JPH0666861A - 計測波形判定方法 - Google Patents
計測波形判定方法Info
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- JPH0666861A JPH0666861A JP23760892A JP23760892A JPH0666861A JP H0666861 A JPH0666861 A JP H0666861A JP 23760892 A JP23760892 A JP 23760892A JP 23760892 A JP23760892 A JP 23760892A JP H0666861 A JPH0666861 A JP H0666861A
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- measurement
- phase
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 位相あるいは波高値の変動のみで波形的には
正常な計測波形、または多少のノイズは含むが波形的に
は正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大させること
なく良と判定可能な計測波形判定方向を得る。 【構成】 計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準
点との差に基づいて判定領域をシフトさせ、また、計測
波形の位相基準点と基準波形の位相基準点との差に基づ
いて計測ポイントをシフトさせ、また、判定領域からは
み出す計測波形のデータ数に対して一定の裕度を持た
せ、また、計測波形のピーク値およびミニマム値と基準
波形のピーク値およびミニマム値との差によって判定領
域の上限ラインと下限ラインを補正する。
正常な計測波形、または多少のノイズは含むが波形的に
は正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大させること
なく良と判定可能な計測波形判定方向を得る。 【構成】 計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準
点との差に基づいて判定領域をシフトさせ、また、計測
波形の位相基準点と基準波形の位相基準点との差に基づ
いて計測ポイントをシフトさせ、また、判定領域からは
み出す計測波形のデータ数に対して一定の裕度を持た
せ、また、計測波形のピーク値およびミニマム値と基準
波形のピーク値およびミニマム値との差によって判定領
域の上限ラインと下限ラインを補正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、シンクロスコープや
アナログ／ディジタル変換器（以下Ａ／Ｄ変換器とい
う）などを用いて計測された計測波形の良否を判定する
計測波形判定方法に関するものである。
アナログ／ディジタル変換器（以下Ａ／Ｄ変換器とい
う）などを用いて計測された計測波形の良否を判定する
計測波形判定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図７は従来の計測波形判定方法の一例を
示す波形図である。図において、１はシンクロスコープ
やＡ／Ｄ変換器等で計測された計測波形であり、２はこ
の計測波形１の良否を判定するための基準波形である。
３はこの基準波形２に基づいて設定された判定領域であ
り、４はその判定領域３の上限ライン、５はその下限ラ
インである。また、６は計測波形１の判定領域３からは
み出た部分である。
示す波形図である。図において、１はシンクロスコープ
やＡ／Ｄ変換器等で計測された計測波形であり、２はこ
の計測波形１の良否を判定するための基準波形である。
３はこの基準波形２に基づいて設定された判定領域であ
り、４はその判定領域３の上限ライン、５はその下限ラ
インである。また、６は計測波形１の判定領域３からは
み出た部分である。
【０００３】次に動作について説明する。計測波形１の
良否の判定に際しては、あらかじめ基準波形２を入力し
てそれに基づく判定領域３を設定しておく。次に計測波
形１をこの判定領域３と比較して、判定する計測波形１
がこの判定領域３の上限ライン４と下限ライン５の間に
あればその計測波形１は良と判定される。一方、図７に
示すように、この判定領域３をはみ出した部分６があれ
ば、その計測波形１は不良と判定される。従って、ボリ
ューム等の各種制御諸元の調整不足などによって、図８
に示すように計測波形１の振幅が判定領域３の上限ライ
ン４を越えていたり、図９に示すようにその位相がずれ
ている場合には、計測波形１は波形としては正常であっ
ても不良と判定されることになる。
良否の判定に際しては、あらかじめ基準波形２を入力し
てそれに基づく判定領域３を設定しておく。次に計測波
形１をこの判定領域３と比較して、判定する計測波形１
がこの判定領域３の上限ライン４と下限ライン５の間に
あればその計測波形１は良と判定される。一方、図７に
示すように、この判定領域３をはみ出した部分６があれ
ば、その計測波形１は不良と判定される。従って、ボリ
ューム等の各種制御諸元の調整不足などによって、図８
に示すように計測波形１の振幅が判定領域３の上限ライ
ン４を越えていたり、図９に示すようにその位相がずれ
