JPH07122648B2 - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
- Publication number
- JPH07122648B2 JPH07122648B2 JP61279218A JP27921886A JPH07122648B2 JP H07122648 B2 JPH07122648 B2 JP H07122648B2 JP 61279218 A JP61279218 A JP 61279218A JP 27921886 A JP27921886 A JP 27921886A JP H07122648 B2 JPH07122648 B2 JP H07122648B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- crt
- supplied
- spectrum
- window
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はスペクトラムアナライザに関する。
この発明は、スペクトラムアナライザにおいて、ウイン
ドウ処理を行うことにより、バースト状の信号のスペク
トラムを測定できるようにしたものである。
ドウ処理を行うことにより、バースト状の信号のスペク
トラムを測定できるようにしたものである。
スペクトラムアナライザは、基本的には第３図に示すよ
うに構成されている。
うに構成されている。
すなわち、同図において、スキャンジェネレータ（９）
から鋸歯状波電圧Vsが取り出され、この電圧VsがCRT
（７）の水平偏向板に供給され、CRT（７）の水平走査
（水平偏向）が行われる。
から鋸歯状波電圧Vsが取り出され、この電圧VsがCRT
（７）の水平偏向板に供給され、CRT（７）の水平走査
（水平偏向）が行われる。
また、入力信号Siが、端子（１）からアッテネータ
（２）を通じてミキサ回路（３）に供給されるととも
に、電圧VsがVTO（８）に供給されて電圧Vsに対応し
た、すなわち、CRT（７）の水平走査位置に対応した周
波数の交番信号Soが形成され、この信号Soがミキサ回路
（３）に供給されて信号Siは信号Sjに周波数変換され
る。そして、この信号Sjが、スペクトラム表示時の周波
数分解能に相当する通過帯域幅の中間周波アンプ（バン
ドパスアンプ）（４）に供給されて信号Si中の、CRT
（７）の水平走査位置に対応した周波数の信号成分Skが
取り出され、この信号成分SkがAM検波回路（５）に供給
されて成分Skのレベルに対応した検波電圧Vdが取り出さ
れ、この電圧Vdがスペクトラム表示時の表示幅を規定す
るビデオフィルタ（６）を通じてCRT（７）の垂直偏向
板に供給される。
（２）を通じてミキサ回路（３）に供給されるととも
に、電圧VsがVTO（８）に供給されて電圧Vsに対応し
た、すなわち、CRT（７）の水平走査位置に対応した周
波数の交番信号Soが形成され、この信号Soがミキサ回路
（３）に供給されて信号Siは信号Sjに周波数変換され
る。そして、この信号Sjが、スペクトラム表示時の周波
数分解能に相当する通過帯域幅の中間周波アンプ（バン
ドパスアンプ）（４）に供給されて信号Si中の、CRT
（７）の水平走査位置に対応した周波数の信号成分Skが
取り出され、この信号成分SkがAM検波回路（５）に供給
されて成分Skのレベルに対応した検波電圧Vdが取り出さ
れ、この電圧Vdがスペクトラム表示時の表示幅を規定す
るビデオフィルタ（６）を通じてCRT（７）の垂直偏向
板に供給される。
したがって、CRT（７）には、入力信号Siの周波数スペ
クトラムが表示されることになる。
クトラムが表示されることになる。
そして、以上の構成を基本としてスペクトラムアナライ
ザには種々のものがあり、例えば周波数スペクトラムの
平均，最大，変動などを表示できるものもあり、使いや
すくなっている。
ザには種々のものがあり、例えば周波数スペクトラムの
平均，最大，変動などを表示できるものもあり、使いや
すくなっている。
しかし、例えばヘリカルスキャン型のVTRにおいては、
２つの回転磁気ヘッドからその再生出力が、１フィール
ド期間ごとに交互に得られ、回転磁気ヘッドの一方につ
いて見れば、その再生信号は第２図Ａに示すように、１
フィールド期間おきに１フィールド期間づつバースト状
に得られる。
２つの回転磁気ヘッドからその再生出力が、１フィール
ド期間ごとに交互に得られ、回転磁気ヘッドの一方につ
