JPH0669491A - 光送受信装置 - Google Patents
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- JPH0669491A JPH0669491A JP21934692A JP21934692A JPH0669491A JP H0669491 A JPH0669491 A JP H0669491A JP 21934692 A JP21934692 A JP 21934692A JP 21934692 A JP21934692 A JP 21934692A JP H0669491 A JPH0669491 A JP H0669491A
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- H01S5/32391—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength longer than 1000 nm, e.g. InP-based 1300 nm and 1500 nm lasers based on In(Ga)(As)P
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、双方向通信やコンピュータ内部での
光並列リンクデータの伝送に用いられる光送受信装置に
関し、送信、受信双方に最適化された構造を有する光送
受信装置を提供することを目的とする。 【構成】n−InP基板2上に光吸収層4、p−InP
層6、コンタクト層8が形成されて受信部Aが形成され
ている。コンタクト層8上にSI−InP層10、コン
タクト層12、クラッド層14、ガイド層18が形成さ
れ、クラッド層14との界面に回折格子16が形成され
ている。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性
層20が形成され、その上にクラッド層22、コンタク
ト層24が形成されている。側面に誘電体膜28、30
が形成されている。n−InP基板2下部に電極32が
形成され、コンタクト層8、12にそれぞれ電極34、
36が形成されている。コンタクト層24上に電極38
が形成されているように構成する。
光並列リンクデータの伝送に用いられる光送受信装置に
関し、送信、受信双方に最適化された構造を有する光送
受信装置を提供することを目的とする。 【構成】n−InP基板2上に光吸収層4、p−InP
層6、コンタクト層8が形成されて受信部Aが形成され
ている。コンタクト層8上にSI−InP層10、コン
タクト層12、クラッド層14、ガイド層18が形成さ
れ、クラッド層14との界面に回折格子16が形成され
ている。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性
層20が形成され、その上にクラッド層22、コンタク
ト層24が形成されている。側面に誘電体膜28、30
が形成されている。n−InP基板2下部に電極32が
形成され、コンタクト層8、12にそれぞれ電極34、
36が形成されている。コンタクト層24上に電極38
が形成されているように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、双方向通信やコンピュ
ータ内部での光並列リンクデータの伝送に用いられる光
送受信装置に関する。
ータ内部での光並列リンクデータの伝送に用いられる光
送受信装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光加入者系の双方向通信に用いられる光
送受信装置や、コンピュータ内部での光並列リンクデー
タの伝送に用いられる光送受信装置として、従来から半
導体レーザが使われている。従来の光送受信装置として
用いられる半導体レーザを図14を用いて説明する。
送受信装置や、コンピュータ内部での光並列リンクデー
タの伝送に用いられる光送受信装置として、従来から半
導体レーザが使われている。従来の光送受信装置として
用いられる半導体レーザを図14を用いて説明する。
【0003】n−InP基板100上部がメサ形状に形
成され、メサ上層にはInGaAsP層の活性層112
が形成されている。メサはp−InP層102で埋め込
まれている。活性層112上部以外のp−InP層10
2上にn−InP層104が形成されている。n−In
P層104及び活性層112上にはp−InP層106
が形成されている。p−InP層102及び、n−In
P層104、p−InP層106により電流ブロック層
を形成している。
成され、メサ上層にはInGaAsP層の活性層112
が形成されている。メサはp−InP層102で埋め込
まれている。活性層112上部以外のp−InP層10
2上にn−InP層104が形成されている。n−In
P層104及び活性層112上にはp−InP層106
が形成されている。p−InP層102及び、n−In
P層104、p−InP層106により電流ブロック層
を形成している。
【0004】p−InP層106上にはp−InGaA
sP層のコンタクト層108が形成されている。コンタ
クト層108上にはシリコン酸化膜110が形成され、
その上にp側電極116が形成されている。n−InP
基板下部にはn側電極114が形成されている。このよ
うな構造を有する従来の半導体レーザを光送受信装置と
して用いる場合、光送信時には通常の半導体レーザとし
て発光させ、受光時には逆バイアス電圧を印加して受光
器として機能させている。
sP層のコンタクト層108が形成されている。コンタ
クト層108上にはシリコン酸化膜110が形成され、
その上にp側電極116が形成されている。n−InP
基板下部にはn側電極114が形成されている。このよ
うな構造を有する従来の半導体レーザを光送受信装置と
して用いる場合、光送信時には通常の半導体レーザとし
て発光させ、受光時には逆バイアス電圧を印加して受光
器として機能させている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の光送受
信装置では以下に示すような欠点を有していた。 (1)上述の光送受信装置は本来半導体レーザであり送
信(発光)器として最適化された構造を有しているが、
受光器としては最適化された構造を有していないことか
ら、受光した光を電気量に変換する変換効率が低く、ま
た、暗電流が大きいという問題がある。
信装置では以下に示すような欠点を有していた。 (1)上述の光送受信装置は本来半導体レーザであり送
信(発光)器として最適化された構造を有しているが、
受光器としては最適化された構造を有していないことか
ら、受光した光を電気量に変換する変換効率が低く、ま
た、暗電流が大きいという問題がある。
【0006】(2)光を吸収する光吸収層の体積が小さ
いため、光を電気量に変換する効率が低いという問題が
ある。このようなことから、送信、受信双方に最適化さ
れた構造を有する光送受信装置を実現することが望まれ
ている。本発明の目的は、送信、受信双方に最適化され
た構造を有する光送受信装置を提供することにある。
いため、光を電気量に変換する効率が低いという問題が
ある。このようなことから、送信、受信双方に最適化さ
れた構造を有する光送受信装置を実現することが望まれ
ている。本発明の目的は、送信、受信双方に最適化され
た構造を有する光送受信装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は、送信時には
波長λ1のレーザ光を発振して送信光として射出し、か
つ受信時には前記波長λ1と異なる波長の波長λ2の受
信光を入射して導波する活性層と、前記活性層に導波さ
れた前記受信光を外部に伝達する受信光伝達手段とを有
する光送信部と、前記受信光伝達手段から伝達された前
記受信光を受光して電気信号に変換する受光素子を有す
る光受信部とを備えたことを特徴とする光送受信装置に
よって達成される。
波長λ1のレーザ光を発振して送信光として射出し、か
つ受信時には前記波長λ1と異なる波長の波長λ2の受
信光を入射して導波する活性層と、前記活性層に導波さ
れた前記受信光を外部に伝達する受信光伝達手段とを有
する光送信部と、前記受信光伝達手段から伝達された前
記受信光を受光して電気信号に変換する受光素子を有す
る光受信部とを備えたことを特徴とする光送受信装置に
よって達成される。
【0008】また上記目的は、送信時には波長λ1のレ
ーザ光を発振して送信光として射出し、かつ受信時には
前記波長λ1と異なる波長の波長λ2の受信光を入射し
て導波する活性層を有する光送信部と、前記活性層の前
記受信光の入射側と反対側に形成され、前記活性層内を
導波された前記受信光を受光して電気信号に変換する受
光素子を有する光受信部とを備えたことを特徴とする光
送受信装置によって達成される。
ーザ光を発振して送信光として射出し、かつ受信時には
前記波長λ1と異なる波長の波長λ2の受信光を入射し
て導波する活性層を有する光送信部と、前記活性層の前
記受信光の入射側と反対側に形成され、前記活性層内を
導波された前記受信光を受光して電気信号に変換する受
光素子を有する光受信部とを備えたことを特徴とする光
送受信装置によって達成される。
【0009】
【作用】本発明によれば、送信、受信双方に最適化され
た構造を有する光送受信装置を実現できるので、優れた
特性を有する光加入者系双方向通信用光送受信装置、或
いはコンピュータ内、光並列リンクデータ伝送用光送受
信装置を実現することができる。
た構造を有する光送受信装置を実現できるので、優れた
特性を有する光加入者系双方向通信用光送受信装置、或
いはコンピュータ内、光並列リンクデータ伝送用光送受
信装置を実現することができる。
【0010】
【実施例】本発明の第1の実施例による光送受信装置を
