JPH0684710A - 電解コンデンサ - Google Patents
電解コンデンサInfo
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- JPH0684710A JPH0684710A JP4235550A JP23555092A JPH0684710A JP H0684710 A JPH0684710 A JP H0684710A JP 4235550 A JP4235550 A JP 4235550A JP 23555092 A JP23555092 A JP 23555092A JP H0684710 A JPH0684710 A JP H0684710A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 引き出しリード線の機械的強度を向上させる
ことができるとともに、ｔａｎδの低減ならびに小形化
が図れる電解コンデンサを提供することを目的とする。 【構成】 引き出しリード線１１ａ，１１ｂをそれぞれ
接続した陽極箔と陰極箔の間にセパレータを介在させ、
かつこれらを巻回するとともに、駆動用電解液を含浸さ
せてコンデンサ素子１６を構成し、かつ前記引き出しリ
ード線１１ａ，１１ｂにおける陽極箔または陰極箔に接
続されるアルミニウム部分１２ａ，１２ｂを、純度９
９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウム、シリ
コン、マンガン群のうちから選択された１種または２種
以上から成る目的の合金元素のみを添加したアルミニウ
ム合金で構成したものである。
ことができるとともに、ｔａｎδの低減ならびに小形化
が図れる電解コンデンサを提供することを目的とする。 【構成】 引き出しリード線１１ａ，１１ｂをそれぞれ
接続した陽極箔と陰極箔の間にセパレータを介在させ、
かつこれらを巻回するとともに、駆動用電解液を含浸さ
せてコンデンサ素子１６を構成し、かつ前記引き出しリ
ード線１１ａ，１１ｂにおける陽極箔または陰極箔に接
続されるアルミニウム部分１２ａ，１２ｂを、純度９
９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウム、シリ
コン、マンガン群のうちから選択された１種または２種
以上から成る目的の合金元素のみを添加したアルミニウ
ム合金で構成したものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子機器等に利用される
電解コンデンサに関するものである。
電解コンデンサに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】昨今、電子機器の小形化、軽量化に伴
い、この電子機器に利用される電解コンデンサにおいて
も小形化が要求されている。
い、この電子機器に利用される電解コンデンサにおいて
も小形化が要求されている。
【０００３】従来のこの種の電解コンデンサでは、一般
に図５に示すような偏平状のアルミニウム部分１ａ，１
ｂを有する引き出しリード線２ａ，２ｂを用い、この引
き出しリード線２ａ，２ｂのアルミニウム部分１ａ，１
ｂを図６に示すように陽極箔３および陰極箔４に当てが
って接続した後、図７（ａ）（ｂ）、図８に示すように
陽極箔３と陰極箔４との間にセパレータ５を介在させ、
かつこれらを巻回してコンデンサ素子６を構成し、そし
てこのコンデンサ素子６に駆動用電解液を含浸させた
後、コンデンサ素子６を有底円筒状のアルミケース７内
に収納し、その後、アルミケース７の開口部を封口体８
で封止するようにしていた。
に図５に示すような偏平状のアルミニウム部分１ａ，１
ｂを有する引き出しリード線２ａ，２ｂを用い、この引
き出しリード線２ａ，２ｂのアルミニウム部分１ａ，１
ｂを図６に示すように陽極箔３および陰極箔４に当てが
って接続した後、図７（ａ）（ｂ）、図８に示すように
陽極箔３と陰極箔４との間にセパレータ５を介在させ、
かつこれらを巻回してコンデンサ素子６を構成し、そし
てこのコンデンサ素子６に駆動用電解液を含浸させた
後、コンデンサ素子６を有底円筒状のアルミケース７内
に収納し、その後、アルミケース７の開口部を封口体８
で封止するようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たような構成の従来の電解コンデンサでは、一般に図８
に示すように引き出しリード線２ａを構成する偏平状の
アルミニウム部分１ａの存在により、陽極箔３と陰極箔
４との間にセパレータ８を介在させてこれらを巻回した
場合、陽極箔３と陰極箔４の極間に隙間９が生じるもの
で、この隙間９は電解コンデンサのｔａｎδを高める原
因や、電極箔の収容に全く役に立たないデッドスペース
になっているものであり、したがって、この隙間９は電
解コンデンサの小形化を進める上でのネックになってい
