JPH07141021A - 動作制御装置 - Google Patents
動作制御装置Info
- Publication number
- JPH07141021A JPH07141021A JP5286577A JP28657793A JPH07141021A JP H07141021 A JPH07141021 A JP H07141021A JP 5286577 A JP5286577 A JP 5286577A JP 28657793 A JP28657793 A JP 28657793A JP H07141021 A JPH07141021 A JP H07141021A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time
- control device
- reference time
- defect position
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- Pending
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 動作不良箇所を簡単に特定する。
【構成】 各動作を行う機構群３と、各動作における基
準時間を記憶する基準時間記憶手段と、各動作における
実際の動作時間を計測する動作時間計測手段と、各動作
における実際の動作時間を記憶する動作時間記憶手段と
を備え、機構群３を制御すると共に、基準時間記憶手段
と動作時間記憶手段とをアクセスして、各動作における
動作時間と基準時間とを比較して、動作不良箇所を特定
する制御部を有する。 【効果】 動作制御装置内部で動作不良箇所を自己診断
できる。
準時間を記憶する基準時間記憶手段と、各動作における
実際の動作時間を計測する動作時間計測手段と、各動作
における実際の動作時間を記憶する動作時間記憶手段と
を備え、機構群３を制御すると共に、基準時間記憶手段
と動作時間記憶手段とをアクセスして、各動作における
動作時間と基準時間とを比較して、動作不良箇所を特定
する制御部を有する。 【効果】 動作制御装置内部で動作不良箇所を自己診断
できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品を製造するプ
ロセスや電子部品を基板等に実装するプロセスにおいて
用いられる動作制御装置に関するものである。
ロセスや電子部品を基板等に実装するプロセスにおいて
用いられる動作制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電子部品を製造するプロセスでは、リー
ドフレームに接着剤を塗布するボンド塗布機、塗布され
た接着剤の上に半導体チップを搭載するダイボンダ、接
着剤を加熱してリードフレームに半導体チップを固着す
るキュア装置、固着された半導体チップとリードフレー
ムのインナーリードをワイヤで接続するワイヤボンディ
ング装置、ワイヤがけされた半導体チップを樹脂封止す
るモールドプレス装置及び樹脂封止された半導体チップ
から延出するアウターリードをフォーミングするフォー
ミング装置など種々の動作制御装置が用いられる。また
電子部品を基板に実装するプロセスでも、基板の回路パ
ターンに半田を塗布するスクリーン印刷装置、半田上に
電子部品の電極が載るように電子部品を基板に搭載する
チップマウンタ、半田を溶融固化して電子部品の電極と
回路パターンを電気的に接続するリフロー装置など種々
の動作制御装置が使用されている。本明細書において、
動作制御装置とは、上述した各装置の他関連する装置を
含むものである。
ドフレームに接着剤を塗布するボンド塗布機、塗布され
た接着剤の上に半導体チップを搭載するダイボンダ、接
着剤を加熱してリードフレームに半導体チップを固着す
るキュア装置、固着された半導体チップとリードフレー
ムのインナーリードをワイヤで接続するワイヤボンディ
ング装置、ワイヤがけされた半導体チップを樹脂封止す
るモールドプレス装置及び樹脂封止された半導体チップ
から延出するアウターリードをフォーミングするフォー
ミング装置など種々の動作制御装置が用いられる。また
電子部品を基板に実装するプロセスでも、基板の回路パ
ターンに半田を塗布するスクリーン印刷装置、半田上に
電子部品の電極が載るように電子部品を基板に搭載する
