JPH07106629A - ソリッドステートリレー及びその製造方法 - Google Patents

ソリッドステートリレー及びその製造方法

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JPH07106629A
JPH07106629A JP24341593A JP24341593A JPH07106629A JP H07106629 A JPH07106629 A JP H07106629A JP 24341593 A JP24341593 A JP 24341593A JP 24341593 A JP24341593 A JP 24341593A JP H07106629 A JPH07106629 A JP H07106629A
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power control
lead frame
semiconductor element
control semiconductor
state relay
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Susumu Fujiwara
享 藤原
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 トランスファーモールドタイプのソリッドス
テートリレーに関し電力制御半導体素子及び各種電子部
品をリードフレームに搭載することによりSSRとして
の部品点数の削減を図る。 【構成】 リードフレーム2と、トライアックチップ
4、点弧用ソリッドステートリレー3、抵抗8及びコン
デンサ9を有し、前記トライアックチップ4、点弧用ソ
リッドステートリレー3、抵抗8及びコンデンサ9はハ
ンダ付け可能であり、かつ前記リードフレーム2に搭載
されてなり該リードフレーム2に搭載した前記トライア
ックチップ4、点弧用ソリッドステートリレー3、抵抗
8及びコンデンサ9をトランスファーモールドにて樹脂
封止されてなることを特徴とするソリッドステートリレ
ー。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームに電力
制御半導体素子及び電子部品を搭載し、トランスファー
モールド法によって樹脂封止するソリッドステートリレ
ー及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のトランスファーモールド法にて樹
脂封止されたソリッドステートリレー(以下、「SS
R」と記す。)の構造について図3及び図4を用いて説
明する。ここで図3は従来のSSRの内部透視図であり
図(a)は平面図、図(b)は側面図である。また、図
4は内部結線図である。
【0003】リードフレーム2に電力制御半導体素子で
あるトライアックチップ4を高融点ハンダ5にてハンダ
付けし、トライアックチップ4を駆動するフォトトライ
アックチップ10と赤外発光ダイオードチップ11は、
絶縁ペーストやAgペーストによりリードフレーム2上
に取付られていた。次いでこれらトライアックチップ
4,フォトトライアックチップ10,赤外発光ダイオー
ドチップ11は、モールド樹脂1にてトランスファーモ
ールド法により樹脂封止されていた。
【0004】また、図4に示すようにノイズ吸収回路を
形成する抵抗8やコンデンサ9は外付け部品として構成
されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】一般にSSRは、エア
コン室外機のファンモータや複写機の露光ランプ等の制
御に使用されている。
【0006】SSRをエアコン室外機や複写機等に取り
付ける際、SSR及びその周辺回路の部品点数を少なく
し取り付け工数を短縮したいという要望がある。
【0007】その要望に対応するには、従来のトランス
ファーモールドタイプのSSRにおいて外付け部品とし
て接続されていたノイズ吸収回路を形成する抵抗8及び
コンデンサ9等をSSRに内蔵することが必要になる。
【0008】従来はフォトトライアックチップ10を絶
縁ペーストで、赤外発光ダイオードチップ11をAgペ
ーストでリードフレームに取り付けられAu線7でワイ
ヤーボンドした構造となっていた。
【0009】しかし、この構造の中にノイズ吸収回路を
形成する抵抗8及びコンデンサ9をハンダ付け搭載する
とフラックスの除去が必要となる。このフラックスを除
去するため、超音波洗浄を行うと前記フォトトライアッ