図1乃至図3を用いて説明する。まず、本実施例による
光送受信装置の構造を図1を用いて説明する。図中Aの
部分で示すn−InP基板2からコンタクト層12まで
が受光部として機能する受信部(以下「受信部A」とい
う)であり、図中Bの部分で示したコンタクト層12か
らコンタクト層24までが主として光を発光する発光部
であって受信時には光を導波する機能を有する送信部
(以下「送信部B」という)である。送信部Bは、対向
する一対の平面ミラーで構成されるファブリ・ペロ型半
導体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有し
ている。受信部AはPIN型フォトダイオード構造であ
る。
図1乃至図3を用いて説明する。まず、本実施例による
光送受信装置の構造を図1を用いて説明する。図中Aの
部分で示すn−InP基板2からコンタクト層12まで
が受光部として機能する受信部(以下「受信部A」とい
う)であり、図中Bの部分で示したコンタクト層12か
らコンタクト層24までが主として光を発光する発光部
であって受信時には光を導波する機能を有する送信部
(以下「送信部B」という)である。送信部Bは、対向
する一対の平面ミラーで構成されるファブリ・ペロ型半
導体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有し
ている。受信部AはPIN型フォトダイオード構造であ
る。
【0011】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。この
光吸収層4は、バルク型である。光吸収層4上にp−I
nP層6が形成されている。p−InP層6上にp−I
nGaAsP層のコンタクト層8が形成されている。コ
ンタクト層8上にSI(半絶縁性)−InP層10が形
成されている。SI−InP層10上にp−InGaA
sP層のコンタクト層12が形成されている。コンタク
ト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成され
ている。p−InP層のクラッド層14上にp−InG
aAsP層のガイド層18が形成され、クラッド層14
との界面に回折格子16が形成されている。ガイド層1
8上にi−InGaAsP層の活性層20が形成されて
いる。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。この
光吸収層4は、バルク型である。光吸収層4上にp−I
nP層6が形成されている。p−InP層6上にp−I
nGaAsP層のコンタクト層8が形成されている。コ
ンタクト層8上にSI(半絶縁性)−InP層10が形
成されている。SI−InP層10上にp−InGaA
sP層のコンタクト層12が形成されている。コンタク
ト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成され
ている。p−InP層のクラッド層14上にp−InG
aAsP層のガイド層18が形成され、クラッド層14
との界面に回折格子16が形成されている。ガイド層1
8上にi−InGaAsP層の活性層20が形成されて
いる。
【0012】この回折格子16は、送信部BをDFBレ
ーザとしてレーザ発振させるために形成されたものでは
なく、光受信時に活性層20に入力した受信光である入
力光を光吸収層4に伝達させるための受信光伝達手段と
して機能するものである。従って、回折格子16は、活
性層20から射出する送信光である出力光は回折させず
に、活性層20に入力した入力光を回折するようになっ
ている。
ーザとしてレーザ発振させるために形成されたものでは
なく、光受信時に活性層20に入力した受信光である入
力光を光吸収層4に伝達させるための受信光伝達手段と
して機能するものである。従って、回折格子16は、活
性層20から射出する送信光である出力光は回折させず
に、活性層20に入力した入力光を回折するようになっ
ている。
【0013】本実施例においてこの活性層20は、波長
λ1=1.31μmのレーザ光を発振して送信光として
射出し、また、波長λ2=1.55μmの受信光を入力
光として活性層20内に導波することができるようにな
っている。波長λ1の光を発振する活性層20は、波長
λ2の入力光に対してほぼ透明であり、波長λ2の入力
光を吸収しない材料、すなわちλ1<λ2(発光領域の
バンドギャップエネルギ>波長λ2の光のエネルギ)で
あるような材料で形成されている必要がある。本実施例
では、i−InGaAsPで活性層20を形成してい
る。
λ1=1.31μmのレーザ光を発振して送信光として
射出し、また、波長λ2=1.55μmの受信光を入力
光として活性層20内に導波することができるようにな
っている。波長λ1の光を発振する活性層20は、波長
λ2の入力光に対してほぼ透明であり、波長λ2の入力
光を吸収しない材料、すなわちλ1<λ2(発光領域の
バンドギャップエネルギ>波長λ2の光のエネルギ)で
あるような材料で形成されている必要がある。本実施例
では、i−InGaAsPで活性層20を形成してい
る。
【0014】活性層20上にn−InP層のクラッド層
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。図中左側面に誘電体膜
30が形成され、右側のクラッド層14からコンタクト
層24側面に誘電体膜28が形成されている。n−In
P基板2下部に電極32が形成され、コンタクト層8、
12にそれぞれ電極34、36が形成されている。コン
タクト層24上に電極38が形成されている。
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。図中左側面に誘電体膜
30が形成され、右側のクラッド層14からコンタクト
層24側面に誘電体膜28が形成されている。n−In
P基板2下部に電極32が形成され、コンタクト層8、
12にそれぞれ電極34、36が形成されている。コン
タクト層24上に電極38が形成されている。
【0015】本実施例による光送受信装置の動作を図2
及び図3を用いて説明する。図2は本実施例の光送受信
装置を送信装置として使用する場合の動作を説明してい
る。電極36、38間にバイアス電圧を印加し、電極3
2、34間にはバイアス電圧を印加しないようにして送
信部Bだけを駆動させることにより、本実施例による光
送受信装置を光送信用の半導体レーザとして機能させる
ことができる。
及び図3を用いて説明する。図2は本実施例の光送受信
装置を送信装置として使用する場合の動作を説明してい
る。電極36、38間にバイアス電圧を印加し、電極3
2、34間にはバイアス電圧を印加しないようにして送
信部Bだけを駆動させることにより、本実施例による光
送受信装置を光送信用の半導体レーザとして機能させる
ことができる。
【0016】一方、図3は本実施例の光送受信装置を受
信装置として使用する場合の動作を説明している。電極
32、34間にバイアス電圧を印加し、電極36、38
間にはバイアス電圧を印加しないようにして受信部Aだ
けを駆動することにより、活性層20に入力された波長
λ2の光信号を回折格子16により回折させて光吸収層
4に導くようにして、本実施例による光送受信装置を受
信装置として機能させることができる。
信装置として使用する場合の動作を説明している。電極
32、34間にバイアス電圧を印加し、電極36、38
間にはバイアス電圧を印加しないようにして受信部Aだ
けを駆動することにより、活性層20に入力された波長
λ2の光信号を回折格子16により回折させて光吸収層
4に導くようにして、本実施例による光送受信装置を受
信装置として機能させることができる。
【0017】本実施例の光送受信装置により活性層20
に入力された波長λ2の入力光を光吸収層4に導く動作
を説明する。例えば、光送信時に出力されるレーザ光の
波長λ1が、λ1=1.31μmであり、光受信時に入
力される光信号の波長λ2が、λ2=1.55μmであ
る場合を考える。本実施例の光送受信装置は、発光領域
である活性層20近傍に光導波路層であるガイド層18
を設け、そのガイド層18とクラッド層14との界面に
回折格子16を形成している。この回折格子16は、回
折格子によって反射波を作り出す分布帰還型半導体レー
ザ(DFBレーザ)としての回折格子としては機能させ
るものではなく、送信時に発光させる波長λ1のレーザ
光は回折しないが、入力光の波長λ2の光は光吸収層4
へできるだけ多く回折させるような回折格子周期、回折
格子形状を有している。
に入力された波長λ2の入力光を光吸収層4に導く動作
を説明する。例えば、光送信時に出力されるレーザ光の
波長λ1が、λ1=1.31μmであり、光受信時に入
力される光信号の波長λ2が、λ2=1.55μmであ
る場合を考える。本実施例の光送受信装置は、発光領域
である活性層20近傍に光導波路層であるガイド層18
を設け、そのガイド層18とクラッド層14との界面に
回折格子16を形成している。この回折格子16は、回
折格子によって反射波を作り出す分布帰還型半導体レー
ザ(DFBレーザ)としての回折格子としては機能させ
るものではなく、送信時に発光させる波長λ1のレーザ
光は回折しないが、入力光の波長λ2の光は光吸収層4
へできるだけ多く回折させるような回折格子周期、回折
格子形状を有している。
【0018】回折格子16の回折格子周期(格子定数)
をΛ、ガイド層18の等価屈折率をneqとして、 mλ≠2neqΛ(m=1、2、3、…) …式(1) かつ、2λ=2neqΛ …式(2) を満たすような回折格子周期Λとなっている。
をΛ、ガイド層18の等価屈折率をneqとして、 mλ≠2neqΛ(m=1、2、3、…) …式(1) かつ、2λ=2neqΛ …式(2) を満たすような回折格子周期Λとなっている。