チップマウンタ、半田を溶融固化して電子部品の電極と
回路パターンを電気的に接続するリフロー装置など種々
の動作制御装置が使用されている。本明細書において、
動作制御装置とは、上述した各装置の他関連する装置を
含むものである。
【０００３】さて上記動作制御装置のそれぞれは、多数
の機構部からなっており、複雑な動作を行うものであ
る。ここで、ロータリーヘッド方式を採用したチップマ
ウンタを例にとると、基板に付された位置決めマークを
観察して基板の位置ずれ量を求める認識手段、基板をＸ
Ｙ方向に移動させるＸＹテーブル、パーツフィーダから
供給される電子部品をピックアップするノズルを多数備
え、実装位置へインデックス回転するロータリーヘッ
ド、その他多数の機構部を有している。そして、これら
の機構部は、タクトタイムを短縮させるため、できるだ
け高速度で作動しており、各動作における動作時間が極
力理想的な時間となるように制御されている。
の機構部からなっており、複雑な動作を行うものであ
る。ここで、ロータリーヘッド方式を採用したチップマ
ウンタを例にとると、基板に付された位置決めマークを
観察して基板の位置ずれ量を求める認識手段、基板をＸ
Ｙ方向に移動させるＸＹテーブル、パーツフィーダから
供給される電子部品をピックアップするノズルを多数備
え、実装位置へインデックス回転するロータリーヘッ
ド、その他多数の機構部を有している。そして、これら
の機構部は、タクトタイムを短縮させるため、できるだ
け高速度で作動しており、各動作における動作時間が極
力理想的な時間となるように制御されている。
【０００４】ところが、動作制御装置の機構部のうち一
部に不調箇所があり、動作制御装置全体のタクトタイム
が長くなることもある。従来このような場合、作業者な
いし技術者が、不調があると疑われる箇所に、動作制御
装置の外部から特別の測定器等をセットし、動作の不調
箇所を手作業で探し出していた。
部に不調箇所があり、動作制御装置全体のタクトタイム
が長くなることもある。従来このような場合、作業者な
いし技術者が、不調があると疑われる箇所に、動作制御
装置の外部から特別の測定器等をセットし、動作の不調
箇所を手作業で探し出していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように動作制御装置は多数の機構部からなっており、
各機構部が複雑に関連する動作を繰返し行うようになっ
ているので、不調箇所を特定することは極めて困難であ
り、長時間を要するという問題点があった。加えて、機
構部はそのほとんどが可動となっており、測定器等の取
外し時には人手を動作制御装置に近付けざるを得ず、安
全のためこの取外しのたびに動作制御装置自体を停止さ
せる必要がある。したがって、不調箇所の特定のため
に、長時間動作制御装置を稼働できないという問題点が
あった。
たように動作制御装置は多数の機構部からなっており、
各機構部が複雑に関連する動作を繰返し行うようになっ
ているので、不調箇所を特定することは極めて困難であ
り、長時間を要するという問題点があった。加えて、機
構部はそのほとんどが可動となっており、測定器等の取
外し時には人手を動作制御装置に近付けざるを得ず、安
全のためこの取外しのたびに動作制御装置自体を停止さ
せる必要がある。したがって、不調箇所の特定のため
に、長時間動作制御装置を稼働できないという問題点が
あった。
【０００６】そこで本発明は、簡単に不調箇所を特定で
きる動作制御装置を提供することを目的とする。
きる動作制御装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の動作制御装置
は、各動作を行う機構群と、各動作における基準時間を
記憶する基準時間記憶手段と、各動作における実際の動
作時間を計測する動作時間計測手段と、各動作における
実際の動作時間を記憶する動作時間記憶手段とを備え、
機構群を制御すると共に、基準時間記憶手段と動作時間
記憶手段とをアクセスして、各動作における動作時間と
基準時間とを比較して、動作不良箇所を特定する制御部
を有する。
は、各動作を行う機構群と、各動作における基準時間を
記憶する基準時間記憶手段と、各動作における実際の動
作時間を計測する動作時間計測手段と、各動作における
実際の動作時間を記憶する動作時間記憶手段とを備え、
