JPH07110580A - 基板現像装置 - Google Patents

基板現像装置

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JPH07110580A
JPH07110580A JP25542693A JP25542693A JPH07110580A JP H07110580 A JPH07110580 A JP H07110580A JP 25542693 A JP25542693 A JP 25542693A JP 25542693 A JP25542693 A JP 25542693A JP H07110580 A JPH07110580 A JP H07110580A
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JP
Japan
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concentration
alkali
developer
developing solution
substrate
Prior art date
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Application number
JP25542693A
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English (en)
Inventor
Yasuyoshi Miyaji
恭祥 宮路
Jiro Ono
次郎 小野
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP25542693A priority Critical patent/JPH07110580A/ja
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 アルカリ現像液による基板現像をより正確に
行えるようにする。 【構成】 基板現像装置は、感光性樹脂が塗布されかつ
所定のパターンに露光された基板をアルカリ現像液によ
り現像する装置である。この装置は、基板が収容される
現像処理部と、アルカリ現像液が貯溜される現像液貯溜
槽と、現像処理部と現像液貯溜槽との間でアルカリ現像
液を循環させるポンプと、アルカリ現像液に溶解したフ
ォトレジスト濃度を測定するための光学センサと、アル
カリ現像液中のアルカリ濃度を測定する導電率計とを備
えている。この装置では、光学センサによるフォトレジ
スト濃度の測定結果に応じて、フォトレジスト濃度が制
御される。また、光学センサによるフォトレジスト濃度
と導電率計によるアルカリ濃度の測定結果に応じて、ア
ルカリ濃度が制御される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、現像装置、特に、感光
性樹脂が塗布されかつ所定のパターンに露光された基板
をアルカリ現像液により現像する基板現像装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】たとえば液晶用基板や半導体用基板等の
製造工程では、フォトエッチングが繰り返して行われ
る。このフォトエッチングの際には、フォトレジストが
塗布された基板に対して露光処理が行われた後に、アル
カリ現像液により現像処理が施される。
【0003】この種の基板現像装置は、従来、基板が収
容される現像処理部と、アルカリ現像液が貯溜される現
像液貯溜部と、現像処理部と現像液貯溜部との間で現像
液を循環させる現像液循環部とを備えている。この基板
現像装置では、現像によりアルカリ濃度が低下したり、
フォトレジスト濃度が上昇したりすることに基づく現像
液の疲労を防止するために、アルカリ濃度及びフォトレ
ジスト濃度を検出し、この検出結果に従って現像液貯溜
部のアルカリ濃度及びフォトレジスト濃度を制御するよ
うになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の構成では、
現像液中のアルカリ濃度を検出し、それに基づいて現像
液中のアルカリ濃度を調整するようになっている。ま
た、現像液中のフォトレジスト濃度を検出し、その検出