クチップ10及び赤外発光ダイオードチップ11のペー
スト剥離やAu線の断線が発生するという問題点があっ
た。
【0010】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
でハンダ付け可能な電力制御半導体素子及び各種電子部
品をリードフレーム上に搭載しトランスファーモールド
により樹脂封止できるSSRを提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、SSRにおいて、リードフレームと、電力制御半導
体素子、入出力を絶縁され前記電力制御半導体素子を駆
動する第1の電子部品及び外部ノイズ吸収回路を形成す
る第2の電子部品を有し、前記電力制御半導体素子及び
第1、第2の電子部品は、ハンダ付け可能であり、かつ
前記リードフレームに搭載されてなり、該リードフレー
ムに搭載した前記電力制御半導体素子及び第1、第2の
電子部品をトランスファーモールドにて樹脂封止されて
なることを特徴とする。
【0012】また、SSRの製造方法において、リード
フレームと、該リードフレームに搭載されトランスファ
ーモールドにより樹脂封止される電力制御半導体素子、
入出力を絶縁され前記電力制御半導体素子を駆動する第
1の電子部品及び外部ノイズ吸収回路を形成する第2の
電子部品を有し、前記リードフレームに異なる融点を有
するハンダにて、前記電力制御半導体素子及び第1、第
2の電子部品をハンダ付け処理する手段を備えたことを
特徴とする。
【0013】更に、請求項1または2記載のSSR及び
その製造方法において、入出力を絶縁され電力制御半導
体素子を駆動する第1の電子部品は、点弧用ソリッドス
テートリレーからなることを特徴とする。
【0014】最後に、請求項2記載のSSRの製造方法
において、ハンダ付け処理する手段は、高融点ハンダに
て前記電力制御半導体素子をリードフレームにダイボン
ドし、次いで融点が封止樹脂の成型温度より高く、前記
電力制御半導体素子をダイボンドしたハンダの溶融温度
より低い中融点ハンダにてリードフレームにハンダ付け
したことを特徴とする。
【0015】
【作用】上記構成により本発明のSSRによれば、電力
制御半導体素子及び第1、第2の電子部品をハンダ付け
可能に構成したことによりノイズ吸収回路をSSRに内
蔵でき、その結果、SSRとしての部品点数を少なくし
SSR搭載機器への取り付け工数の短縮が図れる。
【0016】また、一工程で同時に搭載できない電力制
御半導体素子や第1及び第2の電子部品を溶融温度の異
なるハンダを用いてリードフレームに搭載することがで
きる。
【0017】更に、請求項3記載のSSRによれば、樹
脂封止された点弧用SSRを使用しているため、従来の
ように超音波洗浄により発生したペースト剥離やAu線
断線は発生しない。
【0018】最後に、電力半導体素子を高融点ハンダに
てリードフレーム上に搭載し、次いで第1、第2の電子
部品をトランスファーモールドの成型温度以上の融点を
有する中融点ハンダにてリードフレーム上に搭載するこ
とによりトランスファーモールドにて樹脂封止すること
が可能となる。
【0019】
【実施例】以下図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。図1は本発明のSSRの内部透視図であり、図
(a)は平面図、図(b)は側面図である。また図2
は、その製造工程図である。
【0020】本発明によるSSRの製造方法は、まず図
2(a)の如くリードフレーム2上に高融点ハンダ5
(例えば融点300℃)を載置し、その上に図2(b)
の如く電力制御半導体素子であるトライアックチップ4
を搭載しリードフレーム2をリフロー炉に流し高融点ハ
ンダ5を溶融、硬化させトライアックチップ4をハンダ
付けする。その後トライアックチップ4とリードフレー
ム2をAlワイヤー7′により電気的に接続する。
【0021】次に電子部品を搭載する箇所に図2(c)
の如くフラックス入り中融点ハンダ6(例えば融点22
0℃)を載置し、その上に図2(d)の如く第1の電子
部品である点弧用SSR3及び第2の電子部品である抵
抗8及びコンデンサ9を搭載する。その後、リフロー炉
に流し中融点ハンダ6を溶融、硬化させ電子部品をハン
ダ付けする。次にハンダ付けにより発生したフラックス
を除去するため超音波洗浄を行う。
【0022】ここで、点弧用SSR3はフォトトライア
ックチップ10及び赤外発光ダイオードチップ11を内
蔵し、Au線及びペーストにて内部結線した後樹脂封止
したもので、本発明のSSRでは前記点弧用SSR3を
