JP3215722B2 - 計測波形判定方法 - Google Patents
計測波形判定方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、シンクロスコープや
アナログ／ディジタル変換器（以下Ａ／Ｄ変換器とい
う）などを用いて計測された計測波形の良否を判定する
計測波形判定方法に関するものである。
アナログ／ディジタル変換器（以下Ａ／Ｄ変換器とい
う）などを用いて計測された計測波形の良否を判定する
計測波形判定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図７は従来の計測波形判定方法の一例を
示す波形図である。図において、１はシンクロスコープ
やＡ／Ｄ変換器等で計測された計測波形であり、２はこ
の計測波形１の良否を判定するための基準波形である。
３はこの基準波形２に基づいて設定された判定領域であ
り、４はその判定領域３の上限ライン、５はその下限ラ
インである。また、６は計測波形１の判定領域３からは
み出た部分である。
示す波形図である。図において、１はシンクロスコープ
やＡ／Ｄ変換器等で計測された計測波形であり、２はこ
の計測波形１の良否を判定するための基準波形である。
３はこの基準波形２に基づいて設定された判定領域であ
り、４はその判定領域３の上限ライン、５はその下限ラ
インである。また、６は計測波形１の判定領域３からは
み出た部分である。
【０００３】次に動作について説明する。計測波形１の
良否の判定に際しては、あらかじめ基準波形２を入力し
てそれに基づく判定領域３を設定しておく。次に計測波
形１をこの判定領域３と比較して、判定する計測波形１
がこの判定領域３の上限ライン４と下限ライン５の間に
あればその計測波形１は良と判定される。一方、図７に
示すように、この判定領域３をはみ出した部分６があれ
ば、その計測波形１は不良と判定される。従って、ボリ
ューム等の各種制御諸元の調整不足などによって、図８
に示すように計測波形１の振幅が判定領域３の上限ライ
ン４を越えていたり、図９に示すようにその位相がずれ
ている場合には、計測波形１は波形としては正常であっ
ても不良と判定されることになる。
良否の判定に際しては、あらかじめ基準波形２を入力し
てそれに基づく判定領域３を設定しておく。次に計測波
形１をこの判定領域３と比較して、判定する計測波形１
がこの判定領域３の上限ライン４と下限ライン５の間に
あればその計測波形１は良と判定される。一方、図７に
示すように、この判定領域３をはみ出した部分６があれ
ば、その計測波形１は不良と判定される。従って、ボリ
ューム等の各種制御諸元の調整不足などによって、図８
に示すように計測波形１の振幅が判定領域３の上限ライ
ン４を越えていたり、図９に示すようにその位相がずれ
ている場合には、計測波形１は波形としては正常であっ
ても不良と判定されることになる。
【０００４】また、計測波形１の良否の判定には、この
他に図１０に示す方法もある。これは、トリガに対して
一定位相“ａ”だけずれた位置における計測波形１の電
圧等の値“ｂ”が、判定領域３内にあるか否かによって
判定するものであり、値“ｂ”が判定領域３の上限値と
下限値の間にあればその計測波形１を良と判定し、その
いずれかを越えていれば不良と判定する。
他に図１０に示す方法もある。これは、トリガに対して
一定位相“ａ”だけずれた位置における計測波形１の電
圧等の値“ｂ”が、判定領域３内にあるか否かによって
判定するものであり、値“ｂ”が判定領域３の上限値と
下限値の間にあればその計測波形１を良と判定し、その
いずれかを越えていれば不良と判定する。
【０００５】なお、このような従来の計測波形判定方法
に関連した技術が記載された文献としては、例えば特開
平３−１６７４８１号公報、特開昭５３−９７３７７号
公報などがある。
に関連した技術が記載された文献としては、例えば特開
平３−１６７４８１号公報、特開昭５３−９７３７７号
公報などがある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の計測波形判定方
法は以上のように構成されているので、計測波形１は基
準波形２との相違点が厳しくチェックされ、例えば計測
波形１の位相や波高値が前段のボリューム等によって制
御されている場合の回路の動作試験などにおいては、基
準波形２の登録時と同一の条件に調整した後でないと、