結果に基づいて現像液中のフォトレジスト濃度を調整す
るようになっており、アルカリ濃度とフォトレジスト濃
度の相関関係については考慮されていない。
【0005】ところが、本発明者が見出した知見によれ
ば、同一のアルカリ濃度であっても、フォトレジスト濃
度の大小によって現像液の現像能力が変化する。すなわ
ち、フォトレジスト濃度が低い場合には、アルカリ濃度
がそれ程高くなくても比較的高い現像能力が発揮され、
逆にフォトレジスト濃度が高くなれば現像能力が低下す
る。
【0006】したがって、前記従来の構成では、現像液
中のアルカリ濃度の制御をアルカリ濃度の測定結果にの
み基づいて行っているため、正確な現像制御が行えな
い。すなわち、フォトレジスト濃度の低い状態で適切な
現像が行えるようにアルカリ濃度を設定すれば、フォト
レジスト濃度が高くなったときに現像が不充分になる。
一方、フォトレジスト濃度が高い状態で良好な現像が行
えるようにアルカリ濃度を設定すれば、フォトレジスト
濃度が低いときに現像が進みすぎてしまう。
【0007】本発明の目的は、アルカリ現像液による基
板現像をより正確に行えるようにすることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板現像装
置は、感光性樹脂が塗布されかつ所定のパターンに露光
された基板をアルカリ現像液により現像する装置であ
る。この装置は、基板が収容される現像処理部と、アル
カリ現像液が貯溜される現像液貯溜部と、現像処理部と
現像液貯溜部との間でアルカリ現像液を循環させる循環
手段と、現像液貯溜部内のアルカリ現像液に溶解した感
光性樹脂の溶解樹脂濃度を測定する溶解樹脂濃度測定手
段と、現像液貯溜部内のアルカリ現像液のアルカリ濃度
を測定するアルカリ濃度測定手段と、溶解樹脂濃度制御
手段及びアルカリ濃度制御手段とを備えている。前記溶
解樹脂濃度制御手段は、溶解樹脂濃度測定手段の測定結
果に応じて、現像液貯溜部内のアルカリ現像液の溶解樹
脂濃度を制御する。また、前記アルカリ濃度制御手段
は、溶解樹脂濃度測定手段及びアルカリ濃度測定手段の
測定結果に応じて、現像液貯溜部内のアルカリ現像液の
アルカリ濃度を制御する。
【0009】なお、前記溶解樹脂濃度制御手段が、アル
カリ現像液中の溶解樹脂濃度x(グラム/リットル)を 0.0≦x≦0.2 の範囲内の所定範囲にあるように制御する手段を有し、
前記アルカリ濃度制御手段が、アルカリ現像液中のアル
カリ濃度y(重量%)を Y×(x/10+0.98)≦y≦Y×(x/10+
1.02) [ただし、Yは未使用アルカリ現像液のアルカリ濃度] の範囲内にあるように制御する手段を有していてもよ
い。ただし、ここで言う「範囲内にあるように制御す
る」とは、当該範囲で制御する場合のみならず、当該範
囲内のさらに限定された範囲での制御をも含む。
【0010】
【作用】本発明に係る基板現像装置では、循環手段によ
り現像処理部と現像貯溜部との間でアルカリ現像液が循
環させられる。現像処理部内では、収容された基板がア
ルカリ現像液により現像される。ここで、アルカリ現像
液中の溶解樹脂濃度は溶解樹脂濃度測定手段により測定
され、アルカリ濃度はアルカリ濃度測定手段により測定
される。そして、溶解樹脂濃度制御手段が、溶解樹脂濃
度測定手段の測定結果に応じてアルカリ現像液中の溶解
樹脂濃度を制御する。また、アルカリ濃度制御手段が、
溶解樹脂濃度測定手段及びアルカリ濃度測定手段の測定
結果に応じて、アルカリ現像液中のアルカリ濃度を制御
する。この場合には、アルカリ濃度が、溶解樹脂濃度及
びアルカリ濃度の測定結果に応じて制御されるので、よ
り正確な現像が可能となる。
【0011】
【実施例】図1において、本発明の一実施例による現像
装置は、たとえばTMAH(テトラメチルアンモニウム
ハイドロキサイド)等のアルカリ現像液が貯溜される現
像液貯溜槽1と、現像液貯溜槽1から送られた現像液に
よりガラス基板2に対して現像処理を施すための現像処
理部3と、標準濃度あるいはそれより低濃度の新鮮な現
像液または純水を現像液貯溜槽1に供給するための新鮮
現像液貯溜部4と、現像原液(標準濃度の現像液の2〜
10倍の濃厚液)を現像液貯溜槽1に供給するための濃
厚現像液貯溜部5と、現像液貯溜槽1内の現像液のアル
カリ濃度及びフォトレジスト濃度を測定するための現像
