JPH07104625A

JPH07104625A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH07104625A
Application number: JP5245782A
Authority: JP
Inventors: Masaru Watanabe; 優渡辺; Masahiro Tsutsumi; 真洋堤; Hiroyuki Sako; 裕之迫
Original assignee: Mita Industrial Co Ltd
Current assignee: Kyocera Mita Industrial Co Ltd
Priority date: 1993-09-30
Filing date: 1993-09-30
Publication date: 1995-04-21

Abstract

(57)【要約】【目的】感光体膜における帯電ムラが種々の原因で変
動しても、その変動の原因を問わず、常に均一濃度の画
像を形成することができる画像形成装置を提供する。【構成】本発明の画像形成装置に於いて、感光体ドラ
ム１３は、導電性を有する基体３０と、基体３０の表面
に形成されている感光体膜１２とを備えている。感光体
膜１２は主帯電器１４によって帯電される。帯電された
感光体膜１２は、光学装置１５によって露光され、静電
潜像が形成される。感光体膜１２上の静電潜像、現像
装置１６によって現像される。表面電位計２６は、感光
体膜１２に於ける基体３０の軸方向における表面電位の
分布を検出する。制御装置２８は、表面電位計２６で検
出された表面電位の分布に対応して、除電ランプ２０の
除電光量の、基体３０の軸方向における分布を調節す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子写真技術を用いた
画像形成装置に関し、特に、単層有機感光体ドラムに帯
電及び画像露光を行うことにより画像を形成する画像形
成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、静電複写装置あるいは印刷装
置等として、電子写真技術を用いた画像形成装置の開発
が活発に進められてきている。

【０００３】図１０は、従来の電子写真技術を用いた画
像形成装置１の系統図である。画像形成装置１は、表面
に感光体膜２が形成された回転可能な感光体ドラム３、
感光体膜２に所定量の電荷を一様に与えるための主帯電
器４、感光体膜２を露光し、感光体膜２上に静電潜像を
形成するための光学装置５、感光体膜２上の静電潜像を
現像するための現像装置６、感光体膜２に形成されてい
るトナー像を記録紙７に転写する転写器８、感光体ドラ
ム３上に残留したトナーを除去するクリーニングブレー
ドを備えるクリーニング装置９、及び感光体ドラム３上
に残留している電荷を除去して、感光体ドラム３の表面
電位を所定の均一な電位に設定するための除電ランプ１
０等を備えている。

【０００４】画像形成装置１によれば、主帯電器４によ
って、感光体膜２に所定量の電荷を一様に与えた後、光
学装置５によって感光体膜２に光が照射され、感光体膜
２上に静電潜像が形成される。その後、現像装置６によ
って、トナーが感光体膜２上に供給され、静電潜像が顕
像化される。感光体ドラム３上のトナー像は、転写器８
によって記録紙７に転写される。転写後に、感光体ドラ
ム３上に残留したトナーは、クリーニング装置９によっ
て除去される。次に、除電ランプ１０によって感光体膜
２上に光が照射され、感光体膜２上に残留している電荷
が除去され、感光体膜２の表面電位が所定の電位に均一
化される。この後、主帯電器４によって、感光体ドラム
３に再び帯電が行われる。これらの一連の過程が、感光
体ドラム３の回転に応じて、連続して繰り返し行われ
る。

【０００５】従来技術に於いて、感光体膜２を構成する
感光体材料として、無機材料あるいは有機材料が用いら
れている。無機材料として、Ｓｅ系材料、アモルファス
Ｓｉ系材料等が用いられている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来技術において、次のような問題がある。すなわち、
感光体膜２の単位面積に主帯電器４によって所定量の電
荷を与えた後、時間の経過に伴って、その電荷の一部が
失われる暗減衰が発生するという問題である。このた
め、感光体ドラム３の回転に従って、感光体膜２におい
て着目する任意の領域が、帯電位置（主帯電器４に近接
する位置）から現像位置（現像装置６に近接する位置）
まで移動する間に、その領域の帯電量が減少してしまう
ことになる。

