルスとの位相差が夫々数値化され、演
算手段の動作によって、基準となる位相差に対する物理
量に応じた位相差の比率が求められ、その値が、物理量
を表わす真の値として出力されることになる。
【００１７】この結果、本発明によれば、検出素子にて
検出した物理量を、時間Ａ／Ｄ変換手段の動作条件の変
動に影響されることなく、常に正確に数値化して出力す
ることができるようになり、この出力値を利用して各種
制御を実行する場合の制御精度を向上することが可能と
なる。
検出した物理量を、時間Ａ／Ｄ変換手段の動作条件の変
動に影響されることなく、常に正確に数値化して出力す
ることができるようになり、この出力値を利用して各種
制御を実行する場合の制御精度を向上することが可能と
なる。
【００１８】また、基準パルス生成手段は、数値化パル
ス生成手段と同一条件で動作するため、数値化パルス生
成手段の動作条件が変動して、時間Ａ／Ｄ変換手段に入
力される２個の数値化パルスの位相差が実際の物理量と
は対応しなくなった場合には、時間Ａ／Ｄ変換手段に入
力される基準パルスと数値化パルスとの位相差も、その
動作条件の変動に応じて変化する。
ス生成手段と同一条件で動作するため、数値化パルス生
成手段の動作条件が変動して、時間Ａ／Ｄ変換手段に入
力される２個の数値化パルスの位相差が実際の物理量と
は対応しなくなった場合には、時間Ａ／Ｄ変換手段に入
力される基準パルスと数値化パルスとの位相差も、その
動作条件の変動に応じて変化する。
【００１９】この結果、本発明によれば、数値化パルス
生成手段の動作条件が変動したとしても、時間Ａ／Ｄ変
換手段に入力される上記各パルスの位相差の比率が変動
することはなく、従って、数値化パルス生成手段の動作
条件に影響されることなく、常に実際の物理量に対応し
た値を出力することができるようになる。
生成手段の動作条件が変動したとしても、時間Ａ／Ｄ変
換手段に入力される上記各パルスの位相差の比率が変動
することはなく、従って、数値化パルス生成手段の動作
条件に影響されることなく、常に実際の物理量に対応し
た値を出力することができるようになる。
【００２０】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面と共に説明す
る。まず図１は、本発明が適用された物理量検出装置の
構成を表わすブロック図である。なお、本実施例の物理
量検出装置は、時間Ａ／Ｄ変換手段として特開平３−２
２０８１４号公報に開示されたパルス位相差符号化回路
を備え、物理量として磁気の変化を検出するものであ
る。
る。まず図１は、本発明が適用された物理量検出装置の
構成を表わすブロック図である。なお、本実施例の物理
量検出装置は、時間Ａ／Ｄ変換手段として特開平３−２
２０８１４号公報に開示されたパルス位相差符号化回路
を備え、物理量として磁気の変化を検出するものであ
る。
【００２１】図１に示す如く、本実施例の物理量検出装
置は、作用する磁気の強度に応じて抵抗値が変化する一
対の磁気抵抗素子１２，１４を備えている。これら各磁
気抵抗素子１２，１４は、同一形状を有し、同じ磁気の
変化に対して抵抗値が逆方向に変化するよう、互いに９
０度ずらせて配置されている。
置は、作用する磁気の強度に応じて抵抗値が変化する一
対の磁気抵抗素子１２，１４を備えている。これら各磁
気抵抗素子１２，１４は、同一形状を有し、同じ磁気の
変化に対して抵抗値が逆方向に変化するよう、互いに９
０度ずらせて配置されている。
【００２２】次に、これら各磁気抵抗素子１２，１４
は、夫々、各磁気抵抗素子１２，１４の抵抗変化に応じ
て発振周波数が変化する一対の発振器１６，１８に接続
されている。各発振器１６，１８は、波形整形回路を内
蔵しており、各磁気抵抗素子１２，１４の抵抗値によっ
て決定される発振周波数に等しい周波数のパルス信号Ｃ
ＫＡ，ＣＫＢ（図５参照）を生成して、各パルス信号Ｃ
ＫＡ，ＣＫＢを、夫々、カウンタ・デコーダ部２２，２