液測定部6とを主として有している。
【0012】現像液貯溜槽1には、新鮮現像液貯溜部4
に接続された新鮮現像液供給管7と、濃厚現像液貯溜部
5に接続された濃厚現像液供給管8とが接続されてい
る。これらの供給管7,8の途中には、ポンプP1,P
2が配置されている。また貯溜槽1には、オーバーフロ
ー管9及び排液管10が接続されている。排液管10に
は排液弁SVが配置されており、排液弁SVの下流側に
オーバーフロー管9が接続されている。さらに貯溜槽1
には、途中にポンプP4が設けられた現像液供給管11
と、途中にフィルタ16が設けられた現像液戻し管12
とが接続されている。また貯溜槽1には、スターラ13
a及び液面計13bが設けられている。
【0013】現像処理部3は、基板2に現像液を噴霧す
るノズル部14と、基板2を収容する基板収容部15と
を有している。ノズル部14は現像液供給管11に接続
されており、また下方に向けられた多数のノズルを有し
ている。基板収容部15には、基板2をノズルの配置方
向と直交する方向に移動させる移動機構(図示せず)が
設けられている。基板収容部15には戻し管12が接続
されている。また、戻し管12には、基板収容部15か
らの現像液を濾過するためのフィルタ16が設けられて
いる。
【0014】現像液測定部6には、現像液供給管16の
途中から分岐する測定配管17と、オーバーフローした
液を戻し管12に戻すオーバーフロー管18とが接続さ
れている。現像液測定部6には、現像液のアルカリ濃度
を測定するための導電率計19と、現像液中に溶解した
フォトレジストの濃度を測定するための光学センサ(た
とえば吸光度計、透過率計または濁度計)20とが配置
されている。測定配管17の途中にはポンプP3が配置
されている。ここでは、測定配管17が現像液供給管1
1の途中から分岐しているので、現像処理部3に送られ
る途中の現像液のアルカリ濃度及びフォトレジスト濃度
を測定できる。このため、貯溜槽1内の現像液のアルカ
リ濃度やフォトレジスト濃度を測定する場合に比べて測
定精度が高い。
【0015】ここでアルカリ濃度を測定するために導電
率計を用いるのは、以下の理由による。従来はアルカリ
濃度を、pHメーター、イオン電極または中和滴定装置
を用いて測定している。しかし、pHメーターやイオン
電極は、測定精度が不充分であり、TMAHの僅かな濃
度変化に追随した正確な測定が行えない。また、中和滴
定装置は、正確にアルカリ濃度を測定できるが、装置コ
ストが高く、アルカリ性の薬液以外に酸性の薬液をも装
置付近に持ち込まなければならず、環境に対する影響が
大きい。したがって、正確かつ安価にアルカリ濃度を測
定するために、導電率計を用いるのが好ましい。
【0016】図3に、アルカリ濃度(TMAH濃度)と
比導電率とを測定した結果のグラフを示す。ここでは、
横軸がアルカリ濃度、縦軸が比導電率である。アルカリ
濃度は中和滴定により測定した。また比導電率は、液温
を25±0.2℃に補正した値である。実験の結果、比
導電率aとアルカリ濃度yとは、アルカリ濃度yが0.
5%〜5%の間でa=3.875+20.62y(γ=
0.9990)、アルカリ濃度yが2%〜3%の間でa
=4.384+20.62y(γ=0.9987)の1
次式で近似できることがわかった。この近似式により、
導電率からアルカリ濃度を算出できる。
【0017】図4に現像液の透過率と処理枚数との関係
を示す。ここでは横軸が処理枚数、縦軸が透過率であ
る。ここでの現像液処理条件は、フォトレジスト:OF
PR800(40cp),基板サイズ:300×350
mm,露光:全面露光,現像液:トクソウ製SD−1
(TMAH2.37重量%)であった。また、波長65
0nmのカットフィルタを使用して透過率を測定した。
図4から明らかなように、透過率と処理枚数との関係も
1次式で近似できることがわかった。
【0018】これらの結果から明らかなように、導電率
によりアルカリ濃度を、透過率によりフォトレジスト濃
度を正確に検出できるのである。この現像装置は、制御
部21を有している。制御部21には、アラーム22、
ポンプP1,P2,P3,P4、排液弁SV、液面計1
4、導電率計19、光学センサ20等が接続されてい
る。制御部21は、マイクロコンピュータからなり、導