【０００７】この感光体膜２の表面電位が露光によらず
に減少することは、一般に暗減衰と呼ばれている。この
暗減衰の程度は、感光体膜の帯電保持能や画像形成装置
１の設置されている環境等の種々の要因で変化する。感
光体膜２の帯電保持能やドラムヒータ温度等の機材条件
および画像形成装置１の設置されている環境等のマシン
条件が画像形成装置１毎に異なる場合、暗減衰の程度も
画像形成装置１毎に変動することになる。また、感光体
膜２の帯電保持能や画像形成装置１の設置されている環
境等が経時的に変動してしまう場合、暗減衰の程度も経
時的に変動することになる。暗減衰の程度の変動は、感
光体ドラム３の軸方向における感光体膜２の帯電量の変
動を引き起こし、均一な濃度で画像を形成することが阻
害される。

【０００８】また、従来の画像形成装置１に於いて、そ
の設置環境に係わらず、また、暗減衰の経時変化を考慮
せず、全ての画像形成装置１に、暗減衰による表面電位
の減少を補償する同一のデータが設定されていた。この
データは、例として感光体ドラム３の製造時に於いて計
測された暗減衰の程度に対応する初期データである。

【０００９】従って、暗減衰の程度が、感光体膜の帯電
保持能や画像形成装置１の設置されている環境等の種々
の要因で変動した場合、従来の画像形成装置１は、初期
データによって、変動した暗減衰を補償することができ
ず、また、感光体ドラム３の表面電位のムラを補償する
ことができず、均一な濃度の画像を形成することができ
なくなってしまう。このことは、暗減衰が、画像形成装
置１の長期にわたる使用に伴う経時変化を生じる場合に
於いても同様である。この場合に於いて、画像形成装置
１は、変動した暗減衰を前記初期データによって補償す
ることができず、ムラのない均一な濃度の画像を形成す
ることができなくなってしまう。

【００１０】特に、感光体膜２にアモルファスＳｉ系材
料を用いる場合は、以下の３つの理由から表面電位のム
ラが生じ易い。すなわち、第１に、上記暗減衰量が大き
いこと、第２に、１０Ｖ／１ｄｅｇと温度依存性が大き
いこと、第３に、製造上均一な膜生成（電気特性面）が
困難であることである。

【００１１】更に、主帯電器４がコロトロンチャージャ
ーである場合は、放電ワイヤから感光体膜２に直接コロ
ナ放電が行われるため、スコロトロンチャージャーの場
合と比べて、帯電ムラが生じ易い。

【００１２】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、その目的は、感光対ドラムの軸方向に
おける表面電位のムラを、たとえそのムラが種々の原因
で変動する場合であっても、その変動の原因を問わず、
補正することにより、常に均一濃度の画像を形成するこ
とができる画像形成装置を提供することである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明の画像形成装置
は、導電性を有する基体、及び該基体の表面に形成され
ている感光体膜を備える回転可能な感光体部材と、該感
光体部材の近傍に配置されて、コロナ放電により該感光
体膜を帯電させる帯電手段と、帯電した該感光体膜に画
像に対応する光を照射する露光手段と、該感光体部材の
回転方向に沿って、該露光手段よりも下流側に配置され
ている現像手段と、該感光体膜に於ける帯電状態を検出
する帯電状態検出手段と、該現像手段により現像される
該感光体膜の表面電位を所定の電位に設定するためであ
って、該基体の軸方向における除電光量の分布が調節可
能である除電手段と、該帯電状態検出手段で検出された
該帯電状態に基づいて、該基体の軸方向における除電光
量の分布を調節することにより、該帯電状態を一様にす
る補正手段とを備えており、そのことにより上記目的が
達成される。

【００１４】本発明に於いて、前記帯電状態検出手段
が、前記帯電手段と前記現像手段との間、または現像手
段の位置に配置された、前記基体の軸方向における表面
電位の分布を検出する手段であり、前記補正手段が、検
出された表面電位の分布に基づいて、該基体の軸方向に
おける除電光量の分布を調節する場合がある。

