JPH07105056B2 - 半導体レーザ制御回路 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスクに情報を記録し再生するための光学
的記録再生装置にもちいる半導体レーザ制御回路に関す
るものである。

従来の技術 第５図は従来の半導体レーザ制御回路の構成図である。
半導体レーザ１の出力光を光検出器２で受光し、オペア
ンプ３で受光電流を電流−電圧変換して制御誤差電圧を
得る。記録時は光パワーサーボ区間において光パルス波
形のボトム値に相当する光パワー値を基準電圧II4とサ
ーボ系を構成するオペアンプ５により設定し、光パルス
波形のピーク値に相当する光パワー値を基準電圧I6とサ
ーボ系を構成するオペアンプ７により設定する。次に光
パワーホールド区間に設定されたピーク値，ボトム値を
サンプルホールドする（8,9）。変調段10は記録信号11
に従って半導体レーザ１をホールドされたピーク値パワ
ーとボトム値パワーとの間を光パルス変調する。

発明が解決しようとする課題 しかしながら上記のような構成では光パルスのピーク値
で記録し、ボトム値で消去する相変化型の記録材料を用
いた光ディスクに記録すると、記録ピットが涙型にな
る。第３図はこの理由を説明する波形図である。第３図
（ａ）はピーク値で記録、ボトム値で消去動作を行う光
パルス波形、第３図（ｂ）は光ディスク上での記録ピッ
トの形状を示す。第３図（ｃ）は第３図（ａ）の様な光
パルスが照射されたときの光ディスク面上における温度
変化を示す。第３図（ａ）の様にパルス波形がボトム値
とピーク値のみで変調された光パルスを照射すると、第
３図（ｃ）の様にディスク面上での温度変化はパルス波
形の中心12に対して対称にはならず、パルス後半部に蓄
熱する。このために形成されたピットの形状はピット後
半部に尾を引く涙型ピットとなる。この様な涙型ピット
を信号再生すると尾部の影響によりタイムジッターが増
大する。従って読出し誤りも多くなり光ディスクに記録
したデータの信頼性を低下させるという課題があった。

本発明は、記録ピットの形状を記録パルス波形の中心と
対称にしタイムジッターのない信号再生が可能な信頼性
の高い記録を行う半導体レーザ制御回路を提供すること
を目的としている。

課題を解決するための手段 上記目的を達成するために、本発明の半導体レーザ制御
回路においては光パルス波形のボトム値と光パワー値が
零近傍との間を光パルス変調する第二の変調段を設け
る。

作用 本発明は前記した構成により、記録パルス光の直後すな
わちボトム値の前部を零近傍のパワーにパルス変調する
ことにより冷却パルスを発生させる（第４図（ａ））。
記録パルス13の直後に冷却パルスを発生させることによ
り、パルス光が照射された光ディスク面上での温度変化
は第４図（ｃ）の様に、パルス光の中心12に対称にな
る。従って形成された記録ピットの形状も第３図（ｂ）
の様に涙型ピットになることはなく、対称な形となる。
この様な記録ピットを信号再生すると冷却パルスの無い
第３図（ｂ）の記録ピットを信号再生したときと比較し
てタイムジッターを減少することができる。この様に光
ディスクに信頼性の高いデータ記録が可能となる。

実施例 第１図は本発明の一実施例における半導体レーザ制御回
路の構成を示すものである。第２図は同実施例の動作波
形図である。半導体レーザ１の出力光は光検出器２によ
り受光されてオペアンプ３により受光電流を電流−電圧
変換する。このオペアンプ３の出力が光パワー制御誤差
電圧15となり、サーボ系を構成するオペアンプ5,7に入
力される。第１図16は光パルス波形のボトム値のサンプ
ルゲート信号を表し、信号波形図を第２図（ｃ）に示
す。ボトム値サンプルゲート信号16がハイレベルの時は
サンプルホールド回路II8をサンプル状態にし、ボトム
値の光パワーホールド区間となる。ローレベルの時はホ
ールド状態にし、ボトム値の光パワーホールド区間とな
る。