回路の動作としては正常であっても出力される波形の位
相や波高値が未調整のため、計測波形１に判定領域３を
はみ出す部分６が生じて不良と判定されることがあり、
さらに、偶発的なノイズによって計測波形１が判定領域
３からはみ出した場合でも不良と判定されてしまい、ま
た、そのために判定領域３を大きくしてそれらを解消し
ようとした場合、不良の計測波形１を良と誤判定する可
能性が大きくなるなどの問題点があった。
法は以上のように構成されているので、計測波形１は基
準波形２との相違点が厳しくチェックされ、例えば計測
波形１の位相や波高値が前段のボリューム等によって制
御されている場合の回路の動作試験などにおいては、基
準波形２の登録時と同一の条件に調整した後でないと、
回路の動作としては正常であっても出力される波形の位
相や波高値が未調整のため、計測波形１に判定領域３を
はみ出す部分６が生じて不良と判定されることがあり、
さらに、偶発的なノイズによって計測波形１が判定領域
３からはみ出した場合でも不良と判定されてしまい、ま
た、そのために判定領域３を大きくしてそれらを解消し
ようとした場合、不良の計測波形１を良と誤判定する可
能性が大きくなるなどの問題点があった。
【０００７】請求項１に記載の発明は、上記のような課
題を解消するためになされたものであり、波高値の変動
のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を
増大させることなく良と判定できる計測波形判定方法を
得ることを目的とする。
題を解消するためになされたものであり、波高値の変動
のみで波形的には正常な計測波形を、誤判定の可能性を
増大させることなく良と判定できる計測波形判定方法を
得ることを目的とする。
【０００８】また、請求項２に記載の発明は、多少のノ
イズは含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定
方法を得ることを目的とする。
イズは含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させることなく良と判定できる計測波形判定
方法を得ることを目的とする。
【０００９】
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係る計測波形判定方法は、計測波形のピーク値とミニマ
ム値とを検出し、それらと基準波形のピーク値およびミ
ニマム値との差に基づいて、判定領域の上限ラインと下
限ラインを補正するものである。
係る計測波形判定方法は、計測波形のピーク値とミニマ
ム値とを検出し、それらと基準波形のピーク値およびミ
ニマム値との差に基づいて、判定領域の上限ラインと下
限ラインを補正するものである。
【００１１】また、請求項２に記載の発明に係る計測波
形判定方法は、計測波形に対してサンプリングを実施し
て得られた複数の離散的な振幅データのなかで、判定領
域からはみ出すデータ数に対して一定の裕度を持たせた
ものである。
形判定方法は、計測波形に対してサンプリングを実施し
て得られた複数の離散的な振幅データのなかで、判定領
域からはみ出すデータ数に対して一定の裕度を持たせた
ものである。
【００１２】
【００１３】
【作用】請求項１に記載の発明における計測波形判定方
法は、計測波形と基準波形とのピーク値およびミニマム
値の差に応じて上限ラインと下限ラインが補正された判
定領域に基づいて計測波形の良否を判定することによ
り、波高値変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤
判定の可能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判
定方法を実現する。
法は、計測波形と基準波形とのピーク値およびミニマム
値の差に応じて上限ラインと下限ラインが補正された判
定領域に基づいて計測波形の良否を判定することによ
り、波高値変動のみで波形的には正常な計測波形を、誤
判定の可能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判
定方法を実現する。
【００１４】また、請求項２に記載の発明における計測
波形判定方法は、ノイズ等によって判定領域からはみ出
す計測波形に係るデータ数が所定の基準数以内であれ
ば、その計測波形を良と判定することにより、ノイズ等