４に出力する。
は、夫々、各磁気抵抗素子１２，１４の抵抗変化に応じ
て発振周波数が変化する一対の発振器１６，１８に接続
されている。各発振器１６，１８は、波形整形回路を内
蔵しており、各磁気抵抗素子１２，１４の抵抗値によっ
て決定される発振周波数に等しい周波数のパルス信号Ｃ
ＫＡ，ＣＫＢ（図５参照）を生成して、各パルス信号Ｃ
ＫＡ，ＣＫＢを、夫々、カウンタ・デコーダ部２２，２
４に出力する。
【００２３】ここで、発振器１６からのパルス信号ＣＫ
Ａを受けるカウンタ・デコーダ部２２は、図２に示す如
く、パルス信号ＣＫＡをカウントしてカウント信号Ｃ1
Ａ 〜Ｃ4Ａ を出力するカウンタ２２ａと、このカウン
ト信号Ｃ1Ａ 〜Ｃ4Ａ を受け、カウンタ２２ａによる計
数値が計数開始後所定値（本実施例では９）に達するま
での間、パルス信号ＰＡ（図５参照）を出力すると共
に、計数値が所定値（本実施例では８）に達したときに
パルス信号ＰＣ（図５参照）を出力するデコーダ２２ｂ
とから構成されている。
Ａを受けるカウンタ・デコーダ部２２は、図２に示す如
く、パルス信号ＣＫＡをカウントしてカウント信号Ｃ1
Ａ 〜Ｃ4Ａ を出力するカウンタ２２ａと、このカウン
ト信号Ｃ1Ａ 〜Ｃ4Ａ を受け、カウンタ２２ａによる計
数値が計数開始後所定値（本実施例では９）に達するま
での間、パルス信号ＰＡ（図５参照）を出力すると共
に、計数値が所定値（本実施例では８）に達したときに
パルス信号ＰＣ（図５参照）を出力するデコーダ２２ｂ
とから構成されている。
【００２４】また、図示しないが、発振器１８からのパ
ルス信号ＣＫＢを受けるカウンタ・デコーダ部２４は、
上記カウンタ・デコーダ部２２と略同様に、パルス信号
ＣＫＢをカウントするカウンタと、このカウンタによる
計数値が所定値（本実施例では５）に達したときにパル
ス信号ＰＣ（図５参照）を出力するデコーダとから構成
されている。
ルス信号ＣＫＢを受けるカウンタ・デコーダ部２４は、
上記カウンタ・デコーダ部２２と略同様に、パルス信号
ＣＫＢをカウントするカウンタと、このカウンタによる
計数値が所定値（本実施例では５）に達したときにパル
ス信号ＰＣ（図５参照）を出力するデコーダとから構成
されている。
【００２５】なお、カウンタ・デコーダ部２２内のデコ
ーダ２２ｂは、パルス信号ＰＡ，ＰＣを出力するだけで
なく、カウンタ２２ａによる計数値が所定値（本実施例
では９）に達したときに、カウンタ２２ａ及びカウンタ
・デコード部２４内のカウンタを共にリセットさせるリ
セット信号ＲＳＴを出力すると共に、これら両カウンタ
による次回の計数の開始の同期をとるために、発振器１
８に対して同期信号Ｓｙｎｃを出力する。
ーダ２２ｂは、パルス信号ＰＡ，ＰＣを出力するだけで
なく、カウンタ２２ａによる計数値が所定値（本実施例
では９）に達したときに、カウンタ２２ａ及びカウンタ
・デコード部２４内のカウンタを共にリセットさせるリ
セット信号ＲＳＴを出力すると共に、これら両カウンタ
による次回の計数の開始の同期をとるために、発振器１
８に対して同期信号Ｓｙｎｃを出力する。
【００２６】そして、上記各カウンタ・デコーダ部２
２，２４から出力されるパルス信号ＰＡ〜ＰＣの内、パ
ルス信号ＰＡは、パルス位相差符号化回路３０にそのま
ま入力され、パルス信号ＰＢ及びＰＣは、ＯＲ回路２６
を介して、パルス位相差符号化回路３０及びレジスタ回
路４０に入力される。
２，２４から出力されるパルス信号ＰＡ〜ＰＣの内、パ
ルス信号ＰＡは、パルス位相差符号化回路３０にそのま
ま入力され、パルス信号ＰＢ及びＰＣは、ＯＲ回路２６
を介して、パルス位相差符号化回路３０及びレジスタ回
路４０に入力される。
【００２７】次に、パルス位相差符号化回路３０は、図
３に示す如く、ＮＡＮＤ回路及び偶数個の反転回路（イ
ンバータ）をリング状に連結したリング遅延パルス発生
回路３２と、カウンタ３４と、パルスセレクタ３６と、
エンコーダ３８とから構成されており、パルス信号ＰＡ
