JPH0669866U

JPH0669866U - 微小振幅ｉｃ測定回路

Info

Publication number: JPH0669866U
Application number: JP1313793U
Authority: JP
Inventors: 孝行平野
Original assignee: 安藤電気株式会社
Priority date: 1993-02-26
Filing date: 1993-02-26
Publication date: 1994-09-30

Abstract

(57)【要約】【目的】テストボード上に回路を追加することにより
小振幅ＩＣを測定することのできる微小振幅ＩＣ測定回
路を提供する。【構成】ＤＵＴ３の入力端子にドライバ１Ａの出力を
印加する微小振幅ＩＣ測定回路において、一端が伝送線
路Ｚ０と抵抗２Ａとを介してドライバ１Ａの出力端子に
接続され、他端が伝送線路Ｚ１を介してＤＵＴ３の入力
端子に接続される抵抗２Ｂと、一端が抵抗２Ｂと伝送線
路Ｚ１との接続点に接続され、他端にＤＵＴ３の入力基
準電圧Ｖｒｅｆを印加された第３の抵抗２Ｃとを設け
る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、入力信号の最大振幅が、ＩＣ試験器の出力信号の最小振幅よりも小さいＩＣを測定する場合に、ＩＣ試験器の出力振幅を、測定されるＩＣ（以下ＤＵＴという。）の最大入力振幅以下に変換してＤＵＴに入力して測定することができる微小振幅ＩＣ測定回路についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来のＩＣ測定回路の構成を図３に示す。図３の１Ａ・１Ｂはドライバ、２Ａ・２Ｆは抵抗器、３はＤＵＴ、４はコンパレータ、Ｚ０・Ｚ３は伝送線路である。図３のアに示す回路はＤＵＴ３の端子が入力端子のときに用いる。ドライバ１Ａの出力が抵抗２Ａ、伝送線路Ｚ０を通してＤＵＴ３へ加えられる。このとき伝送線路Ｚ０のインピーダンスと抵抗２Ａの抵抗値はインピーダンス整合がとれるように選ぶ。

【０００３】図３のイに示す回路はＤＵＴ３の端子が入出力端子のときに用いる。ＩＣ試験器が入力モードのときはドライバ１Ｂの出力が抵抗２Ｆ、伝送線路Ｚ３を通してＤＵＴ３に加えられる。出力モードのときはＤＵＴ３の出力が伝送線路Ｚ３を通してコンパレータ４に入力されてＤＵＴ３が測定される。このとき伝送線路Ｚ３のインピーダンスと抵抗２Ｆの抵抗値はインピーダンス整合がとれるように選ぶ。図３ア・イではＤＵＴ３はテストボード上に実装され、その他はＩＣ試験器内に置かれる。図３ア・イではドライバ１Ａ・１Ｂの前の回路とコンパレータ４の後の回路を省略している。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

１００ＭＨｚを超えるような高速で動作するデバイスでは、入出力インタフェースの信号が１Ｖ以下と小振幅である。例えば、ＧＴＬインタフェースのデバイスでは入出力信号レベルは基準電圧Ｖｒｅｆ（通常０．８Ｖ）を中心に±５０ｍＶのレベルすなわち０．１Ｖの振幅である。従来のＩＣ試験器では、ＴＴＬ、ＣＭＯＳ、ＥＣＬ等のデバイスを試験するために、１Ｖ〜５Ｖ位の振幅の信号を出力するように設計されているため、ＧＴＬのように入力振幅が小振幅のデバイスを試験することが困難であった。

【０００５】この考案は、テストボード上に回路を追加することにより小振幅ＩＣを測定することのできる微小振幅ＩＣ測定回路を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するため、この考案では、ＤＵＴ３の入力端子にドライバ１Ａの出力を印加する微小振幅ＩＣ測定回路において、一端が伝送線路Ｚ０と抵抗２Ａとを介してドライバ１Ａの出力端子に接続され、他端が伝送線路Ｚ１を介してＤＵＴ３の入力端子に接続される抵抗２Ｂと、一端が抵抗２Ｂと第２の伝送線路Ｚ１との接続点に接続され、他端にＤＵＴ３の入力基準電圧Ｖｒｅｆを印加された抵抗２Ｃとを設ける。