電率計19によって測定された導電率からアルカリ濃度
を算出する。また、光センサ20の検出結果により、透
過率を求め、透過率からレジスト濃度を算出する。
【0019】この制御部21は、図2に示す制御フロー
チャートにしたがった制御動作(後述)を実行して現像
装置全体を制御するが、特に現像液中のフォトレジスト
濃度とアルカリ濃度とに関しては、図5に示す斜線領域
内にあるように制御する。この結果、アルカリ現像液中
の溶解樹脂濃度x(グラム/リットル)は 0.0≦x≦0.2 の範囲内にあるように制御され、アルカリ濃度y(重量
%)は Y×(x/10+0.98)≦y≦Y×(x/10+
1.02) の範囲内にあるように制御される。ただし、Yは未使用
アルカリ現像液のアルカリ濃度であり、図5の例ではY
は2.38(重量%)である。
【0020】図5の斜線領域内にレジスト濃度とアルカ
リ濃度とがあるように制御するのは、以下の実験結果に
基づいている。ポジレジスト(OFPR800)をガラ
ス基板(300×350mm)上に塗布し(膜厚1.5
μm)、15μmのライン・アンド・スペースのパター
ンにて焼き付けを行い、現像処理を行った。現像処理に
際しては、TMAHの新液(300ml)を使用し、表
1に示すように種々の濃度のものを使用した。現像後の
線幅の測定結果、平均値、最大値及び最小値を表1に示
す。得られた測定結果をグラフ化すれば図6のようにな
り、1次式で回帰できることが分かった。平均値に基づ
いた1次回帰式は、アルカリ濃度(TMAH濃度)をy
(重量%)、線幅をw(μm)としたとき、 w=20.37−2.889y (γ=−0.977
7) となった。
【0021】
【表1】
【0022】次に、アルカリ現像液を連続使用した場合
の線幅の変化を測定した。ここでは、新鮮現像液のアル
カリ濃度が2.38であり、また継続的に現像液を使用
したこと以外は、表1の実験と同一の条件で行った。得
られた実験結果を表2に示す。また、得られた実験結果
の線幅の平均値と処理枚数との関係は図7のようにな
り、2次回帰式で回帰できることが分かった。回帰式
は、線幅をw(μm)、枚数をpとすれば、 p=11.419w2 −316.693w+2195.
880 (γ=−0.826) となった。
【0023】
【表2】
【0024】表2から、新鮮現像液(アルカリ濃度が
2.38重量%)のときの線幅は13.8μmであるか
ら、仮にアルカリ濃度が2.38重量%のままでレジス
ト濃度が上昇したときに、パターン線幅が1%(通常の
変動許容限界)増加してしまう処理枚数を求める。前記
2次回帰式にw=13.8+0.138≒14.0(μ
m)を代入すると、p=0.302(枚)となる。これ
は、現像液300ml中での処理枚数値であるから、レ
ジスト濃度は、レジスト比重を1.3とすれば、 30×35×1.5×10-4×1.3×0.30=0.
0614(g/300ml) となる。すなわち、0.204g/lとなる。
【0025】したがって、現像液のパターン線幅を1%
の誤差内に収めようとすると、レジスト濃度の最大限界
値は約0.20g/lとなる。これが、レジスト濃度x
を 0.0≦x≦0.2 の範囲にあるように制御する理由である。ところで、現
像液中のアルカリ濃度の変動幅は±2%以内であること
が好ましいとされている。新鮮現像液のアルカリ濃度が
2.38重量%とすると、レジスト濃度が0g/lの場
合のアルカリ濃度の許容変動幅は2.33〜2.43重
量%となる。この結果、図5の座標系では、座標(0,
2.33)と座標(0.20,2.38)とを結ぶ直線
が、アルカリ濃度が低すぎて現像不良を生じさせる限界
であることが分る。一方、フォトレジスト濃度が0.2
0g/lの状態にあるときでも、アルカリ濃度の変動幅
としては±2%(すなわち全体で4%)となるべきであ
るから、フォトレジスト濃度が0g/lのときのアルカ
リ濃度の上限値(2.43重量%)を通り、かつ前記下
限の直線と同一の傾きを有する直線が適切なアルカリ濃
度の上限を決定するとみなし得る。これが、 Y×(x/10+0.98)≦y≦Y×(x/10+
1.02) の理由である。
【0026】以上の説明から明らかなように、フォトレ
ジスト濃度とアルカリ濃度とを図5に示す領域内に制御
すれば、すなわち現像液中のフォトレジスト濃度x(g