は、リング遅延パルス発生回路３２を構成するＮＡＮＤ
回路の一方に入力され、パルス信号ＰＢ及びＰＣは、パ
ルスセレクタ３６に入力される。
３に示す如く、ＮＡＮＤ回路及び偶数個の反転回路（イ
ンバータ）をリング状に連結したリング遅延パルス発生
回路３２と、カウンタ３４と、パルスセレクタ３６と、
エンコーダ３８とから構成されており、パルス信号ＰＡ
は、リング遅延パルス発生回路３２を構成するＮＡＮＤ
回路の一方に入力され、パルス信号ＰＢ及びＰＣは、パ
ルスセレクタ３６に入力される。
【００２８】このパルス位相差符号化回路３０は、特開
平３−２２０８１４号に開示されたものと略同様であ
り、次のように動作する。まず、リング遅延パルス発生
回路３２のＮＡＮＤ回路にはパルス信号ＰＡが入力され
ているため、パルス信号ＰＡがLow レベルであれば、Ｎ
ＡＮＤ回路の出力がHighレベルに固定される。次にパル
ス信号ＰＡがHighレベルになると、ＮＡＮＤ回路の出力
がHighレベルからLow レベルに反転し、その後、ＮＡＮ
Ｄ回路の出力に連結されたインバータの出力が順次反転
して行く。またインバータは偶数段であるため、最終段
のインバータの出力はLow レベルとなり、ＮＡＮＤ回路
にLow レベルの信号が入力される。この結果、ＮＡＮＤ
回路の出力はLow レベルからHighレベルに反転し、再
度、ＮＡＮＤ回路の出力に連結されたインバータの出力
が順次反転する。
平３−２２０８１４号に開示されたものと略同様であ
り、次のように動作する。まず、リング遅延パルス発生
回路３２のＮＡＮＤ回路にはパルス信号ＰＡが入力され
ているため、パルス信号ＰＡがLow レベルであれば、Ｎ
ＡＮＤ回路の出力がHighレベルに固定される。次にパル
ス信号ＰＡがHighレベルになると、ＮＡＮＤ回路の出力
がHighレベルからLow レベルに反転し、その後、ＮＡＮ
Ｄ回路の出力に連結されたインバータの出力が順次反転
して行く。またインバータは偶数段であるため、最終段
のインバータの出力はLow レベルとなり、ＮＡＮＤ回路
にLow レベルの信号が入力される。この結果、ＮＡＮＤ
回路の出力はLow レベルからHighレベルに反転し、再
度、ＮＡＮＤ回路の出力に連結されたインバータの出力
が順次反転する。
【００２９】つまり、リング遅延パルス発生回路３２で
は、パルス信号ＰＡがHighレベルでなければ、各インバ
ータの出力が所定レベルに固定（リセット）され、パル
ス信号ＰＡがHighレベルになると、リングを形成してい
る各回路による遅延時間を伴って、パルス信号ＰＡが周
回することになる。
は、パルス信号ＰＡがHighレベルでなければ、各インバ
ータの出力が所定レベルに固定（リセット）され、パル
ス信号ＰＡがHighレベルになると、リングを形成してい
る各回路による遅延時間を伴って、パルス信号ＰＡが周
回することになる。
【００３０】またリング遅延パルス発生回路３２は、そ
の経路の途中から、パルス信号ＰＡが通過したＮＡＮＤ
回路及びインバータの段数によって遅延時間が決まると
ころの複数の遅延パルスを、パルスセレクタ３６に出力
する。そして、パルスセレクタ３６は、パルス信号Ｐ
Ｂ，ＰＣが入力される度に、パルス信号ＰＡが達してい
る段の遅延パルスを選択し、この選択した遅延パルスに
対応する信号をエンコーダ３８に出力する。するとエン
コーダ３８は、その入力に対応する２進数のデジタル信
号を出力する。
の経路の途中から、パルス信号ＰＡが通過したＮＡＮＤ
回路及びインバータの段数によって遅延時間が決まると
ころの複数の遅延パルスを、パルスセレクタ３６に出力
する。そして、パルスセレクタ３６は、パルス信号Ｐ
Ｂ，ＰＣが入力される度に、パルス信号ＰＡが達してい
る段の遅延パルスを選択し、この選択した遅延パルスに
対応する信号をエンコーダ３８に出力する。するとエン
コーダ３８は、その入力に対応する２進数のデジタル信
号を出力する。
【００３１】またリング遅延パルス発生回路３２内での