【００１５】本発明に於いて、前記帯電状態検出手段
が、前記現像手段より下流側に配置された、前記基体の
軸方向における画像濃度の分布を検出する手段であり、
前記補正手段が、検出された画像濃度の分布に基づい
て、該基体の軸方向における除電光量の分布を調節する
場合がある。

【００１６】

【作用】本発明の画像形成装置に於いて、感光体部材
は、導電性を有する基体と、該基体の表面に形成されて
いる感光体膜とを備えている。感光体膜は帯電手段によ
ってコロナ放電により帯電される。帯電された感光体膜
は、露光手段によって露光され、静電潜像が形成され
る。感光体膜上の該静電潜像は、現像手段によって現像
される。除電手段は、現像後の感光体膜の表面電位を所
定の電位に設定し、しかも、基体の軸方向における除電
光量の分布を調節することができる。感光体部材の感光
体膜に於いて、帯電手段による帯電に基づく表面電位に
ムラが発生する。また、このムラは、種々の原因で変動
する。

【００１７】帯電状態検出手段は、感光体膜に於ける帯
電状態、即ち帯電ムラの有無、および帯電ムラがある場
合はそのムラの状態を検出する。補正手段は、帯電状態
検出手段で検出された帯電状態に対応して、基体の軸方
向における除電光量の分布を調節する。除電光量は、表
面電位と相関関係があるので、除電光量を調整すること
により表面電位を調整できる。その結果、帯電ムラがた
とえ変動した場合であっても、その変動後の帯電ムラの
状態に応じて表面電位の調整が行われるので、これによ
り、常に均一な画像濃度の画像を形成することができ
る。

【００１８】

【実施例】本発明の画像形成装置は、感光体ドラム軸方
向における感光体膜の表面電位の分布を検出した後、そ
の表面電位の分布に基づいて、除電ランプの感光体ドラ
ム軸方向における除電光量の分布を調節する。そのこと
によって、現像位置での感光体膜の帯電量のムラがなく
なり、常に均一濃度の画像が形成される。

【００１９】以下に、一例としてアモルファスＳｉ感光
体膜を用いる場合について、本発明の実施例を説明す
る。

【００２０】図１は、本発明の１実施例の画像形成装置
１１の構成を示す系統図である。この画像形成装置１１
は、図１に示されるように、アルミニウム等の金属材料
からなるドラム基体３０の表面にアモルファスＳｉ感光
体からなる感光体膜１２が形成された回転可能な感光体
ドラム１３、感光体膜１２に所望量の電荷を一様に与え
る主帯電器１４、感光体膜１２を露光し、感光体膜１２
上に静電潜像を形成するための光を発生する光学装置１
５、感光体膜１２上の静電潜像をトナーで現像するため
の現像装置１６、感光体ドラム１３上のトナー像を記録
紙１７等に転写する転写器１８、トナー像の転写後に、
感光体ドラム１３上に残留しているトナーを除去するク
リーニング装置１９、及び感光体ドラム１３上に残留し
ている電荷を除去して、感光体膜１２上の電位を所定の
電位に均一化させるための除電ランプ２０等を備えてい
る。

【００２１】主帯電器１４は、コロトロンチャージャー
が採用され、コロナ放電を行う放電ワイヤ２１と、放電
ワイヤ２１を囲み、感光体ドラム１３側に開口している
シールドケース２２とを備えている。主帯電器１４の放
電ワイヤ２１に、コロナ放電に必要な電流を供給するた
めの電源２５が接続されている。シールドケース２２は
接地されている。なお、主帯電器１４として、スコロト
ロンチャージャーを用いてもよい。

【００２２】感光体ドラム１３の現像位置付近には、表
面電位を測定するための表面電位計２６が、感光体ドラ
ム１３の回転を阻害することなく、配置されている。こ
の表面電位計２６は比較器２７に接続される。比較器２
７は、例としてマイクロコンピュータなどを含んで構成
される制御装置２８に接続されている。制御装置２８
は、除電ランプ２０における除電光量を制御する。制御
装置２８にはメモリ２９が接続されている。感光体ドラ
ム１３の軸方向における表面電位のムラの検出は、表面
電位計２６および比較器２７により行われる。

