JPH0710866B2 - ヘキサヒドロ‐2‐オキソピリド[1,2‐aアゼピン‐1‐カルボン酸誘導体及びその製造法 - Google Patents

ヘキサヒドロ‐2‐オキソピリド[1,2‐aアゼピン‐1‐カルボン酸誘導体及びその製造法

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JPH0710866B2
JPH0710866B2 JP28090188A JP28090188A JPH0710866B2 JP H0710866 B2 JPH0710866 B2 JP H0710866B2 JP 28090188 A JP28090188 A JP 28090188A JP 28090188 A JP28090188 A JP 28090188A JP H0710866 B2 JPH0710866 B2 JP H0710866B2
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幸久 後藤
和久 正本
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、医薬,農薬等の製造中間体として有用な、新
規なヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン
‐1-カルボン酸誘導体及びその製造法に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題) 本発明化合物は、本発明者らによって初めて合成された
新規化合物である。本発明者らは、除草活性を有する縮
合複素環化合物の製法について検討した結果、本発明化
合物がその製造中間体として重要であること、及びこの
化合物の有利な製造法を見出し、本発明に至った。
(課題を解決するための手段) 本発明は、一般式(I): [式中R1は、カルボキシル基もしくはその塩、低級アル
コキシカルボニル基、又はフェノキシカルボニル基;R2
は、水素原子,ハロゲン原子,低級アルキル基,低級ア
ルケニル基,低級アルキニル基、又はハロゲン化低級ア
ルキル基;R3は、水素原子,低級アルキル基,ハロゲン
化低級アルキル基,シクロアルキル基,低級アルコキシ
アルキル基,低級アルキルチオアルキル基、又はハロゲ
ン原子,低級アルキル基,低級アルコキシ基,ハロゲン
化低級アルキル基,ニトロ基、もしくはシアノ基で置換
されてもよいフェニル基、核がハロゲン原子,低級アル
キル基、もしくは低級アルコキシ基で置換されてもよい
アラルキル基;又はR2とR3は一緒に、−(CH2)n−
(nは3もしくは4)をそれぞれ意味する。] で表されるヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
ゼピン‐1-カルボン酸誘導体及びその製造法に関する。
R1がカルボキシ基の塩であるときは、アルカリ金属,ア
ルカリ土類金属,遷移金属又はアンモニウムをカチオン
として有することができる。代表的な金属カチオンとし
ては、ナトリウム,カリウム,リチウム,カルシウム,
マグネシウム,バリウム,亜鉛,マンガン,第一銅,第
二銅,第一鉄,第二鉄,チタン,アルミニウム等が、ま
た代表的なアンモニウムカチオンとしては、アンモニウ
ム,トリブチルアンモニウム,ピペリジニウム,ピリジ
ニウム等が挙げられる。
この発明において、低級アルコキシカルボニル基には、
メトキシカルボニル,エトキシカルボニル,プロポキシ
カルボニル,ブトキシカルボニル,イソプロポキシカル
ボニル,イソブトキシカルボニル又は第三ブチルオキシ
カルボニル等が含まれる。
ハロゲン原子には、フッ素,塩素,臭素又はヨウ素原子
が含まれる。
低級アルキル基には、メチル,エチル,プロピル,イソ
プロピル,ブチル,イソブチル,イソペンチル等が含ま
れる。
低級アルケニル基には、ビニル,アリル,イソプロペニ
ル,2-ブテニル,1,3-ブタジエニル,2-ペンテニル,1,4-ペ
ンタジエニル,1,6-ヘプタジエニル,1-ヘキセニル等が含
まれる。
低級アルキニル基には、エチニル,2-プロピニル等が含
まれる。
ハロゲン化低級アルキル基には、クロロメチル,ブロモ
メチル,ジフルオロメチル,トリフルオロメチル等が含
まれる。
シクロアルキル基には、シクロプロピル,シクロペンチ
ル,シクロヘキシル等が含まれる。
低級アルコキシアルキル基には、メトキシメチル,エト
キシメチル,プロポキシメチル,ブトキシメチル,エト
キシエチル等が含まれる。
低級アルキルチオアルキル基には、メチルチオメチル,
エチルチオメチル,メチルチオエチル,エチルチオエチ
ル等が含まれる。
低級アルコキシ基には、メトキシ,エトキシ,プロポキ
シ,イソプロポキシ,ブトキシなどが含まれる。
アラルキル基には、ベンジル,フェネチル,3-フェニル
プロピル,3-フェニルブチル等が含まれる。
本発明における一般式(I)の化合物のうち、R1が、低