【０００７】また、入力モード時にはＤＵＴ３の入出力端子に第１のドライバ１Ａの出力を印加し、出力モード時にはＤＵＴ３の入出力端子からの出力をコンパレータ４へ印加する微小振幅ＩＣ測定回路において、一端が伝送線路Ｚ０と抵抗２Ａとを介して第１のドライバ１Ａの出力端子に接続され、他端が伝送線路Ｚ２に接続される抵抗２Ｄと、一端が抵抗２Ｄと第３の伝送線路Ｚ２との接続点に接続され、他端にＤＵＴ３の入力基準電圧Ｖｒｅｆを印加された抵抗２Ｅと、一端が伝送線路Ｚ３と抵抗２Ｆとを介してドライバ１Ｂの出力端子に、伝送線路Ｚ３を介してコンパレータ４の入力端子にそれぞれ接続される抵抗２Ｇと、一端が伝送線路Ｚ２を介して抵抗２Ｄ・２Ｅの共通接続点に接続される抵抗２Ｈと、一端が伝送線路Ｚ４を介してＤＵＴ３の入出力端子に接続される抵抗２Ｉとを備え、抵抗２Ｇ・２Ｈ・２Ｉの他端はそれぞれ共通接続する。

【０００８】

【作用】次にこの考案による微小振幅ＩＣ測定回路の構成を図１に示す。図１の２Ｂ〜２Ｉは抵抗、Ｚ１・Ｚ２・Ｚ４は伝送線路でありその他は図３と同じである。図１のアに示す回路はＤＵＴ３の端子が入力端子のときに用いる。この回路は図３アの回路に抵抗２Ｂと抵抗２Ｃと伝送線路Ｚ１を追加したものである。ドライバ１Ａの出力電圧は抵抗２Ａ、伝送線路Ｚ０を通り、抵抗２Ｂ・２ＣによりＤＵＴ３の入力基準電圧Ｖｒｅｆと分圧され、伝送線路Ｚ１をとおり、ＤＵＴ３へ加えられる。ここで抵抗２Ａ・２Ｂ・２Ｃの抵抗値をそれぞれＲ１・Ｒ２・Ｒ３とし、ドライバ１の出力電圧をＶｒｅｆ±（１／２）Ｖ１（Ｖｒｅｆを中心にして振幅Ｖ１）、ＤＵＴ３の入力電圧をＶ２とするとＶ２は次式で与えられる。

【０００９】

【数１】すなわちＤＵＴ３の入力振幅はＲ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×Ｖ１となる。ここでＲ１・Ｒ２・Ｒ３の値を選ぶことにより、ドライバ１の最小出力振幅より小さい振幅の信号をＤＵＴ３へ加えることができる。

【００１０】また伝送線路Ｚ０・Ｚ１とインピーダンス整合がとれるようにＲ１Ｒ２・Ｒ３の値を選ぶ。例えばＤＵＴ３の入力基準電圧Ｖｒｅｆ＝０．８Ｖ、ＤＵＴ３の最大入力振幅を０．１Ｖ、ドライバ１Ａの最小出力振幅を１Ｖ、ドライバ１Ａの出力電圧を０．８±１Ｖ（２Ｖ振幅）とし、伝送線路Ｚ０・Ｚ１のインピーダンスをそれぞれ５０Ω、抵抗２Ａ・２Ｂ・２Ｃの抵抗値をＲ１＝５０Ω、Ｒ２＝９５０Ω、Ｒ３＝５３ΩとすればＤＵＴ３の入力電圧Ｖ２はＶ２＝０．８±０．０５Ｖ（０．１Ｖ振幅）となり、ドライバ１の最小出力振幅（１Ｖ）より小さい振幅をＤＵＴ３へ与えることができる。またインピーダンス整合もとれている。ここで、抵抗２Ｂ・２Ｃ、伝送線路Ｚ１、ＤＵＴ３をテストボード上に実装することにより、従来のＩＣ試験器をそのまま使用することができる。

【００１１】図１のイに示す回路はＤＵＴ３の端子が入出力端子のときに用いる。この回路は図３アと図３イの従来回路とを組み合わせたものに抵抗２Ｄ・２Ｅ・２Ｇ・２Ｈ・２Ｉおよび伝送線路Ｚ２・Ｚ４を追加したものである。ＩＣ試験器が入力モードのときドライバ１Ａの出力電圧は抵抗２Ａ、伝送線路Ｚ０をとおり、抵抗２Ｄ・２ＥによりＤＵＴ３の基準電圧Ｖｒｅｆと分圧された後で伝送線路Ｚ２を通り、抵抗２Ｇ・２Ｈによりドライバ１Ｂの出力電圧とさらに分圧されて、抵抗２Ｉ・伝送線路Ｚ４をとおりＤＵＴ３へ入力される。