/lを 0.0≦x≦0.2 の範囲内にあるように制御し、かつ現像液中のアルカリ
濃度y(重量%)を、 Y×(x/10+0.98)≦y≦Y×(x/10+
1.02) の範囲内にあるように制御すれば、良好な現像が行える
ことになる。
【0027】次に、上述の実施例の動作を、図2に示す
制御フローチャートにしたがって説明する。ステップS
1では、排液弁SVを閉じる等の初期設定を行う。ステ
ップS2では、操作者または他のホストコンピュータか
ら現像指令がなされるのを待つ。現像指令がなされると
ステップS3に移行する。ステップS3では、液面計1
3bの測定結果により、液面が上限であるか否かを判断
する。液面が上限でない場合にはステップS4に移行す
る。ステップS4では、ポンプP1をONする。これに
より、新鮮現像液貯溜部4から新鮮な現像液が貯溜槽1
に供給される。液面が上限に達するまでポンプP1をO
Nし、液面が上限に達するとステップS5に移行してポ
ンプP1をOFFする。
【0028】ステップS6では、ポンプP3,P4をO
Nする。これにより、貯溜槽1内の現像液が供給管11
及び測定管17を通過してノズル部14及び測定部6に
供給される。現像処理部3では、収容された基板2に対
して現像処理が施される。また、測定部6において現像
液のアルカリ濃度及びレジスト濃度が測定される。ステ
ップS7では、導電率計19及び光センサ20の測定結
果により、現像液中のアルカリ濃度y(重量%)がY×
(x/10+0.98)以上であるか否かを判断する。
アルカリ濃度yがこの下限値以下の場合には、ステップ
S8に移行する。ここでは、アルカリ濃度が低すぎるの
で、ポンプP2をONし、濃厚現像液貯溜部5から濃厚
現像液を貯溜槽1に補給する。
【0029】ステップS9では、導電率計19及び光セ
ンサ20の測定結果により、アルカリ濃度y(重量%)
がY×(x/10+1.02)に達したか否かを判断す
る。アルカリ濃度yが上限に至った場合にはステップS
10に移行し、ポンプP2をOFFする。なお、ここで
の演算には、導電率計19の測定結果及び光センサ20
による透過率の測定結果が用いられ、それらに基づいて
フォトレジスト濃度xとアルカリ濃度yとが演算され、
さらに上式の大小関係が判断される。
【0030】ステップS11では、光センサ20の透過
率の測定結果により、レジスト濃度x(g/l)が0.
2(上限)以上となっているか否かを判断する。フォト
レジスト濃度xが上限に達している場合には、ステップ
S12に移行してアラーム22をONする。またステッ
プS13では、ポンプP1をONする。これにより新鮮
現像液貯溜部4から新鮮な現像液が貯溜槽1に補給され
る。
【0031】ステップS14では、レジスト濃度x(g
/l)が0.18以下になったか否かを判断する。フォ
トレジスト濃度xが0.18以下になれば、臨界濃度よ
りもフォトレジスト濃度が充分に低くなったと判断でき
るので、ステップS15に移行して、アラーム22をO
FFする。ステップS16では、この段階で液面が上限
に達しているか否かを判断する。液面が上限に達してい
る場合には、ステップS17に移行してポンプP1をO
FFする。また、ステップS14でフォトレジスト濃度
xが充分に低下していない場合、及びステップS16で
液面が上限に達していない場合には、そのままステップ
S18に移行する。
【0032】ステップS18では、現像終了指令がなさ
れたか否かを判断する。現像終了指令がなされるまでは
ステップS7に移行し、ステップS7以降の処理を繰り
返す。これにより、現像処理中においては、フォトレジ
スト濃度、アルカリ濃度及び液面の監視がなされる。な
お、終了指令には、排液指令を伴った指令と伴わない指
令とがある。
【0033】終了指令がなされるとステップS19に移
行する。ステップS19では、ポンプP3,P4をOF
Fする。ステップS20では、排液指令を伴った終了指
令がなされたか否かを判断する。通常の現像時には、新
鮮液または濃厚液を補給するだけであるが、所定回数の
現像処理を行った後には全液交換することも行われる。
全液交換の場合には、排液指令を伴った終了指令がなさ
れるので、ステップS21に移行する。ステップS21
では、排液弁SVを開く。これにより、貯溜槽1に貯溜
された現像液はすべて排出される。
【0034】ここでは、現像液のフォトレジスト濃度