級アルコキシカルボニル基又はフェノキシカルボニル基
である化合物、即ち一般式(I′): [式中R1′は、低級アルコキシカルボニル基、又はフェ
ノキシカルボニル基;R2は、水素原子,ハロゲン原子,
低級アルキル基,低級アルケニル基,低級アルキニル
基、又はハロゲン化低級アルキル基;R3は、水素原子,
低級アルキル基,ハロゲン化低級アルキル基,シクロア
ルキル基,低級アルコキシアルキル基,低級アルキルチ
オアルキル基、又はハロゲン原子,低級アルキル基,低
級アルコキシ基,ハロゲン化低級アルキル基,ニトロ
基、もしくはシアノ基で置換されてもよいフェニル基、
核がハロゲン原子,低級アルキル基、もしくは低級アル
コキシ基で置換されてもよいアラルキル基;又はR2とR3
は一緒に、−(CH2)n−(nは3もしくは4)をそれ
ぞれ意味する。] で表される化合物は、一般式(II)又は(II′): [式中R1′は、式(I′)中の定義と同じ。] で表される化合物と、一般式(III): [式中R2,R3は、式(I′)中の定義と同じ。;R4,R
5は、水素原子,アルキル基,フェニル基、又はR4及びR
5が、R4とR5の係合する炭素原子と共にシクロアルキル
基を形成してもよい。] で表される化合物とを反応させることによって製造する
ことができる。
原料として用いる式(II)又は(II′)の化合物及び式
(III)の化合物は、従来既知の方法で製造することが
できる。式(III)におけるR4とR5は、目的物に導入さ
れない基であり、入手容易で安価なものを選択利用する
のが望ましい。R4,R5として、メチル基又はエチル基が
好ましい。式(II)と式(II′)は、互変異性体であ
る。
一般式(II)又は(II′)の化合物と一般式(III)の
化合物との反応は、無溶媒下又は不活性溶媒中で行うこ
とができる。好ましい溶媒の例として、ベンゼン,トル
エン,キシレン,テトラリン,デカリン,ジフェニルエ
ーテル等が挙げられる。反応温度としては、一般式(II
I)で表される化合物の熱分解温度を目安として、約100
℃から200℃程度の温度が用いられる。
また、一般式(III)で表される化合物の使用量は、一
般式(II)又は(II′)で表される化合物に対して1当
量以上、好ましくは1.2〜3.0当量の範囲である。
本発明における一般式(I)の化合物のうち、R2がハロ
ゲン原子である化合物、即ち一般式(I″): [式中R1,R3は、一般式(I)における定義と同じ;R2
ハロゲン原子を表す。] で表される化合物は、一般式(IV): [式中R1,R3は、一般式(I)における定義と同じ。] で表される化合物にハロゲン化剤を作用させることによ
って製造することができる。
原料として用いる一般式(IV)の化合物は、上記に述べ
た方法で製造することができる。
ハロゲン化剤としては、N-クロロコハク酸イミド,N-ブ
ロモコハク酸イミド,塩素,臭素,ヨウ素,塩化スルフ
リル等があげられる使用する。溶媒としては、塩化メチ
レン,クロロホルム,四塩化炭素,トリクロロエチレ
ン,テトラクロロエタン 等の塩素化炭化水素が好適である。また、反応系中に酸
が遊離する場合には、塩基の共存下反応を行うことによ
り好結果が得られる。用いられる塩基としては、炭酸ナ
トリウム,炭酸カリウム,炭酸リチウム,炭酸水素ナト
リウム,炭酸水素カリウム,水酸化ナトリウム,水酸化
カリウム,ピリジン,トリエチルアミン等が挙げられ
る。
反応は、0℃付近から用いる溶媒の沸点までで行うこと
ができるが、0℃から約30℃の範囲で行うのが好まし
い。用いるハロゲン化剤の量は、式(IV)の化合物に対
し、当量もしくは少過剰量用いるのが好ましい。過剰に
用いた場合には、副生成物のできることがあり、また経
済的に不利である。
本発明における一般式(I)の化合物のうちR1がカルボ
キシ基又はその塩である化合物、即ち一般式(I): [式中R1″は、カルボキシ基又はその塩;R2′,R3は一般
式(I)における定義と同じ。] で表される化合物は、一般式(I′): [式中R1′は、低級アルコキシカルボニル基、又はフェ
ノキシカルボニル基;R2は、水素原子,ハロゲン原子,
低級アルキル基,低級アルケニル基,低級アルキニル
基、又はハロゲン化低級アルキル基;R3は、水素原子,
低級アルキル基,ハロゲン化低級アルキル基,シクロア
ルキル基,低級アルコキシアルキル基,低級アルキルチ
オアルキル基、又はハロゲン原子,低級アルキル基,低
級アルコキシ基,ハロゲン化低級アルキル基,ニトロ
基、もしくはシアノ基で置換されてもよいフェニル基、
核がハロゲン原子,低級アルキル基、もしくは低級アル
コキシ基で置換されてもよいアラルキル基;又はR2とR3
は一緒に、−(CH2)n−(nは3もしくは4)をそれ
ぞれ意味する。] で表される化合物を加水分解することによって製造する
ことができる。
原料として用いる一般式(I′)の化合物は、先に述べ
た方法で製造することができる。
加水分解は、酸,アルカリ又はその他の方法が用いられ