ている場合には、計測波形１は波形としては正常であっ
ても不良と判定されることになる。
【０００４】また、計測波形１の良否の判定には、この
他に図１０に示す方法もある。これは、トリガに対して
一定位相“ａ”だけずれた位置における計測波形１の電
圧等の値“ｂ”が、判定領域３内にあるか否かによって
判定するものであり、値“ｂ”が判定領域３の上限値と
下限値の間にあればその計測波形１を良と判定し、その
いずれかを越えていれば不良と判定する。
他に図１０に示す方法もある。これは、トリガに対して
一定位相“ａ”だけずれた位置における計測波形１の電
圧等の値“ｂ”が、判定領域３内にあるか否かによって
判定するものであり、値“ｂ”が判定領域３の上限値と
下限値の間にあればその計測波形１を良と判定し、その
いずれかを越えていれば不良と判定する。
【０００５】なお、このような従来の計測波形判定方法
に関連した技術が記載された文献としては、例えば特開
平３−１６７４８１号公報、特開昭５３−９７３７７号
公報などがある。
に関連した技術が記載された文献としては、例えば特開
平３−１６７４８１号公報、特開昭５３−９７３７７号
公報などがある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の計測波形判定方
法は以上のように構成されているので、計測波形１は基
準波形２との相違点が厳しくチェックされ、例えば計測
波形１の位相や波高値が前段のボリューム等によって制
御されている場合の回路の動作試験などにおいては、基
準波形２の登録時と同一の条件に調整した後でないと、
回路の動作としては正常であっても出力される波形の位
相や波高値が未調整のため、計測波形１に判定領域３を
はみ出す部分６が生じて不良と判定されることがあり、
さらに、偶発的なノイズによって計測波形１が判定領域
３からはみ出した場合でも不良と判定されてしまい、ま
た、そのために判定領域３を大きくしてそれらを解消し
ようとした場合、不良の計測波形１を良と誤判定する可
能性が大きくなるなどの問題点があった。
法は以上のように構成されているので、計測波形１は基
準波形２との相違点が厳しくチェックされ、例えば計測
波形１の位相や波高値が前段のボリューム等によって制
御されている場合の回路の動作試験などにおいては、基
準波形２の登録時と同一の条件に調整した後でないと、
回路の動作としては正常であっても出力される波形の位
相や波高値が未調整のため、計測波形１に判定領域３を
はみ出す部分６が生じて不良と判定されることがあり、
さらに、偶発的なノイズによって計測波形１が判定領域
３からはみ出した場合でも不良と判定されてしまい、ま
た、そのために判定領域３を大きくしてそれらを解消し
ようとした場合、不良の計測波形１を良と誤判定する可
能性が大きくなるなどの問題点があった。
【０００７】請求項１および２に記載の発明は、上記の
ような課題を解消するためになされたものであり、位相
変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能
性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定方
法を得ることを目的とする。
ような課題を解消するためになされたものであり、位相
変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能
性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定方
法を得ることを目的とする。
【０００８】また、請求項３に記載の発明は、多少のノ
イズは含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定
方法を得ることを目的とする。
イズは含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定
方法を得ることを目的とする。
【０００９】また、請求項４に記載の発明は、波高値の
変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能
性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定方
法を得ることを目的とする。
変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能
性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定方
法を得ることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係る計測波形判定方法は、計測波形の位相基準点を検出
し、基準波形の位相基準点との差に基づいて判定領域を
シフトさせるものである。
係る計測波形判定方法は、計測波形の位相基準点を検出
し、基準波形の位相基準点との差に基づいて判定領域を
シフトさせるものである。
【００１１】また、請求項２に記載の発明に係る計測波
形判定方法は、計測波形の位相基準点を検出し、基準波
形の位相基準点との差に基づいて計測ポイントをシフト
させるものである。
形判定方法は、計測波形の位相基準点を検出し、基準波
形の位相基準点との差に基づいて計測ポイントをシフト