を多少含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を
実現する。
波形判定方法は、ノイズ等によって判定領域からはみ出
す計測波形に係るデータ数が所定の基準数以内であれ
ば、その計測波形を良と判定することにより、ノイズ等
を多少含むが波形的には正常な計測波形を、誤判定の可
能性を増大させずに良と判定可能な計測波形判定方法を
実現する。
【００１５】
【００１６】
【実施例】実施例１． 以下、この発明の実施例１を図について説明する。図１
はこの発明の一実施例を示す波形図で、同図（ａ）は判
定領域の設定を、（ｂ）は設定された判定領域のシフト
をそれぞれ示している。図において、１は計測波形、２
は基準波形、３は判定領域、４はその上限ライン、５は
その下限ラインであり、図７に同一符号を付した従来の
それらと同一、あるいは相当部分であるため詳細な説明
は省略する。また、７は計測波形１および基準波形２の
位相基準点を決定するためのトリガレベルであり、８は
基準波形２の位相基準点、９は計測波形１の位相基準点
である。
はこの発明の一実施例を示す波形図で、同図（ａ）は判
定領域の設定を、（ｂ）は設定された判定領域のシフト
をそれぞれ示している。図において、１は計測波形、２
は基準波形、３は判定領域、４はその上限ライン、５は
その下限ラインであり、図７に同一符号を付した従来の
それらと同一、あるいは相当部分であるため詳細な説明
は省略する。また、７は計測波形１および基準波形２の
位相基準点を決定するためのトリガレベルであり、８は
基準波形２の位相基準点、９は計測波形１の位相基準点
である。
【００１７】次に動作について説明する。ここで、図２
は被試験波形の一例を示す波形図であり、図において、
１０は一般的なビデオ信号の垂直同期信号、１１は計測
する水平系の画像データ、１２はこの水平系の画像デー
タ１１中の良否判定が行われる部分波形である。なお、
この水平系の画像データ１１は単純な連続波形ではない
ので、当該画像データ１１そのものでトリガをかけるこ
とはできない。
は被試験波形の一例を示す波形図であり、図において、
１０は一般的なビデオ信号の垂直同期信号、１１は計測
する水平系の画像データ、１２はこの水平系の画像デー
タ１１中の良否判定が行われる部分波形である。なお、
この水平系の画像データ１１は単純な連続波形ではない
ので、当該画像データ１１そのものでトリガをかけるこ
とはできない。
【００１８】この場合も従来の場合と同様に、まず、画
像データ１１中の部分波形１２の基準となる波形を入力
してそれを基準波形２とし、図１（ａ）に示すようにそ
の左右に“ｘ”、上下に“ｙ”の幅を持つ判定領域３を
設定する。なお、この場合、波形を処理するエリアが横
軸（Ｘ軸）方向に５１２、縦軸（Ｙ軸）方向に１２８の
大きさをもっているものとする。次に、トリガレベル
７、および立上り部か立下り部かを設定して、この基準
波形２の処理エリア上の位相基準点８を決定し、そのＸ
軸方向への原点からの間隔“ｃ”を記憶しておく。その
後、計測波形１を入力し、基準波形２の場合と同様にし
てその位相基準点９が決定され、そのＸ軸方向への原点
からの間隔“ｄ”が求められる。前述の判定領域３は記
憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔“ｄ”との差“ｅ”
に応じて位相補正される。この場合、間隔“ｄ”が間隔
“ｃ”よりも小さいので、判定領域３は“ｅ”だけ左側
にシフトされる。以下従来の場合と同様に、この位相補
正された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５との
間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定す
る。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足などに
よって水平系の画像データ１１の位相にずれがある場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
像データ１１中の部分波形１２の基準となる波形を入力
してそれを基準波形２とし、図１（ａ）に示すようにそ
の左右に“ｘ”、上下に“ｙ”の幅を持つ判定領域３を
設定する。なお、この場合、波形を処理するエリアが横