【0019】本実施例においては、回折格子16の回折
格子周期Λは、Λ=0.48μmとした。m=1(1次
の回折光)を問題とすれば、等価屈折率neqはneq=
3.25として、λ=1.56μmとなる。従って、こ
の回折格子16は波長λ2の入力光は回折するが、波長
λ1の出力光は回折しないことになる。このように、本
実施例による光送受信装置は、波長λ1の光を発振する
活性層と、波長λ2の光を吸収する光吸収層を同一素子
内に、或いは同一半導体基板上に形成したことに特徴を
有している。
格子周期Λは、Λ=0.48μmとした。m=1(1次
の回折光)を問題とすれば、等価屈折率neqはneq=
3.25として、λ=1.56μmとなる。従って、こ
の回折格子16は波長λ2の入力光は回折するが、波長
λ1の出力光は回折しないことになる。このように、本
実施例による光送受信装置は、波長λ1の光を発振する
活性層と、波長λ2の光を吸収する光吸収層を同一素子
内に、或いは同一半導体基板上に形成したことに特徴を
有している。
【0020】本実施例の光送受信装置の送信部Bにはフ
ァブリ・ペロ型半導体レーザを用いたが、λ1の光を回
折する回折格子を別に設けた分布帰還型半導体レーザ
(DFBレーザ)を用いてもよい。この場合、回折格子
に位相シフトを有する屈折率結合型分布帰還型半導体レ
ーザでも、回折格子に位相シフトを有さない屈折率結合
型分布帰還型半導体レーザでも用いることができる。ま
た、利得結合型分布帰還型半導体レーザ、或いは分布反
射型半導体レーザを送信部Bに用いることもできる。こ
れら場合には、回折格子16が形成されたガイド層18
とは別に導波路層を設け、この導波路層に波長λ1の出
力光を回折する回折格子を形成すればよい。
ァブリ・ペロ型半導体レーザを用いたが、λ1の光を回
折する回折格子を別に設けた分布帰還型半導体レーザ
(DFBレーザ)を用いてもよい。この場合、回折格子
に位相シフトを有する屈折率結合型分布帰還型半導体レ
ーザでも、回折格子に位相シフトを有さない屈折率結合
型分布帰還型半導体レーザでも用いることができる。ま
た、利得結合型分布帰還型半導体レーザ、或いは分布反
射型半導体レーザを送信部Bに用いることもできる。こ
れら場合には、回折格子16が形成されたガイド層18
とは別に導波路層を設け、この導波路層に波長λ1の出
力光を回折する回折格子を形成すればよい。
【0021】また、第1の実施例の光送受信装置におい
ては、光吸収層4に垂直に電界をかけるために光吸収層
4の上下(両側)に電極をとっているが、光吸収層4に
水平に電界をかけるために光吸収層4の一方の側から電
極を取るようにしてもよい。DFBレーザを送信部Bに
用いる場合には、結合係数が共振器内で不均一になって
(場所によって異なって)いてもよい。また、これらの
半導体レーザの電極は、発振波長をチューニングする目
的で、或いは発振波長を周波数変調する目的で不均一電
流注入を可能とするために、共振器方向に分割された電
極構造を有するようにしてもよい。
ては、光吸収層4に垂直に電界をかけるために光吸収層
4の上下(両側)に電極をとっているが、光吸収層4に
水平に電界をかけるために光吸収層4の一方の側から電
極を取るようにしてもよい。DFBレーザを送信部Bに
用いる場合には、結合係数が共振器内で不均一になって
(場所によって異なって)いてもよい。また、これらの
半導体レーザの電極は、発振波長をチューニングする目
的で、或いは発振波長を周波数変調する目的で不均一電
流注入を可能とするために、共振器方向に分割された電
極構造を有するようにしてもよい。
【0022】分布反射型半導体レーザ(DBRレーザ)
を送信部Bに用いる場合にも、発振波長をチューニング
する目的で、或いは周波数変調する目的で共振器方向に
分割された電極構造を有するようにしてもよい。また、
DBRレーザを用いる場合、分布反射器は活性領域の両
側に設けられていてもよいし、活性領域の片側の射出端
面と反対側だけに設けられていてもよい。さらに複数個
の位相調整領域が活性領域と分布反射領域の間に存在し
ていてもよい。また、電極は各領域毎に1個以上設けら
れていてもよい。
を送信部Bに用いる場合にも、発振波長をチューニング
する目的で、或いは周波数変調する目的で共振器方向に
分割された電極構造を有するようにしてもよい。また、
DBRレーザを用いる場合、分布反射器は活性領域の両
側に設けられていてもよいし、活性領域の片側の射出端
面と反対側だけに設けられていてもよい。さらに複数個
の位相調整領域が活性領域と分布反射領域の間に存在し
ていてもよい。また、電極は各領域毎に1個以上設けら
れていてもよい。
【0023】本実施例による光送受信装置の送信部Bの
端面処理として、誘電体膜28、30を形成したが、波
長λ1の光は透過し、波長λ2の光に対しては無反射と
なるような誘電体膜を形成してもよい。送信部Bの半導
体レーザがファブリ・ペロ型の場合は、波長λ1の出力
光に対して10%以上50%以下の反射率を有する誘電
体膜としてもよい。
端面処理として、誘電体膜28、30を形成したが、波
長λ1の光は透過し、波長λ2の光に対しては無反射と
なるような誘電体膜を形成してもよい。送信部Bの半導
体レーザがファブリ・ペロ型の場合は、波長λ1の出力
光に対して10%以上50%以下の反射率を有する誘電
体膜としてもよい。
【0024】送信部Bの半導体レーザが屈折率結合型分
布帰還型半導体レーザの場合で、回折格子に位相シフト
を有しない場合は、波長λ1の光に対して1〜10%の
反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。回折格子に
位相シフトを有する場合は、波長λ1の光に対して0〜
2%の反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。この
回折格子に位相シフトを有する屈折率結合型分布帰還型
半導体レーザの場合は、反対側の端面にも波長λ1の光
に対して0〜2%の反射率を有する同様の誘電体膜を形
成しておく必要がある。また、レーザ発振しきい値を下
げるため、及びレーザ発振に必要な光帰還を得るため、
さらに回折しきらなかった入射光を反射して再び回折さ
せて吸収光量を多くするため、波長λ1の光に対しても
波長λ2の光に対しても有限の反射率を有する誘電体膜
を反対側の端面に形成してもよい。送信部Bの半導体レ
ーザが利得結合型分布帰還型半導体レーザの場合は、波
長λ1の光に対して0〜90%の反射率を有する誘電体
膜を形成してもよい。
布帰還型半導体レーザの場合で、回折格子に位相シフト
を有しない場合は、波長λ1の光に対して1〜10%の
反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。回折格子に
位相シフトを有する場合は、波長λ1の光に対して0〜
2%の反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。この
回折格子に位相シフトを有する屈折率結合型分布帰還型
半導体レーザの場合は、反対側の端面にも波長λ1の光
に対して0〜2%の反射率を有する同様の誘電体膜を形
成しておく必要がある。また、レーザ発振しきい値を下
げるため、及びレーザ発振に必要な光帰還を得るため、
さらに回折しきらなかった入射光を反射して再び回折さ
せて吸収光量を多くするため、波長λ1の光に対しても
波長λ2の光に対しても有限の反射率を有する誘電体膜
を反対側の端面に形成してもよい。送信部Bの半導体レ
ーザが利得結合型分布帰還型半導体レーザの場合は、波
長λ1の光に対して0〜90%の反射率を有する誘電体
膜を形成してもよい。
【0025】送信部Bの半導体レーザが分布反射型で片
腕分布反射器型の場合は、波長λ1の光に対して10%
以上50%以下の反射率を有する誘電体膜を形成しても
よい。送信部Bの半導体レーザが分布反射型で両腕分布
反射型の場合は波長λ1の光に対して0%以上2%以下
の反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。本実施例
の光送受信装置の活性層20はバルク型であるが、単
層、多層量子井戸、量子細線、量子箱構造であってもよ
い。また、活性層20の構造は、共振器内の光の定在波
の腹(光強度の強い部分)のみに利得媒質がある周期利
得構造でもよい。
腕分布反射器型の場合は、波長λ1の光に対して10%
以上50%以下の反射率を有する誘電体膜を形成しても
よい。送信部Bの半導体レーザが分布反射型で両腕分布
反射型の場合は波長λ1の光に対して0%以上2%以下
の反射率を有する誘電体膜を形成してもよい。本実施例
の光送受信装置の活性層20はバルク型であるが、単
層、多層量子井戸、量子細線、量子箱構造であってもよ
い。また、活性層20の構造は、共振器内の光の定在波
の腹(光強度の強い部分)のみに利得媒質がある周期利
得構造でもよい。
【0026】その他、受光部A、送信部Bそれぞれを駆
動する半導体電子回路、電子素子が同一基板上に集積さ
れていてもよい。集積の形態は、モノリシック型でもよ
く、フリップチップ、ボンディング型でもよい。この光
送受信装置に用いる半導体の材料としては、発振波長及
び受信波長が1〜1.7μmの間にあるときは、InP
/GaInAsP系化合物半導体を用いる。受信部Aの
材料としてInGaAsP/InGaSb系を用いても
よい。発振波長及び受信波長が0.6〜1.0μmの間
にあるときは、GaAs/AlGaAs/InGaA
s、或いはGaAs/InGaAlP/InGaP系化
合物半導体を用いる。発振波長及び受信波長が0.6〜
1.0μmの間にあるときは、Si基板上にGaAs/
AlGaAs/InGaAs、或いはGaAs/InG
aAlP/InGaP系化合物半導体を用いた送信部B
を形成し、受信部AはSi系受光素子で構成してもよ
い。