させるものである。
【００１２】また、請求項３に記載の発明に係る計測波
形判定方法は、判定領域からはみ出す計測波形のデータ
数に対して一定の裕度を持たせたものである。
形判定方法は、判定領域からはみ出す計測波形のデータ
数に対して一定の裕度を持たせたものである。
【００１３】また、請求項４に記載の発明に係る計測波
形判定方法は、計測波形のピーク値とミニマム値とを検
出し、それらと基準波形のピーク値およびミニマム値と
の差に基づいて、判定領域の上限ラインと下限ラインを
補正するものである。
形判定方法は、計測波形のピーク値とミニマム値とを検
出し、それらと基準波形のピーク値およびミニマム値と
の差に基づいて、判定領域の上限ラインと下限ラインを
補正するものである。
【００１４】
【作用】請求項１に記載の発明における計測波形判定方
法は、計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点と
の差に応じてシフトさせた判定領域に基づいて計測波形
の良否を判定することにより、位相変動のみで波形的に
は正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大させずに良
と判定可能な計測波形判定方法を実現する。
法は、計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点と
の差に応じてシフトさせた判定領域に基づいて計測波形
の良否を判定することにより、位相変動のみで波形的に
は正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大させずに良
と判定可能な計測波形判定方法を実現する。
【００１５】また、請求項２に記載の発明における計測
波形判定方法は、計測波形の位相基準点と基準波形の位
相基準点との差に応じてシフトさせた計測ポイントの波
高値によって計測波形の良否を判定することにより、位
相変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を
実現する。
波形判定方法は、計測波形の位相基準点と基準波形の位
相基準点との差に応じてシフトさせた計測ポイントの波
高値によって計測波形の良否を判定することにより、位
相変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を
実現する。
【００１６】また、請求項３に記載の発明における計測
波形判定方法は、ノイズ等によって判定領域からはみ出
す計測波形のデータ数が所定の基準値以内であれば、そ
の計測波形を良と判定することにより、ノイズ等を多少
含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を
増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を実現す
る。
波形判定方法は、ノイズ等によって判定領域からはみ出
す計測波形のデータ数が所定の基準値以内であれば、そ
の計測波形を良と判定することにより、ノイズ等を多少
含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を
増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を実現す
る。
【００１７】また、請求項４に記載の発明における計測
波形判定方法は、計測波形と基準波形とのピーク値およ
びミニマム値の差に応じて上限ラインと下限ラインが補
正された判定領域に基づいて計測波形の良否を判定する
ことにより、波高値変動のみで波形的には正常な計測波
形を、誤判定の可能性を増大させずに良と判定可能な計
測波形判定方法を実現する。
波形判定方法は、計測波形と基準波形とのピーク値およ
びミニマム値の差に応じて上限ラインと下限ラインが補
正された判定領域に基づいて計測波形の良否を判定する
ことにより、波高値変動のみで波形的には正常な計測波
形を、誤判定の可能性を増大させずに良と判定可能な計
測波形判定方法を実現する。
【００１８】
実施例１．以下、この発明の実施例１を図について説明
する。図１は請求項１に記載の発明の一実施例を示す波
形図で、同図（ａ）は判定領域の設定を、（ｂ）は設定
された判定領域のシフトをそれぞれ示している。図にお
いて、１は計測波形、２は基準波形、３は判定領域、４
はその上限ライン、５はその下限ラインであり、図７に
同一符号を付した従来のそれらと同一、あるいは相当部
分であるため詳細な説明は省略する。また、７は計測波
形１および基準波形２の位相基準点を決定するためのト
リガレベルであり、８は基準波形２の位相基準点、９は
計測波形１の位相基準点である。
する。図１は請求項１に記載の発明の一実施例を示す波
形図で、同図（ａ）は判定領域の設定を、（ｂ）は設定
された判定領域のシフトをそれぞれ示している。図にお
いて、１は計測波形、２は基準波形、３は判定領域、４
はその上限ライン、５はその下限ラインであり、図７に
同一符号を付した従来のそれらと同一、あるいは相当部
分であるため詳細な説明は省略する。また、７は計測波
形１および基準波形２の位相基準点を決定するためのト
リガレベルであり、８は基準波形２の位相基準点、９は
計測波形１の位相基準点である。