機構群を制御すると共に、基準時間記憶手段と動作時間
記憶手段とをアクセスして、各動作における動作時間と
基準時間とを比較して、動作不良箇所を特定する制御部
を有する。
【０００８】
【作用】上記構成により、動作時間計測手段が各動作に
おける動作時間を計測し、計測された動作時間が動作時
間記憶手段に記憶される。そして、制御部は基準時間記
憶手段と動作時間記憶手段をアクセスし、各動作におけ
る動作時間と基準時間とを比較して動作不良箇所を特定
する。ここで、動作時間計測手段は、動作制御装置内部
に設けられており、制御部が動作不良箇所を自動的に特
定する。即ち、本手段の動作制御装置は、動作不良箇所
の自己診断機能を備えており、作業者又は技術者は、簡
単に動作不良箇所を知ることができる。
おける動作時間を計測し、計測された動作時間が動作時
間記憶手段に記憶される。そして、制御部は基準時間記
憶手段と動作時間記憶手段をアクセスし、各動作におけ
る動作時間と基準時間とを比較して動作不良箇所を特定
する。ここで、動作時間計測手段は、動作制御装置内部
に設けられており、制御部が動作不良箇所を自動的に特
定する。即ち、本手段の動作制御装置は、動作不良箇所
の自己診断機能を備えており、作業者又は技術者は、簡
単に動作不良箇所を知ることができる。
【０００９】
【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の一実施例
を説明する。以下本実施例では動作制御装置としてチッ
プマウンタを取扱うこととするが、本手段は従来の技術
の項で述べた他の動作制御装置にも適用できるものであ
る。
を説明する。以下本実施例では動作制御装置としてチッ
プマウンタを取扱うこととするが、本手段は従来の技術
の項で述べた他の動作制御装置にも適用できるものであ
る。
【００１０】図１は本発明の一実施例の動作制御装置
（チップマウンタ）のブロック図であり、１は図４，図
５に示したフローチャートに沿う動作時間計測運転用の
モジュールの他、通常運転用のモジュールを含むプログ
ラムが格納されているＲＯＭ（リードオンリーメモ
リ）、２は図２（ａ）に示すデータ構造を備えた動作時
間記憶手段としての第１領域や、図２（ｂ）に示す構造
を備えた基準時間記憶手段としての第２領域などが設け
られたＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、３は認識手
段、ＸＹテーブル、ロータリーヘッドなど各動作を行う
機構群、４は機構群３のドライバ群、５は機構群３の各
動作における実際の動作時間を計測する動作時間計測手
段としてのタイミングカウンタ、６はＲＯＭ１内のプロ
グラムを実行することにより、機構群３を制御すると共
に、後述するように動作不良箇所を特定する制御部とし
てのＣＰＵ（中央処理装置）である。またプリンタ７、
ＣＲＴ（陰極線管ディスプレイ）８は動作不良箇所など
を出力するためのものであり、インターフェース９を介
してＣＰＵ６に制御される。
（チップマウンタ）のブロック図であり、１は図４，図
５に示したフローチャートに沿う動作時間計測運転用の
モジュールの他、通常運転用のモジュールを含むプログ
ラムが格納されているＲＯＭ（リードオンリーメモ
リ）、２は図２（ａ）に示すデータ構造を備えた動作時
間記憶手段としての第１領域や、図２（ｂ）に示す構造
を備えた基準時間記憶手段としての第２領域などが設け
られたＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、３は認識手
段、ＸＹテーブル、ロータリーヘッドなど各動作を行う
機構群、４は機構群３のドライバ群、５は機構群３の各
動作における実際の動作時間を計測する動作時間計測手
段としてのタイミングカウンタ、６はＲＯＭ１内のプロ
グラムを実行することにより、機構群３を制御すると共
に、後述するように動作不良箇所を特定する制御部とし
てのＣＰＵ（中央処理装置）である。またプリンタ７、
ＣＲＴ（陰極線管ディスプレイ）８は動作不良箇所など
を出力するためのものであり、インターフェース９を介
してＣＰＵ６に制御される。
【００１１】図２（ａ）に示すように、第１領域は、各
動作毎に割当られた各ＣＨを単位に構成され、「ＯＮ」
とある右欄には動作開始時間が、その下段の「ＯＦＦ」
とある右欄には動作終了時間がそれぞれ格納されるよう