た。
たような構成の従来の電解コンデンサでは、一般に図８
に示すように引き出しリード線２ａを構成する偏平状の
アルミニウム部分１ａの存在により、陽極箔３と陰極箔
４との間にセパレータ８を介在させてこれらを巻回した
場合、陽極箔３と陰極箔４の極間に隙間９が生じるもの
で、この隙間９は電解コンデンサのｔａｎδを高める原
因や、電極箔の収容に全く役に立たないデッドスペース
になっているものであり、したがって、この隙間９は電
解コンデンサの小形化を進める上でのネックになってい
た。
【０００５】前記した隙間９を小さくするために、偏平
状のアルミニウム部分１ａの厚みや幅を出来る限り小さ
くすることが試みられたが、従来のままの材料で偏平状
のアルミニウム部分１ａの厚みや幅を小さくして行く
と、引き出しリード線２ａの全体の強度が低下して電解
コンデンサのプリント基板への取付強度、耐振強度等の
機械的強度の悪化を招くという問題点があった。
状のアルミニウム部分１ａの厚みや幅を出来る限り小さ
くすることが試みられたが、従来のままの材料で偏平状
のアルミニウム部分１ａの厚みや幅を小さくして行く
と、引き出しリード線２ａの全体の強度が低下して電解
コンデンサのプリント基板への取付強度、耐振強度等の
機械的強度の悪化を招くという問題点があった。
【０００６】また引き出しリード線２ａの機械的強度を
上げるために、引き出しリード線２ａにおける偏平状の
アルミニウム部分１ａの材料をアルミニウム合金にする
ことが試みられた。この場合、鉄、銅、亜鉛等の不純物
が管理されていないアルミニウム母材から得たアルミニ
ウム合金を用いると、偏平状のアルミニウム部分１ａの
硬度・強度が向上するため、引き出しリード線２ａの機
械的強度は満足することができても、前記した鉄、銅、
亜鉛等の不純物の影響で、電解コンデンサの漏れ電流が
上昇して信頼性が悪化するという問題点があった。
上げるために、引き出しリード線２ａにおける偏平状の
アルミニウム部分１ａの材料をアルミニウム合金にする
ことが試みられた。この場合、鉄、銅、亜鉛等の不純物
が管理されていないアルミニウム母材から得たアルミニ
ウム合金を用いると、偏平状のアルミニウム部分１ａの
硬度・強度が向上するため、引き出しリード線２ａの機
械的強度は満足することができても、前記した鉄、銅、
亜鉛等の不純物の影響で、電解コンデンサの漏れ電流が
上昇して信頼性が悪化するという問題点があった。
【０００７】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、引き出しリード線の機械的強度を向上させることが
できるとともに、ｔａｎδの低減ならびに小形化が図れ
る電解コンデンサを提供することを目的とするものであ
る。
で、引き出しリード線の機械的強度を向上させることが
できるとともに、ｔａｎδの低減ならびに小形化が図れ
る電解コンデンサを提供することを目的とするものであ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の電解コンデンサは、引き出しリード線をそれ
ぞれ接続した陽極箔と陰極箔の間にセパレータを介在さ
せ、かつこれらを巻回するとともに、駆動用電解液を含
浸させてコンデンサ素子を構成し、かつ前記引き出しリ
ード線における陽極箔または陰極箔に接続されるアルミ
ニウム部分を、純度９９．９％以上のアルミニウム母材
にマグネシウム、シリコン、マンガン群のうちから選択
された１種または２種以上から成る目的の合金元素のみ
を添加したアルミニウム合金で構成したものである。
に本発明の電解コンデンサは、引き出しリード線をそれ
ぞれ接続した陽極箔と陰極箔の間にセパレータを介在さ
せ、かつこれらを巻回するとともに、駆動用電解液を含
浸させてコンデンサ素子を構成し、かつ前記引き出しリ
ード線における陽極箔または陰極箔に接続されるアルミ
ニウム部分を、純度９９．９％以上のアルミニウム母材
にマグネシウム、シリコン、マンガン群のうちから選択
された１種または２種以上から成る目的の合金元素のみ
を添加したアルミニウム合金で構成したものである。
【０００９】
【作用】上記構成によれば、引き出しリード線における
陽極箔または陰極箔に接続されるアルミニウム部分を、
純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウ
ム、シリコン、マンガン群のうちから選択された１種ま
たは２種以上から成る目的の合金元素のみを添加したア
ルミニウム合金で構成しているため、その合金効果によ
り引き出しリード線のアルミニウム部分の硬度・強度は
向上し、その結果、引き出しリード線の機械的強度を向
上させることができる。これにより、引き出しリード線
の偏平状のアルミニウム部分の厚みを薄くしたり、幅を
狭くしたりすることができるため、陽極箔と陰極箔の極
間の隙間をより一層小さくすることができ、その結果、