動する半導体電子回路、電子素子が同一基板上に集積さ
れていてもよい。集積の形態は、モノリシック型でもよ
く、フリップチップ、ボンディング型でもよい。この光
送受信装置に用いる半導体の材料としては、発振波長及
び受信波長が1〜1.7μmの間にあるときは、InP
/GaInAsP系化合物半導体を用いる。受信部Aの
材料としてInGaAsP/InGaSb系を用いても
よい。発振波長及び受信波長が0.6〜1.0μmの間
にあるときは、GaAs/AlGaAs/InGaA
s、或いはGaAs/InGaAlP/InGaP系化
合物半導体を用いる。発振波長及び受信波長が0.6〜
1.0μmの間にあるときは、Si基板上にGaAs/
AlGaAs/InGaAs、或いはGaAs/InG
aAlP/InGaP系化合物半導体を用いた送信部B
を形成し、受信部AはSi系受光素子で構成してもよ
い。
【0027】本実施例の光送受信装置の光吸収層4の構
造はバルク型であるが、単層、多層量子井戸、量子細
線、量子箱構造であってもよい。このように本実施例の
光送受信装置によれば、送信器として最適化された構造
を有しているばかりでなく、受光器としても最適化され
た構造にすることができるので、受光光を電気量に変換
する変換効率を高くすることができ、また、暗電流も低
下させることができる。さらに、光吸収層の体積を大き
くすることができたので、光を電気量に変換する効率を
より高めることができるようになる。
造はバルク型であるが、単層、多層量子井戸、量子細
線、量子箱構造であってもよい。このように本実施例の
光送受信装置によれば、送信器として最適化された構造
を有しているばかりでなく、受光器としても最適化され
た構造にすることができるので、受光光を電気量に変換
する変換効率を高くすることができ、また、暗電流も低
下させることができる。さらに、光吸収層の体積を大き
くすることができたので、光を電気量に変換する効率を
より高めることができるようになる。
【0028】本発明の第2の実施例による光送受信装置
を図4を用いて説明する。本実施例の光送受信装置は、
回折格子16の形状に特徴を有している。すなわち、本
実施例による光送受信装置の回折格子16は、入力光の
入力側端部から他端部に向かって回折格子の周期が連続
的に短くなるように形成されているチャープトグレーテ
ィングである。回折格子16を除き、第1の実施例と同
一の番号を付した構成要素は第1の実施例の構成要素と
同一であるので説明を省略する。
を図4を用いて説明する。本実施例の光送受信装置は、
回折格子16の形状に特徴を有している。すなわち、本
実施例による光送受信装置の回折格子16は、入力光の
入力側端部から他端部に向かって回折格子の周期が連続
的に短くなるように形成されているチャープトグレーテ
ィングである。回折格子16を除き、第1の実施例と同
一の番号を付した構成要素は第1の実施例の構成要素と
同一であるので説明を省略する。
【0029】図中Aのn−InP基板2からコンタクト
層12までの受信部A、図中Bのコンタクト層12から
コンタクト層24までの送信部Bの構成要素の番号は第
1の実施例と同様であるので、説明は省略する。本実施
例による光送受信装置の場合も、電極36、38間にバ
イアス電圧を印加し、電極32、34間にはバイアス電
圧を印加しないようにして送信部Bだけを駆動させるこ
とにより半導体レーザとして機能させることができ、一
方、電極32、34間にバイアス電圧を印加し、電極3
6、38間にはバイアス電圧を印加しないようにして受
信部Aだけを駆動することにより、活性層20に入力さ
れた波長λ2の光を回折格子16により回折させて光吸
収層4に導くようにして、受信装置として機能させるこ
とができる。
層12までの受信部A、図中Bのコンタクト層12から
コンタクト層24までの送信部Bの構成要素の番号は第
1の実施例と同様であるので、説明は省略する。本実施
例による光送受信装置の場合も、電極36、38間にバ
イアス電圧を印加し、電極32、34間にはバイアス電
圧を印加しないようにして送信部Bだけを駆動させるこ
とにより半導体レーザとして機能させることができ、一
方、電極32、34間にバイアス電圧を印加し、電極3
6、38間にはバイアス電圧を印加しないようにして受
信部Aだけを駆動することにより、活性層20に入力さ
れた波長λ2の光を回折格子16により回折させて光吸
収層4に導くようにして、受信装置として機能させるこ
とができる。
【0030】本実施例の光送受信装置の回折格子16の
回折格子周期Λは、活性層20の中央部の位置で式
(1)、(2)を満たすように形成され、入力光の入力
側にいくにしたがって回折格子周期Λが長くなり、反対
側にいくにしたがって回折格子周期Λが短くなるように
なっている。このような回折格子形状にすることによ
り、波長λ2の入力光の回折角を徐々に変化させて、入
力光を光吸収層4の中央部分に導くことができ、効率よ
く光信号を電気信号に変換することができるようにな
る。
回折格子周期Λは、活性層20の中央部の位置で式
(1)、(2)を満たすように形成され、入力光の入力
側にいくにしたがって回折格子周期Λが長くなり、反対
側にいくにしたがって回折格子周期Λが短くなるように
なっている。このような回折格子形状にすることによ
り、波長λ2の入力光の回折角を徐々に変化させて、入
力光を光吸収層4の中央部分に導くことができ、効率よ
く光信号を電気信号に変換することができるようにな
る。
【0031】このように本実施例の光送受信装置によれ
ば、第1の実施例と同様に送信器として最適化された構
造を有しているばかりでなく、受光器としても最適化さ
れた構造にすることができるので、受光光を電気量に変
換する変換効率を高くすることができ、また、暗電流も
低下させることができる。さらに、光吸収層の体積を大
きくすると共に回折格子の格子定数を連続的に変化させ
ることにより、より光を電気量に変換する効率を高める
ことができるようになる。
ば、第1の実施例と同様に送信器として最適化された構
造を有しているばかりでなく、受光器としても最適化さ
れた構造にすることができるので、受光光を電気量に変
換する変換効率を高くすることができ、また、暗電流も
低下させることができる。さらに、光吸収層の体積を大
きくすると共に回折格子の格子定数を連続的に変化させ
ることにより、より光を電気量に変換する効率を高める
ことができるようになる。
【0032】本発明の第3の実施例による光送受信装置
を図5を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
は、第1の実施例と比べて、受信部AがPIN型フォト
ダイオード構造の代わりにアバランシェ型フォトダイオ
ード構造となっていること、また、受信部Aの光吸収層
4が、第1の実施例ではn−InP基板2に対して送信
部Bと同じ側で、送信部Bとn−InP基板2の間に設
けられていたが、基板に対して送信部Bと反対側に光吸
収層を設けたことに特徴を有している。図5を用いて本
実施例の光送受信装置の構造を説明する。
を図5を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
は、第1の実施例と比べて、受信部AがPIN型フォト
ダイオード構造の代わりにアバランシェ型フォトダイオ
ード構造となっていること、また、受信部Aの光吸収層
4が、第1の実施例ではn−InP基板2に対して送信
部Bと同じ側で、送信部Bとn−InP基板2の間に設
けられていたが、基板に対して送信部Bと反対側に光吸
収層を設けたことに特徴を有している。図5を用いて本
実施例の光送受信装置の構造を説明する。
【0033】図中Aの部分で示すn−InP基板42か
らコンタクト層48までが受光部である受信部(以下
「受信部A」という)であり、図中Bの部分で示すコン
タクト層52からコンタクト層64までが発光部である
送信部(以下「送信部B」という)である。送信部Bは
ファブリ・ペロ型半導体レーザであり、ストライプ導波
路型発光領域を有している。受信部Aはアバランシェ型
フォトダイオード構造である。
らコンタクト層48までが受光部である受信部(以下
「受信部A」という)であり、図中Bの部分で示すコン
タクト層52からコンタクト層64までが発光部である
送信部(以下「送信部B」という)である。送信部Bは
ファブリ・ペロ型半導体レーザであり、ストライプ導波
路型発光領域を有している。受信部Aはアバランシェ型
フォトダイオード構造である。
【0034】n−InP基板42上にSI−InP層5
0が形成されている。SI−InP層10上にn−In
GaAsP層のコンタクト層52が形成されている。コ
ンタクト層52上にn−InP層のクラッド層54が形
成されている。クラッド層54上にn−InGaAsP
層のガイド層58が形成され、その界面に回折格子56
が形成されている。ガイド層58上にi−InGaAs
P層の活性層60が形成されている。
0が形成されている。SI−InP層10上にn−In
GaAsP層のコンタクト層52が形成されている。コ
ンタクト層52上にn−InP層のクラッド層54が形
成されている。クラッド層54上にn−InGaAsP
層のガイド層58が形成され、その界面に回折格子56
が形成されている。ガイド層58上にi−InGaAs
P層の活性層60が形成されている。
【0035】この回折格子56も、第1の実施例で説明
したように、送信部BをDFBレーザとしてレーザ発振
させるためにあるものではなく、受信時に活性層60に
入力した入力光を光吸収層に伝達させるためのものであ
る。従って、回折格子56は、活性層60から射出する
出力光は回折せずに、活性層60に入力した入力光を回
折するようになっている。
したように、送信部BをDFBレーザとしてレーザ発振
させるためにあるものではなく、受信時に活性層60に
入力した入力光を光吸収層に伝達させるためのものであ