【００１９】次に動作について説明する。ここで、図２
は被試験波形の一例を示す波形図であり、図において、
１０は一般的なビデオ信号の垂直同期信号、１１は計測
する水平系の画像データ、１２はこの水平系の画像デー
タ１１中の良否判定が行われる部分波形である。なお、
この水平系の画像データ１１は単純な連続波形ではない
ので、当該画像データ１１そのものでトリガをかけるこ
とはできない。
は被試験波形の一例を示す波形図であり、図において、
１０は一般的なビデオ信号の垂直同期信号、１１は計測
する水平系の画像データ、１２はこの水平系の画像デー
タ１１中の良否判定が行われる部分波形である。なお、
この水平系の画像データ１１は単純な連続波形ではない
ので、当該画像データ１１そのものでトリガをかけるこ
とはできない。
【００２０】この場合も従来の場合と同様に、まず、画
像データ１１中の部分波形１２の基準となる波形を入力
してそれを基準波形２とし、図１（ａ）に示すようにそ
の左右に“ｘ”、上下に“ｙ”の幅を持つ判定領域３を
設定する。なお、この場合、波形を処理するエリアが横
軸（Ｘ軸）方向に５１２、縦軸（Ｙ軸）方向に１２８の
大きさをもっているものとする。次に、トリガレベル
７、および立上り部か立下り部かを設定して、この基準
波形２の処理エリア上の位相基準点８を決定し、そのＸ
軸方向への原点からの間隔“ｃ”を記憶しておく。その
後、計測波形１を入力し、基準波形２の場合と同様にし
てその位相基準点９が決定され、そのＸ軸方向への原点
からの間隔“ｄ”が求められる。前述の判定領域３は記
憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔“ｄ”との差“ｅ”
に応じて位相補正される。この場合、間隔“ｄ”が間隔
“ｃ”よりも小さいので、判定領域３は“ｅ”だけ左側
にシフトされる。以下従来の場合と同様に、この位相補
正された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５との
間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定す
る。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足などに
よって水平系の画像データ１１の位相にずれがある場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
像データ１１中の部分波形１２の基準となる波形を入力
してそれを基準波形２とし、図１（ａ）に示すようにそ
の左右に“ｘ”、上下に“ｙ”の幅を持つ判定領域３を
設定する。なお、この場合、波形を処理するエリアが横
軸（Ｘ軸）方向に５１２、縦軸（Ｙ軸）方向に１２８の
大きさをもっているものとする。次に、トリガレベル
７、および立上り部か立下り部かを設定して、この基準
波形２の処理エリア上の位相基準点８を決定し、そのＸ
軸方向への原点からの間隔“ｃ”を記憶しておく。その
後、計測波形１を入力し、基準波形２の場合と同様にし
てその位相基準点９が決定され、そのＸ軸方向への原点
からの間隔“ｄ”が求められる。前述の判定領域３は記
憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔“ｄ”との差“ｅ”
に応じて位相補正される。この場合、間隔“ｄ”が間隔
“ｃ”よりも小さいので、判定領域３は“ｅ”だけ左側
にシフトされる。以下従来の場合と同様に、この位相補
正された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５との
間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定す
る。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足などに
よって水平系の画像データ１１の位相にずれがある場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
【００２１】実施例２．なお、上記実施例１では、計測
波形全体が判定領域の上限ラインと下限ラインとの間に
あるか否かでその良否を判定する場合について述べた
が、指定された計測ポイントにおける波高値にて計測波
形の良否を判定するようにしてもよい。図３は請求項２
に記載したそのような発明の一実施例を示す波形図で、
図中、１３は基準波形２における前記計測ポイント、１
４は計測波形１における前記計測ポイントであり、他は
図１に同一符号を付した部分と同一である。
波形全体が判定領域の上限ラインと下限ラインとの間に
あるか否かでその良否を判定する場合について述べた
が、指定された計測ポイントにおける波高値にて計測波
形の良否を判定するようにしてもよい。図３は請求項２
に記載したそのような発明の一実施例を示す波形図で、
図中、１３は基準波形２における前記計測ポイント、１
４は計測波形１における前記計測ポイントであり、他は
図１に同一符号を付した部分と同一である。
【００２２】次に動作について説明する。まず、図３
（ａ）に示すように、基準波形１を入力して判定の対象
となる波高値を計測する計測ポイント１３を設定し、そ
のＸ軸方向への原点からの間隔“ｆ”を記憶しておく。
