JPH071492B2 - Memory device malfunction detection method - Google Patents

Memory device malfunction detection method

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JPH071492B2
JPH071492B2 JP60004047A JP404785A JPH071492B2 JP H071492 B2 JPH071492 B2 JP H071492B2 JP 60004047 A JP60004047 A JP 60004047A JP 404785 A JP404785 A JP 404785A JP H071492 B2 JPH071492 B2 JP H071492B2
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storage
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は情報処理装置における記憶装置の誤動作検出方
式,特に複数の記憶装置にアクセスする場合の誤動作検
出方式に関する。
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a malfunction detection method for a storage device in an information processing apparatus, and more particularly to a malfunction detection method for accessing a plurality of storage devices.

〔従来技術〕[Prior art]

従来,この種の記憶装置に対してアクセスする場合,記
憶装置の誤動作を検出する方式としては,記憶装置から
のエラー応答信号を受信を受信することによって該記憶
装置の誤動作を認識するという方法が一般に採用されて
いる。しかし,この方式では,記憶装置内で誤動作が検
出された場合にはその記憶装置の誤動作を認識すること
ができるが,記憶装置内で誤動作が検出されずに記憶装
置から応答信号が返されなかったり,あるいは不正に応
答信号が返されたりした場合には,アクセスした側の装
置の誤動作として検出されてしまう。そのために,記憶
装置の誤動作であることが究明されるまでに多大の時間
を要するという保守上の欠陥があった。
Conventionally, when accessing a storage device of this type, as a method of detecting a malfunction of the storage device, there is a method of recognizing the malfunction of the storage device by receiving an error response signal from the storage device. Generally adopted. However, with this method, when a malfunction is detected in the storage device, the malfunction of the storage device can be recognized, but no malfunction is detected in the storage device and no response signal is returned from the storage device. Or, if a response signal is returned illegally, it will be detected as a malfunction of the device on the accessing side. Therefore, there is a maintenance defect that it takes a lot of time until it is determined that the storage device is malfunctioning.

〔発明の目的〕[Object of the Invention]

本発明の目的は,記憶装置のアクセス時間を固定時間と
し,記憶装置に対して送出したアクセス要求信号からハ
ミング符号の検査ビットを生成し,該検査ビットを記憶
装置から応答信号が返されるまで保持しておき,該保持
ビットと前記応答信号との照合により不正な応答信号の
有無を検査することにより,不正な応答信号があった場
合にはどの記憶装置からの応答信号であるかまで判別す
ることのできる記憶装置の誤動作検出方式を提供するこ
とにある。
An object of the present invention is to set a storage device access time as a fixed time, generate a check bit of a Hamming code from an access request signal sent to the storage device, and hold the check bit until a response signal is returned from the storage device. Then, by checking the presence or absence of an illegal response signal by collating the held bit with the response signal, it is possible to determine which memory device the response signal is from when the illegal response signal is present. Another object of the present invention is to provide a malfunction detection method for a storage device.

〔発明の構成〕[Structure of Invention]

本発明の記憶装置の誤動作検出方式は、予め設定された
同一のアクセス時間でアクセスされる複数の記憶装置
と、上記複数の記憶装置のそれぞれに対してアクセス情
報を送出し、上記アクセス時間経過後上記複数の記憶装
置のそれぞれから上記アクセス情報に対応する応答情報
を受信する演算処理装置と、上記記憶装置のアクセス時
間を供給する手段と、上記演算処理装置から上記複数の
記憶装置にそれぞれ送出される上記アクセス情報に含ま
れる要求信号を検査用コードに縮退させる手段と、上記
縮退された検査用コードを上記アクセス時間により決定
される期間保持する手段と、上記保持手段から上記アク
セス時間経過後送出された上記検査用コードに基づい
て、上記複数の記憶装置のそれぞれから出力される上記
アクセス情報に対応する上記応答情報に含まれる応答信
号をチェックするエラー検出手段とを備えている。
A malfunction detection method for a storage device according to the present invention is such that access information is sent to a plurality of storage devices accessed at the same preset access time and each of the plurality of storage devices, and after the access time elapses. An arithmetic processing unit that receives response information corresponding to the access information from each of the plurality of storage devices, a unit that supplies an access time of the storage unit, and the processing unit sends the access time to the plurality of storage devices. Means for degenerating the request signal included in the access information into an inspection code, means for retaining the degenerated inspection code for a period determined by the access time, and transmission from the retaining means after the access time elapses. It corresponds to the access information output from each of the plurality of storage devices based on the inspection code obtained. And a error detection means for checking the response signal included in the response information.