電解コンデンサのｔａｎδを大幅に低減させることが可
能となるとともに、デッドスペースの削減により電解コ
ンデンサの一層の小形化が可能となる。
陽極箔または陰極箔に接続されるアルミニウム部分を、
純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウ
ム、シリコン、マンガン群のうちから選択された１種ま
たは２種以上から成る目的の合金元素のみを添加したア
ルミニウム合金で構成しているため、その合金効果によ
り引き出しリード線のアルミニウム部分の硬度・強度は
向上し、その結果、引き出しリード線の機械的強度を向
上させることができる。これにより、引き出しリード線
の偏平状のアルミニウム部分の厚みを薄くしたり、幅を
狭くしたりすることができるため、陽極箔と陰極箔の極
間の隙間をより一層小さくすることができ、その結果、
電解コンデンサのｔａｎδを大幅に低減させることが可
能となるとともに、デッドスペースの削減により電解コ
ンデンサの一層の小形化が可能となる。
【００１０】また純度９９．９％以上のアルミニウム母
材を用いて不純物を管理し、そのアルミニウム母材に電
解コンデンサに影響を及ぼさないマグネシウム、シリコ
ン、マンガンのみを添加してアルミニウム合金を構成し
ているため、電解コンデンサの性能、特性に悪影響を及
ぼすこともない。
材を用いて不純物を管理し、そのアルミニウム母材に電
解コンデンサに影響を及ぼさないマグネシウム、シリコ
ン、マンガンのみを添加してアルミニウム合金を構成し
ているため、電解コンデンサの性能、特性に悪影響を及
ぼすこともない。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづ
いて説明する。
いて説明する。
【００１２】図１（ａ）（ｂ）、図２，図３，図４にお
いて、１１ａ，１１ｂは引き出しリード線で、この引き
出しリード線１１ａ，１１ｂは偏平状のアルミニウム部
分１２ａ，１２ｂを有し、そしてこの偏平状のアルミニ
ウム部分１２ａ，１２ｂを図３に示すように陽極箔１３
および陰極箔１４に当てがって接続した後、図１（ａ）
（ｂ）、図４に示すように陽極箔１３と陰極箔１４との
間にセパレータ１５を介在させ、かつこれらを巻回して
コンデンサ素子１６を構成し、そしてこのコンデンサ素
子１６に駆動用電解液を含浸させた後、コンデンサ素子
１６を有底円筒状のアルミケース１７内に収納し、その
後、アルミケース１７の開口部を封口体１８で封止す
る。また前記引き出しリード線１１ａ，１１ｂにおける
偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂは従来例の図
８で示した引き出しリード線２ａ，２ｂにおける偏平状
のアルミニウム部分１ａ，１ｂに比較して図４に示すよ
うに厚みを薄くするとともに幅も狭くなるように構成し
ている。
いて、１１ａ，１１ｂは引き出しリード線で、この引き
出しリード線１１ａ，１１ｂは偏平状のアルミニウム部
分１２ａ，１２ｂを有し、そしてこの偏平状のアルミニ
ウム部分１２ａ，１２ｂを図３に示すように陽極箔１３
および陰極箔１４に当てがって接続した後、図１（ａ）
（ｂ）、図４に示すように陽極箔１３と陰極箔１４との
間にセパレータ１５を介在させ、かつこれらを巻回して
コンデンサ素子１６を構成し、そしてこのコンデンサ素
子１６に駆動用電解液を含浸させた後、コンデンサ素子
１６を有底円筒状のアルミケース１７内に収納し、その
後、アルミケース１７の開口部を封口体１８で封止す
る。また前記引き出しリード線１１ａ，１１ｂにおける
偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂは従来例の図
８で示した引き出しリード線２ａ，２ｂにおける偏平状
のアルミニウム部分１ａ，１ｂに比較して図４に示すよ
うに厚みを薄くするとともに幅も狭くなるように構成し
ている。
【００１３】（表１）は引き出しリード線における偏平
状のアルミニウム部分の材料を本発明の実施例１〜３、
従来例１〜４について示したものである。本発明の実施
例１〜３における偏平状のアルミニウム部分の材料は、
いずれも純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグ
ネシウム、シリコン、マンガンの目的の合金元素のみを
０．１〜５％添加して製造したアルミニウム合金であ
る。従来例１における偏平状のアルミニウム部分の材料
は、純度９９．９％以上のアルミニウム母材そのもので
あり、また従来例２〜４における偏平状のアルミニウム
部分の材料は銅、鉄、亜鉛等の不純物が入っている純度
９９．７％のアルミニウム母材にマグネシウム、シリコ
ン、マンガンの合金元素を０．１〜５％添加して製造し
たアルミニウム合金である。
状のアルミニウム部分の材料を本発明の実施例１〜３、