いて見れば、その再生信号は第２図Ａに示すように、１
フィールド期間おきに１フィールド期間づつバースト状
に得られる。
そして、一般のスペクトラムアナライザにおいては、そ
のようなバースト状の信号のスペクトラムを表示するこ
とはできない。
のようなバースト状の信号のスペクトラムを表示するこ
とはできない。
この発明は、そのような問題点を解決しようとするもの
である。
である。
この発明のスペクトラムアナライザは、入力信号がCRT
の水平走査位置に対応した周波数の交番信号により周波
数変換されて、バンドパスアンプにより上記周波数変換
された信号のCRTの水平走査位置に対応した周波数の信
号成分が取り出され、上記信号成分がCRTの垂直偏向板
に供給されるようになされたスペクトラムアナライザに
おいて、１フレームおきにバースト状に入力される上記
入力信号に同期したフレーム周期のパルスが供給され、
上記入力信号が得られる期間所定レベルとなるウィンド
ウ信号を形成する形成回路と、上記形成回路から出力さ
れる上記ウィンドウ信号に基づいて上記CRTの水平走査
位置に対応した電圧の信号を発生し、上記CRTの水平偏
向板に供給するスキャンジェネレータと、上記スキャン
ジェネレータから出力される上記電圧の信号に基づいて
上記交番信号を発生する交番信号発生手段を有し、上記
ウィンドウ信号は、上記CRTのＺ軸信号として上記CRTに
供給され、上記ウィンドウ信号が供給される期間上記入
力信号のスペクトラムの表示が行われるように輝度変調
なされるようにしたものである。
の水平走査位置に対応した周波数の交番信号により周波
数変換されて、バンドパスアンプにより上記周波数変換
された信号のCRTの水平走査位置に対応した周波数の信
号成分が取り出され、上記信号成分がCRTの垂直偏向板
に供給されるようになされたスペクトラムアナライザに
おいて、１フレームおきにバースト状に入力される上記
入力信号に同期したフレーム周期のパルスが供給され、
上記入力信号が得られる期間所定レベルとなるウィンド
ウ信号を形成する形成回路と、上記形成回路から出力さ
れる上記ウィンドウ信号に基づいて上記CRTの水平走査
位置に対応した電圧の信号を発生し、上記CRTの水平偏
向板に供給するスキャンジェネレータと、上記スキャン
ジェネレータから出力される上記電圧の信号に基づいて
上記交番信号を発生する交番信号発生手段を有し、上記
ウィンドウ信号は、上記CRTのＺ軸信号として上記CRTに
供給され、上記ウィンドウ信号が供給される期間上記入
力信号のスペクトラムの表示が行われるように輝度変調
なされるようにしたものである。
この発明により、形成回路から出力されるウィンドウ信
号は、入力信号が得られる期間“1"となるように形成さ
れるため、入力信号として同期をとることができ、同期
がとられたウィンドウ信号がCRTのＺ軸信号として供給
され、ウィンドウ信号が“1"の期間CRTの表示が行わ
れ、ウィンドウ信号が“0"の期間CRTの表示が行われな
いように輝度変調が行われる。
号は、入力信号が得られる期間“1"となるように形成さ
れるため、入力信号として同期をとることができ、同期
がとられたウィンドウ信号がCRTのＺ軸信号として供給
され、ウィンドウ信号が“1"の期間CRTの表示が行わ
れ、ウィンドウ信号が“0"の期間CRTの表示が行われな
いように輝度変調が行われる。
第１図に示す例においては、入力信号SiはVTRの回転ヘ
ッドの一方の再生信号の場合であり、したがって、信号
Siは第２図Ａに示すように１フィールド期間おきに１フ
ィールド期間づつバースト状に供給される。
ッドの一方の再生信号の場合であり、したがって、信号
Siは第２図Ａに示すように１フィールド期間おきに１フ
ィールド期間づつバースト状に供給される。
また、VTRから回転ヘッドの回転位相を示すフレーム周
期のパルスPgが取り出され、このパルスPgが端子（11）
を通じて形成回路（12）に供給されて同図（Ｂ）に示す
ように、信号Siの得られる期間に“1"となるウインドウ
信号Swが形成される。そして、この信号Swがジェネレー
タ（９）側に制御信号として供給されて同図Ｃに示すよ
うに、Sw＝“1"の期間には電圧Vsは本来のスキャン時の
割り合いで変化し、Sw＝“0"の期間にはSw＝“0"になっ
た開始時点のレベルをホールドするようにされる。
期のパルスPgが取り出され、このパルスPgが端子（11）
を通じて形成回路（12）に供給されて同図（Ｂ）に示す