〔発明の実施例〕Example of Invention

次に,本発明による誤動作検出方式について図面を参照
して詳細に説明する。
Next, a malfunction detection method according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

本発明の一実施例を示す第1図において,演算処理装置
1はアクセスパス101−1ないし101−16を介して記憶装
置2−1ないし2−16にアクセス情報を送出する。アク
セス情報には要求信号,動作指示信号,アドレス,書込
みデータが含まれる。上記記憶装置2−1ないし2−16
は全て同一のアクセス時間で動作を完了する。したがっ
て,これ等の記憶装置はアクセス要求を受信すると,該
アクセス時間後にアクセスパス102−1ないし102−16を
介して上記演算処理装置1に応答情報を送出する。応答
情報には応答信号,動作信号,読出しデータが含まれ
る。ECG回路3は,アクセスパス101−1ないし101−16
を介してそれぞれに要求信号が供給されると,該要求信
号に対するハミング符号の検査ビットを生成する。生成
された検査ビットは結線103により記憶回路4に供給さ
れる。記憶回路4は結線103により供給される前記検査
ビットを格納する回路であり,その書込みアドレスは結
線107により,また読出しアドレスは結線109により供給
される。読み出されたデータは結線104によりエラー検
出回路5に供給される。
In FIG. 1 showing an embodiment of the present invention, the arithmetic processing unit 1 sends access information to the storage units 2-1 to 2-16 via the access paths 101-1 to 101-16. The access information includes a request signal, operation instruction signal, address, and write data. The storage devices 2-1 to 2-16
All complete their operations in the same access time. Therefore, when these storage devices receive an access request, they send response information to the arithmetic processing unit 1 via the access paths 102-1 to 102-16 after the access time. The response information includes a response signal, an operation signal, and read data. The ECG circuit 3 has access paths 101-1 to 101-16.
When a request signal is supplied to each of the request signals via, the check bits of the Hamming code for the request signal are generated. The generated check bit is supplied to the memory circuit 4 via the connection 103. The memory circuit 4 is a circuit for storing the check bit supplied by the connection 103, and its write address is supplied by the connection 107 and its read address is supplied by the connection 109. The read data is supplied to the error detection circuit 5 via the connection 104.

エラー検出回路5には,アクセスパス102−1ないし102
−16内のそれぞれ応答信号と,結線104により記憶回路
4に格納されていた検査ビットとが供給される。ここ
で,不正な応答信号が検出され,不正な応答信号を送出
した記憶装置に対応したエラー信号が結線110−1ない
し110−16によりフリップフロップ11−1ないし11−16
に供給される。フリップフロップ11−1ないし11−16
は,結線110−1ないし110−16により供給されるエラー
信号を保持するエラーフラグとして役立てられる。
The error detection circuit 5 includes access paths 102-1 to 102.
The response signal in -16 and the check bit stored in the memory circuit 4 are supplied by the connection 104. Here, an incorrect response signal is detected, and an error signal corresponding to the storage device that has sent the incorrect response signal is output to the flip-flops 11-1 to 11-16 by the connections 110-1 to 110-16.
Is supplied to. Flip-flops 11-1 to 11-16
Serves as an error flag which holds the error signal provided by connections 110-1 through 110-16.