る。従って、回折格子56は、活性層60から射出する
出力光は回折せずに、活性層60に入力した入力光を回
折するようになっている。
【0036】この活性層60も、波長λ1=1.31μ
mのレーザ光を発振し、また、活性層60内に入力され
る波長λ2=1.55μmの入力光である受信光を活性
層60内に導波するようになっている。活性層60上に
p−InP層のクラッド層62が形成され、その上にp
−InGaAsP層のコンタクト層64が形成されてい
る。n−InP基板42の送信部B面と反対側の面下部
中央にZn(亜鉛)を不純物として拡散したp−InG
aAsP層とその上部のp−InP層からなる光吸収層
44が形成されている。n−InP基板42下部の光吸
収層44周囲は溝が形成され、溝の外側にn- −InP
層が形成され、その上にn−InP層のコンタクト層4
8が形成されている。
mのレーザ光を発振し、また、活性層60内に入力され
る波長λ2=1.55μmの入力光である受信光を活性
層60内に導波するようになっている。活性層60上に
p−InP層のクラッド層62が形成され、その上にp
−InGaAsP層のコンタクト層64が形成されてい
る。n−InP基板42の送信部B面と反対側の面下部
中央にZn(亜鉛)を不純物として拡散したp−InG
aAsP層とその上部のp−InP層からなる光吸収層
44が形成されている。n−InP基板42下部の光吸
収層44周囲は溝が形成され、溝の外側にn- −InP
層が形成され、その上にn−InP層のコンタクト層4
8が形成されている。
【0037】図中左側面に誘電体膜70が形成され、右
側のクラッド層14からコンタクト層64側面に誘電体
膜68が形成されている。光吸収層44下部に電極72
が形成され、コンタクト層48に電極74が形成されて
いる。SI−InP層50及びコンタクト層52に電極
76が形成され、コンタクト層64上に電極78が形成
されている。
側のクラッド層14からコンタクト層64側面に誘電体
膜68が形成されている。光吸収層44下部に電極72
が形成され、コンタクト層48に電極74が形成されて
いる。SI−InP層50及びコンタクト層52に電極
76が形成され、コンタクト層64上に電極78が形成
されている。
【0038】本実施例による光送受信装置の動作も第1
の実施例による光送受信装置と同様なので説明は省略す
る。このように本実施例の光送受信装置によれば、送信
器として最適化された構造を有しているばかりでなく、
受光器としても最適化された構造にすることができるの
で、受光光を電気量に変換する変換効率を高くすること
ができ、また、暗電流も低下させることができる。さら
に、光吸収層の体積を大きくすることができたので、光
を電気量に変換する効率をより高めることができるよう
になる。本発明の第4の実施例による光送受信装置を図
6を用いて説明する。
の実施例による光送受信装置と同様なので説明は省略す
る。このように本実施例の光送受信装置によれば、送信
器として最適化された構造を有しているばかりでなく、
受光器としても最適化された構造にすることができるの
で、受光光を電気量に変換する変換効率を高くすること
ができ、また、暗電流も低下させることができる。さら
に、光吸収層の体積を大きくすることができたので、光
を電気量に変換する効率をより高めることができるよう
になる。本発明の第4の実施例による光送受信装置を図
6を用いて説明する。
【0039】本実施例による光送受信装置は、受信部A
は第1の実施例の光送受信装置と同一の構造であり、送
信部Bがプレーナ型の導波路型レーザであることに特徴
を有している。また、送信部Bはファブリ・ペロ型半導
体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有して
いる。受信部AはPIN型フォトダイオード構造であ
る。端面に形成された誘電体膜の記載は省略している。
は第1の実施例の光送受信装置と同一の構造であり、送
信部Bがプレーナ型の導波路型レーザであることに特徴
を有している。また、送信部Bはファブリ・ペロ型半導
体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有して
いる。受信部AはPIN型フォトダイオード構造であ
る。端面に形成された誘電体膜の記載は省略している。
【0040】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。コン
タクト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成
されている。p−InP層のクラッド層14上にp−I
nGaAsP層のガイド層18が形成され、その界面に
入射光を回折する回折格子16が形成されている。ガイ
ド層18上にi−InGaAsP層の活性層20が形成
されている。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。コン
タクト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成
されている。p−InP層のクラッド層14上にp−I
nGaAsP層のガイド層18が形成され、その界面に
入射光を回折する回折格子16が形成されている。ガイ
ド層18上にi−InGaAsP層の活性層20が形成
されている。
【0041】活性層20上にn−InP層のクラッド層
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。n−InP基板2下部
に電極32が形成され、コンタクト層8、12にそれぞ
れ電極34、36が形成されている。コンタクト層24
上に電極38が形成されている。
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。n−InP基板2下部
に電極32が形成され、コンタクト層8、12にそれぞ
れ電極34、36が形成されている。コンタクト層24
上に電極38が形成されている。
【0042】なお、本実施例の光送受信装置の動作は第
1の実施例の光送受信装置と同様であるので説明は省略
する。以下、第5乃至第7の実施例においても同様に動
作の説明は省略する。本発明の第5の実施例による光送
受信装置を図7を用いて説明する。本実施例による光送
受信装置も、受信部Aは第1の実施例における光送受信
装置と同一の構造であり、送信部Bがリッジ型の導波路
型レーザであることに特徴を有している。また、送信部
Bはファブリ・ペロ型半導体レーザであり、ストライプ
導波路型発光領域を有している。受信部AはPIN型フ
ォトダイオード構造である。端面に形成された誘電体膜
の記載は省略している。
1の実施例の光送受信装置と同様であるので説明は省略
する。以下、第5乃至第7の実施例においても同様に動
作の説明は省略する。本発明の第5の実施例による光送
受信装置を図7を用いて説明する。本実施例による光送
受信装置も、受信部Aは第1の実施例における光送受信
装置と同一の構造であり、送信部Bがリッジ型の導波路
型レーザであることに特徴を有している。また、送信部
Bはファブリ・ペロ型半導体レーザであり、ストライプ
導波路型発光領域を有している。受信部AはPIN型フ
ォトダイオード構造である。端面に形成された誘電体膜
の記載は省略している。
【0043】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。コン
タクト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成
されている。p−InP層のクラッド層14上にp−I
nGaAsP層のガイド層18が形成され、その界面に
入射光を回折する回折格子16が形成されている。ガイ
ド層18上にi−InGaAsP層の活性層20が形成
されている。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。コン
タクト層12上にp−InP層のクラッド層14が形成
されている。p−InP層のクラッド層14上にp−I
nGaAsP層のガイド層18が形成され、その界面に
入射光を回折する回折格子16が形成されている。ガイ
ド層18上にi−InGaAsP層の活性層20が形成
されている。
【0044】活性層20上にn−InP層のクラッド層
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。n−InP基板2下部
に電極32が形成され、コンタクト層8、12にそれぞ
れ電極34、36が形成されている。コンタクト層24
上に電極38が形成されている。
22が形成され、その上にn−InGaAsP層のコン
タクト層24が形成されている。n−InP基板2下部
に電極32が形成され、コンタクト層8、12にそれぞ
れ電極34、36が形成されている。コンタクト層24
上に電極38が形成されている。
【0045】本発明の第6の実施例による光送受信装置
を図8を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
も、受信部Aは第1の実施例の光送受信装置と同一の構
造であり、送信部Bが埋込みヘテロ構造であって、pn
pn、またはnpnpサイリスタ型電流狭窄、光閉じ込
め層を有する構造の導波路型レーザであることに特徴を
有している。送信部Bは、ファブリ・ペロ型半導体レー
ザであり、ストライプ導波路型発光領域を有している。
受信部AはPIN型フォトダイオード構造である。端面
に形成された誘電体膜の記載は省略している。
を図8を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
も、受信部Aは第1の実施例の光送受信装置と同一の構
造であり、送信部Bが埋込みヘテロ構造であって、pn