使用しているため従来の方法において超音波洗浄により
発生したペースト剥離やAu線断線は発生しない。
【0023】その後、トランスファーモールド法により
樹脂1にて封止し、リードフレーム2のタイバー部をカ
ットすることにより図1の実施例に示す構造のSSRが
完成する。
【0024】ここでトランスファーモールドの成型温度
は175℃前後であり中融点ハンダ6の融点を210℃
〜230℃とすることによりトランスファーモールドに
よる成型が可能となる。
【0025】また、本構造によればノイズ吸収回路を形
成する抵抗8及びコンデンサ9をSSRに内蔵している
為、トランスファーモールドタイプのSSRとしてSS
R搭載機器への取り付け部品点数の削減が達成出来る。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明のSSR構成
要素である電力制御半導体素子及び第1、第2の電子部
品がハンダ付け可能に構成され、異なる融点を有するハ
ンダにてリードフレームに搭載しトランスファーモール
ドにより樹脂封止されることによりSSRとしての部品
点数を少なくしSSR搭載機器への取り付け工数を短縮
出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のSSRを示す内部透視図であり、図
(a)は正面図、図(b)は側面図である。
【図2】図(a)乃至図(d)は本発明のSSRの製造
工程図である。
【図3】従来品のSSRを示す内部透視図であり、図
(a)は正面図、図(b)は側面図である。
【図4】従来品のSSRを示す内部結線図である。
【符号の説明】
1 モールド樹脂 2 リードフレーム 3 点弧用SSR 4 トライアックチップ 5 高融点ハンダ 6 中融点ハンダ 7 Auワイヤー 7′ Alワイヤー 8 抵抗 9 コンデンサ 10 フォトトライアックチップ 11 赤外発光ダイオードチップ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードフレームと、 電力制御半導体素子、入出力を絶縁され前記電力制御半
    導体素子を駆動する第1の電子部品及び外部ノイズ吸収
    回路を形成する第2の電子部品を有し、 前記電力制御半導体素子及び第1、第2の電子部品は、
    ハンダ付け可能であり、かつ前記リードフレームに搭載
    されてなり、 該リードフレームに搭載した前記電力制御半導体素子及
    び第1、第2の電子部品をトランスファーモールドにて
    樹脂封止されてなることを特徴とするソリッドステート
    リレー。
  2. 【請求項2】 リードフレームと、 該リードフレームに搭載されトランスファーモールドに
    より樹脂封止される電力制御半導体素子、入出力を絶縁
    され前記電力制御半導体素子を駆動する第1の電子部品
    及び外部ノイズ吸収回路を形成する第2の電子部品を有
    し、 前記リードフレームに異なる融点を有するハンダにて、
    前記電力制御半導体素子及び第1、第2の電子部品をハ
    ンダ付け処理する手段を備えたことを特徴とするソリッ
    ドステートリレーの製造方法。
  3. 【請求項3】 入出力を絶縁され電力制御半導体素子を
    駆動する第1の電子部品は、点弧用ソリッドステートリ
    レーからなることを特徴とする請求項1または2記載の
    ソリッドステートリレー及びその製造方法。
  4. 【請求項4】 ハンダ付け処理する手段は、高融点ハン
    ダにて前記電力制御半導体素子をリードフレームにダイ
    ボンドし、次いで融点が封止樹脂の成型温度より高く、
    前記電力制御半導体素子をダイボンドしたハンダの溶融
    温度より低い中融点ハンダにてリードフレームにハンダ
    付けしたことを特徴とする請求項2記載のソリッドステ
    ートリレーの製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006196598A (ja) * 2005-01-12 2006-07-27 Sharp Corp ソリッドステートリレー、電子機器及びソリッドステートリレーの製造方法
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JP2021180208A (ja) * 2020-05-11 2021-11-18 三菱電機株式会社 半導体パッケージ

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