ように、信号Siの得られる期間に“1"となるウインドウ
信号Swが形成される。そして、この信号Swがジェネレー
タ（９）側に制御信号として供給されて同図Ｃに示すよ
うに、Sw＝“1"の期間には電圧Vsは本来のスキャン時の
割り合いで変化し、Sw＝“0"の期間にはSw＝“0"になっ
た開始時点のレベルをホールドするようにされる。
さらに、信号SwがCRT（７）にＺ軸信号として供給さ
れ、Sw＝“1"の期間には表示が行われ、Sw＝“0"の期間
には表示を行わないように輝度変調が行われる。
れ、Sw＝“1"の期間には表示が行われ、Sw＝“0"の期間
には表示を行わないように輝度変調が行われる。
このような構成によれば、入力信号Siの得られる期間の
み、電圧Vsが変化するとともに、輝度変調により表示が
行われるので、その信号Siのスペクトラムを表示でき、
したがって、信号Siのスペクトラムを知ることができ
る。すなわち、入力信号Siがバースト状であってもその
スペクトラムを表示できる。さらに、アナライザがイン
テリジェントタイプの場合には、その機能をさらに有効
に生かすことができ、スペクトラムの平均，最大，変動
なども効果的に測定できる。
み、電圧Vsが変化するとともに、輝度変調により表示が
行われるので、その信号Siのスペクトラムを表示でき、
したがって、信号Siのスペクトラムを知ることができ
る。すなわち、入力信号Siがバースト状であってもその
スペクトラムを表示できる。さらに、アナライザがイン
テリジェントタイプの場合には、その機能をさらに有効
に生かすことができ、スペクトラムの平均，最大，変動
なども効果的に測定できる。
また、入力信号Siが連続波であっても、信号Swのパルス
幅及び位相を変更することにより、任意の期間について
そのスペクトルを測定できる。
幅及び位相を変更することにより、任意の期間について
そのスペクトルを測定できる。
なお、ウインドウ信号Swについて実際にSw＝“1"とする
期間を確認するには、まず、ノーマルモードで（オシロ
スコープのように）入力信号Siの波形表示を行うととも
に、このとき、信号Swによりその表示に輝度変調をか
け、この輝度変調による明暗によりSw＝“1"の期間を確
認し、以後、上述のようにスペクトラムの表示モードと
すればよい。
期間を確認するには、まず、ノーマルモードで（オシロ
スコープのように）入力信号Siの波形表示を行うととも
に、このとき、信号Swによりその表示に輝度変調をか
け、この輝度変調による明暗によりSw＝“1"の期間を確
認し、以後、上述のようにスペクトラムの表示モードと
すればよい。
また、インテリジェントタイプのアナライザの場合に
は、メモリへのデータの書き込みを信号Swにより同様に
制御すればよい。さらに、そのメモリにデータを書き込
むとき、スキャンジェネレータ（９）はスキャンカウン
タとD/Aコンバータとにより実現できるので、そのスキ
ャンカウンタの出力をメモリのアドレスに対応させれば
よい。また、アナライザとしては、連続した入力信号Si
が必要であるが、ステップの変化に対して若干の時間的
な余裕をもたせてメモリに書き込むことにより、より正
確な表示を行うことができる。さらに、分解能を高くす
るには、スキャンカウンタ及びD/Aコンバータのビット
数を多くすればよい。
は、メモリへのデータの書き込みを信号Swにより同様に
制御すればよい。さらに、そのメモリにデータを書き込
むとき、スキャンジェネレータ（９）はスキャンカウン
タとD/Aコンバータとにより実現できるので、そのスキ
ャンカウンタの出力をメモリのアドレスに対応させれば
よい。また、アナライザとしては、連続した入力信号Si
が必要であるが、ステップの変化に対して若干の時間的
な余裕をもたせてメモリに書き込むことにより、より正
確な表示を行うことができる。さらに、分解能を高くす
るには、スキャンカウンタ及びD/Aコンバータのビット
数を多くすればよい。
ウインドウ信号により、必要な信号区間のみスキャンジ
ェネレータ（９）の電圧Vsの形成及びCRT（７）の表示
を行っているので、入力信号Siがバースト状であっても
そのスペクトラムを表示ないし測定できる。
ェネレータ（９）の電圧Vsの形成及びCRT（７）の表示
を行っているので、入力信号Siがバースト状であっても
そのスペクトラムを表示ないし測定できる。
第１図はこの発明の一例の系統図、第２図，第３図はそ
の説明のための図である。 （７）はCRT、（８）はVTO、（９）はスキャンジェネレ