【００１２】ここでドライバ１Ｂの出力電圧をＶｒｅｆに設定し、抵抗２Ａ・２Ｄ〜２Ｉの抵抗値をそれぞれＲ４〜Ｒ１０、ドライバ１Ａの出力電圧をＶｒｅｆ±（１／２）×Ｖ３（Ｖｒｅｆを中心としてＶ３の振幅）、ＤＵＴ３の入力電圧をＶ４とするとＶ４は次式で与えられる。

【００１３】

【数２】すなわちＤＵＴ３の入力電圧振幅は

【００１４】

【数３】となり、Ｒ４〜Ｒ１０の値を選べばドライバ１Ａの最小出力振幅より小さい振幅の信号をＤＵＴ３へ加えることができる。また伝送線路Ｚ０・Ｚ２・Ｚ３・Ｚ４とインピーダンス整合がとれるようにＲ４〜Ｒ１０は選ぶ。

【００１５】ＩＣ試験器が出力モードのときドライバ１Ａの出力電圧をＶ５、ドライバ１Ｂの出力電圧をＶ６とすると、図１イは図に示すように書きかえることができる。２ＪはＤＵＴ３から見た合成抵抗であり、抵抗２Ｊの値Ｒおよび電圧Ｖは次式で与えられる。

【００１６】

【数４】

【００１７】

【数５】ここでＶがＤＵＴ３の終端電圧Ｖｔｔと等しくなるようにＶ５・Ｖ６を選び、ＤＵＴ３の出力電圧Ｖ０をコンパレータ４で測定する。

【００１８】例えば、伝送線路Ｚ０・Ｚ２・Ｚ３・Ｚ４のインピーダンスをそれぞれ５０Ω 、ＤＵＴ３の入力基準電圧をＶｒｅｆ＝０．８Ｖ、終端電圧Ｖｔｔ＝１．２Ｖ、最大入力振幅を０．１Ｖ、ドライバ１の最小出力振幅を１Ｖ、抵抗２Ａ・２Ｄ〜２Ｉの抵抗値をＲ４＝５０Ω、Ｒ５＝４５０Ω、Ｒ６＝５６Ω、Ｒ７＝５０Ω、Ｒ８＝Ｒ９＝Ｒ１０＝１６Ωとすると、ＩＣ試験器が入力モードのときドライバ１Ａの出力電圧を０．８Ｖ±１Ｖ（２Ｖ振幅）（ドライバ１Ｂの出力電圧をＶｒｅｆ＝０．８Ｖ）とすると、ＤＵＴ３の入力電圧Ｖ４はＶ４＝０．８Ｖ±０．０５Ｖ（０．１Ｖ振幅）となりドライバ１Ａの最小出力振幅（１Ｖ）よりも小さい振幅（０．１Ｖ）の信号をＤＵＴ３へ与えることができる。

【００１９】ＩＣ試験器が出力モードのとき、ドライバ１Ａの出力電圧をＶ５＝１．８Ｖ、ドライバ１Ｂの出力電圧Ｖ６＝１．５Ｖとすれば図３のＶ＝１．２Ｖ＝Ｖｔｔとなる。またＲ≒５０Ωとなる。伝送線路Ｚ０・Ｚ２・Ｚ３・Ｚ４についてインピーダンス整合もとれている。このとき図１（イ）の抵抗２Ｄ・２Ｅ・２Ｇ・２Ｈ・２Ｉおよび伝送線路Ｚ２・Ｚ４をテストボード上に実装することにより、従来のＩＣ試験器をそのまま使用することができる。

【００２０】

【実施例】

つぎに、この考案による実施例の構成を図４と図５に示す。図４と図５の５は直流特性測定回路、６〜１０はスイッチであり、他は図１ア・イと同じである。図４に示す回路はＤＵＴ３の端子が入力端子のときに用いる。ＤＵＴ３の機能試験、交流特性試験を行うときにはスイッチ６は６Ａと６Ｂを、スイッチ７は７Ａと７Ｂを、スイッチ８は８Ａと８Ｂを、スイッチ９は９Ａと９Ｂを接続し、直流特性試験を行うときは、スイッチ６は６Ａと６Ｃ、スイッチ７は７Ａと７Ｃ、スイッチ８は８Ａと８Ｃ、スイッチ９は９Ａと９Ｃを接続することにより、ＤＵＴ３と直流特性測定回路５と直接接続して試験を行う。