次に、この基準波形２の位相基準点８を実施例１の場合
と同様に決定して、そのＸ軸方向への原点からの間隔
“ｃ”を記憶する。その後、計測波形１を入力してその
位相基準点９を決定してＸ軸方向への原点からの間隔
“ｄ”を求め、記憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔
“ｄ”との差“ｅ”に応じて、計測波形１の計測ポイン
ト１４の位置を“ｅ”だけ左側にシフトして位相補正を
行う。そして、この位相補正された計測ポイント１４に
おける波高値“ｇ”を測定し、それが基準波形２の計測
ポイント１３における波高値“ｈ”に基づいて設定され
た判定領域の範囲内にあるか否かによって、当該計測波
形１の良否を判定する。従って、ボリューム等の制御諸
元の調整不足などによって水平系の画像データ１１の位
相にずれがある場合でも、波形そのものが正常であるか
否かを判定することが可能となる。
（ａ）に示すように、基準波形１を入力して判定の対象
となる波高値を計測する計測ポイント１３を設定し、そ
のＸ軸方向への原点からの間隔“ｆ”を記憶しておく。
次に、この基準波形２の位相基準点８を実施例１の場合
と同様に決定して、そのＸ軸方向への原点からの間隔
“ｃ”を記憶する。その後、計測波形１を入力してその
位相基準点９を決定してＸ軸方向への原点からの間隔
“ｄ”を求め、記憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔
“ｄ”との差“ｅ”に応じて、計測波形１の計測ポイン
ト１４の位置を“ｅ”だけ左側にシフトして位相補正を
行う。そして、この位相補正された計測ポイント１４に
おける波高値“ｇ”を測定し、それが基準波形２の計測
ポイント１３における波高値“ｈ”に基づいて設定され
た判定領域の範囲内にあるか否かによって、当該計測波
形１の良否を判定する。従って、ボリューム等の制御諸
元の調整不足などによって水平系の画像データ１１の位
相にずれがある場合でも、波形そのものが正常であるか
否かを判定することが可能となる。
【００２３】なお、水平系の画像データ１１でトリガを
かけて波形の取り込みを行っている場合には、水平系の
画像データ１１の位相ずれは発生しない。しかしなが
ら、図２に示すように、水平系の画像データ１１が垂直
同期信号１０に対しては周期的に同期しているが、単純
な連続波形とはなっていない場合には、このように垂直
同期信号１０で同期をとって、そこから所定量だけ遅れ
た位置、または進んだ位置における水平系の画像データ
１１を計測することになる。
かけて波形の取り込みを行っている場合には、水平系の
画像データ１１の位相ずれは発生しない。しかしなが
ら、図２に示すように、水平系の画像データ１１が垂直
同期信号１０に対しては周期的に同期しているが、単純
な連続波形とはなっていない場合には、このように垂直
同期信号１０で同期をとって、そこから所定量だけ遅れ
た位置、または進んだ位置における水平系の画像データ
１１を計測することになる。
【００２４】実施例３．次に、この発明の実施例３を図
について説明する。図４は請求項３に記載の発明の一実
施例を示す波形図で、図１と同一の部分には同一符号を
付してその説明を省略する。図において、１５は計測波
形１に発生したノイズであり、１６はこのノイズ１５等
によって判定領域３からはみ出した計測波形１のデータ
数、１７は当該計測波形１が判定領域３の外に出ること
を許容できるデータ数をあらかじめ規定している基準値
である。従って、この場合、ノイズ１５などによって判
定領域３の外にはみ出した計測波形１のデータ数１６
が、基準値１７で規定された“２”以内であれば、その
計測波形１は良と判定される。これによって、ノイズ成
分のもともと多い波形においても、そのノイズ１５によ
って波形的には正常な計測波形１が不良と判定されるこ
とはなくなる。なお、その場合、基準値１７を適切に設
定しておけば誤判定の可能性を増大させることもない。
について説明する。図４は請求項３に記載の発明の一実
施例を示す波形図で、図１と同一の部分には同一符号を
付してその説明を省略する。図において、１５は計測波
形１に発生したノイズであり、１６はこのノイズ１５等
によって判定領域３からはみ出した計測波形１のデータ
数、１７は当該計測波形１が判定領域３の外に出ること
を許容できるデータ数をあらかじめ規定している基準値
である。従って、この場合、ノイズ１５などによって判
定領域３の外にはみ出した計測波形１のデータ数１６
が、基準値１７で規定された“２”以内であれば、その
計測波形１は良と判定される。これによって、ノイズ成
分のもともと多い波形においても、そのノイズ１５によ
って波形的には正常な計測波形１が不良と判定されるこ
とはなくなる。なお、その場合、基準値１７を適切に設
定しておけば誤判定の可能性を増大させることもない。
【００２５】実施例４．また、上記実施例３では、判定
領域３の外にはみ出すデータ数を裕度の対象とした場合
について説明したが、基本的には横軸（Ｘ軸）は時間、
縦軸（Ｙ軸）は電圧や電流などの変位量を示すものであ
るため、計測波形１が判定領域３の外にはみ出した時間
がｔ1 時間以内、あるいはｔ2 時間連続して判定領域３
の外に出た回数がｎ回以内であればその計測波形１を良
と判定するという設定をしても実質的に同一であり、上