従来例１〜４について示したものである。本発明の実施
例１〜３における偏平状のアルミニウム部分の材料は、
いずれも純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグ
ネシウム、シリコン、マンガンの目的の合金元素のみを
０．１〜５％添加して製造したアルミニウム合金であ
る。従来例１における偏平状のアルミニウム部分の材料
は、純度９９．９％以上のアルミニウム母材そのもので
あり、また従来例２〜４における偏平状のアルミニウム
部分の材料は銅、鉄、亜鉛等の不純物が入っている純度
９９．７％のアルミニウム母材にマグネシウム、シリコ
ン、マンガンの合金元素を０．１〜５％添加して製造し
たアルミニウム合金である。
【００１４】そして、上記した本発明の実施例１〜３、
従来例１〜４のそれぞれにおける引張り強度の試験結果
は（表１）に示す通りとなり、また本発明の実施例１〜
３における引き出しリード線を用いた５０Ｖ１００μＦ
の定格の電解コンデンサと、従来例１〜４における引き
出しリード線を用いた５０Ｖ１００μＦの定格の電解コ
ンデンサを各々３０個ずつ製造して１０５℃高温無負荷
試験を実施し、漏れ電流の変化を観測した結果、および
振動試験を実施し、漏れ電流ノイズの発生率を観測した
結果は（表１）に示す通りとなった。
従来例１〜４のそれぞれにおける引張り強度の試験結果
は（表１）に示す通りとなり、また本発明の実施例１〜
３における引き出しリード線を用いた５０Ｖ１００μＦ
の定格の電解コンデンサと、従来例１〜４における引き
出しリード線を用いた５０Ｖ１００μＦの定格の電解コ
ンデンサを各々３０個ずつ製造して１０５℃高温無負荷
試験を実施し、漏れ電流の変化を観測した結果、および
振動試験を実施し、漏れ電流ノイズの発生率を観測した
結果は（表１）に示す通りとなった。
【００１５】
【表１】
【００１６】この（表１）から明らかなように、本発明
の実施例１〜３における引き出しリード線１１ａ，１１
ｂは、偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂの材料
として、純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグ
ネシウム、シリコン、マンガンの目的の合金元素のみを
添加して製造したアルミニウム合金を用いているため、
従来例１で示した偏平状のアルミニウム部分を純度９
９．９％以上のアルミニウム母材のみで構成したものに
比べ、引張り強度は非常に大きなものとなり、これによ
り、引き出しリード線１１ａ，１１ｂの機械的強度を大
幅に向上させることができるものである。このように引
き出しリード線１１ａ，１１ｂの機械的強度が向上する
ことにより、引き出しリード線１１ａ，１１ｂにおける
偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂの厚みを薄く
するとともに幅も狭くすることが可能となるため、図４
に示すように陽極箔１３と陰極箔１４の極間の隙間１９
を図８に示す従来例に比べて大幅に小さくすることがで
きる。これにより、電解コンデンサのｔａｎδを大幅に
低減させることが可能になるとともに、デッドスペース
の削減により電解コンデンサの一層の小形化が可能とな
る。
の実施例１〜３における引き出しリード線１１ａ，１１
ｂは、偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂの材料
として、純度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグ
ネシウム、シリコン、マンガンの目的の合金元素のみを
添加して製造したアルミニウム合金を用いているため、
従来例１で示した偏平状のアルミニウム部分を純度９
９．９％以上のアルミニウム母材のみで構成したものに
比べ、引張り強度は非常に大きなものとなり、これによ
り、引き出しリード線１１ａ，１１ｂの機械的強度を大
幅に向上させることができるものである。このように引
き出しリード線１１ａ，１１ｂの機械的強度が向上する
ことにより、引き出しリード線１１ａ，１１ｂにおける
偏平状のアルミニウム部分１２ａ，１２ｂの厚みを薄く
するとともに幅も狭くすることが可能となるため、図４
に示すように陽極箔１３と陰極箔１４の極間の隙間１９
を図８に示す従来例に比べて大幅に小さくすることがで
きる。これにより、電解コンデンサのｔａｎδを大幅に
低減させることが可能になるとともに、デッドスペース
の削減により電解コンデンサの一層の小形化が可能とな
る。
【００１７】また銅、鉄、亜鉛等の不純物を管理せず
に、これらが入っている純度９９．７％のアルミニウム
母材にマグネシウム、シリコン、マンガンの合金元素を
添加して製造したアルミニウム合金を用いた従来例２〜
４の電解コンデンサは、１０５℃高温無負荷試験を実施
したところ、高温無負荷時の漏れ電流に大幅な悪化が見
られたのに対し、本発明の実施例１〜３のように純度９
９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウム、シリ
コン、マンガンの目的の合金元素のみを添加して製造し
たアルミニウム合金を用いた電解コンデンサは、１０５
℃高温無負荷時の漏れ電流変化においても、従来例１で
示した偏平状のアルミニウム部分を純度９９．９％以上
のアルミニウム母材のみで構成したものを用いた電解コ
ンデンサと同様に、高温無負荷時の漏れ電流は非常に少
なく、性能・信頼性面で極めて有用となるものである。
に、これらが入っている純度９９．７％のアルミニウム
母材にマグネシウム、シリコン、マンガンの合金元素を
添加して製造したアルミニウム合金を用いた従来例２〜
４の電解コンデンサは、１０５℃高温無負荷試験を実施
したところ、高温無負荷時の漏れ電流に大幅な悪化が見
られたのに対し、本発明の実施例１〜３のように純度９
９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウム、シリ
コン、マンガンの目的の合金元素のみを添加して製造し
たアルミニウム合金を用いた電解コンデンサは、１０５
℃高温無負荷時の漏れ電流変化においても、従来例１で
示した偏平状のアルミニウム部分を純度９９．９％以上
のアルミニウム母材のみで構成したものを用いた電解コ
ンデンサと同様に、高温無負荷時の漏れ電流は非常に少
なく、性能・信頼性面で極めて有用となるものである。
【００１８】
【発明の効果】以上のように本発明の電解コンデンサ
は、引き出しリード線における陽極箔または陰極箔に接
続されるアルミニウム部分を、純度９９．９％以上のア
ルミニウム母材にマグネシウム、シリコン、マンガン群
のうちから選択された１種または２種以上から成る目的
の合金元素のみを添加したアルミニウム合金で構成して
いるため、その合金効果により引き出しリード線のアル
ミニウム部分の硬度・強度は向上し、その結果、引き出
しリード線の機械的強度を向上させることができる。こ
れにより、引き出しリード線のアルミニウム部分の厚み
を薄くしたり、幅を狭くしたりすることができるため、
陽極箔と陰極箔の極間の隙間をより一層小さくすること
ができ、その結果、電解コンデンサのｔａｎδを大幅に
低減させることが可能となるとともに、デッドスペース
の削減により電解コンデンサの一層の小形化が図れる。
は、引き出しリード線における陽極箔または陰極箔に接
続されるアルミニウム部分を、純度９９．９％以上のア
ルミニウム母材にマグネシウム、シリコン、マンガン群
のうちから選択された１種または２種以上から成る目的
の合金元素のみを添加したアルミニウム合金で構成して
いるため、その合金効果により引き出しリード線のアル
ミニウム部分の硬度・強度は向上し、その結果、引き出
しリード線の機械的強度を向上させることができる。こ
れにより、引き出しリード線のアルミニウム部分の厚み
を薄くしたり、幅を狭くしたりすることができるため、
陽極箔と陰極箔の極間の隙間をより一層小さくすること
ができ、その結果、電解コンデンサのｔａｎδを大幅に
低減させることが可能となるとともに、デッドスペース
の削減により電解コンデンサの一層の小形化が図れる。
【００１９】また純度９９．９％以上のアルミニウム母
材を用いて不純物を管理し、そのアルミニウム母材に電
解コンデンサに影響を及ぼさないマグネシウム、シリコ
ン、マンガンのみを添加してアルミニウム合金を構成し
ているため、電解コンデンサの性能、特性に悪影響を及
ぼすこともなくなり、性能、信頼性面で極めて有用とな
るものである。
材を用いて不純物を管理し、そのアルミニウム母材に電
解コンデンサに影響を及ぼさないマグネシウム、シリコ
ン、マンガンのみを添加してアルミニウム合金を構成し
ているため、電解コンデンサの性能、特性に悪影響を及
ぼすこともなくなり、性能、信頼性面で極めて有用とな
るものである。
【図１】（ａ）本発明の一実施例を示す電解コンデンサ
の平面断面図 （ｂ）同コンデンサの側面断面図
の平面断面図 （ｂ）同コンデンサの側面断面図
【図２】同コンデンサにおける引き出しリード線の斜視
図
図
【図３】同引き出しリード線と陽極箔、陰極箔の接続状
態を示す斜視図
態を示す斜視図
【図４】同コンデンサの要部の拡大平面断面図
【図５】従来の電解コンデンサにおける引き出しリード
線の斜視図
線の斜視図
【図６】同引き出しリード線と陽極箔、陰極箔の接続状
態を示す斜視図
態を示す斜視図
【図７】（ａ）従来例を示す電解コンデンサの平面断面
図 （ｂ）同コンデンサの側面断面図
図 （ｂ）同コンデンサの側面断面図
【図８】同電解コンデンサの部分拡大平面断面図
１１ａ，１１ｂ 引き出しリード線 １２ａ，１２ｂ アルミニウム部分 １３ 陽極箔 １４ 陰極箔 １５ セパレータ １６ コンデンサ素子