【００２１】図５に示す回路はＤＵＴ３の端子が入出力端子のときに用いる。図４と同じように機能試験、交流特性試験を行うときは、スイッチ６は６Ａと６Ｂを、スイッチ７は７Ａと７Ｂを、スイッチ８は８Ａと８Ｂを、スイッチ９は９Ａと９Ｂを、スイッチ１０は１０Ａと１０Ｂを接続し、直流特性試験を行うときは、スイッチ６は６Ａと６Ｃを、スイッチ７は７Ａと７Ｃを、スイッチ８は８Ａと８Ｃを、スイッチ９は９Ａと９Ｃを、スイッチ１０は１０Ａと１０Ｃを接続して、ＤＵＴ３と直流特性測定回路を直接接続して試験を行う。スイッチ６〜１０は例えば３端子２接点リードリレーを使用する。

【００２２】

【考案の効果】

この考案によれば、テストボード上に設けた回路によりＩＣ試験器の出力電圧を変換してＤＵＴに入力しているので、ＩＣ試験器の最小出力振幅より小さい振幅のデバイスを測定することができる。また、Ｓ／Ｎ比も向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＩＣ測定回路の構成図である。

【図２】図２の出力モードのときの等価回路である。

【図３】従来のＩＣ測定回路の構成図である。

【図４】ＤＵＴ３の端子が入力端子の場合の、本考案に
よる一実施例である。

【図５】ＤＵＴ３の端子が入出力端子の場合の、本考案
による一実施例である。

【符号の説明】

１Ａ・１Ｂドライバ２Ａ〜２Ｊ抵抗３ＤＵＴ４コンパレータ５直流特性測定回路６〜１０スイッチ６Ａ〜１０Ａスイッチの共通端子６Ｂ〜１０Ｂスイッチの切換端子６Ｃ〜１０Ｃスイッチの切換端子Ｚ０〜Ｚ４伝送線路

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】ＤＵＴ(3)の入力端子に第１のドライバ
(1A）の出力を印加する微小振幅ＩＣ測定回路におい
て、一端が第１の伝送線路(Z0)と第１の抵抗(2A)を介して第
１のドライバ(1A)の出力端子に接続され、他端が第２の
伝送線路(Z1)を介してＤＵＴ(3)の入力端子に接続され
る第２の抵抗(2B)と、一端が第２の抵抗(2B)と第２の伝送線路(Z1)との接続点
に接続され、他端に前記ＤＵＴ(3)の入力基準電圧(Vre
f) を印加された第３の抵抗(2C)とを設けた事を特徴と
する微小振幅ＩＣ測定回路。
【請求項２】入力モード時にはＤＵＴ(3) の入出力端
子に第１のドライバ(1A)の出力を印加し、出力モード時
にはＤＵＴ(3) の入出力端子からの出力をコンパレータ
(4) へ印加する微小振幅ＩＣ測定回路において、一端が
第１の伝送線路(Z0)と第１の抵抗(2A)とを介して第１の
ドライバ(1A)の出力端子に接続され、他端が第３の伝送
線路(Z2)に接続される第４の抵抗(2D)と、一端が第４の抵抗(2D)と第３の伝送線路(Z2)との接続点
に接続され、他端に前記ＤＵＴ(3)の入力基準電圧(Vre
f)を印加された第５の抵抗(2E)と、一端が第４の伝送線路(Z3)と第６の抵抗(2F)とを介して
第２のドライバ(1B)の出力端子に、第４の伝送線路(Z3)
を介して前記コンパレータ(4) の入力端子にそれぞれ接
続される第７の抵抗(2G)と、一端が第３の伝送線路(Z2)を介して第４及び第５の抵抗
(2D,2E) の共通接続点に接続される第８の抵抗(2H)と、一端が第５の伝送線路(Z4)を介してＤＵＴ(3) の入出力
端子に接続される第９の抵抗(21)とを有し、第７、第８及び第９の抵抗(2G,2H,2I)の他端はそれぞれ
共通接続された事を特徴とする微小振幅器ＩＣ測定回
路。