記実施例と同様の効果を奏する。
領域３の外にはみ出すデータ数を裕度の対象とした場合
について説明したが、基本的には横軸（Ｘ軸）は時間、
縦軸（Ｙ軸）は電圧や電流などの変位量を示すものであ
るため、計測波形１が判定領域３の外にはみ出した時間
がｔ1 時間以内、あるいはｔ2 時間連続して判定領域３
の外に出た回数がｎ回以内であればその計測波形１を良
と判定するという設定をしても実質的に同一であり、上
記実施例と同様の効果を奏する。
【００２６】実施例５．次に、この発明の実施例５を図
について説明する。図５は請求項４に記載の発明の一実
施例を示す波形図で、各部は図１に同一符号を付したも
のと同一部分であるためその説明は省略する。この場合
も、図５（ａ）に示すように、実施例１の場合と同様に
して、基準波形２に基づいて判定領域３が設定される。
その時、基準波形２のピーク値“ｐ2 ”とミニマム値
“ｍ2 ”とを記憶しておく。その後、計測波形１を入力
してそのピーク値“ｐ1 ”とミニマム値“ｍ1 ”とを求
める。次に図５（ｂ）に示すように、その計測波形１の
ピーク値“ｐ1 ”と基準波形２のピーク値“ｐ2 ”との
差に基づいて判定領域３の上限ライン４を上方に移動さ
せ、計測波形１のミニマム値“ｍ1 ”と基準波形２のミ
ニマム値“ｍ2 ”との差に基づいて判定領域２の下限ラ
イン５を下方に移動させる。以下このようにして新たに
設定された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５と
の間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定
する。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足など
によって水平系の画像データ１１の波高値が異なる場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
について説明する。図５は請求項４に記載の発明の一実
施例を示す波形図で、各部は図１に同一符号を付したも
のと同一部分であるためその説明は省略する。この場合
も、図５（ａ）に示すように、実施例１の場合と同様に
して、基準波形２に基づいて判定領域３が設定される。
その時、基準波形２のピーク値“ｐ2 ”とミニマム値
“ｍ2 ”とを記憶しておく。その後、計測波形１を入力
してそのピーク値“ｐ1 ”とミニマム値“ｍ1 ”とを求
める。次に図５（ｂ）に示すように、その計測波形１の
ピーク値“ｐ1 ”と基準波形２のピーク値“ｐ2 ”との
差に基づいて判定領域３の上限ライン４を上方に移動さ
せ、計測波形１のミニマム値“ｍ1 ”と基準波形２のミ
ニマム値“ｍ2 ”との差に基づいて判定領域２の下限ラ
イン５を下方に移動させる。以下このようにして新たに
設定された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５と
の間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定
する。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足など
によって水平系の画像データ１１の波高値が異なる場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
【００２７】実施例６．また、上記各実施例では、位
相、ノイズ、および波高値のそれぞれについて個別に対
応する場合について説明したが、それらを複合して対応
することも可能である。図６はそのような実施例を示す
波形図であり、図１および図４と同一、もしくは相当部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、１８は判定領域３の基準波形に対する横軸方向の
幅、１９は同じく縦軸方向の幅、２０は位相基準点の決
定に際して設定されたトリガレベル７の値、２１は同じ
く波形の立上り／立下りの種別であり、２２は記憶され
た基準波形の位相基準点８の位置、２３は同じく基準波
形のピーク値、２４はミニマム値である。なお、この場
合も、波形を処理するエリアは横軸方向が５１２、縦軸
方向が１２８の大きさをもつものとし、その動作は上記
各実施例のそれぞれと同等であるため、その説明は省略
する。
相、ノイズ、および波高値のそれぞれについて個別に対
応する場合について説明したが、それらを複合して対応
することも可能である。図６はそのような実施例を示す
波形図であり、図１および図４と同一、もしくは相当部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、１８は判定領域３の基準波形に対する横軸方向の
幅、１９は同じく縦軸方向の幅、２０は位相基準点の決
定に際して設定されたトリガレベル７の値、２１は同じ
く波形の立上り／立下りの種別であり、２２は記憶され
た基準波形の位相基準点８の位置、２３は同じく基準波
形のピーク値、２４はミニマム値である。なお、この場
合も、波形を処理するエリアは横軸方向が５１２、縦軸
方向が１２８の大きさをもつものとし、その動作は上記
各実施例のそれぞれと同等であるため、その説明は省略
する。
【００２８】
【発明の効果】以上のように、請求項１に記載の発明に