まずボトム値サンプルゲート信号16がハイレベルのと
き、光パワー制御誤差電圧15とボトム値の基準電圧IIと
サーボ系を構成するオペアンプ５で比較出力する。サン
プルホールド回路８はサンプル状態なのでオペアンプ５
の出力電圧が電流源17を駆動し、光パルス波形ボトム値
パワーを設定する（第２図の18）。第２図（ｅ）は半導
体レーザ１の出力光波形を示す。次にサンプルゲート信
号16がローレベルの時、オペアンプ５の出力電圧はサン
プルホールド回路II8によりホールドされるので光パル
ス波形のボトム値パワーは一定に保持される（第２図の
19）。

第１図の20は光パルス波形のピーク値サンプルゲート信
号を表し、信号波形を第２図（ｄ）に示す。ピーク値サ
ンプルゲート信号20がハイレベルの時はサンプルホール
ド回路19をサンプル状態にし、ピーク値の光パワーサー
ボ区間となる。ローレベルの時はホールド状態にして、
ピーク値の光パワーホールド区間になる。

まずピーク値サンプルゲート信号20がハイレベルの時、
光パワー制御誤差電圧15とピーク値の基準電圧Ｉとをサ
ーボ系を構成するオペアンプ７で比較出力する。サンプ
ルホールド回路Ｉはサンプル状態なので、オペアンプ７
の出力電圧がピーク値電流源21を駆動し、光パルス波形
のピーク値パワーを設定する（第２図の22）。次にピー
ク値サンプルゲート信号20がローレベルの時オペアンプ
７の出力電圧はサンプルホールド回路19によりホールド
されるので光パルス波形のピーク値パワーは一定に保持
される（第２図の23）。

変調段I10は第２図（ａ）に示した記録信号11に従って
半導体レーザ１を保持されたピーク値パワー23とボトム
値パワー19との間を光パルス変調する。

変調段II24は半導体レーザ１を保持されたボトム値パワ
ー19と零近傍の光パワー値（第２図の25）との間を冷却
信号26に従って光パルス変調する。冷却信号26（第２図
（ａ））は記録信号11を反転し、遅延線27により一定遅
延時間分遅らせた信号と、元の記録信号をANDして発生
させる（第２図（ｂ））。この様にすることにより記録
信号の直後に冷却信号26を発生させることができる。遅
延線の遅延時間は記録ピットを再生して再生信号の時間
ジッターが最小になる様に選ぶ。

なお再生時には基準電圧III28に切換え、サンプルゲー
ト信号16をハイレベルにし、サンプルホールド回路II8
をサンプル状態にする。さらに変調段II24のスイッチ動
作をオンにしてDC発光状態でサーボ系を動作させる。

発明の効果 以上説明したように、本発明によれば記録パルス光の直
後に冷却パルスを発生させて光ディスクに記録すること
により、記録パルス光の中心に対称な形の記録ピットを
形成することができる。この様な対称な形の記録ピット
は信号再生すると、時間ジッター量は少なくなり光ディ
スクに信頼性の高いデータ記録再生が可能となる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明における実施例の半導体レーザ制御回路
の構成図、第２図は同実施例の動作波形図、第３図は従
来の半導体レーザ制御回路における記録ピットの形状の
説明図、第４図は本発明の半導体レーザ制御回路におけ
る記録ピットの形状の説明図、第５図は従来の半導体レ
ーザ制御回路の構成図である。 １……半導体レーザ、２……光検出器、８……サンプル
ホールド回路II、９……サンプルホールド回路Ｉ、10…
…変調段Ｉ、24……変調段II。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】半導体レーザの出力光を光検出器で受光し
   光パワー制御誤差電圧を発生させる光パワー制御誤差電
   圧発生手段と、半導体レーザの出力光を第一および第二
   および第三の光パワー値に設定するための基準電圧発生
   手段と、光パワーサーボ区間において半導体レーザの出
   力光を第一および第二および第三の光パワー値に制御す
   るサーボ手段と、光パワーホールド区間において第一お
   よび第二および第三の光パワーの制御が各々安定した時
   点におけるサーボ手段の制御電圧値を各々サンプルホー
   ルドするサンプルホールド手段と、前記サンプルホール
   ド手段の出力電圧を半導体レーザに流す電流に変換する
   電流源手段と、第二の光パワー値と第三の光パワー値と
   の間を光パルス変調する第一の光パルス変調手段と、第
   二の光パワー値と光パワー値が零近傍の値との間を光パ
   ルス変調する第二の光パルス変調手段とを備えた半導体
   レーザ制御回路。