【００２３】図２に、除電ランプ２０、表面電位計２
６、比較器２７、制御装置２８、およびメモリ２９を模
式的に示す。表面電位計２６は、感光体ドラム１３の軸
方向に配置されている複数の計測素子２６Ａ、２６Ｂ、
２６Ｃ、…を有する。各計測素子２６Ａ、２６Ｂ、２６
Ｃ、…は、それぞれ対応する位置の感光体膜１２の表面
電位を測定する。測定結果は、比較器２７にそれぞれ送
信される。比較器２７は、各計測素子２６Ａ、２６Ｂ、
２６Ｃ、…による測定値それぞれと、予め設定されてい
る最適な表面電位の基準値とを比較する。比較結果は、
制御装置２８に送られる。

【００２４】一方、除電ランプ２０は、感光体ドラム１
３の軸方向に配置されている複数の、例えば発光ダイオ
ード（ＬＥＤ）を有する。連続した数個のＬＥＤによ
り、ブロック２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…が構成され
る。各ブロック２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…は、それぞ
れ対応する位置の感光体膜１２の除電を行う。ブロック
２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…の数は、表面電位計２６の
計測素子２６Ａ、２６Ｂ、２６Ｃ、…の数と対応する。
各ブロック２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…は、各計測素子
２６Ａ、２６Ｂ、２６Ｃ、…に対応する比較結果に基づ
いて、制御装置２８によってそれぞれその除電光量が調
整される。

【００２５】主帯電器１４として、本実施例に於いてコ
ロトロンチャージャーを用いる。一般に、感光体膜１２
の飽和帯電電位Ｖｓが、５００〜１０００Ｖ、特に７０
０〜９００Ｖの範囲となるように主帯電を行うことが望
ましい。そのために、コロナ放電を行うに際して、４〜
７ｋＶの高電圧を、主帯電器１４の放電ワイヤ２１に印
加することが望ましい。

【００２６】図３は本実施例の感光体ドラム１３、主帯
電器１４、現像装置１６、及び除電ランプ２０の配置状
態を示す系統図である。主帯電器１４の帯電器幅Ｗ１
は、例として２２ｍｍである。主帯電器１４の感光体ド
ラム１３の回転方向に関する下流側端部と、現像装置１
６との前記回転方向に沿う角度θ１は、例として１２０
°であり、除電ランプ２０と主帯電器１４の前記回転方
向上流側端部との回転方向に沿う角度θ２は、例として
３０°である。また、感光体ドラム１３の径は、例とし
てφ１００ｍｍである。

【００２７】画像露光用に用いられる光学装置１５は、
レンズや反射鏡等からなる光学系、あるいはレーザー光
発振器等が用いられる。現像装置１６は、１成分系現像
剤あるいは２成分系現像剤の帯電したトナーを、感光体
膜１２の表面に供給する現像ローラ１６ａを備える。転
写器１８は、主帯電器１４と同様なコロナチャージャー
あるいは接触式帯電器が用いられる。

【００２８】本実施例に於ける除電ランプ２０の除電光
量は、感光体膜１２上に於いて、１．０LUX・SEC以上、
特に１．５LUX・SEC以上であることが望ましい。一方、
１００LUX・SEC以上とすると、感光体膜１２の光疲労に
よる品質の劣化が生じる。除電ランプ２０として、ハロ
ゲンランプ、蛍光灯ランプ、冷陰極線管、赤色、緑色等
のネオンランプ等の可視光光源がいずれも使用可能であ
る。あるいは、赤色、黄色、緑色等のＬＥＤ（発光ダイ
オード）等の単色光光源も使用可能である。