よれば、計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点
との差に応じて判定領域の位相補正を行い、その判定領
域に基づいて計測波形の良否判定を行うように構成した
ので、制御諸元の未調整などによって位相のみが変動し
て波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大
させることなく良と判定することができ、複数の回路基
板を組み合わせてからでないと最終的な調整を行うこと
のできない回路基板などであっても単体で試験すること
が可能となって、検査工程を大幅に省力化することがで
きる計測波形判定方法が得られる効果がある。
よれば、計測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点
との差に応じて判定領域の位相補正を行い、その判定領
域に基づいて計測波形の良否判定を行うように構成した
ので、制御諸元の未調整などによって位相のみが変動し
て波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を増大
させることなく良と判定することができ、複数の回路基
板を組み合わせてからでないと最終的な調整を行うこと
のできない回路基板などであっても単体で試験すること
が可能となって、検査工程を大幅に省力化することがで
きる計測波形判定方法が得られる効果がある。
【００２９】また、請求項２に記載の発明によれば、計
測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点との差に応
じて計測ポイントの位置を位相補正し、その計測ポイン
トにおける波高値で計測波形の良否判定を行うように構
成したので、位相の変動のみで波形的には正常な計測波
形を、誤判定の可能性を増大させることなく良と判定す
ることができる効果がある。
測波形の位相基準点と基準波形の位相基準点との差に応
じて計測ポイントの位置を位相補正し、その計測ポイン
トにおける波高値で計測波形の良否判定を行うように構
成したので、位相の変動のみで波形的には正常な計測波
形を、誤判定の可能性を増大させることなく良と判定す
ることができる効果がある。
【００３０】また、請求項３に記載の発明によれば、ノ
イズ等によって判定領域からはみ出す計測波形のデータ
数に裕度を持たせ、そのデータ数が所定の基準値以内で
あれば当該計測波形を良と判定するように構成したの
で、ノイズ等を含むが波形的には正常な計測波形を、誤
判定の可能性を増大させることなく良と判定することが
できる効果がある。
イズ等によって判定領域からはみ出す計測波形のデータ
数に裕度を持たせ、そのデータ数が所定の基準値以内で
あれば当該計測波形を良と判定するように構成したの
で、ノイズ等を含むが波形的には正常な計測波形を、誤
判定の可能性を増大させることなく良と判定することが
できる効果がある。
【００３１】また、請求項４に記載の発明によれば、計
測波形と基準波形とのピーク値およびミニマム値の差に
応じて判定領域の上限ラインと下限ラインを補正し、そ
の判定領域に基づいて計測波形の良否を判定するように
構成したので、制御諸元の未調整などによって波高値の
みが変動して波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定することができる効
果がある。
測波形と基準波形とのピーク値およびミニマム値の差に
応じて判定領域の上限ラインと下限ラインを補正し、そ
の判定領域に基づいて計測波形の良否を判定するように
構成したので、制御諸元の未調整などによって波高値の
みが変動して波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定することができる効
果がある。
【図１】この発明の実施例１を示す波形図である。
【図２】上記実施例における被試験波形の一例を示す波
形図である。
形図である。
【図３】この発明の実施例２を示す波形図である。
【図４】この発明の実施例３を示す波形図である。
【図５】この発明の実施例５を示す波形図である。
【図６】この発明の実施例６を示す波形図である。
【図７】従来の計測波形判定方法の一例を示す波形図で
ある。
ある。
【図８】その波高値オーバーによる不良判定を示す波形
図である。
図である。
【図９】その位相ずれによる不良判定を示す波形図であ
る。
る。
【図１０】従来の計測波形判定方法の他の例を示す波形
図である。
図である。
１ 計測波形 ２ 基準波形 ３ 判定領域 ４ 上限ライン ５ 下限ライン ８ 位相基準点 ９ 位相基準点 １３ 計測ポイント １４ 計測ポイント １６ データ数 １７ 基準値
Claims (4)
- 【請求項１】 計測波形が基準波形に基づいて設定され
た判定領域内にあるか否かによって、当該計測波形の良
否を判定する計測波形判定方法において、前記計測波形
の位相基準点を検出してそれを前記基準波形の位相基準
点と比較し、その差に基づいて前記判定領域の位相補正
を行うことを特徴とする計測波形判定方法。 - 【請求項２】 計測波形の計測ポイントにおける波高値
が、基準波形上の対応する計測ポイントの波高値に基づ
いて設定された判定領域内にあるか否かによって、当該
計測波形の良否を判定する計測波形判定方法において、