パルス信号ＰＡの周回回数は、カウンタ３４によりカウ
ントされ、カウンタ３４は、そのカウント結果を、エン
コーダ３８の出力の上位ビットとして出力する。なお、
このカウンタ３４は、入力信号の立上がり及び立下がり
の両エッジでカウント動作する。
パルス信号ＰＡの周回回数は、カウンタ３４によりカウ
ントされ、カウンタ３４は、そのカウント結果を、エン
コーダ３８の出力の上位ビットとして出力する。なお、
このカウンタ３４は、入力信号の立上がり及び立下がり
の両エッジでカウント動作する。
【００３２】この結果、パルス位相差符号化回路３０か
らは、パルス信号ＰＡの立ち上がりからパルス信号ＰＢ
の立ち上がりまでの時間、及びパルス信号ＰＡの立ち上
がりからパルス信号ＰＣの立ち上がりまでの時間、に夫
々対応したデジタル値ＤＢ，ＤＣ（図５参照）が順次出
力されることになる。
らは、パルス信号ＰＡの立ち上がりからパルス信号ＰＢ
の立ち上がりまでの時間、及びパルス信号ＰＡの立ち上
がりからパルス信号ＰＣの立ち上がりまでの時間、に夫
々対応したデジタル値ＤＢ，ＤＣ（図５参照）が順次出
力されることになる。
【００３３】次にレジスタ回路４０は、ＯＲ回路２６を
介して入力されるパルス信号ＰＢ，ＰＣを受けて、パル
ス位相差符号化回路３０から順次出力されるデジタル値
ＤＢ，ＤＣを夫々ラッチするものであり、パルス位相差
符号化回路３０からのデジタル値を直接ラッチするレジ
スタ４２と、このレジスタ４２にラッチされたデジタル
値をラッチするレジスタ４４とにより、所謂シフトレジ
スタとして構成されている。
介して入力されるパルス信号ＰＢ，ＰＣを受けて、パル
ス位相差符号化回路３０から順次出力されるデジタル値
ＤＢ，ＤＣを夫々ラッチするものであり、パルス位相差
符号化回路３０からのデジタル値を直接ラッチするレジ
スタ４２と、このレジスタ４２にラッチされたデジタル
値をラッチするレジスタ４４とにより、所謂シフトレジ
スタとして構成されている。
【００３４】つまり、このレジスタ回路４０では、パル
ス位相差符号化回路３０からデジタル値ＤＢが出力され
ると、パルス信号ＰＢによって、その値ＤＢを一旦レジ
スタ４２にラッチし、次にパルス位相差符号化回路３０
からデジタル値ＤＣが出力されると、パルス信号ＰＣに
よって、その値ＤＣをレジスタ４２にラッチすると共
に、レジスタ４２が今までラッチしていたデジタル値Ｄ
Ｂをレジスタ４４にシフトさせる。
ス位相差符号化回路３０からデジタル値ＤＢが出力され
ると、パルス信号ＰＢによって、その値ＤＢを一旦レジ
スタ４２にラッチし、次にパルス位相差符号化回路３０
からデジタル値ＤＣが出力されると、パルス信号ＰＣに
よって、その値ＤＣをレジスタ４２にラッチすると共
に、レジスタ４２が今までラッチしていたデジタル値Ｄ
Ｂをレジスタ４４にシフトさせる。
【００３５】従って、上記カウンタ・デコーダ２２，２
４がリセット信号ＲＳＴによりリセットされるタイミン
グでは、レジスタ４２によりパルス信号ＰＡとＰＣとの
位相差を表わすデジタル値ＤＣがラッチされ、レジスタ
４４によりパルス信号ＰＡとＰＢとの位相差を表わすデ
ジタル値ＤＢがラッチされることになる。
４がリセット信号ＲＳＴによりリセットされるタイミン
グでは、レジスタ４２によりパルス信号ＰＡとＰＣとの
位相差を表わすデジタル値ＤＣがラッチされ、レジスタ
４４によりパルス信号ＰＡとＰＢとの位相差を表わすデ
ジタル値ＤＢがラッチされることになる。
【００３６】次にこのようにレジスタ回路４０にてラッ
チされたデジタル値ＤＢ，ＤＣは、除算器５０に入力さ
れる。この除算器５０は、デジタル値ＤＢをデジタル値
ＤＣにて除算（ＤＤ＝ＤＢ／ＤＣ）し、その除算結果Ｄ
Ｄを、磁気抵抗素子１２，１４に作用している磁気の強
度を表わす値として出力するものであり、前述の演算手
段に相当する。
チされたデジタル値ＤＢ，ＤＣは、除算器５０に入力さ
れる。この除算器５０は、デジタル値ＤＢをデジタル値