【００２９】本実施例の感光体膜１２は、アモルファス
Ｓｉ感光体膜である。図４にアモルファスＳｉ感光体膜
の断面構造を示す。図示するように、感光体膜１２はド
ラム基体３０上に、阻止層１２１、光導電層１２２およ
び表面保護層１２３が、ドラム基体３０側からこの順に
積層形成されている。阻止層１２１は、ドラム基体３０
側から光導電層１２２に電荷が注入されるのを防止する
ための層であり、膜厚は２μｍ〜５μｍである。光導電
層１２２の帯電が正の場合には、阻止層１２１は、負極
電荷の注入を防止するためにＰ型特性を有し、このた
め、例えばＢ（ホウ素）がドープされる。また、光導電
層１２２の帯電が正の場合には、Ｎ型特性を有し、例え
ばリンがドープされる。光導電層３は、ノンドープのア
モルファスＳｉ：Ｈであり、膜厚は３０〜１００μｍで
ある。表面保護層１２３は、光導電層１２２を保護する
ための層であり、ＳｉＣ、ＳｉＮなどが用いられ、膜厚
は０．２μｍ〜１μｍである。このような感光体膜１２
としてのアモルファスＳｉ感光体層は、ドラム基体３０
側から順次ＣＶＤ法により形成される。

【００３０】感光体ドラム１２の導電性からなるドラム
基体３０としては、アルミニウム素管が一般に使用され
る。

【００３１】図５は、本実施例の画像形成装置１１の動
作を示すフローチャートである。このフローチャートに
基づいて、本実施例に於ける表面電位の検出動作と、帯
電位置に於ける表面電位の補正動作とを詳細に説明す
る。以下に説明する動作は、本実施例の画像形成装置１
１が、例として静電複写機である場合、メインスイッチ
の投入後のウォーミングアップ期間に、あるいは、複写
動作が行われていない期間に行われる。ウォーミングア
ップ期間に行われる場合、以下に説明する本実施例の補
正動作のための動作期間を独立に定める必要がなく、複
写動作に対して無駄となる時間の発生を防止することが
できる。

【００３２】図５のステップａ１に於いて、メインスイ
ッチが投入される。ステップａ２に於いて、感光体ドラ
ム１３、主帯電器１４、および除電ランプ２０がオンと
なり、感光体ドラム１３が回転を開始し、主帯電器１４
に電源２５から放電電流が供給される。ステップａ３に
於いて、感光体ドラム１３を１回転（例として１〜６秒
間程度）するまで待機する。このときに除電ランプ２０
により除電を行う。待機時間は感光体ドラム１３が少な
くとも１回転する時間であればよい。この待機期間の計
測は、本実施例の画像形成装置１１のメインモータがパ
ルス駆動される場合、このメインモータの駆動に用いら
れるパルスを計数することによって実現するようにして
もよい。また、画像形成装置１１が、該待機期間の計測
用にタイマあるいはカウンタを別途用いるようにしても
よい。

【００３３】なお、待機期間を設定するのは、感光体膜
１２の全表面に亘る帯電が終了するのを待機するためで
ある。前述したように、スコロトロンで構成される主帯
電器１４によって感光体ドラム１３に帯電を行う場合、
感光体膜１２の全面が飽和帯電電位Ｖｓまで帯電してい
ない場合があるからである。

【００３４】次に、ステップａ４に於いて、表面電位計
２６を構成する各計測素子２６Ａ、２６Ｂ、２６Ｃ、…
によって、対応する位置に於ける表面電位の測定が行わ
れる。ステップａ５に於いて、各計測素子２６Ａ、２６
Ｂ、２６Ｃ、…によって測定された表面電位が、それぞ
れ予め定められた表面電位の基準値と等しいかどうかが
比較器２７により判断される。

【００３５】ステップａ５の判断が否定であれば、ステ
ップａ６に於いて、以下に説明する補正動作が実行され
る。

【００３６】図６に、除電ランプ２０の除電光量が、７
３Lux、２９０Lux、および４２８Luxである場合の、主
帯電器１４から感光体ドラム１３への流れ込み電流と帯
電位置での表面電位との関係を示す。図からわかるよう
に、流れ込み電流の大小に関わらず、除電光量が大きく
なると、表面電位が低くなる。従って、例えば計測素子
２６Ａによる表面電位の測定値が基準値よりも小さい場
合は、表面電位を上げるために、制御装置２８は、計測
素子２６Ａに対応する除電ランプ２０のブロック２０Ａ
の除電光量を小さくする。逆に、計測素子２６Ａによる
表面電位の測定値が基準値よりも大きい場合は、表面電
位を下げるために、制御装置２８はブロック２０Ａの除
電光量を大きくする。このような除電光量の調整は、各
ブロック２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…を構成するＬＥＤ
の駆動電流を調整することにより行う。上記調整は、他
の計測素子２６Ｂ、２６Ｃ、…による表面電位の測定値
に対して、それぞれ対応するブロック２０Ｂ、２０Ｃ、
…毎に行う。このようにして、感光体膜１２全体にわた
って表面電位を、表面電位の基準値に一致させる。これ
により、たとえ帯電ムラの状態が変動した場合であって
も、その帯電ムラを解消し、常に均一な画像濃度を実現
することができる。