前記計測波形の位相基準点を検出してそれを前記基準波
形の位相基準点と比較し、その差に基づいて前記計測ポ
イントの位相補正を行うことを特徴とする計測波形判定
方法。 - 【請求項３】 計測波形が基準波形に基づいて設定され
た判定領域内にあるか否かによって、当該計測波形の良
否を判定する計測波形判定方法において、前記判定領域
からはみ出した前記計測波形のデータ数が、あらかじめ
定められた基準値以内であれば良と判定することを特徴
とする計測波形判定方法。 - 【請求項４】 計測波形が基準波形に基づいて設定され
た判定領域内にあるか否かによって、当該計測波形の良
否を判定する計測波形判定方法において、前記計測波形
のピーク値とミニマム値とを検出し、検出されたピーク
値と前記基準波形のピーク値との差に基づいて前記判定
領域の上限ラインを、検出されたミニマム値と前記基準
波形のミニマム値との差に基づいて前記判定領域の下限
ラインをそれぞれ補正することを特徴とする計測波形判
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23760892A JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23760892A JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0666861A true JPH0666861A (ja) | 1994-03-11 |
| JP3215722B2 JP3215722B2 (ja) | 2001-10-09 |
Family
ID=17017842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23760892A Expired - Fee Related JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3215722B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001153891A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Hioki Ee Corp | 電気測定器の波形判定方法 |
| JP2003194855A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-07-09 | Tektronix Japan Ltd | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
| KR100715580B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2007-05-09 | 트리도닉 옵토엘렉트로닉스 게엠베하 | 발광 소자를 포함하는 광원 |
| JP2012230043A (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| JP2012229933A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| JP2015212635A (ja) * | 2014-05-01 | 2015-11-26 | 三菱電機株式会社 | 閾値波形作成装置 |
-
1992
- 1992-08-14 JP JP23760892A patent/JP3215722B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001153891A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Hioki Ee Corp | 電気測定器の波形判定方法 |
| KR100715580B1 (ko) * | 2000-12-28 | 2007-05-09 | 트리도닉 옵토엘렉트로닉스 게엠베하 | 발광 소자를 포함하는 광원 |
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| JP4625975B2 (ja) * | 2001-11-06 | 2011-02-02 | テクトロニクス・インコーポレイテッド | 測定機器用マスク及び波形の作成及び編集方法 |
| JP2012229933A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| JP2012230043A (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-22 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
| JP2015212635A (ja) * | 2014-05-01 | 2015-11-26 | 三菱電機株式会社 | 閾値波形作成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3215722B2 (ja) | 2001-10-09 |
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