る。酸による加水分解は、塩酸,硫酸又は臭化水素酸等
によって行うことができる。通常、室温から150℃の範
囲の温度で実施される。アルカリによる加水分解では、
アルカリとして水酸化ナトリウム,水酸化カリウムが一
般的に使われ、水溶液,メタノール溶液,エタノール溶
液中で室温もしくは加熱して反応させる。この場合に
は、R1″がカルボキシ基の塩であるのが得られるが、こ
れを鉱酸によって遊離カルボン酸にすることができる。
その他の加水分解としては、ルチジン,コリジン,ジメ
チルホルムアミドなどを溶媒として、ヨウ化リチウム,
臭化リチウム,シアン化ナトリウム又は酢酸ナトリウム
を加熱下に作用させ、しかる後に酸で処理する方法を挙
げることができる。
式(I)において、R1″がカルボキシ基の塩である化
合物は、R1″がカルボキシ基である化合物と対応する塩
基との反応によって得ることができる。
なお、本発明の製造法によって得られる本発明の化合物
(I)から、例えば下記ルートによって、一般式(V)
で示される除草活性を有する化合物が得られる。
以下に実施例を挙げて本発明を更に詳しく説明する。
(実施例) 実施例1 メチル 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐4-メチル‐2-オ
キソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボキシレート メチル α‐(ヘキサヒドロ‐2-アゼピニリデン)アセ
テート20.0g及びキシレン77mlの混合物を穏やかに加熱
還元させながら、2,2,6-トリメチル‐4H-1,3-ジオキシ
ン‐4-オン41.9gのキシレン(41ml)溶液を45分間かけ
て滴下し、更に2時間加熱還流を続けた。その間副生す
るアセトンは、ディーンスターク装置により系外に除去
した。反応混合物を室温まで放冷し、生じた結晶を別
洗浄し、減圧下で乾燥すると、メチル 2,6,7,8,9,10-
ヘキサヒドロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
ゼピン‐1-カルボキシレートが21.4g(収率77%)得ら
れた。
融点:174〜176℃ IR(KBrディスク):1628,1722cm-1 NMR(CDCl3)δ値:1.40〜2.00(m,6H),2.28(s,3H),
2.47〜2.97(m,2H),3.83(s,3H),3.70〜4.20(m,2
H),6.09(s,1H) 実施例2 メチル 3-ブロモ‐2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐4-メ
チル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボキ
シレート 実施例1で得られたメチル 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒド
ロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-
カルボキシレート14.1g、炭酸ナトリウム38.2g、及び塩
化メチレン178mlの混合物に 臭素3.69ml及び塩化メチレン89mlの混合物を室温で30分
間かけて滴下し、更に室温で1時間20分攪拌した。反応
混合物を10%重亜硫酸ナトリウム水溶液,飽和重曹水,
水の順で洗浄し、硫酸マグネシウムで乾燥後、濃縮して
得た結晶性残さを酢酸エチルとメタノールの混合物が再
結晶すると、メチル 3-ブロモ‐2,6,7,8,9,10-ヘキサ
ヒドロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン
‐1-カルボキシレートが15.7g(収率83%)得られた。
融点:212〜213℃ IR(KBrディスク):1580,1620,1728cm-1 NMR(CDCl3)δ値:1.43〜2.10(m,6H),2.47〜2.97(m,
2H),2.62(s,3H),3.83(s,3H),3.90〜4.30(m,2H) 実施例3 3-ブロモ‐2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐4-メチル‐2-
オキソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボン酸 実施例2で得られたメチル 3-ブロモ‐2,6,7,8,9,10-
ヘキサヒドロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
ゼピン‐1-カルボキシレート15.5g及び10%水酸化ナト
リウム水溶液98gの混合物を100℃で3時間攪拌下に加熱
した。反応混合物を室温まで放冷後、氷水で冷却しなが
ら濃塩酸21.6ml加えた。析出した結晶を別,洗浄し、
減圧下で乾燥すると、3-ブロモ‐2,6,7,8,9,10-ヘキサ
ヒドロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン
‐1-カルボン酸が14.2g(収率97%)得られた。
融点:234〜239℃ IR(KBrディスク):1600,1700cm-1 実施例4 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐4-メチル‐2-オキソピリ
ド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボン酸 実施例1で得られたメチル 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒド
ロ‐4-メチル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-
カルボキシレート15.64g及び10%水酸化ナトリウム水溶
液134gの混合物を60℃で3時間攪拌下に加熱した。反応
混合物を室温まで放冷後、氷水で冷却しながら濃塩酸2
9.5mlを加えた。析出した結晶を別,洗浄し、減圧下
で乾燥すると、題記化合物が11.71g得られた。また、
液を塩化メチレンで抽出した後、濃縮して得られた結晶
性残さをメタノールと塩化メチレンとの混合溶媒から再
結晶すると、題記化合物が1.93g得られた。合計収率93
%。
融点:187〜188℃ IR(KBrディスク):1625,1640,1693cm-1 NMR(CDCl3−DMSO−d6)δ値:1.50〜2.10(m,6H),2.47
(s,3H),3.60〜4.10(m,2H),4.10〜4.50(m,2H),6.4
9(s,1H) 実施例5 メチル 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐3,4-ジメチル‐2
-オキソピリド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボキシレート メチル α‐(ヘキサヒドロ‐2-アゼピニリデン)アセ
テート2.87g、2,2,5,6-テトラメチル‐4H-1,3-ジオキシ
ン‐4-オン6.63g及びメシチレン16mlの混合物を160℃で
2時間加熱した。その間に副生するアセトンは、ディー
ンスターク装置により系外に除去した。反応混合物を室
温まで放冷し、生じた結晶を別洗浄し、減圧下で乾燥
すると、題記化合物が3.26g(収率77%)得られた。
融点:164〜166℃ IR(KBrディスク):1632,1735cm-1 NMR(CDCl3)δ値:1.50〜2.00(m,6H),2.03(s,3H),
2.30(s,3H),2.55〜2.95(m,2H),3.83(s,3H),3.80
〜4.20(m,2H) 実施例6 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒドロ‐3,4-ジメチル‐2-オキソ
ピリド[1,2-a]アゼピン‐1-カルボン酸 実施例5で得られたメチル 2,6,7,8,9,10-ヘキサヒド
ロ‐3,4-ジメチル‐2-オキソピリド[1,2-a]アゼピン
‐1-カルボキシレート2.63g及び10%水酸化ナトリウム
水溶液21gの混合物を60℃で2.5時間攪拌下に加熱した。
反応混合物を室温まで放冷後、氷水で冷却しながら濃塩
酸4.6mlを加えた。析出した結晶を別,洗浄し、減圧
下で乾燥すると、題記化合物が1.33g得られた。また、
液を塩化メチレンで抽出した後、濃縮して得られた結
晶性残さをメタノールと塩化メチレンとの混合溶媒から
再結晶すると、題記化合物が1.04g得られた。合計収率9
5%。
融点:188〜192℃ IR(KBrディスク):1620,1658cm-1 NMR(CDCl3)δ値:1.50〜2.00(m,5H),2.10(s,3H),
2.46(s,3H),3.70〜4.10(m,2H),4.10〜4.50(m,2
H),17.5〜18.9(br,1H)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一般式(I): [式中R1は、カルボキシル基もしくはその塩、低級アル
    コキシカルボニル基、又はフェノキシカルボニル基;R2
    は、水素原子,ハロゲン原子,低級アルキル基,低級ア
    ルケニル基,低級アルキニル基、又はハロゲン化低級ア
    ルキル基;R3は、水素原子,低級アルキル基,ハロゲン
    化低級アルキル基,シクロアルキル基,低級アルコキシ
    アルキル基,低級アルキルチオアルキル基、又はハロゲ
    ン原子,低級アルキル基,低級アルコキシ基,ハロゲン
    化低級アルキル基,ニトロ基、もしくはシアノ基で置換
    されてもよいフェニル基、核がハロゲン原子,低級アル
    キル基、もしくは低級アルコキシ基で置換されてもよい
    アラルキル基;又はR2とR3は一緒に、−(CH2)n−