pn、またはnpnpサイリスタ型電流狭窄、光閉じ込
め層を有する構造の導波路型レーザであることに特徴を
有している。送信部Bは、ファブリ・ペロ型半導体レー
ザであり、ストライプ導波路型発光領域を有している。
受信部AはPIN型フォトダイオード構造である。端面
に形成された誘電体膜の記載は省略している。
【0046】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
【0047】コンタクト層12上にp−InP層のクラ
ッド層14が形成されている。クラッド層14上部及び
その上層はメサ形状に形成され、クラッド層14のメサ
部にp−InGaAsP層のガイド層18が形成され、
その界面に入射光を回折する回折格子16が形成されて
いる。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性層
20が形成されている。メサはn−InP層80で埋め
込まれている。n−InP層80上の活性層20上部以
外にp−InP層82が形成されている。p−InP層
82及び活性層20上にはクラッド層としても機能する
n−InP層84が形成されている。n−InP層80
及び、p−InP層82、n−InP層84により電流
ブロック層を形成している。n−InP層84上にn−
InGaAsP層のコンタクト層24が形成されてい
る。
ッド層14が形成されている。クラッド層14上部及び
その上層はメサ形状に形成され、クラッド層14のメサ
部にp−InGaAsP層のガイド層18が形成され、
その界面に入射光を回折する回折格子16が形成されて
いる。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性層
20が形成されている。メサはn−InP層80で埋め
込まれている。n−InP層80上の活性層20上部以
外にp−InP層82が形成されている。p−InP層
82及び活性層20上にはクラッド層としても機能する
n−InP層84が形成されている。n−InP層80
及び、p−InP層82、n−InP層84により電流
ブロック層を形成している。n−InP層84上にn−
InGaAsP層のコンタクト層24が形成されてい
る。
【0048】n−InP基板2下部に電極32が形成さ
れ、コンタクト層8、12にそれぞれ電極34、36が
形成されている。コンタクト層24上に電極38が形成
されている。本発明の第7の実施例による光送受信装置
を図9を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
も、受信部Aは第1の実施例の光送受信装置と同一の構
造であり、送信部Bが埋込み型であり、高抵抗半導体電
流狭窄、光閉じ込め層を有する構造の導波路型レーザで
あることに特徴を有している。送信部Bは、ファブリ・
ペロ型半導体レーザであり、ストライプ導波路型発光領
域を有している。受信部AはPIN型フォトダイオード
構造である。端面に形成された誘電体膜の記載は省略し
ている。
れ、コンタクト層8、12にそれぞれ電極34、36が
形成されている。コンタクト層24上に電極38が形成
されている。本発明の第7の実施例による光送受信装置
を図9を用いて説明する。本実施例による光送受信装置
も、受信部Aは第1の実施例の光送受信装置と同一の構
造であり、送信部Bが埋込み型であり、高抵抗半導体電
流狭窄、光閉じ込め層を有する構造の導波路型レーザで
あることに特徴を有している。送信部Bは、ファブリ・
ペロ型半導体レーザであり、ストライプ導波路型発光領
域を有している。受信部AはPIN型フォトダイオード
構造である。端面に形成された誘電体膜の記載は省略し
ている。
【0049】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
【0050】コンタクト層12上にp−InP層のクラ
ッド層14が形成されている。クラッド層14上部及び
その上層はメサ形状に形成され、クラッド層14のメサ
部にp−InGaAsP層のガイド層18が形成され、
その界面に入射光を回折する回折格子16が形成されて
いる。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性層
20が形成されている。活性層20上にはn−InP層
のクラッド層22が形成されている。
ッド層14が形成されている。クラッド層14上部及び
その上層はメサ形状に形成され、クラッド層14のメサ
部にp−InGaAsP層のガイド層18が形成され、
その界面に入射光を回折する回折格子16が形成されて
いる。ガイド層18上にi−InGaAsP層の活性層
20が形成されている。活性層20上にはn−InP層
のクラッド層22が形成されている。
【0051】メサは電流ブロック層86で埋め込まれて
いる。電流ブロック層86及びクラッド層22上にn−
InGaAsP層のコンタクト層24が形成されてい
る。n−InP基板2下部に電極32が形成され、コン
タクト層8、12にそれぞれ電極34、36が形成され
ている。コンタクト層24上に電極38が形成されてい
る。
いる。電流ブロック層86及びクラッド層22上にn−
InGaAsP層のコンタクト層24が形成されてい
る。n−InP基板2下部に電極32が形成され、コン
タクト層8、12にそれぞれ電極34、36が形成され
ている。コンタクト層24上に電極38が形成されてい
る。
【0052】本発明の第8の実施例による光送受信装置
を図10乃至図12を用いて説明する。まず、本実施例
による光送受信装置の構造を図10を用いて説明する。
図中Aの部分で示すn−InP基板2からコンタクト層
12までが受光部として機能する受信部(以下「受信部
A」という)であり、図中Bの部分で示すコンタクト層
12からコンタクト層24までが発光部である送信部
(以下「送信部B」という)である。送信部Bは、面発
光素子であって、波長λ1の光はほとんど反射するが波
長λ2の光はほとんど透過する特性を持つ分布反射型反
射器(DBRミラー)を発光領域前後(上下)に設けた
DBRレーザであることを特徴としている。受信部Aは
PIN型フォトダイオード構造である。
を図10乃至図12を用いて説明する。まず、本実施例
による光送受信装置の構造を図10を用いて説明する。
図中Aの部分で示すn−InP基板2からコンタクト層
12までが受光部として機能する受信部(以下「受信部
A」という)であり、図中Bの部分で示すコンタクト層
12からコンタクト層24までが発光部である送信部
(以下「送信部B」という)である。送信部Bは、面発
光素子であって、波長λ1の光はほとんど反射するが波
長λ2の光はほとんど透過する特性を持つ分布反射型反
射器(DBRミラー)を発光領域前後(上下)に設けた
DBRレーザであることを特徴としている。受信部Aは
PIN型フォトダイオード構造である。
【0053】n−InP基板2上にInGaAs層又は
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
InGaAsP層の光吸収層4が形成されている。光吸
収層4上にp−InP層6が形成されている。p−In
P層6上にp−InGaAsP層のコンタクト層8が形
成されている。コンタクト層8上にSI−InP層10
が形成されている。SI−InP層10上にp−InG
aAsP層のコンタクト層12が形成されている。
【0054】コンタクト層12上にDBRミラー90が
形成されている。DBRミラー90上に二つのInP層
92が形成され、その間に挟まれて活性層20が形成さ
れている。活性層20上及びInP層92上にさらにD
BRミラー94が形成されている。この活性層20は、
波長λ1=1.31μmのレーザ光を発振して送信光と
して射出し、また、波長λ2=1.55μmの受信光を
入力光として活性層20内に導波することができるよう
になっている。
形成されている。DBRミラー90上に二つのInP層
92が形成され、その間に挟まれて活性層20が形成さ
れている。活性層20上及びInP層92上にさらにD
BRミラー94が形成されている。この活性層20は、
波長λ1=1.31μmのレーザ光を発振して送信光と
して射出し、また、波長λ2=1.55μmの受信光を
入力光として活性層20内に導波することができるよう
になっている。
【0055】DBRミラー94上に二つのInP層96
が形成され、中央に面発光部であって受光部を兼ねる開
口が形成されている。InP層96上にn−InGaA
sP層のコンタクト層24が形成されている。n−In
P基板2下部に電極32が形成され、コンタクト層8、
12にそれぞれ電極34、36が形成されている。コン
タクト層24上に電極38が形成されている。
が形成され、中央に面発光部であって受光部を兼ねる開
口が形成されている。InP層96上にn−InGaA
sP層のコンタクト層24が形成されている。n−In
P基板2下部に電極32が形成され、コンタクト層8、
12にそれぞれ電極34、36が形成されている。コン
タクト層24上に電極38が形成されている。
【0056】本実施例による光送受信装置の動作を図1
1及び図12を用いて説明する。図11は本実施例の光
送受信装置を送信装置として使用する場合の動作を説明
している。電極36、38間にバイアス電圧を印加し、
電極32、34間にはバイアス電圧を印加しないように
して送信部Bだけを駆動させることにより本実施例によ
る光送受信装置を半導体レーザとして機能させることが
できる。
1及び図12を用いて説明する。図11は本実施例の光
送受信装置を送信装置として使用する場合の動作を説明
している。電極36、38間にバイアス電圧を印加し、
電極32、34間にはバイアス電圧を印加しないように
して送信部Bだけを駆動させることにより本実施例によ
