JPH11298317A - 計数装置、静電容量型センサ及び周波数差測定装置 - Google Patents

計数装置、静電容量型センサ及び周波数差測定装置

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JPH11298317A
JPH11298317A JP10102676A JP10267698A JPH11298317A JP H11298317 A JPH11298317 A JP H11298317A JP 10102676 A JP10102676 A JP 10102676A JP 10267698 A JP10267698 A JP 10267698A JP H11298317 A JPH11298317 A JP H11298317A
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JP
Japan
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counter
counting
gate signal
circuit
oscillation
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JP10102676A
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English (en)
Inventor
Shinsuke Asami
真介 浅見
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 計数装置において、入力パルス数の周波数を
2倍にしたり、ゲート時間を2倍にすることなく2倍の
精度を得ること。 【解決手段】 発振出力をカウンタ12によりパルスの
立上り又は立下り毎に2づつ計数する。ゲート信号の立
上り,立下り時点の発振出力の論理値によって、ゲート
期間内の立上り及び立下りの回数に等しくなるように、
0又は±1の補正信号を生成する。そしてカウンタ12
の計数値を補正回路13で補正する。こうすれば発振周
波数やゲート時間を2倍にすることなく、2倍の精度で
計数することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は入力されたパルス数
を計数する計数装置及びこれを用いた静電容量型センサ
と周波数差測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8は一般的な計数回路の一例を示して
いる。図8においてCR発振器101は抵抗R0,コン
デンサC0が接続され、その時定数で定まる発振周波数
で発振する発振器であり、その波形整形出力がカウンタ
102に加えられる。カウンタ102にはゲート信号発
生回路103から一定時間幅のゲート信号が与えられて
おり、ゲート信号がHレベルのときに発振出力を計数し
て出力回路104より出力するものである。このような
計数回路は容量の変化を測定する容量測定装置等に用い
られる。このような計数装置では、カウンタ102は発
振パルスの立上り(又は立下り)毎に計数値が1づつ歩
進する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような計数装置や
容量測定装置において容量の変化の精度を2倍向上させ
るためには、CR発振器の発振周波数を2倍とするか、
又はゲート信号のゲート開放時間を2倍とする必要があ
る。しかし周波数を2倍にすると回路全体の消費電流が
増加するという欠点がある。又ゲート開放の時間を2倍
とすれば、測定結果を得るまでの時間が2倍になってし
まうという問題点があった。
【0004】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであって、発振周波数や測定時間を変化
させることなく2倍の測定精度を得るようにした計数装
置、及びこれを用いた静電容量型センサと周波数差測定
装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、入力されるパルス数を計数する計数装置であって、
所定時間幅のゲート信号を発生するゲート信号発生回路
と、前記ゲート信号発生回路から出力されるゲート信号
が所定の論理値の間に入力パルスの立上り又は立下りを
2づつ計数するカウンタと、前記カウンタの計数開始及
び計数終了の時点での前記入力パルスの論理値によって
ゲート期間内の入力パルスの立上り及び立下り数に等し
くなるように前記カウンタの計数値を補正する補正手段
と、を有することを特徴とするものである。
【0006】本願の請求項2の発明は、コンデンサの静
電容量により発振周波数を変化させる発振回路と、所定
時間幅のゲート信号を発生するゲート信号発生回路と、
前記ゲート信号発生回路から出力されるゲート信号が所
定の論理値の間に前記発振回路より出力される入力パル
スの立上り又は立下りを2づつ計数するカウンタと、前
記カウンタの計数開始及び計数終了の時点での前記入力
パルスの論理値によってゲート期間内の入力パルスの立
上り及び立下り数に等しくなるように前記カウンタの計
数値を補正する補正手段と、を有することを特徴とする
ものである。
【0007】本願の請求項3の発明は、第1,第2の発
振パルスの周波数差を測定する周波数差測定装置であっ
て、前記第1の発振パルスの立上り又は立下り毎に2づ