ＤＣにて除算（ＤＤ＝ＤＢ／ＤＣ）し、その除算結果Ｄ
Ｄを、磁気抵抗素子１２，１４に作用している磁気の強
度を表わす値として出力するものであり、前述の演算手
段に相当する。
【００３７】すなわち、まず、レジスタ回路４０にてラ
ッチされたデジタル値ＤＢ，ＤＣの内、パルス信号ＰＡ
とパルス信号ＰＢとの位相差を表わすデジタル値ＤＢ
は、発振器１８から出力されるパルス信号ＣＫＢの５個
分の時間に対応し、発振器１８の発振周波数，換言すれ
ば磁気抵抗素子１４が検出した磁気強度に応じて変化す
るため、当該装置にて検出すべき磁気変化は、このデジ
タル値ＤＢの変化から検出することができる。
ッチされたデジタル値ＤＢ，ＤＣの内、パルス信号ＰＡ
とパルス信号ＰＢとの位相差を表わすデジタル値ＤＢ
は、発振器１８から出力されるパルス信号ＣＫＢの５個
分の時間に対応し、発振器１８の発振周波数，換言すれ
ば磁気抵抗素子１４が検出した磁気強度に応じて変化す
るため、当該装置にて検出すべき磁気変化は、このデジ
タル値ＤＢの変化から検出することができる。
【００３８】しかし、電源電圧や周囲温度等、当該装置
の動作条件が変動すると、発振器１８の発振周波数や、
パルス位相差符号化回路３０内のＮＡＮＤ回路，インバ
ータ等の動作時間が変化して、パルス位相差符号化回路
３０により得られるデジタル値ＤＢも変動する。例え
ば、図５に示す如く、電源電圧ＶDDが変動した場合、実
際には磁気変化が生じていないにもかかわらず、デジタ
ル値ＤＢが５０から４０へと変化することがある。従っ
て、デジタル値ＤＢだけでは磁気変化を正確に検出する
ことができない。
の動作条件が変動すると、発振器１８の発振周波数や、
パルス位相差符号化回路３０内のＮＡＮＤ回路，インバ
ータ等の動作時間が変化して、パルス位相差符号化回路
３０により得られるデジタル値ＤＢも変動する。例え
ば、図５に示す如く、電源電圧ＶDDが変動した場合、実
際には磁気変化が生じていないにもかかわらず、デジタ
ル値ＤＢが５０から４０へと変化することがある。従っ
て、デジタル値ＤＢだけでは磁気変化を正確に検出する
ことができない。
【００３９】そこで本実施例では、発振器１８と同一条
件で動作する発振器１６からのパルス信号ＣＫＡによ
り、パルス信号ＰＡに対してパルス信号ＣＫＡの８個分
の時間に対応した位相差を有するパルス信号ＰＣを生成
し、その位相差をパルス位相差符号化回路３０にて数値
化することにより、動作条件の変動に応じてデジタル値
ＤＢと同じ比率で変化するデジタル値ＤＣを生成し、更
に除算器５０において、デジタル値ＤＢをデジタル値Ｄ
Ｃにて除算することにより、実際に磁気が変化した場合
にのみ変化するデジタル値ＤＤを生成しているのであ
る。
件で動作する発振器１６からのパルス信号ＣＫＡによ
り、パルス信号ＰＡに対してパルス信号ＣＫＡの８個分
の時間に対応した位相差を有するパルス信号ＰＣを生成
し、その位相差をパルス位相差符号化回路３０にて数値
化することにより、動作条件の変動に応じてデジタル値
ＤＢと同じ比率で変化するデジタル値ＤＣを生成し、更
に除算器５０において、デジタル値ＤＢをデジタル値Ｄ
Ｃにて除算することにより、実際に磁気が変化した場合
にのみ変化するデジタル値ＤＤを生成しているのであ
る。
【００４０】この結果、図５に示す如く、例えば電源電
圧ＶDDの変動によってデジタル値ＤＢが５０から４０へ
と変化した場合には、デジタル値ＤＣが１００から８０
へと同じ比率で変化し、除算器５０にて得られるデジタ
ル値ＤＤは一定値（０．５）となる。
圧ＶDDの変動によってデジタル値ＤＢが５０から４０へ
と変化した場合には、デジタル値ＤＣが１００から８０
へと同じ比率で変化し、除算器５０にて得られるデジタ
ル値ＤＤは一定値（０．５）となる。
【００４１】なお、デジタル値ＤＣは、発振器１６の発
振周波数，換言すれば磁気抵抗素子１２が検出した磁気
強度に応じて変化するため、磁気変化が生じた場合に
は、デジタル値ＤＢとは逆方向に変化する。従って、実