る光送受信装置を半導体レーザとして機能させることが
できる。
【0057】一方、図12は本実施例の光送受信装置を
受信装置として使用する場合の動作を説明している。電
極32、34間にバイアス電圧を印加し、電極36、3
8間にはバイアス電圧を印加しないようにして受信部A
だけを駆動することにより、入力された波長λ2の入力
光は、透明なDBRミラー94、活性層20、DBRミ
ラー90を透過して光吸収層4に導かれ、光の強度に応
じた電流或いは電圧に変換される。このようにして、本
実施例による光送受信装置を受信装置として機能させる
ことができる。
受信装置として使用する場合の動作を説明している。電
極32、34間にバイアス電圧を印加し、電極36、3
8間にはバイアス電圧を印加しないようにして受信部A
だけを駆動することにより、入力された波長λ2の入力
光は、透明なDBRミラー94、活性層20、DBRミ
ラー90を透過して光吸収層4に導かれ、光の強度に応
じた電流或いは電圧に変換される。このようにして、本
実施例による光送受信装置を受信装置として機能させる
ことができる。
【0058】なお、本実施例による光送受信装置の送信
部Bは、埋込みヘテロ構造の高抵抗半導体電流狭窄、光
閉じ込め層を有する半導体レーザであるが、pnpn、
またはnpnpサイリスタ型電流狭窄、光閉じ込め層を
有する半導体レーザでもよい。このように本実施例の光
送受信装置によっても、送信器として最適化された構造
を有しているばかりでなく、受光器としても最適化され
た構造を実現することができるので、受光光を電気量に
変換する変換効率を高くすることができ、また、暗電流
も低下させることができる。さらに、光吸収層の体積を
大きくすることができたので、光を電気量に変換する効
率をより高めることができるようになる。本発明の第9
の実施例による光送受信装置を図13を用いて説明す
る。
部Bは、埋込みヘテロ構造の高抵抗半導体電流狭窄、光
閉じ込め層を有する半導体レーザであるが、pnpn、
またはnpnpサイリスタ型電流狭窄、光閉じ込め層を
有する半導体レーザでもよい。このように本実施例の光
送受信装置によっても、送信器として最適化された構造
を有しているばかりでなく、受光器としても最適化され
た構造を実現することができるので、受光光を電気量に
変換する変換効率を高くすることができ、また、暗電流
も低下させることができる。さらに、光吸収層の体積を
大きくすることができたので、光を電気量に変換する効
率をより高めることができるようになる。本発明の第9
の実施例による光送受信装置を図13を用いて説明す
る。
【0059】本実施例による光送受信装置は、第8の実
施例と比べて、受信部AがPIN型フォトダイオード構
造の代わりにアバランシェ型フォトダイオード構造とな
っていることに特徴を有している。図13を用いて本実
施例の光送受信装置の構造を説明する。図中Aの部分に
示すn−InP基板42からコンタクト層48までが受
光部として機能する受信部(以下「受信部A」という)
であり、図中Bの部分に示すDBRミラー90からコン
タクト層24までが発光部である送信部(以下「送信部
B」という)である。送信部Bはファブリ・ペロ型半導
体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有して
いる。受信部Aはアバランシェ型フォトダイオード構造
である。
施例と比べて、受信部AがPIN型フォトダイオード構
造の代わりにアバランシェ型フォトダイオード構造とな
っていることに特徴を有している。図13を用いて本実
施例の光送受信装置の構造を説明する。図中Aの部分に
示すn−InP基板42からコンタクト層48までが受
光部として機能する受信部(以下「受信部A」という)
であり、図中Bの部分に示すDBRミラー90からコン
タクト層24までが発光部である送信部(以下「送信部
B」という)である。送信部Bはファブリ・ペロ型半導
体レーザであり、ストライプ導波路型発光領域を有して
いる。受信部Aはアバランシェ型フォトダイオード構造
である。
【0060】n−InP基板42上にn−InGaAs
P層のコンタクト層52が形成されている。コンタクト
層52上にDBRミラー90が形成されている。DBR
ミラー90上に二つのInP層92が形成され、その間
に挟まれて活性層20が形成されている。活性層20上
及びInP層92上にさらにDBRミラー94が形成さ
れている。
P層のコンタクト層52が形成されている。コンタクト
層52上にDBRミラー90が形成されている。DBR
ミラー90上に二つのInP層92が形成され、その間
に挟まれて活性層20が形成されている。活性層20上
及びInP層92上にさらにDBRミラー94が形成さ
れている。
【0061】この活性層20は、波長λ1=1.31μ
mのレーザ光を発振して、送信光として射出し、また、
波長λ2=1.55μmの受信光を入力光として活性層
20内に導波することができるようになっている。DB
Rミラー94上に二つのInP層96が形成され、中央
に面発光部であって受光部を兼ねる開口が形成されてい
る。InP層96上にn−InGaAsP層のコンタク
ト層24が形成されている。
mのレーザ光を発振して、送信光として射出し、また、
波長λ2=1.55μmの受信光を入力光として活性層
20内に導波することができるようになっている。DB
Rミラー94上に二つのInP層96が形成され、中央
に面発光部であって受光部を兼ねる開口が形成されてい
る。InP層96上にn−InGaAsP層のコンタク
ト層24が形成されている。
【0062】送信部Bの反対側のn−InP基板42下
部中央にZnを不純物として拡散したp−InGaAs
P層とその上部のp−InP層からなる光吸収層44が
形成されている。n−InP基板42下部の光吸収層4
4周囲は溝により分離されてn- −InP層が形成さ
れ、その上にn−InP層のコンタクト層48が形成さ
れている。
部中央にZnを不純物として拡散したp−InGaAs
P層とその上部のp−InP層からなる光吸収層44が
形成されている。n−InP基板42下部の光吸収層4
4周囲は溝により分離されてn- −InP層が形成さ
れ、その上にn−InP層のコンタクト層48が形成さ
れている。
【0063】光吸収層44下部に電極72が形成され、
コンタクト層48に電極74が形成されている。コンタ
クト層52に電極76が形成され、コンタクト層24上
に電極38が形成されている。本実施例による光送受信
装置の動作も第8の実施例による光送受信装置と同様な
ので説明は省略する。
コンタクト層48に電極74が形成されている。コンタ
クト層52に電極76が形成され、コンタクト層24上
に電極38が形成されている。本実施例による光送受信
装置の動作も第8の実施例による光送受信装置と同様な
ので説明は省略する。
【0064】このように本実施例の光送受信装置によっ
ても、送信器として最適化された構造を有しているばか
りでなく、受光器としても最適化された構造を実現する
ことができるので、受光光を電気量に変換する変換効率
を高くすることができ、また、暗電流も低下させること
ができる。さらに、光吸収層の体積を大きくすることが
できたので、光を電気量に変換する効率をより高めるこ
とができるようになる。本発明は、上記実施例に限らず
種々の変形が可能である。
ても、送信器として最適化された構造を有しているばか
りでなく、受光器としても最適化された構造を実現する
ことができるので、受光光を電気量に変換する変換効率
を高くすることができ、また、暗電流も低下させること
ができる。さらに、光吸収層の体積を大きくすることが
できたので、光を電気量に変換する効率をより高めるこ
とができるようになる。本発明は、上記実施例に限らず
種々の変形が可能である。
【0065】例えば、上記実施例における各半導体層の
導電型はn型とp型とを逆にして形成してもよい。
導電型はn型とp型とを逆にして形成してもよい。
【0066】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、送信、受
信双方に最適化された構造を有する光送受信装置を実現
できるので、優れた特性を有する光加入者系双方向通信
用光送受信装置、或いはコンピュータ内、光並列リンク
データ伝送用光送受信装置を実現することができる。
信双方に最適化された構造を有する光送受信装置を実現
できるので、優れた特性を有する光加入者系双方向通信
用光送受信装置、或いはコンピュータ内、光並列リンク
データ伝送用光送受信装置を実現することができる。
【図1】本発明の第1の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図2】本発明の第1の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図3】本発明の第1の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図4】本発明の第2の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図5】本発明の第3の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図6】本発明の第4の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図7】本発明の第5の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図8】本発明の第6の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図9】本発明の第7の実施例による半導体装置を示す
図である。
図である。
【図10】本発明の第8の実施例による半導体装置を示
す図である。