になっている。また図２（ｂ）に示すように、第２領域
は、第１領域と同様に各ＣＨごとに基準時間（予め設定
されている）と動作量（ＯＫ）又は動作不良（ＮＧ）と
を示すフラグが格納できるようになっている。図３
（ａ）に示すように、上記基準時間は、各動作の理想時
間に許容値を加えた時間として設定される。そして動作
時間が、図３（ｂ）に示すように基準時間以下であれば
動作良（ＯＫ）とし、図３（ｃ）のように動作時間が基
準時間を越えていれば動作不良（ＮＧ）と判定するもの
である。
動作毎に割当られた各ＣＨを単位に構成され、「ＯＮ」
とある右欄には動作開始時間が、その下段の「ＯＦＦ」
とある右欄には動作終了時間がそれぞれ格納されるよう
になっている。また図２（ｂ）に示すように、第２領域
は、第１領域と同様に各ＣＨごとに基準時間（予め設定
されている）と動作量（ＯＫ）又は動作不良（ＮＧ）と
を示すフラグが格納できるようになっている。図３
（ａ）に示すように、上記基準時間は、各動作の理想時
間に許容値を加えた時間として設定される。そして動作
時間が、図３（ｂ）に示すように基準時間以下であれば
動作良（ＯＫ）とし、図３（ｃ）のように動作時間が基
準時間を越えていれば動作不良（ＮＧ）と判定するもの
である。
【００１２】次に図４，図５を参照しながら、本実施例
の動作制御装置の動作を説明する。まず、動作時間計測
運転が選択されると（ステップ１）、図５に示す処理が
行われる。ステップ１１にて図２（ａ）に示す第１領域
の１ＣＨの「ＯＮ」の右欄に、動作開始時におけるタイ
ミングカウンタ５の値、即ち動作開始時間が記録され、
機構群３の一つである認識手段による基板認識動作が行
われ（ステップ１２）、この動作が完了し次第（ステッ
プ１３）、第１領域の１ＣＨの「ＯＦＦ」の右欄に動作
終了時間が記録される（ステップ１４）。即ち、ステッ
プ１１〜１４では、基板認識動作を試行動作に選択し、
この試行動作における実際の動作時間を計測し、記憶し
ているものである。同様に、ステップ１５〜１８ではＸ
Ｙテーブルの移動を試行動作とし、その実際の動作時間
が２ＣＨに記録される。さらにステップ１９〜２２では
ヘッドの移動を試行動作とし、その動作時間が３ＣＨに
記録される、本例では説明を簡単にするために３つの試
行動作のみを行うものとしたが、実際には、チップマウ
ンタの一連の動作を１サイクル通して行い、各動作中の
動作時間を計測・記憶するとよい。これにより、図２
（ａ）の各ＣＨに動作開始時間と動作終了時間が記憶さ
れたことになる。
の動作制御装置の動作を説明する。まず、動作時間計測
運転が選択されると（ステップ１）、図５に示す処理が
行われる。ステップ１１にて図２（ａ）に示す第１領域
の１ＣＨの「ＯＮ」の右欄に、動作開始時におけるタイ
ミングカウンタ５の値、即ち動作開始時間が記録され、
機構群３の一つである認識手段による基板認識動作が行
われ（ステップ１２）、この動作が完了し次第（ステッ
プ１３）、第１領域の１ＣＨの「ＯＦＦ」の右欄に動作
終了時間が記録される（ステップ１４）。即ち、ステッ
プ１１〜１４では、基板認識動作を試行動作に選択し、
この試行動作における実際の動作時間を計測し、記憶し
ているものである。同様に、ステップ１５〜１８ではＸ
Ｙテーブルの移動を試行動作とし、その実際の動作時間
が２ＣＨに記録される。さらにステップ１９〜２２では
ヘッドの移動を試行動作とし、その動作時間が３ＣＨに
記録される、本例では説明を簡単にするために３つの試
行動作のみを行うものとしたが、実際には、チップマウ
ンタの一連の動作を１サイクル通して行い、各動作中の
動作時間を計測・記憶するとよい。これにより、図２
（ａ）の各ＣＨに動作開始時間と動作終了時間が記憶さ
れたことになる。
【００１３】次に図４に示すように、ＣＰＵ６はＲＡＭ
２をアクセスし、各ＣＨの動作終了時間から動作開始時
間を引いて動作時間を求め、求めた動作時間と第２領域
（図２（ｂ））の基準時間とを大小比較し、動作時間が
基準時間以下であれば、第２領域の基準時間の右欄のフ
ラグを（ＯＫ）とし、そうでなければ（ＮＧ）としてゆ
く（ステップ２）。勿論この大小比較は、動作時間が基
準時間以上であれば（ＮＧ）としても良い。また基準時
間に許容値を付加した許容範囲を設定し、動作時間がこ
の許容範囲内であれば（ＯＫ）としてもよい。そして、