【００３７】なお、上記補正動作に用いる、除電ランプ
２０の除電光量の制御に必要な種々のデータは、メモリ
２９に記憶されている。

【００３８】上記補正動作の終了の後、ステップａ７に
於いて、静電複写機が複写動作可能な待機状態に設定さ
れ、ステップａ８に於いて複写動作が実行される。複写
動作が終了すると、ステップａ９に於いて、メインスイ
ッチが遮断される。

【００３９】ステップａ５に於いて、判断が肯定であれ
ば、ステップａ７に於いて、静電複写機が複写動作可能
な待機状態に設定される。以下、ステップａ８、ａ９の
処理が行われる。

【００４０】尚、本実施例では、表面電位計２６の設定
位置を現像位置付近としたが、表面電位計２６の設定位
置は、帯電位置と現像位置との間であればよい。ただ
し、その場合、表面電位の基準値は、表面電位計２６の
設定位置によって異なる。それは、表面電位は、帯電位
置から現像位置まで移動する間に暗減衰により、時間の
経過に従ってほぼ一定の割合で低下するからである。

【００４１】図７は、本発明の他の実施例の画像形成装
置１１の構成を示す系統図である。上記実施例と同様の
構成要素には同じ符号を付記してある。

【００４２】本実施例の画像形成装置１１は、上記実施
例の表面電位計２６に代わって、反射濃度センサ２３を
備える。図８に、除電ランプ２０、反射濃度センサ２
３、比較器２７、制御装置２８、およびメモリ２９を模
式的に示す。反射濃度センサ２３は、感光体ドラム１３
の軸方向に配置されている複数のセンサ素子２３Ａ、２
３Ｂ、２３Ｃ、…を有する。各センサ素子２３Ａ、２３
Ｂ、２３Ｃ、…は、それぞれ対応する位置における画像
濃度を測定し、それにより、帯電ムラを検出する。測定
結果は、比較器２７にそれぞれ送信される。比較器２７
は、各計測素子２６Ａ、２６Ｂ、２６Ｃ、…による測定
値それぞれと、予め設定されている最適な画像濃度の基
準値とを比較する。比較結果は、制御装置２８に送られ
る。

【００４３】本実施例に於いても、上記実施例と同様の
フローチャートに従って補正動作が行われる。この補正
動作では、各センサ素子２３Ａ、２３Ｂ、２３Ｃ、…に
よる測定値と、予め設定されている画像濃度とを比較器
２７により比較し、その比較結果に基づいて、各センサ
素子２３Ａ、２３Ｂ、２３Ｃ、…に対応する、除電ラン
プ２０のブロック２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、…での除電
光量を制御装置２８によりそれぞれ調節する。なお、こ
の補正動作では、通常の複写動作と異なり光学装置１５
は、ＯＦＦ状態とする。

【００４４】図９に基づいて、さらにこの除電光量の調
節を具体的に説明する。図９は、本実施例の画像形成装
置１１における表面電位と画像濃度との関係を示す。こ
の図に於て画像濃度は、基準値を１として表している。
図から分かるように、表面電位が高いほど画像濃度は高
くなり、画像濃度から表面電位が求められる。測定され
た画像濃度が、画像濃度の基準値よりも低い場合には、
表面電位が所望値よりも低いことを意味するので、表面
電位を所望値まで上げるために除電光量を下げる。逆
に、測定された画像濃度が、画像濃度の基準値よりも高
い場合には、表面電位が所望値よりも高いことを意味す
るので、表面電位を所望値まで下げるために除電光量を
上げる。