際に磁気変化が生じた場合には、デジタル値ＤＤはその
変化量に応じて大きく変化することになる。
振周波数，換言すれば磁気抵抗素子１２が検出した磁気
強度に応じて変化するため、磁気変化が生じた場合に
は、デジタル値ＤＢとは逆方向に変化する。従って、実
際に磁気変化が生じた場合には、デジタル値ＤＤはその
変化量に応じて大きく変化することになる。
【００４２】次に、上記のように除算器５０にて生成さ
れたデジタル値ＤＤは、デジタルコンパレータ６０に入
力される。デジタルコンパレータ６０は、図４に示す如
く、除算器５０から入力されたデジタル値ＤＤをラッチ
するラッチ回路６２と、このラッチ回路６２にてラッチ
された前回のデジタル値ＤＤ(i-1) と除算器５０から今
回入力されたデジタル値ＤＤとの差を演算する減算器６
４と、減算器６４による演算結果が正か負かを表わす符
号ビット信号を、磁気変化を表わす検出信号ＰＯとして
出力するフリップフロップ回路６６とから構成されてい
る。
れたデジタル値ＤＤは、デジタルコンパレータ６０に入
力される。デジタルコンパレータ６０は、図４に示す如
く、除算器５０から入力されたデジタル値ＤＤをラッチ
するラッチ回路６２と、このラッチ回路６２にてラッチ
された前回のデジタル値ＤＤ(i-1) と除算器５０から今
回入力されたデジタル値ＤＤとの差を演算する減算器６
４と、減算器６４による演算結果が正か負かを表わす符
号ビット信号を、磁気変化を表わす検出信号ＰＯとして
出力するフリップフロップ回路６６とから構成されてい
る。
【００４３】つまり、このデジタルコンパレータ６０で
は、除算器５０にて得られた磁気の変化に応じて変化す
るデジタル値ＤＤが増加から減少及び減少から増加へと
転じるときにレベルが反転する信号を生成して、これを
検出信号ＰＯとして外部に出力するのである。従って、
本実施例の物理量検出装置によれば、この検出信号ＰＯ
から磁気変化を検出することができるようになる。
は、除算器５０にて得られた磁気の変化に応じて変化す
るデジタル値ＤＤが増加から減少及び減少から増加へと
転じるときにレベルが反転する信号を生成して、これを
検出信号ＰＯとして外部に出力するのである。従って、
本実施例の物理量検出装置によれば、この検出信号ＰＯ
から磁気変化を検出することができるようになる。
【００４４】以上説明したように、本実施例の物理量検
出装置においては、発振器１６，１８から磁気変化に応
じて変化する発振周波数のパルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢを
出力させ、カウンタ・デコーダ部２２，２４により、こ
れら各パルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢに基づき、磁気変化に
対応して位相差が変化するパルス信号ＰＡ，ＰＣとパル
ス信号ＰＡに対して発振器１６の発振周波数に応じた所
定の位相差を有するパルス信号ＰＢとを生成し、パルス
位相差符号化回路３０にて、パルス信号ＰＡとＰＣとの
位相差、及びパルス信号ＰＡとＰＢとの位相差を夫々数
値化して、除算器５０により、その数値化されたデジタ
ル値ＤＣ，ＤＢの比率ＤＤ（＝ＤＢ／ＤＣ）を求め、こ
の値ＤＤから磁気変化を検出するようにされている。
出装置においては、発振器１６，１８から磁気変化に応
じて変化する発振周波数のパルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢを
出力させ、カウンタ・デコーダ部２２，２４により、こ
れら各パルス信号ＣＫＡ，ＣＫＢに基づき、磁気変化に
対応して位相差が変化するパルス信号ＰＡ，ＰＣとパル
ス信号ＰＡに対して発振器１６の発振周波数に応じた所
定の位相差を有するパルス信号ＰＢとを生成し、パルス
位相差符号化回路３０にて、パルス信号ＰＡとＰＣとの
位相差、及びパルス信号ＰＡとＰＢとの位相差を夫々数