ータ、（12）は形成回路である。
の説明のための図である。 （７）はCRT、（８）はVTO、（９）はスキャンジェネレ
ータ、（12）は形成回路である。
Claims (1)
- 【請求項１】入力信号がCRTの水平走査位置に対応した
周波数の交番信号により周波数変換されて、バンドパス
アンプにより上記周波数変換された信号のCRTの水平走
査位置に対応した周波数の信号成分が取り出され、上記
信号成分がCRTの垂直偏向板に供給されるようになされ
たスペクトラムアナライザにおいて、 １フレームおきにバースト状に入力される上記入力信号
に同期したフレーム周期のパルスが供給され、上記入力
信号が得られる期間所定レベルとなるウィンドウ信号を
形成する形成回路と、 上記形成回路から出力される上記ウィンドウ信号に基づ
いて上記CRTの水平走査位置に対応した電圧の信号を発
生し、上記CRTの水平偏向板に供給するスキャンジェネ
レータと、 上記スキャンジェネレータから出力される上記電圧の信
号に基づいて上記交番信号を発生する交番信号発生手段
を有し、 上記ウィンドウ信号は、上記CRTのＺ軸信号として上記C
RTに供給され、上記ウィンドウ信号が供給される期間上
記入力信号のスペクトラムの表示が行われるように輝度
変調なされるようにしたことを特徴とするスペクトラム
アナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61279218A JPH07122648B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61279218A JPH07122648B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | スペクトラムアナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63132178A JPS63132178A (ja) | 1988-06-04 |
| JPH07122648B2 true JPH07122648B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=17608072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61279218A Expired - Fee Related JPH07122648B2 (ja) | 1986-11-22 | 1986-11-22 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07122648B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2766685B2 (ja) * | 1988-09-26 | 1998-06-18 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| JP2520879Y2 (ja) * | 1990-08-27 | 1996-12-18 | シャープ株式会社 | 太陽電池のパッケージ構造 |
| US5210483A (en) * | 1990-09-29 | 1993-05-11 | Anritsu Corporation | Burst signal spectrum measuring system with stepwise sweeping |
| US5869959A (en) * | 1991-09-02 | 1999-02-09 | Advantest Corporation | Spectrum analyzer |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0611480Y2 (ja) * | 1986-05-22 | 1994-03-23 | 株式会社アドバンテスト | スペクトラムアナライザ |
-
1986
- 1986-11-22 JP JP61279218A patent/JPH07122648B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63132178A (ja) | 1988-06-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |