JPH067933U - 印刷版表面の監視装置 - Google Patents
印刷版表面の監視装置Info
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- JPH067933U JPH067933U JP075919U JP7591992U JPH067933U JP H067933 U JPH067933 U JP H067933U JP 075919 U JP075919 U JP 075919U JP 7591992 U JP7591992 U JP 7591992U JP H067933 U JPH067933 U JP H067933U
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- printing plate
- plate surface
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- microscope
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41C—PROCESSES FOR THE MANUFACTURE OR REPRODUCTION OF PRINTING SURFACES
- B41C1/00—Forme preparation
- B41C1/02—Engraving; Heads therefor
- B41C1/04—Engraving; Heads therefor using heads controlled by an electric information signal
- B41C1/05—Heat-generating engraving heads, e.g. laser beam, electron beam
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子ビームにより印刷版の彫刻と、印刷版の
電子顕微鏡監視の両方のできる監視装置を提供する。 【構成】 電子ビーム発生器はラスタ電子顕微鏡として
も作動され、当該電子顕微鏡動作時には、電子ビームが
その強度およびその偏向パラメータに関して切り換えら
れ、当該電子ビームにより形成しようとしているインク
セル領域が走査され、モニタを制御するためのビデオ信
号が電子ビームによって発生される2次電子から取り出
され、該ビデオ信号が前記印刷版の送りと共にモニタ制
御に使用されるように構成する。
電子顕微鏡監視の両方のできる監視装置を提供する。 【構成】 電子ビーム発生器はラスタ電子顕微鏡として
も作動され、当該電子顕微鏡動作時には、電子ビームが
その強度およびその偏向パラメータに関して切り換えら
れ、当該電子ビームにより形成しようとしているインク
セル領域が走査され、モニタを制御するためのビデオ信
号が電子ビームによって発生される2次電子から取り出
され、該ビデオ信号が前記印刷版の送りと共にモニタ制
御に使用されるように構成する。
Description
【0001】
本考案は、電子ビーム発生器の電子ビームによりセル型の凹部が印刷版表面に 彫刻される、印刷版表面の監視装置に関する。
【0002】
電子ビームによって印刷版を製作する装置は、既に公知である。この装置にお いては、印刷版表面の材料は電子ビームによって除去される。例えば、ドイツ民 主共和国特許明細書第55965号には、電子ビーム彫刻の原理が記載されてい る。しかし、彫刻の結果、即ち印刷版表面に彫刻されたインクセルを監視、即ち 可視的にすることが望ましい。材料加工装置(例えば、ドイツ連邦共和国特許第 10099659号明細書参照)においては、この目的のために、ステレオ顕微 鏡が電子ビーム発生器内に設けられている。
【0003】 ドイツ連邦共和国特許第1299498号明細書においては、分離した制御ビ ーム路が提案されている。この制御ビーム路は、ビーム受信器の方に向けられて いる。ビーム受信器として光電変換器が設けられている。この光電変換器に指示 装置が接続されている。この指示装置のふれから直接に電子ビームの集束状態を 知ることができる。この信号は、その際加工ビームの強さを制御するために用い ることができる。
【0004】 これらの装置は、彫刻されたインクセルを直接に光学監視するのに適している 。
【0005】
本考案の課題は、彫刻されたインクセルをより簡単にかつより確実に監視でき るような、印刷版表面の監視装置を提供することにある。
【0006】
本考案によれば、この課題は請求項1に記載の装置によって達成される。本考 案による方法を以下において詳細に説明する。
【0007】 材料加工のための電子ビーム発生器を電子ビーム顕微鏡動作に切換えるために 、本考案によれば、ビームの直径は、彫刻動作の場合の直径と異なり約1μm縮 小される。その際発生した2次電子を検出し、モニタを制御するためのビデオ信 号として用いる。
【0008】 本考案は次のような利点を有する。即ち、特別な光学監視装置や分離電子ビー ム顕微鏡を設ける必要がなく、材料加工用に設計された電子ビーム銃を用いるこ とにより、印刷シリンダが回転している際にもインクセルの走査を行うことがで きる。しかもその際、シリンダの軸線方向に電子ビームを偏向するための1つの 偏向ユニットしか必要でないという利点を有する。
【0009】 電子ビーム顕微鏡はそれ自体公知であるが、従来の電子ビーム顕微鏡は材料加 工用に用いたり改造したりすることはできない。公知の電子ビーム顕微鏡に関し ては、L. Reimer, G. Pfefferkornの著書「Raster−Elektronenmikroskopie」, Springer版、ベルリン、ハイデルベルク、ニューヨーク、1977年、第1章序 論、1頁、2頁及び3頁に詳述されている。この文献の第1.1図及びその説明 において、2次電子の検出及びモニタへの接続のための回路技術的構成が記載さ れている。
【0010】 本考案は材料加工及び印刷版製作用に製作された電子ビーム発生系から出発し ている。
【0011】
次に本考案の実施例を図面を用いて詳細に説明する。
【0012】 図1に、彫刻されたインクセル2を有する印刷シリンダ1を示す。これらのイ ンクセルは、電子ビーム3によって彫刻されたものである。こうした印刷シリン ダは、凹板印刷において圧胴として用いられる。その際、印刷過程においてイン クセルは印刷インクで満たされ、この印刷インクは、印刷の際に印刷材料上に転 写される。前記インクセルは、印刷すべき色調に応じて異なった容積を有する。
【0013】 図1には、電子光学装置と、電子ビーム発生器のビーム路が詳細に示されてい る。電子ビーム3は、加熱されたカソード4から放射される。このカソード4は 、電圧源Vk(例えば6V)を有する加熱電流回路41に設けられている。ビー ムは、ウェネルト電極5とアノード6を通って第1のレンズ系7に達する。この レンズ系7は、図2に詳細に示されている。ウェネルト電極5は、電圧源Vw( 例えば100V)を有する電流回路51に接続されており、又アノード6は、ア ノード電圧(5KV〜50KV)用の電圧源Vaを有する電流回路61に接続さ れている。
【0014】 さらに、開口絞り8が設けられており、この絞りを通過したビームは、偏向ユ ニット9及び第2のレンズ系10を通って彫刻すべき印刷シリンダ1上に達する 。偏向ユニット9は、偏向ビームを走査線状に、走査すべきインクセル2上へ運 動させるために用いられる。こうした走査運動は、第2の偏向ユニット13を用 いての受像管12の電子ビームと同時に行なわれる。相応する偏向電流は、ラス タゼネレータ14において発生される。そして2つの偏向ユニット9及び13は 、拡大率の変化のためのユニット15を介して相互に接続されている。真空にお いては、彫刻されたインクセルの片側にゾンデ16が設けられている。このゾン デ16は、印刷版表面から発する2次電子及び反射した電子を捕捉し、それらを ビデオ増幅器17に供給する。このビデオ増幅器17から、受像管12の輝度制 御が行なわれる。走査ラスタは、受像管12のスクリーン上に示される。
【0015】 図2に、電子ビーム発生系及び、彫刻動作や顕微鏡動作など種々の動作形式の ためのビーム路を詳細に示す。この図において、カソード、ウェネルト電極、ア ノードより構成される本来の電子ビーム発生系、及び偏向コイルは、見やすくす るために省略されている。第1の縮小を行なう第1のレンズ系7は、実際には2 つのレンズ71及び72により構成されている。そして彫刻動作のために、もう 1つのレンズ73がレンズ71の内部に設けられている。以下において、図に書 き込んだビーム路30,31,32に基づき3通りの動作例を説明する。即ち、 ビーム路30のビームが、大きいインクセルを彫刻する場合、ビーム路31のビ ームが小さいインクセルを彫刻する場合、ビーム路32のビームが、顕微鏡動作 をする場合である。
【0016】 1.彫刻動作 レンズ系71,72及び73は、1つの可変縮小段を形成している。その際、 簡単に図示されているビーム源は、レンズの最大励磁の場合には1/12に縮小され 、励磁されないレンズ73の場合には1/3に縮小される。開口絞り8は、角度α0 が0.08radとなるように構成されている。その結果、ディスク状開口誤差 の直径が25μmとなる。レンズ10は、1/4に縮小し、レンズ101は、ビー ムを集束及び発散させるために用いられる。それによりインクセルが彫刻される 。ビームが集束される場合には加工効果が現われるが、ビームが発散される場合 には加工効果は現われない。既述のように、大きいインクセルを彫刻するために ビーム路30が調整される。その際、ビームは衝突点において約100μmの直 径を有し、かつ加工ビームスポットにおいて50mAのビーム電流を有する。
【0017】 ビーム路31は、小さいインクセルを彫刻するために用いられる。このビーム は衝突点において約20μmの直径を有し、その電流はビームスポットにおいて 3mAの値をとる。ダイナミックレンズ73を種々に励磁することにより、イン クセルの大きさを色調に依存して変化することができる。
【0018】 彫刻動作の場合、図1に図示の偏向系9は回転シリンダに対してビーム案内を し、それによりビームは、シリンダが回転している場合にも常に同一の場所に当 たる。
【0019】 彫刻動作及び顕微鏡動作の際には50KVの加速電圧で作動され、カソードか ら放射されるビームは約50mAの電流の強さを有する。
【0020】 2.顕微鏡動作 ダイナミックレンズ73への電流は遮断される。スタティックレンズ71は一 層強く励磁され、ビーム源は約250Wに縮小される。
【0021】 図において破線で図示されている小さい方の開口絞り8′で作動される。開口 絞り8′は、この目的のためにビーム路に向かって旋回して絞っている。この絞 りの開口部は、α1 =0.025radの値をとる。この結果、ディスク状開口 誤差は、約1μmとなる。レンズ10はほとんど変化せず、ダイナミック集束レ ンズ101への電流は遮断されている。
【0022】 このようにしてビーム路32が形成される。その際レンズ10は、専らビーム をシャープにするために用いられる。シリンダ表面上のゾンデの直径は、1乃至 1.5μmである。
【0023】 図1に図示の偏向系9は、受像管12の線周波数及びフレーム周波数に相応し て走査ラスクを発生するために用いられる。走査されるフィールドは約1mm2の 面積となる、図1に示した様に、顕微鏡動作のために2次電子検出器16が設け られている。2次電子検出器16は、顕微鏡動作の際、絞り8′と同様に旋回さ れる。受像管上におけるインクセルの画像は、あたかもインクセルが側面から照 射されているかのように見える。なぜなら検出器16は、片側から印刷版表面の インクセルの方へ向けられており、又、検出器に相対するインクセルの内側で反 射する電子は、検出器16においてより良好に捕捉されるからである。
【0024】 この場合も、電子ビームは精密集束される。そして印刷版シリンダの回転及び 送りによって生じる個々の画線は、一時記憶され、同様にしてモニタを制御する ために用いられる。こうして一時記憶装置は、画像反復メモリ又はいわゆるリフ レッシュメモリとして公知である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案による装置の構成略図。
【図2】彫刻動作及び顕微鏡作用の電子ビーム発生系の
構造を示す略図。
構造を示す略図。
1 印刷シリンダ、 2 インクセル、 4 カソー
ド、 5 ウェネルト電極、 6 アノード、 7 第
1のレンズ系、 8,8′ 開口絞り、 9,13 偏
向ユニット、 10 第2のレンズ系、 12 受像
管、 14 ラスタゼネレータ、 15 ユニット、
16 ゾンデ、 17 ビデオ増幅器、 41 加熱電
流回路、 51,61 電流回路、 71,72,73
レンズ系
ド、 5 ウェネルト電極、 6 アノード、 7 第
1のレンズ系、 8,8′ 開口絞り、 9,13 偏
向ユニット、 10 第2のレンズ系、 12 受像
管、 14 ラスタゼネレータ、 15 ユニット、
16 ゾンデ、 17 ビデオ増幅器、 41 加熱電
流回路、 51,61 電流回路、 71,72,73
レンズ系
Claims (1)
- 【請求項1】 電子ビーム発生器の電子ビームによりセ
ル型の凹部が印刷版表面に彫刻される、印刷版表面の監
視装置において、 前記電子ビーム発生器はラスタ電子顕微鏡としても作動
され、当該電子顕微鏡動作時には、電子ビームがその強
度およびその偏向パラメータに関して切り換えられ、当
該電子ビームにより形成しようとしているインクセル領
域が走査され、モニタを制御するためのビデオ信号が電
子ビームによって発生される2次電子から取り出され、
該ビデオ信号が前記印刷版の送りと共にモニタ制御に使
用されることを特徴とする、印刷版表面の監視装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19823240653 DE3240653A1 (de) | 1982-11-04 | 1982-11-04 | Verfahren zur kontrolle von mittels elektronenstrahlgravierten druckformoberflaechen |
DE3240653.3 | 1982-11-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH067933U true JPH067933U (ja) | 1994-02-01 |
JPH088102Y2 JPH088102Y2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=6177236
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58206069A Pending JPS5998848A (ja) | 1982-11-04 | 1983-11-04 | 電子ビ−ムによつて彫刻される印刷版表面を監視する方法 |
JP1992075919U Expired - Lifetime JPH088102Y2 (ja) | 1982-11-04 | 1992-11-02 | 印刷版表面の監視装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58206069A Pending JPS5998848A (ja) | 1982-11-04 | 1983-11-04 | 電子ビ−ムによつて彫刻される印刷版表面を監視する方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4549067A (ja) |
EP (1) | EP0108375B1 (ja) |
JP (2) | JPS5998848A (ja) |
AT (1) | ATE49534T1 (ja) |
DE (2) | DE3240653A1 (ja) |
SU (1) | SU1240347A3 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT386297B (de) * | 1985-09-11 | 1988-07-25 | Ims Ionen Mikrofab Syst | Ionenstrahlgeraet und verfahren zur ausfuehrung von aenderungen, insbes. reparaturen an substraten unter verwendung eines ionenstrahlgeraetes |
AT392857B (de) * | 1987-07-13 | 1991-06-25 | Ims Ionen Mikrofab Syst | Vorrichtung und verfahren zur inspektion einer maske |
DE4031547A1 (de) * | 1990-10-05 | 1992-04-09 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von texturwalzen |
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NL268860A (ja) * | 1959-04-17 | |||
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- 1982-11-04 DE DE19823240653 patent/DE3240653A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-11-02 EP EP83110891A patent/EP0108375B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1983-11-02 DE DE8383110891T patent/DE3381109D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1983-11-02 AT AT83110891T patent/ATE49534T1/de not_active IP Right Cessation
- 1983-11-03 SU SU833663179A patent/SU1240347A3/ru active
- 1983-11-03 US US06/548,518 patent/US4549067A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-11-04 JP JP58206069A patent/JPS5998848A/ja active Pending
-
1992
- 1992-11-02 JP JP1992075919U patent/JPH088102Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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JPS57135172A (en) * | 1981-02-13 | 1982-08-20 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Electron beam-working method |
Also Published As
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EP0108375A2 (de) | 1984-05-16 |
US4549067A (en) | 1985-10-22 |
EP0108375B1 (de) | 1990-01-17 |
SU1240347A3 (ru) | 1986-06-23 |
DE3381109D1 (de) | 1990-02-22 |
DE3240653A1 (de) | 1984-05-10 |
JPS5998848A (ja) | 1984-06-07 |
ATE49534T1 (de) | 1990-02-15 |
JPH088102Y2 (ja) | 1996-03-06 |
EP0108375A3 (en) | 1987-04-01 |
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