値化して、除算器５０により、その数値化されたデジタ
ル値ＤＣ，ＤＢの比率ＤＤ（＝ＤＢ／ＤＣ）を求め、こ
の値ＤＤから磁気変化を検出するようにされている。
【００４５】従って、本実施例の物理量検出装置によれ
ば、図６に示す如く、電源電圧ＶDD等の変動によって、
パルス位相差符号化回路３０によって数値化されたデジ
タル値ＤＢ，ＤＣが変動しても、除算器５０によって得
られるデジタル値ＤＤが変動することはなく、デジタル
コンパレータ６０から出力される磁気変化を表わす検出
信号ＰＯが変化することはない。
ば、図６に示す如く、電源電圧ＶDD等の変動によって、
パルス位相差符号化回路３０によって数値化されたデジ
タル値ＤＢ，ＤＣが変動しても、除算器５０によって得
られるデジタル値ＤＤが変動することはなく、デジタル
コンパレータ６０から出力される磁気変化を表わす検出
信号ＰＯが変化することはない。
【００４６】つまり、磁気変化が生じた場合には、パル
ス信号ＰＡとパルス信号ＰＢとの位相差を表わすデジタ
ル値ＤＢが変化するため、デジタルコンパレータ６０に
このデジタル値ＤＢをそのまま入力すれば、磁気変化に
応じて変化する検出信号ＰＯを得ることができる。とこ
ろが、このようにすると、電源電圧ＶDD等の装置の動作
条件が変動したとき、その変動に応じてデジタル値ＤＢ
も変化するため、デジタルコンパレータ６０から出力さ
れる検出信号ＰＯは、図６に点線で示すように、実際に
は磁気変化が生じていないにもかかわらず変化するよう
になり、この検出信号ＰＯを受ける制御装置は、制御対
象を誤制御してしまうことになる。しかし、本実施例で
は、電源電圧ＶDD等の装置の動作条件が変動しても、デ
ジタルコンパレータ６０から出力される検出信号ＰＯは
変化せず、実際に磁気変化が生じた場合にだけ、検出信
号ＰＯが変化するようになるため、制御装置側で磁気変
化を正確に検知して制御対象を制御することができ、当
該装置の動作条件の変化による誤制御を確実に防止する
ことができるようになる。
ス信号ＰＡとパルス信号ＰＢとの位相差を表わすデジタ
ル値ＤＢが変化するため、デジタルコンパレータ６０に
このデジタル値ＤＢをそのまま入力すれば、磁気変化に
応じて変化する検出信号ＰＯを得ることができる。とこ
ろが、このようにすると、電源電圧ＶDD等の装置の動作
条件が変動したとき、その変動に応じてデジタル値ＤＢ
も変化するため、デジタルコンパレータ６０から出力さ
れる検出信号ＰＯは、図６に点線で示すように、実際に
は磁気変化が生じていないにもかかわらず変化するよう
になり、この検出信号ＰＯを受ける制御装置は、制御対
象を誤制御してしまうことになる。しかし、本実施例で
は、電源電圧ＶDD等の装置の動作条件が変動しても、デ
ジタルコンパレータ６０から出力される検出信号ＰＯは
変化せず、実際に磁気変化が生じた場合にだけ、検出信
号ＰＯが変化するようになるため、制御装置側で磁気変
化を正確に検知して制御対象を制御することができ、当
該装置の動作条件の変化による誤制御を確実に防止する
ことができるようになる。
【００４７】以上、本発明の一実施例について説明した
が、本発明はこうした物理量検出装置だけでなく、上述
のパルス位相差符号化回路３０のように２個のパルス信
号の位相差を数値化する時間Ａ／Ｄ変換装置や、入力信
号の電圧レベルを数値化するＡ／Ｄ変換装置にもそのま
ま適用することができる。
が、本発明はこうした物理量検出装置だけでなく、上述
のパルス位相差符号化回路３０のように２個のパルス信
号の位相差を数値化する時間Ａ／Ｄ変換装置や、入力信
号の電圧レベルを数値化するＡ／Ｄ変換装置にもそのま
ま適用することができる。
【００４８】また上記実施例では、物理量検出装置が磁
気変化を検出するものであるとして説明したが、上記実
施例の検出回路を使用すれば、検出対象となる物理量が
磁気以外のものであっても、上記実施例と同様に検出す
ることができる。例えば、磁気抵抗素子１２，１４の代