フロントページの続き (72)発明者 広瀬 恵理 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】引き出しリード線をそれぞれ接続した陽極
箔と陰極箔の間にセパレータを介在させ、かつこれらを
巻回するとともに、駆動用電解液を含浸させてコンデン
サ素子を構成し、かつ前記引き出しリード線における陽
極箔または陰極箔に接続されるアルミニウム部分を、純
度９９．９％以上のアルミニウム母材にマグネシウム、
シリコン、マンガン群のうちから選択された１種または
２種以上から成る目的の合金元素のみを添加したアルミ
ニウム合金で構成した電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4235550A JPH0684710A (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4235550A JPH0684710A (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 電解コンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0684710A true JPH0684710A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=16987649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4235550A Pending JPH0684710A (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 電解コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0684710A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11224830A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Nichicon Corp | アルミニウム電解コンデンサ |
| JP2008210823A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Nichicon Corp | リード線およびこれを含む電子部品 |
| US8722718B2 (en) | 2006-04-20 | 2014-05-13 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of C-FMS kinase |
-
1992
- 1992-09-03 JP JP4235550A patent/JPH0684710A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11224830A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Nichicon Corp | アルミニウム電解コンデンサ |
| US8722718B2 (en) | 2006-04-20 | 2014-05-13 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of C-FMS kinase |
| US8815867B2 (en) | 2006-04-20 | 2014-08-26 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of c-fms kinase |
| US9266866B2 (en) | 2006-04-20 | 2016-02-23 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of C-FMS kinase |
| US9394289B2 (en) | 2006-04-20 | 2016-07-19 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of c-fms kinase |
| US9403804B2 (en) | 2006-04-20 | 2016-08-02 | Janssen Pharmaceutica Nv | Inhibitors of c-fms kinase |
| JP2008210823A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-11 | Nichicon Corp | リード線およびこれを含む電子部品 |
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