全動作についてフラグの設定が済んだら、ＣＰＵ６は、
フラグが（ＮＧ）となっているＣＨのみを抽出し（ステ
ップ３）、動作不良箇所をＣＲＴ８に表示し、プリンタ
８により印字する（ステップ４，５）。そして、再検査
が指示されなければ（ステップ６）、ＣＰＵ６は動作時
間計測運転を終了する。
２をアクセスし、各ＣＨの動作終了時間から動作開始時
間を引いて動作時間を求め、求めた動作時間と第２領域
（図２（ｂ））の基準時間とを大小比較し、動作時間が
基準時間以下であれば、第２領域の基準時間の右欄のフ
ラグを（ＯＫ）とし、そうでなければ（ＮＧ）としてゆ
く（ステップ２）。勿論この大小比較は、動作時間が基
準時間以上であれば（ＮＧ）としても良い。また基準時
間に許容値を付加した許容範囲を設定し、動作時間がこ
の許容範囲内であれば（ＯＫ）としてもよい。そして、
全動作についてフラグの設定が済んだら、ＣＰＵ６は、
フラグが（ＮＧ）となっているＣＨのみを抽出し（ステ
ップ３）、動作不良箇所をＣＲＴ８に表示し、プリンタ
８により印字する（ステップ４，５）。そして、再検査
が指示されなければ（ステップ６）、ＣＰＵ６は動作時
間計測運転を終了する。
【００１４】
【発明の効果】本発明の動作制御装置は、各動作を行う
機構群と、各動作における基準時間を記憶する基準時間
記憶手段と、各動作における実際の動作時間を計測する
動作時間計測手段と、各動作における実際の動作時間を
記憶する動作時間記憶手段とを備え、機構群を制御する
と共に、基準時間記憶手段と動作時間記憶手段とをアク
セスして、各動作における動作時間と基準時間とを比較
して、動作不良箇所を特定する制御部を有し、動作不良
の自己診断機能を備えているので、作業者又は技術者
は、例えば稼働開始時又は定期点検時など、必要に応じ
て、動作制御装置に一通りの動作を行わせるのみで動作
不良箇所を知ることができ、極めて容易に動作チェック
を行えるだけでなく、動作チェックによる稼働率の低下
を極力抑制するこができる。
機構群と、各動作における基準時間を記憶する基準時間
記憶手段と、各動作における実際の動作時間を計測する
動作時間計測手段と、各動作における実際の動作時間を
記憶する動作時間記憶手段とを備え、機構群を制御する
と共に、基準時間記憶手段と動作時間記憶手段とをアク
セスして、各動作における動作時間と基準時間とを比較
して、動作不良箇所を特定する制御部を有し、動作不良
の自己診断機能を備えているので、作業者又は技術者
は、例えば稼働開始時又は定期点検時など、必要に応じ
て、動作制御装置に一通りの動作を行わせるのみで動作
不良箇所を知ることができ、極めて容易に動作チェック
を行えるだけでなく、動作チェックによる稼働率の低下
を極力抑制するこができる。
【図１】本発明の一実施例に係る動作制御装置のブロッ
ク図
ク図
【図２】（ａ）本発明の一実施例に係る動作制御装置の
データ構成図 （ｂ）本発明の一実施例に係る動作制御装置のデータ構
成図
データ構成図 （ｂ）本発明の一実施例に係る動作制御装置のデータ構
成図
【図３】（ａ）本発明の一実施例に係る動作良否判定の
説明図 （ｂ）本発明の一実施例に係る動作良否判定の説明図 （ｃ）本発明の一実施例に係る動作良否判定の説明図
説明図 （ｂ）本発明の一実施例に係る動作良否判定の説明図 （ｃ）本発明の一実施例に係る動作良否判定の説明図
【図４】本発明の一実施例に係る動作制御装置のフロー
チャート
チャート
【図５】本発明の一実施例に係る動作制御装置のフロー
チャート
チャート
１ ＲＯＭ ２ ＲＡＭ ３ 機構群 ５ タイミングカウンタ
Claims (1)
- 【請求項１】各動作を行う機構群と、各動作における基
準時間を記憶する基準時間記憶手段と、各動作における
実際の動作時間を計測する動作時間計測手段と、各動作
における実際の動作時間を記憶する動作時間記憶手段と
を備え、 前記機構群を制御すると共に、前記基準時間記憶手段と
前記動作時間記憶手段とをアクセスして、各動作におけ
る動作時間と基準時間とを比較して、動作不良箇所を特