レジスタ6は記憶装置2−1ないし2−16のアクセス時
間を保持するレジスタであり,図示されていないシフト
パスによってのみ値が設定され,結線105により変換回
路7に供給される。変換回路7は本実施例では“1"を加
えることにより実現され,結線106により減算回路10に
供給される。アドレスレジスタ8は記憶回路4の書込み
アドレスを保持するレジスタであり,結線108により加
算回路9の出力が供給され,結線107により加算回路9,
減算回路10および記憶回路4に出力を供給する。加算回
路9はアドレスレジスタ8から結線107により供給され
る記憶回路44の書込みアドレス“1"を加える回路であ
り,結線108によりアドレスレジスタ8に供給される。
減算回路10は,結線107により供給される記憶回路4の
書込みアドレスから結線106により供給されるアクセス
時間情報を減じて記憶回路4の読出しアドレスを生成す
る回路であり,その出力は結線109により記憶回路4に
供給される。なお,本実施例におけるアクセス時間情報
は,レジスタ6に保持されているアクセス時間に変換回
路7で“1"を加えた値が供給されているが,このアクセ
ス時間情報の供給はレジスタに前記アクセス時間に“1"
を加えた値を保持することによっても実現できる。その
場合は変換回路7は省略できる。
The register 6 is a register for holding the access time of the storage devices 2-1 to 2-16, the value of which is set only by a shift path (not shown) and is supplied to the conversion circuit 7 by the connection 105. The conversion circuit 7 is realized by adding "1" in the present embodiment, and is supplied to the subtraction circuit 10 through the connection 106. The address register 8 is a register that holds the write address of the memory circuit 4, and the output of the adder circuit 9 is supplied by the connection 108, and the adder circuit 9, by the connection 107.
The output is supplied to the subtraction circuit 10 and the storage circuit 4. The adder circuit 9 is a circuit for adding the write address “1” of the memory circuit 44 supplied from the address register 8 via the connection 107, and is supplied to the address register 8 via the connection 108.
The subtraction circuit 10 is a circuit that generates the read address of the storage circuit 4 by subtracting the access time information supplied by the connection line 106 from the write address of the storage circuit 4 supplied by the connection line 107, and the output thereof is stored by the connection line 109. It is supplied to the circuit 4. As the access time information in this embodiment, the value obtained by adding "1" to the access time held in the register 6 by the conversion circuit 7 is supplied. “1” in time
It can also be realized by holding the value to which is added. In that case, the conversion circuit 7 can be omitted.

このように構成された実施例の動作について,第2図の
タイムチャートを参照して以下に説明する。この例で
は,記憶装置2−1ないし2−16のアクセス時間を20ク
ロックサイクルとする。したがって,レジスタ6には値
20が保持され,変換回路7により1が加えられて値21が
結線106により減算回路10に供給される。レジスタ6に
はシフトパスによって値がセットされ,以後そのセット
された値が保持されるために,結線106から減算回路10
に対しては常に値21が供給される。アドレスレジスタ8
の値が0であるタイミングaで演算処理装置1から記憶
装置2−1,2−2および2−3に対してアクセス要求A
があったとすると,アクセスパス101−1ないし101−16
の要求信号は順に1,1,1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0と
なる。この16ビットの要求信号を入力とし,ECG回路3に
おいてハミング符号の検査ビットが生成される。その生
成方法は,第3図に示すように,要求信号線201−1な
いし201−16から入力される要求信号の組合せにより排
他的論理和回路21−1〜21−6で生成される。なお,要
求信号線201−1ないし201−16は第1図における101−
1ないし101−16の一部である。上記の例に示すよう
に,この要求信号のうち201−1ないし201−3に1が入
力されると,103−1から1,103−2ないし103−6から0
が検査ビットとして出力される。出力された検査ビット
は,アドレスレジスタ8に保持されている値によって示
される記憶回路4の番地,すなわち0番地に格納され
る。
The operation of the embodiment thus configured will be described below with reference to the time chart of FIG. In this example, the access time of the storage devices 2-1 to 2-16 is 20 clock cycles. Therefore, register 6 has a value
20 is held, 1 is added by the conversion circuit 7, and the value 21 is supplied to the subtraction circuit 10 by the connection 106. A value is set in the register 6 by the shift path, and the set value is held thereafter.
Is always supplied with the value 21. Address register 8
Access timing A from the arithmetic processing unit 1 to the storage units 2-1, 2-2 and 2-3 at the timing a when the value of 0 is 0.
If there is, access paths 101-1 to 101-16
Request signals are 1,1,1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0 in order. The 16-bit request signal is input, and the ECG circuit 3 generates a check bit of the Hamming code. The generating method is, as shown in FIG. 3, generated by the exclusive OR circuits 21-1 to 21-6 by the combination of request signals input from the request signal lines 201-1 to 201-16. Request signal lines 201-1 to 201-16 are 101- in FIG.
1 to 101-16. As shown in the above example, when 1 is input to 201-1 to 201-3 of this request signal, 103-1 to 1,103-2 to 103-6 to 0 are input.
Is output as a check bit. The output check bit is stored in the address of the memory circuit 4 indicated by the value held in the address register 8, that is, the address 0.

上記のアクセス要求Aに対応した応答は,記憶装置2−
1ないし2−16がこのアクセス要求Aを受信した後,20
クロックサイクル後,すなわちタイミングaから21クロ
ックサイクル後のタイミングbにおいて,記憶装置2−
1ないし2−16から演算処理装置1に対して送出され
る。このタイミングbの発生はタイミングaの21クロッ
クサイクル後であるから,アドレスレジスタ8の値は毎
クロック1ずつ加えられ,21になっている。したがっ
て,記憶回路4の読出しアドレスは減算回路10によりア
ドレスレジスタ8に保持されている値21から変換回路7
の出力である値21を減じられて0になり,0番地に格納さ
れている内容,すなわちアクセス要求Aの要求信号の検
査ビットが読出されてエラー検出回路5に供給される。
一方,タイミングbで記憶装置2−1ないし2−16から
送出される応答信号もエラー検出回路5に供給される。
エラー検出回路5は,第4図に示すように構成されてお
り,アクセスパス102−1ないし102−16の内の応答信号
が信号線301−1ないし301−16により16ビット,記憶回
路4からの検査ビットが結線104−1ないし104−6によ
り6ビット供給される。この応答信号および検査ビット
の組合せにより排他的論理和(31−1〜31−6)がとら
れ,シンドローム303−1ないし303−6で6ビットが生
成される。この生成されたシンドロームを第5図のよう
にデコード回路32で解読することにより不正な応答信号
110−1ないし110−16を検出することができる。
The response corresponding to the access request A is stored in the storage device 2-
After 1 to 2-16 receive this access request A, 20
After the clock cycle, that is, at the timing b after 21 clock cycles from the timing a, the storage device 2-
It is sent to the arithmetic processing unit 1 from 1 to 2-16. Since the generation of the timing b is 21 clock cycles after the timing a, the value of the address register 8 is 21 by adding 1 every clock. Therefore, the read address of the storage circuit 4 is converted from the value 21 held in the address register 8 by the subtraction circuit 10 into the conversion circuit 7.
The output value of 21 is reduced to 0, and the content stored at address 0, that is, the check bit of the request signal of the access request A is read and supplied to the error detection circuit 5.
On the other hand, the response signal sent from the storage devices 2-1 to 2-16 at the timing b is also supplied to the error detection circuit 5.
The error detection circuit 5 is configured as shown in FIG. 4, and the response signal in the access paths 102-1 to 102-16 is 16 bits from the storage circuit 4 by the signal lines 301-1 to 301-16. 6 check bits are provided by connections 104-1 to 104-6. The exclusive OR (31-1 to 31-6) is taken by the combination of the response signal and the check bit, and 6 bits are generated in the syndromes 303-1 to 303-6. By decoding the generated syndrome with the decoding circuit 32 as shown in FIG.
110-1 to 110-16 can be detected.

いま,仮に上記のタイミングbで応答信号の内の301−
3が“0",すなわち,301−1ないし301−16が1,1,0,0,0,
0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0のように応答があったとする
と,シンドローム303−1ないし303−6は1,0,1,1,0,0
となる。したがって,第5図から301−3が不正である
ことがわかり,結果としてデコード回路32の出力110−
3が“1"になり,エラーフラグ11−3に“1"がセットさ
れる。また,たとえばタイミングbで応答信号の内の30
1−4が“1"となって応答があったとする。すなわち,30
1−1ないし301−16が1,1,1,1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,
0であったとすると,上記シンドローム303−1ないし30
3−6は1,0,1,0,1,0となり,第5図にしたがって301−
4が不正であることがわかり,110−4が“1"になってエ
ラーフラグ11−4に“1"がセットされる。
Now, suppose that at the above timing b, 301-
3 is “0”, that is, 301-1 to 301-16 are 1,1,0,0,0,
If there is a response such as 0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0, syndromes 303-1 to 303-6 are 1,0,1,1,0,0
Becomes Therefore, it can be seen from FIG. 5 that 301-3 is invalid, and as a result, the output 110-
3 becomes "1", and the error flag 11-3 is set to "1". Also, for example, at timing b, 30 of the response signals
It is assumed that 1-4 becomes "1" and there is a response. That is, 30
1-1 to 301-16 is 1,1,1,1,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,
If it is 0, the above syndromes 303-1 to 30-30
3-6 becomes 1,0,1,0,1,0, and 301-
4 is illegal, 110-4 becomes "1" and "1" is set in the error flag 11-4.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の説明により明らかなように,本発明によれば,記
憶装置に対する要求信号から生成されたハミング符号の
検査ビットを記憶装置から応答信号が返されるタイミン
グまで保持し,この保持情報と応答信号とから不正な応
答信号を検出できるように構成することにより,少ない
ハードウェア量で速やかに記憶装置の誤動作を検出する
ことができ,情報設定システムの信頼性を向上すべく得
られる効果は大きい。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the check bit of the Hamming code generated from the request signal to the storage device is held until the timing at which the response signal is returned from the storage device, and the holding information and the response signal By configuring so that an unauthorized response signal can be detected from, the malfunction of the storage device can be detected promptly with a small amount of hardware, and the effect obtained to improve the reliability of the information setting system is great.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明による実施例の構成を示すブロック図,
第2図は,第1図の実施例の動作を説明するためのタイ
ムチャート,第3図は,第1図の実施例におけるECG回
路の具体的な構成例を示す回路図,第4図は,第1図の
実施例におけるエラー検出回路の具体的な構成例を示す
回路図,第5図は,第4図のエラー検出回路において解
続される不正応答信号の状態を示す図である。 図において,1は演算処理装置,2−1〜2−16,4は記憶装
置,3はECG回路,5はエラー検出回路,6はレジスタ,7は変
換回路,8はアドレスレジスタ,9は加算回路,10は減算回
路,11−1〜11−16はエラーフラグ,21−1〜21−6,31−
1〜31−6は排他的論理和回路,32はデコード回路であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment according to the present invention,
FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of the embodiment of FIG. 1, FIG. 3 is a circuit diagram showing a concrete configuration example of the ECG circuit in the embodiment of FIG. 1, and FIG. FIG. 5 is a circuit diagram showing a concrete configuration example of the error detection circuit in the embodiment of FIG. 1, and FIG. 5 is a diagram showing a state of an illegal response signal which is interrupted in the error detection circuit of FIG. In the figure, 1 is an arithmetic processing unit, 2-1 to 2-16 and 4 are storage devices, 3 is an ECG circuit, 5 is an error detection circuit, 6 is a register, 7 is a conversion circuit, 8 is an address register, and 9 is an addition. Circuit, 10 is a subtraction circuit, 11-1 to 11-16 are error flags, 21-1 to 21-6, 31-
Reference numerals 1 to 31-6 are exclusive OR circuits, and 32 is a decoding circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】予め設定された同一のアクセス時間でアク
セスされる複数の記憶装置と、 前記複数の記憶装置のそれぞれに対してアクセス情報を
送出し、前記アクセス時間経過後該複数の記憶装置のそ
れぞれから該アクセス情報に対応する応答情報を受信す
る演算処理装置と、 前記記憶装置のアクセス時間を供給する手段と、 前記演算処理装置から前記複数の記憶装置にそれぞれ送
出される前記アクセス情報に含まれる要求信号を検査用
コードに縮退させる手段と、 前記縮退された検査用コードを前記アクセス時間により
決定される期間保持する手段と、 前記保持手段から前記アクセス時間経過後送出された前
記検査用コードに基づいて、前記複数の記憶装置のそれ
ぞれから出力される前記アクセス情報に対応する前記応
答情報に含まれる応答信号をチェックするエラー検出手
段とを備えたことを特徴とする記憶装置の誤動作検出方
式。
1. A plurality of storage devices accessed at the same preset access time, and access information is sent to each of the plurality of storage devices, and after the access time elapses, the plurality of storage devices are accessed. An arithmetic processing unit that receives response information corresponding to the access information from each, a unit that supplies the access time of the storage unit, and a unit that is included in the access information sent from the arithmetic processing unit to the plurality of storage units. Means for degenerating the request signal to the inspection code, means for holding the degenerated inspection code for a period determined by the access time, and the inspection code sent from the holding means after the access time elapses. Is included in the response information corresponding to the access information output from each of the plurality of storage devices based on Malfunction detection method of a storage device characterized by comprising an error detecting means for checking the answer signal.
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JPS58169264A (en) * 1982-03-31 1983-10-05 Hitachi Ltd Memory access system

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