つアップカウントし、前記第2の発振パルスの立上り又
は立下り毎に2づつダウンカウントするアップダウンカ
ウンタと、前記アップダウンカウンタのアップカウント
の計数開始及び終了の時点での前記第1の発振パルスの
論理値によってアップカウントのゲート期間内の入力パ
ルスの立上り及び立下り数に等しくなるように前記アッ
プダウンカウンタのアップカウントの計数値を補正する
と共に、前記アップダウンカウンタのダウンカウントの
計数開始及び終了の時点での前記第2の発振パルスの論
理値によってダウンカウントのゲート期間内の入力パル
スの立上り及び立下り数に等しくなるように前記アップ
ダウンカウンタのダウンカウントの計数値を補正する補
正手段と、を有することを特徴とするものである。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
による計数装置及びこれを用いた静電容量型センサを示
している。CR発振器11はコンデンサC1及び抵抗R
1が接続され、その時定数に基づく発振周波数で発振す
る発振器であり、その発振出力は波形整形されてカウン
タ12及び補正回路13に与えられる。又カウンタ1
2,補正回路13にはゲート信号発生回路14からのゲ
ート信号が与えられている。カウンタ12はゲート信号
発生回路14のゲート信号が所定の論理値、例えばHレ
ベルのときにCR発振器11の発振出力の立上り毎に+
2を計数するカウンタであり、初期値は0としてもよ
く、又所定の設定値を設定できるプリセットカウンタを
用いてもよい。カウンタ12の計数値は補正手段である
補正回路13に与えられる。
【0009】補正回路13は図2にそのブロック図を示
すように、発振パルスを入力とするラッチ回路21,2
2が設けられる。ゲート信号はラッチ回路21,22に
ラッチのタイミングの信号として直接又はインバータ2
3を介して与えられる。ラッチ回路21はゲート信号の
立上り時点、ラッチ回路22はゲート信号の立下り時点
のレベルを保持するもので、それらの出力は組合せ回路
24に与えられる。組合せ回路24は2つのラッチ回路
21,22の出力の論理レベルによってカウンタ12の
計数値を補正するための補正信号を出力するものであ
り、補正信号は加減算回路25に与えられる。加減算回
路25はカウンタ12の計数値から補正値を加算又は減
算することによって補正するものである。この補正値は
表1に真理値表を示すように、計数値がゲート期間内の
立上り及び立下り数と等しくなるように、2つのラッチ
回路の出力によって0又は±1の補正値となる。
【表1】
【0010】次にこの実施の形態の動作についてタイム
チャートを用いて説明する。図3(a)はCR発振器1
1より出力される波形整形された発振信号を示してお
り、図3(b)はゲート信号発生回路14が発生したゲ
ート信号とする。カウンタ12はゲート信号が例えばH
レベルの間に発振パルスを計数し、その立上り毎に+2
計数するため、図3(a),(b)に示す例では計数開
始時刻t1 に計数値を「0」とすると、計数の終了時刻
2 にカウンタ12は「14」を計数する。ここでもし
ゲート信号の時間幅を同一としてCR発振器11の発振
周波数を2倍とすると、図3(c)に示す発振パルスが
得られる。従ってカウンタが単に立上り毎に+1計数す
るならば「15」が計数されることとなる。この例では
ゲート信号の立上りの時点t1 では図3(a)に示す発
振パルスはHレベル、ゲート信号の立下り時点では発振
パルスはLレベルとなっている。従って表1に示す真理
値表に従って補正値として+1が得られ、前述したカウ
ンタ12の計数値「14」に1を加減算回路25で加え
ることによって計数値「15」が得られる。こうすれば
発振の周波数を図3(c)に示すように2倍とした場合
と同一の精度の測定結果が得られる。
【0011】同様にして2つのラッチ回路21,22の
出力が同一、即ちゲート信号の立上りと立下りの時点が
同一の論理レベルであれば、カウンタ12の計数値をそ
のまま補正することなく出力する。又図3(d)に示す
ように、図3(a)と逆、即ちゲート信号の立上り時点
1 で発振パルスがLレベル、ゲート信号の立下り時点
2 で発振パルスがHレベルとなる場合には、立上り毎
に2だけ計数するため、カウンタ12の計数値は時刻t
2 に「16」となる。従って組合せ回路24から−1を
補正信号として加減算回路25に出力することにより、
計数値「15」が得られることなる。このようにクロッ
ク周波数を2倍にすることなく2倍の測定精度が得られ
ることとなる。尚この実施の形態ではCR発振器のコン
デンサの容量を計数値として出力する計数装置について
説明しているが、種々の入力パルスを計数する計数装置
に適用することができることはいうまでもない。
【0012】次に本発明の第2の実施の形態について説
明する。図4は第2の実施の形態による容量変化測定回
路の構成を示すブロック図である。本図に示すようにC
R発振器31は抵抗R2とコンデンサC2が接続され
る。コンデンサC2は容量変化測定の対象となるコンデ
ンサとする。CR発振器31はこれらのCRの時定数に
より発振し、その波形整形出力を発振パルスAとしてア
ップダウンカウンタ33,補正回路34に与えられる。
一方CR発振器32は抵抗R3,コンデンサC3が接続
されており、これらの時定数で発振する発振器である。
抵抗R2,R3は同一の抵抗値,特性を有する抵抗素子
とし、コンデンサC2,C3もほぼ同一の容量を有する
ものとする。又CR発振器31,32は同一の回路構成
とし、印加電圧や設置される環境も同一としておく。こ
うすればCR発振器31のコンデンサC2の容量変化分
のみが発振周波数の相違として得られることとなる。そ
してCR発振器32の波形整形出力は発振パルスBとし
てアップダウンカウンタ33と補正手段である補正回路
34に加えられる。又シーケンサ35には基準クロック
が入力される。シーケンサ35はCR発振器31と32
の発振を切換え、アップダウンカウンタ33のアップカ
ウント及びダウンカウントを切換える切換信号を発生す
ると共に、アップダウンカウンタ33の計数時にゲート
信号を発生するものである。ゲート信号は切換信号と共
にアップダウンカウンタ33,補正回路34に加えられ
る。アップダウンカウンタ33はアップカウント時は入
力パルスの立上りで+2づつ計数し、ダウンカウント時
は入力パルスの立下りで−2づつ計数するものである。
補正回路34はアップカウントのゲート期間内の入力パ
ルスの立上り及び立下り数に等しくなるようにアップカ
ウントの補正を前述した表1に基づいて行い、又ダウン
カウントのゲート期間内の入力パルスの立上り及び立下
り数に等しくなるようにダウンカウントの補正を表2に
基づいて行うことによって、アップダウンカウンタの計
数値を補正するものである。
【表2】
【0013】次にこの補正回路34の詳細な構成につい
て図5を用いて説明する。図2に示す補正回路13と同
様に、CR発振器31の発振パルスAはラッチ回路4
1,42に与えられ、CR発振器32の発振パルスBは
ラッチ回路43,44に与えられる。又切換回路45は
ゲート信号を切換信号に応じて切換えるものであり、切
換信号がHレベルのときはゲート信号はラッチ回路41
及びインバータ46を介してラッチ回路42に与えられ
る。又切換信号がLレベルのときにはゲート信号に応じ
てラッチ回路43及びインバータ47を介してラッチ回
路44に与えられる。組合せ回路48は表1に基づく補
正値を出力するものであり、組合せ回路49は表2に基
づく補正値を出力するものである。これらの2つの出力
値は加減算回路50に与えられ、双方の補正信号の加減
算が行われ、更にその補正値が加減算回路51に与えら
れる。加減算回路51にはアップダウンカウンタ33か
らの計数値が入力されており、この計数値を±2の範囲
内で補正することによって補正された値として出力する
ものである。
【0014】次にこの実施の形態の動作についてタイム
チャートを用いて説明する。図6(a)はシーケンサ3
5から接続される切換信号を示しており、切換信号のH
レベルではCR発振器31が図5(b)に示すように発
振し、切換信号がLレベルではCR発振器32が図5
(c)に示すように発振する。この切換信号はアップカ
ウントとダウンカウントとの切換信号ともなっている。
さて時刻t1 にゲート信号がHレベルとなると、その立
上りのレベルがラッチ回路41に保持され、時刻t2
ゲート信号が立下ると、その立下りのレベルがラッチ回
路42に保持される。アップダウンカウンタ33はこの
間のCR発振器31の発振パルスAをその立上り毎に+
2計数するため、図6の場合には時刻t2 の時点では計
数値は「10」となる。この場合には組合せ回路48は
前述した表1に示すように補正結果を出力する。次いで
図6(a)に示す切換信号がLレベルとなるとCR発振
器32が発振を開始し、時刻t3 〜t4 の間にアップダ
ウンカウンタ33がダウンカウントを行う。この間の立
上り数を5とすると、アップダウンカウンタは立上り毎
に−2を計数するため、時刻t4 時点でのアップダウン
カウンタ33の計数値は「0」となる。又時刻t3 に発
振回路の出力レベルがラッチ回路43に保持され、時刻
4 に発振出力のレベルがラッチ回路44に保持され
る。組合せ回路49では前述した表2に示す補正値を出
力する。
【0015】この場合には時刻t1 ,t2 及びt3 ,t
4 がいずれもHレベルの入力であるため、補正回路34
での補正すべき計数値、即ち加減算回路50の出力は0
であり、計数値として加減算回路51からも0がそのま
ま出力される。こうすれば前述したようにCR発振器の
発振周波数を2倍にすることなく2倍の精度でCR発振
器のコンデンサC2の容量変化を測定することができ
る。又CR発振器32はCR発振器31と同一の環境、
即ち周囲温度や湿度,電圧の変化が等しいものとする
と、その変化分はCR発振器1と2とで共通しており、
これらの変化分を相殺し、CR発振器1のコンデンサC
2に容量変化があればその変化分のみが出力として得ら
れることになる。
【0016】図7はこのような容量変化測定回路を圧力
センサとして用いた場合の圧力センサの一例を示す立面
図及び断面図である。本図に示すように単結晶シリコン
61に薄いダイヤフラム62及びその中央にメサ部63
を形成し、ガラス基板64のダイヤフラム面側に電極6
5を形成し、電極とダイヤフラムの間の静電容量を前述
したコンデンサC2としてCR発振器31を構成する。
このような容量変化型圧力センサでは、外部に加わる圧
力変化によってダイヤフラムの中央部がわずかに変位
し、その変位を容量変化として検出する。こうすれば圧
力変化を容量変化として測定することができる。圧力セ
ンサ自体は周囲温度や湿度の影響を受け易いが、2つの
発振器を用いることによって容量変化分のみを計数値の
変化として計数することができる。
【0017】尚前述した第2の実施の形態では容量変化
を測定する容量変化測定装置について説明しており、図