【００４５】このようにして、感光体膜１２全体にわた
って画像濃度を、画像濃度の基準値に一致させるべく、
除電光量を調節する。これにより、帯電ムラが変動した
場合でも、その帯電ムラを解消し、常に均一な画像濃度
を実現することができる。

【００４６】上記実施例では、すべてドラム状の基体に
感光体膜を形成したものを感光体部材として用いたが、
ベルト状の基体に感光体膜を形成したものを用いてもよ
い。

【００４７】また、上記実施例では、本発明の画像形成
装置を静電複写機として説明したが、本発明の画像形成
装置は、静電複写機にかかわらず、電子写真方式によっ
て画像形成を行う画像形成装置であればよい。

【００４８】

【発明の効果】本発明によれば、感光体ドラムに於ける
ドラム軸方向の帯電の状態を検出した後に、検出結果に
基づいて、除電ランプによる除電光量のドラム軸方向の
分布を調節することにより、帯電ムラを補正するように
している。これにより、帯電ムラの状態に経時変化が生
じた場合、あるいは画像形成装置の設置環境などに起因
して帯電ムラの状態が、画像形成装置毎にばらついた場
合等、帯電ムラが感光体膜の製造直後の程度から変動し
た場合、その帯電ムラを補正して、常に均一な画像濃度
の画像を形成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例の画像形成装置１１の系統図
である。

【図２】図１に示す画像形成装置１１に於ける除電ラン
プ２０、表面電位計２６、比較器２７、制御装置２８、
およびメモリ２９を示す模式図である。

【図３】本実施例の配置状態を示す系統図である。

【図４】本実施例の感光体膜１２の断面図である。

【図５】本実施例の動作を説明するフローチャートであ
る。

【図６】３種類の除電光量の場合の、主帯電器１４から
感光体ドラム１３への流れ込み電流と表面電位との関係
を示すグラフである。

【図７】本発明の他の実施例の画像形成装置１１の系統
図である。

【図８】図７に示す画像形成装置１１に於ける除電ラン
プ２０、反射濃度センサ２３、比較器２７、制御装置２
８、およびメモリ２９を示す模式図である。

【図９】現像感度曲線を示し、感光体膜１２における表
面電位と画像濃度との関係を表す図である。

【図１０】従来技術の画像形成装置１の系統図である。

【符号の説明】

１１画像形成装置１２感光体膜１３感光体ドラム１４主帯電器１６現像装置１９クリーニング装置２０除電ランプ２１放電ワイヤ２２シールドケース２３反射濃度センサ２５電源２６表面電位計２７比較器２８制御装置２９メモリ３０ドラム基体

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】導電性を有する基体、及び該基体の表面
に形成されている感光体膜を備える回転可能な感光体部
材と、該感光体部材の近傍に配置されて、コロナ放電により該
感光体膜を帯電させる帯電手段と、帯電した該感光体膜に画像に対応する光を照射する露光
手段と、該感光体部材の回転方向に沿って、該露光手段よりも下
流側に配置されている現像手段と、該感光体膜に於ける帯電状態を検出する帯電状態検出手
段と、該現像手段により現像される該感光体膜の表面電位を所
定の電位に設定するためであって、該基体の軸方向にお
ける除電光量の分布が調節可能である除電手段と、該帯電状態検出手段で検出された該帯電状態に基づい
て、該基体の軸方向における除電光量の分布を調節する
ことにより、該帯電状態を一様にする補正手段とを備え
る画像形成装置。
【請求項２】前記帯電状態検出手段が、前記帯電手段
と前記現像手段との間、または現像手段の位置に配置さ
れた、前記基体の軸方向における表面電位の分布を検出
する手段であり、前記補正手段が、検出された表面電位
の分布に基づいて、該基体の軸方向における除電光量の
分布を調節する請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】前記帯電状態検出手段が、前記現像手段
より下流側に配置された、前記基体の軸方向における画
像濃度の分布を検出する手段であり、前記補正手段が、
検出された画像濃度の分布に基づいて、該基体の軸方向
における除電光量の分布を調節する請求項１に記載の画
像形成装置。