(疲労度)及びアルカリ濃度を常に監視し、図5に示す
領域内にあるように制御するので、基板現像を常に正確
に行えるようになる。また、アルカリ濃度の低下や疲労
度の増大による全液交換がほとんど不要になる。したが
って、現像液の連続運転時間が従来に比べて長くなる。
また、濃厚液によりアルカリ濃度を回復させているの
で、標準濃度の現像液で濃度回復を行う場合に比べて、
短時間で濃度が回復し、またオーバーフローにより排液
される液量が減少する。
【0035】〔他の実施例〕 (a) 本発明は、図5の斜線の範囲でフォトレジスト
濃度とアルカリ濃度とが制御される場合に限定されるこ
とはなく、少なくとも当該範囲を出ないように制御され
れば足りる。したがって、当該範囲内のさらに限定され
た範囲内に制御する構成によっても本発明を実施でき
る。 (b) 新鮮現像液貯溜部4及び濃厚現像液貯溜部5に
加えて純水貯溜部を設け、3種類の液により濃度管理を
行う構成としてもよい。 (c) 導電率計19及び光センサ20を貯溜槽1内に
配置する構成としてもよい。この場合には、測定部6へ
の分岐配管17やポンプP3等の構成要素が不要とな
る。 (d) アルカリ濃度の検出手段として、中和滴定装置
やpH計等の他の計測装置を用いてもよい。また、フォ
トレジスト濃度についても、光センサ20以外の装置を
用いてもよい。 (e) ポンプをON/OFFする構成に代えて、アル
カリ濃度及びフォトレジスト濃度に応じた流量制御によ
り、各貯溜部から貯溜槽に現像液等を供給する構成とし
てもよい。
【0036】
【発明の効果】本発明に係る基板現像装置では、現像液
の溶解樹脂濃度とアルカリ濃度との測定結果に応じて現
像液中のアルカリ濃度が制御されるので、基板現像をよ
り正確に行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による現像装置のブロック模
式図。
【図2】その制御フローチャート。
【図3】アルカリ濃度と比導電率との関係を示すグラ
フ。
【図4】処理枚数と透過率との関係を示すグラフ。
【図5】フォトレジスト濃度とアルカリ濃度の制御領域
を示すグラフ。
【図6】アルカリ濃度と現像パターン線幅との関係を示
すグラフ。
【図7】現像パターン線幅と処理枚数との関係を示すグ
ラフ。
【符号の説明】
1 現像液貯溜槽 2 ガラス基板 3 現像処理部 4 新鮮現像液貯溜部 5 濃厚現像液貯溜部 19 導電率計 20 光学センサ P4 ポンプ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】感光性樹脂が塗布されかつ所定のパターン
    に露光された基板をアルカリ現像液により現像する基板
    現像装置であって、 前記基板が収容される現像処理部と、 前記アルカリ現像液が貯溜される現像液貯溜部と、 前記現像処理部と前記現像液貯溜部との間で前記アルカ
    リ現像液を循環させる循環手段と、 前記現像液貯溜部内のアルカリ現像液に溶解した前記感
    光性樹脂の溶解樹脂濃度を測定する溶解樹脂濃度測定手
    段と、 前記現像液貯溜部内のアルカリ現像液のアルカリ濃度を
    測定するアルカリ濃度測定手段と、 前記現像液貯溜部内のアルカリ現像液の溶解樹脂濃度測
    定手段の測定結果に応じて、前記溶解樹脂濃度を制御す
    る溶解樹脂濃度制御手段と、 前記現像液貯溜部内のアルカリ現像液の溶解樹脂濃度測
    定手段及び前記アルカリ濃度測定手段の測定結果に応じ
    て、前記アルカリ濃度を制御するアルカリ濃度制御手段
    と、を備えた基板現像装置。
  2. 【請求項2】前記溶解樹脂濃度制御手段は、前記アルカ
    リ現像液中の溶解樹脂濃度x(グラム/リットル)が、 0.0≦x≦0.2 の範囲内の所定範囲にあるように制御する手段を有し、 前記アルカリ濃度制御手段は、前記アルカリ現像液中の
    アルカリ濃度y(重量%)が、 Y×(x/10+0.98)≦y≦Y×(x/10+
    1.02) [ただし、Yは未使用アルカリ現像液のアルカリ濃度] の範囲内にあるように制御する手段を有する、請求項1
    に記載の基板現像装置。
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