定する制御部を有することを特徴とする動作制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286577A JPH07141021A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 動作制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286577A JPH07141021A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 動作制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07141021A true JPH07141021A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17706226
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5286577A Pending JPH07141021A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 動作制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07141021A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006148030A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-08 | Juki Corp | 部品実装装置 |
| JP2008172074A (ja) * | 2007-01-12 | 2008-07-24 | Yamaha Motor Co Ltd | 能力診断装置 |
| JP2008225987A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | 工程異常条件自動抽出方式 |
| JP2017200710A (ja) * | 2016-05-02 | 2017-11-09 | トヨタ自動車株式会社 | 関節駆動ロボットの異常診断方法及び異常診断装置 |
| KR20180109678A (ko) | 2017-03-28 | 2018-10-08 | 파스포드 테크놀로지 주식회사 | 다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
| KR20210112247A (ko) | 2020-03-03 | 2021-09-14 | 아틀라스 콥코 아이에이에스 유케이 리미티드 | 리벳팅 장치 |
-
1993
- 1993-11-16 JP JP5286577A patent/JPH07141021A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006148030A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-08 | Juki Corp | 部品実装装置 |
| JP4616624B2 (ja) * | 2004-11-25 | 2011-01-19 | Ｊｕｋｉ株式会社 | 部品実装装置 |
| JP2008172074A (ja) * | 2007-01-12 | 2008-07-24 | Yamaha Motor Co Ltd | 能力診断装置 |
| JP2008225987A (ja) * | 2007-03-14 | 2008-09-25 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | 工程異常条件自動抽出方式 |
| JP2017200710A (ja) * | 2016-05-02 | 2017-11-09 | トヨタ自動車株式会社 | 関節駆動ロボットの異常診断方法及び異常診断装置 |
| KR20180109678A (ko) | 2017-03-28 | 2018-10-08 | 파스포드 테크놀로지 주식회사 | 다이 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
| KR20210112247A (ko) | 2020-03-03 | 2021-09-14 | 아틀라스 콥코 아이에이에스 유케이 리미티드 | 리벳팅 장치 |
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