す図である。
【図11】本発明の第8の実施例による半導体装置を示
す図である。
す図である。
【図12】本発明の第8の実施例による半導体装置を示
す図である。
す図である。
【図13】本発明の第9の実施例による半導体装置を示
す図である。
す図である。
【図14】従来の半導体装置を示す図である。
2…n−InP基板 4…光吸収層 6…p−InP層 8…コンタクト層 10…SI−InP層 12…コンタクト層 14…クラッド層 16…回折格子 18…ガイド層 20…活性層 22…クラッド層 24…コンタクト層 28、30…誘電体膜 32、34、36、38…電極 42…n−InP基板 44…光吸収層 46…n- −InP層 48…コンタクト層 50…SI−InP層 52…コンタクト層 54…クラッド層 56…回折格子 58…ガイド層 60…活性層 62…クラッド層 64…コンタクト層 68、70…誘電体膜 72、74、76、78…電極 80…n−InP層 82…p−InP層 84…n−InP層 86…電流ブロック層 90…DBRミラー 92…InP層 94…DBRミラー 96…InP層 100…n−InP基板 102…p−InP層 104…n−InP層 106…p−InP層 108…コンタクト層 110…シリコン酸化膜 112…活性層 114…n側電極 116…p側電極
Claims (5)
- 【請求項1】 送信時には波長λ1のレーザ光を発振し
て送信光として射出し、かつ受信時には前記波長λ1と
異なる波長の波長λ2の受信光を入射して導波する活性
層と、前記活性層に導波された前記受信光を外部に伝達
する受信光伝達手段とを有する光送信部と、 前記受信光伝達手段から伝達された前記受信光を受光し
て電気信号に変換する受光素子を有する光受信部とを備
えたことを特徴とする光送受信装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の光送受信装置において、 前記受信光伝達手段は、前記活性層に沿って形成され、
前記送信光を回折せずに前記受信光を回折するような格
子定数を有する回折格子であることを特徴とする光送受
信装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の光送受信装置において、 前記回折格子は、前記活性層の前記受信光の導波方向に
沿って前記格子定数が徐々に小さくなるように形成され
ていることを特徴とする光送受信装置。 - 【請求項4】 送信時には波長λ1のレーザ光を発振し
て送信光として射出し、かつ受信時には前記波長λ1と
異なる波長の波長λ2の受信光を入射して導波する活性
層を有する光送信部と、 前記活性層の前記受信光の入射側と反対側に形成され、
前記活性層内を導波された前記受信光を受光して電気信
号に変換する受光素子を有する光受信部とを備えたこと
を特徴とする光送受信装置。 - 【請求項5】 請求項4記載の光送受信装置において、 前記光送信部は、前記活性層の光導波方向両端に、前記
受信光を透過させる分布反射型反射器を備えていること
を特徴とする光送受信装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21934692A JPH0669491A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 光送受信装置 |
FR9310072A FR2694988B1 (fr) | 1992-08-18 | 1993-08-18 | Dispositif optique d'émission et de réception et procédé de fabrication. |
US08/395,530 US5533041A (en) | 1992-08-18 | 1995-02-28 | Optical transmission and reception device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21934692A JPH0669491A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 光送受信装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0669491A true JPH0669491A (ja) | 1994-03-11 |
Family
ID=16734015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21934692A Withdrawn JPH0669491A (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 光送受信装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5533041A (ja) |
JP (1) | JPH0669491A (ja) |
FR (1) | FR2694988B1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996017417A1 (de) * | 1994-11-29 | 1996-06-06 | HEINRICH-HERTZ-INSTITUT FüR NACHRICHTENTECHNIK BERLIN GMBH | Sender/empfänger-anordnung für ein optisches duplexsystem |
JPH08278249A (ja) * | 1994-10-31 | 1996-10-22 | Valtion Teknillinen Tutkimuskeskus | 分光計 |
JP2009238828A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Seiko Epson Corp | 発光装置 |
US8680540B2 (en) | 2003-01-28 | 2014-03-25 | Sony Corporation | Optical semiconductor apparatus having a bidirectional communication system employing a single-core optical fiber |
JP2021097184A (ja) * | 2019-12-19 | 2021-06-24 | 株式会社沖データ | 発光サイリスタ、光プリントヘッド、及び画像形成装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100259490B1 (ko) * | 1995-04-28 | 2000-06-15 | 윤종용 | 광검출기 일체형 표면광 레이저와 이를 채용한 광픽업 장치 |
DE29615486U1 (de) * | 1996-09-05 | 1996-10-17 | Kinshofer, Georg, Prof. Dr., 85591 Vaterstetten | Anordnung zur Messung der passiven optischen Netze |
FR2753577B1 (fr) * | 1996-09-13 | 1999-01-08 | Alsthom Cge Alcatel | Procede de fabrication d'un composant optoelectronique a semiconducteur et composant et matrice de composants fabriques selon ce procede |
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KR100634538B1 (ko) * | 2005-02-05 | 2006-10-13 | 삼성전자주식회사 | 효율적인 냉각 구조를 갖는 반도체 발광 소자 및 그 제조방법 |
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GB2561590A (en) * | 2017-04-19 | 2018-10-24 | Quantum Base Ltd | A photonic device |
CN110416250B (zh) * | 2019-09-02 | 2024-04-16 | 电子科技大学 | 基于异质结薄膜光源的光耦、其放大集成电路及制作方法 |
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- 1992-08-18 JP JP21934692A patent/JPH0669491A/ja not_active Withdrawn
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1993
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1995
- 1995-02-28 US US08/395,530 patent/US5533041A/en not_active Expired - Lifetime
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---|---|
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US5533041A (en) | 1996-07-02 |
FR2694988B1 (fr) | 1995-02-17 |
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