わりに歪ゲージ抵抗線を使用すれば、物理量として歪を
検出することができる。
気変化を検出するものであるとして説明したが、上記実
施例の検出回路を使用すれば、検出対象となる物理量が
磁気以外のものであっても、上記実施例と同様に検出す
ることができる。例えば、磁気抵抗素子１２，１４の代
わりに歪ゲージ抵抗線を使用すれば、物理量として歪を
検出することができる。
【図１】実施例の物理量検出装置全体の構成を表わすブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】実施例のカウンタ・デコーダ部２２の構成を表
わすブロック図である。
わすブロック図である。
【図３】実施例のパルス位相差符号化回路の構成を表わ
すブロック図である。
すブロック図である。
【図４】実施例のデジタルコンパレータの構成を表わす
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】実施例の物理量検出装置の動作を表わすタイム
チャートである。
チャートである。
【図６】実施例の物理量検出装置におけるデジタル値Ｄ
Ｂの補正動作を表わすタイムチャートである。
Ｂの補正動作を表わすタイムチャートである。
１２，１４…磁気抵抗素子 １６，１８…発振器 ２２，２４…カウンタ・デコーダ部 ２６…ＯＲ回路 ３０…パルス位相差符号化回路 ３２…リング遅延パ
ルス発生回路 ３４…カウンタ ３６…パルスセレクタ ３８…エ
ンコーダ ４０…レジスタ回路 ５０…除算器 ６０…デジタ
ルコンパレータ
ルス発生回路 ３４…カウンタ ３６…パルスセレクタ ３８…エ
ンコーダ ４０…レジスタ回路 ５０…除算器 ６０…デジタ
ルコンパレータ
Claims (3)
- 【請求項１】 入力信号を数値化するＡ／Ｄ変換手段
と、 該Ａ／Ｄ変換手段に、数値化すべき数値化信号と共に、
所定の基準信号を入力し、これら各信号を夫々数値化さ
せる信号入力手段と、 上記Ａ／Ｄ変換手段にて数値化された上記数値化信号及
び上記基準信号の値を夫々読み込み、上記数値化信号の
上記基準信号に対する比率を演算して、該演算結果を上
記数値化信号の真の値として出力する演算手段と、 を備えたことを特徴とするＡ／Ｄ変換装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＡ／Ｄ変換装置におい
て、 上記Ａ／Ｄ変換手段として、２個のパルス信号の位相差
を数値化する時間Ａ／Ｄ変換手段を備え、 上記信号入力手段が、該時間Ａ／Ｄ変換手段に対して、
数値化すべき位相差を有する２個の数値化パルスと、該
２個の数値化パルスの内の一方の数値化パルスに対して
所定の位相差を有する基準パルスとを夫々入力し、上記
２個の数値化パルスの位相差、及び上記所定の位相差を
有する数値化パルスと基準パルスとの位相差、を夫々数
値化させることを特徴とするＡ／Ｄ変換装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載のＡ／Ｄ変換装置を備え
た物理量検出装置であって、 検出対象の物理量を検出する検出素子と、 該検出素子による物理量の検出値に応じて位相差が変化
する２個のパルス信号を上記数値化パルスとして生成す
る数値化パルス生成手段と、 該数値化パルス生成手段と同一条件で動作し、該数値化
パルス生成信号が生成した２個の数値化パルスの内の一
方の数値化パルスに対して所定の位相差を有する基準パ
ルスを生成する基準パルス生成手段と、 を備えたことを特徴とする物理量検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29656593A JP3203909B2 (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | Ａ／ｄ変換装置 |
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