    (nは3もしくは4)をそれぞれ意味する。] で表されるヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
    ゼピン‐1-カルボン酸誘導体。
  2. 【請求項2】一般式(II)又は(II′): [式(II)又は(II′)中R1′は、低級アルコキシカル
    ボニル基、又はフェノキシカルボニル基を表す。] で表される化合物と、一般式(III): [式中R2は、水素原子,ハロゲン原子,低級アルキル
    基,低級アルケニル基,低級アルキニル基、又はハロゲ
    ン化低級アルキル基;R3は、水素原子,低級アルキル
    基,ハロゲン化低級アルキル基,シクロアルキル基,低
    級アルコキシアルキル基,低級アルキルチオアルキル
    基、又はハロゲン原子,低級アルキル基,低級アルコキ
    シ基,ハロゲン化低級アルキル基,ニトロ基、もしくは
    シアノ基で置換されてもよいフェニル基、核がハロゲン
    原子,低級アルキル基、もしくは低級アルコキシ基で置
    換されてもよいアラルキル基;又はR2とR3は一緒に、−
    (CH2)n−(nは3もしくは4)をそれぞれ意味す
    る。R4,R5は、水素原子,アルキル基,フェニル基、又
    はR4及びR5が、R4とR5の結合する炭素原子と共にシクロ
    アルキル基を形成してもよい。] で表される化合物とを反応させることを特徴とする一般
    式(I′): [式中R1′は、低級アルコキシカルボニル基、又はフェ
    ノキシカルボニル基;R2は、水素原子,ハロゲン原子,
    低級アルキル基,低級アルケニル基,低級アルキニル
    基、又はハロゲン化低級アルキル基;R3は、水素原子,
    低級アルキル基,ハロゲン化低級アルキル基,シクロア
    ルキル基,低級アルコキシアルキル基,低級アルキルチ
    オアルキル基、又はハロゲン原子,低級アルキル基,低
    級アルコキシ基,ハロゲン化低級アルキル基,ニトロ
    基、もしくはシアノ基で置換されてもよいフェニル基、
    核がハロゲン原子,低級アルキル基、もしくは低級アル
    コキシ基で置換されてもよいアラルキル基;又はR2とR3
    は一緒に、−(CH2)n−(nは3もしくは4)をそれ
    ぞれ意味する。] で表されるヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
    ゼピン‐1-カルボン酸誘導体の製造法。
  3. 【請求項3】一般式(IV): [式中R1は、カルボキシル基もしくはその塩、低級アル
    コキシカルボニル基、又はフェノキシカルボニル基;R3
    は、水素原子,低級アルキル基,ハロゲン化低級アルキ
    ル基,シクロアルキル基,低級アルコキシアルキル基,
    低級アルキルチオアルキル基、又はハロゲン原子,低級
    アルキル基,低級アルコキシ基,ハロゲン化低級アルキ
    ル基,ニトロ基、もしくはシアノ基で置換されてもよい
    フェニル基、核がハロゲン原子,低級アルキル基、もし
    くは低級アルコキシ基で置換されてもよいアラルキル基
    を意味する。] で表される化合物にハロゲン化剤を作用させることを特
    徴とする一般式一般式(I″): [式中R1,R3は、上記と同じ;R2′はハロゲン原子を表
    す。] で表されるヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
    ゼピン‐1-カルボン酸誘導体の製造法。
  4. 【請求項4】一般式(I′): [式中R1′は、低級アルコキシカルボニル基、又はフェ
    ノキシカルボニル基;R2は、水素原子,ハロゲン原子,
    低級アルキル基,低級アルケニル基,低級アルキニル
    基、又はハロゲン化低級アルキル基;R3は、水素原子,
    低級アルキル基,ハロゲン化低級アルキル基,シクロア
    ルキル基,低級アルコキシアルキル基,低級アルキルチ
    オアルキル基、又はハロゲン原子,低級アルキル基,低
    級アルコキシ基,ハロゲン化低級アルキル基,ニトロ
    基、もしくはシアノ基で置換されてもよいフェニル基、
    核がハロゲン原子,低級アルキル基、もしくは低級アル
    コキシ基で置換されてもよいアラルキル基;又はR2とR3
    は一緒に、−(CH2)n−(nは3もしくは4)をそれ
    ぞれ意味する。] で表される化合物を加水分解することを特徴とする一般
    式(I): [式中R1″は、カルボキシ基、又はその塩;R2,R3は上記
    と同じ。] で表されるヘキサヒドロ‐2-オキソピリド[1,2-a]ア
    ゼピン‐1-カルボン酸誘導体の製造法。
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