7では圧力センサに適用した例を示しているが、本発明
は2つの周波数の差を検出する周波数差検出回路に適用
することができることはいうまでもない。
【0018】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、計数装置を構成する際に測定時間や発振周波数を2
倍にすることなく、周波数やゲート時間を2倍にしたと
同一の精度で計数値を得ることができる。又請求項2の
発明では、この計数装置を静電容量型センサに適用する
ことにより静電容量を2倍の精度で検出することができ
る。又請求項3の発明では、2つの入力パルスを夫々2
づつアップカウント及びダウンカウントすることによっ
て、2つの入力パルスの周波数差を単純にアップダウン
カウントする場合に比べて2倍の精度で測定することが
できるという効果が得られる。そしていずれの場合にも
測定時間が長くなることはなく、消費電力も大きくする
ことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による計数装置の構
成を示すブロック図である。
【図2】本実施の形態による補正回路の構成を示すブロ
ック図である。
【図3】本の実施の形態の動作を示すタイムチャートで
ある。
【図4】本発明の第2の実施の形態による容量変化測定
装置の構成を示すブロック図である。
【図5】本実施の形態による補正回路の構成を示すブロ
ック図である。
【図6】本の実施の形態の動作を示すタイムチャートで
ある。
【図7】本実施の形態による計数装置に適用される容量
変化型圧力センサの一例を示す立面図及び断面図であ
る。
【図8】従来の計数装置の一例を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
11,31,32 CR発振器 12 カウンタ 13,34 補正回路 21,22,41,42,43,44 ラッチ回路 23,46,47 インバータ 24,48,49 組合せ回路 25,50,51 加減算回路 33 アップダウンカウンタ 36 シーケンサ 45 切換回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力されるパルス数を計数する計数装置
    であって、 所定時間幅のゲート信号を発生するゲート信号発生回路
    と、 前記ゲート信号発生回路から出力されるゲート信号が所
    定の論理値の間に入力パルスの立上り又は立下りを2づ
    つ計数するカウンタと、 前記カウンタの計数開始及び計数終了の時点での前記入
    力パルスの論理値によってゲート期間内の入力パルスの
    立上り及び立下り数に等しくなるように前記カウンタの
    計数値を補正する補正手段と、を有することを特徴とす
    る計数装置。
  2. 【請求項2】 コンデンサの静電容量により発振周波数
    を変化させる発振回路と、 所定時間幅のゲート信号を発生するゲート信号発生回路
    と、 前記ゲート信号発生回路から出力されるゲート信号が所
    定の論理値の間に前記発振回路より出力される入力パル
    スの立上り又は立下りを2づつ計数するカウンタと、 前記カウンタの計数開始及び計数終了の時点での前記入
    力パルスの論理値によってゲート期間内の入力パルスの
    立上り及び立下り数に等しくなるように前記カウンタの
    計数値を補正する補正手段と、を有することを特徴とす
    る静電容量型センサ。
  3. 【請求項3】 第1,第2の発振パルスの周波数差を測
    定する周波数差測定装置であって、 前記第1の発振パルスの立上り又は立下り毎に2づつア
    ップカウントし、前記第2の発振パルスの立上り又は立
    下り毎に2づつダウンカウントするアップダウンカウン
    タと、 前記アップダウンカウンタのアップカウントの計数開始
    及び終了の時点での前記第1の発振パルスの論理値によ
    ってアップカウントのゲート期間内の入力パルスの立上
    り及び立下り数に等しくなるように前記アップダウンカ
    ウンタのアップカウントの計数値を補正すると共に、前
    記アップダウンカウンタのダウンカウントの計数開始及
    び終了の時点での前記第2の発振パルスの論理値によっ
    てダウンカウントのゲート期間内の入力パルスの立上り
    及び立下り数に等しくなるように前記アップダウンカウ
    ンタのダウンカウントの計数値を補正する補正手段と、
    を有することを特徴とする周波数差測定装置。
JP10102676A 1998-04-14 1998-04-14 計数装置、静電容量型センサ及び周波数差測定装置 Pending JPH11298317A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100859669B1 (ko) 2006-11-08 2008-09-23 전자부품연구원 터치센서
CN107782345A (zh) * 2017-10-24 2018-03-09 重庆大学 一种光电传感器多参数检测方法

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KR100859669B1 (ko) 2006-11-08 2008-09-23 전자부품연구원 터치센서
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