軸（Ｘ軸）方向に５１２、縦軸（Ｙ軸）方向に１２８の
大きさをもっているものとする。次に、トリガレベル
７、および立上り部か立下り部かを設定して、この基準
波形２の処理エリア上の位相基準点８を決定し、そのＸ
軸方向への原点からの間隔“ｃ”を記憶しておく。その
後、計測波形１を入力し、基準波形２の場合と同様にし
てその位相基準点９が決定され、そのＸ軸方向への原点
からの間隔“ｄ”が求められる。前述の判定領域３は記
憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔“ｄ”との差“ｅ”
に応じて位相補正される。この場合、間隔“ｄ”が間隔
“ｃ”よりも小さいので、判定領域３は“ｅ”だけ左側
にシフトされる。以下従来の場合と同様に、この位相補
正された判定領域３の上限ライン４と下限ライン５との
間に計測波形１があるか否かによってその良否を判定す
る。従って、ボリューム等の制御諸元の調整不足などに
よって水平系の画像データ１１の位相にずれがある場合
でも、波形そのものが正常であるか否かを判定すること
が可能となる。
【００１９】実施例２． なお、上記実施例１では、計測波形全体が判定領域の上
限ラインと下限ラインとの間にあるか否かでその良否を
判定する場合について述べたが、指定された計測ポイン
トにおける波高値にて計測波形の良否を判定するように
してもよい。図３はこのような発明の一実施例を示す波
形図で、図中、１３は基準波形２における前記計測ポイ
ント、１４は計測波形１における前記計測ポイントであ
り、他は図１に同一符号を付した部分と同一である。
限ラインと下限ラインとの間にあるか否かでその良否を
判定する場合について述べたが、指定された計測ポイン
トにおける波高値にて計測波形の良否を判定するように
してもよい。図３はこのような発明の一実施例を示す波
形図で、図中、１３は基準波形２における前記計測ポイ
ント、１４は計測波形１における前記計測ポイントであ
り、他は図１に同一符号を付した部分と同一である。
【００２０】次に動作について説明する。まず、図３
（ａ）に示すように、基準波形１を入力して判定の対象
となる波高値を計測する計測ポイント１３を設定し、そ
のＸ軸方向への原点からの間隔“ｆ”を記憶しておく。
次に、この基準波形２の位相基準点８を実施例１の場合
と同様に決定して、そのＸ軸方向への原点からの間隔
“ｃ”を記憶する。その後、計測波形１を入力してその
位相基準点９を決定してＸ軸方向への原点からの間隔
“ｄ”を求め、記憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔
“ｄ”との差“ｅ”に応じて、計測波形１の計測ポイン
ト１４の位置を“ｅ”だけ左側にシフトして位相補正を
行う。そして、この位相補正された計測ポイント１４に
おける波高値“ｇ”を測定し、それが基準波形２の計測
ポイント１３における波高値“ｈ”に基づいて設定され
た判定領域の範囲内にあるか否かによって、当該計測波
形１の良否を判定する。従って、ボリューム等の制御諸
元の調整不足などによって水平系の画像データ１１の位
相にずれがある場合でも、波形そのものが正常であるか
否かを判定することが可能となる。
（ａ）に示すように、基準波形１を入力して判定の対象
となる波高値を計測する計測ポイント１３を設定し、そ
のＸ軸方向への原点からの間隔“ｆ”を記憶しておく。
次に、この基準波形２の位相基準点８を実施例１の場合
と同様に決定して、そのＸ軸方向への原点からの間隔
“ｃ”を記憶する。その後、計測波形１を入力してその
位相基準点９を決定してＸ軸方向への原点からの間隔
“ｄ”を求め、記憶しておいた間隔“ｃ”とこの間隔
“ｄ”との差“ｅ”に応じて、計測波形１の計測ポイン
ト１４の位置を“ｅ”だけ左側にシフトして位相補正を
行う。そして、この位相補正された計測ポイント１４に
おける波高値“ｇ”を測定し、それが基準波形２の計測
ポイント１３における波高値“ｈ”に基づいて設定され
た判定領域の範囲内にあるか否かによって、当該計測波
形１の良否を判定する。従って、ボリューム等の制御諸
元の調整不足などによって水平系の画像データ１１の位
相にずれがある場合でも、波形そのものが正常であるか
否かを判定することが可能となる。
【００２１】なお、水平系の画像データ１１でトリガを
かけて波形の取り込みを行っている場合には、水平系の
画像データ１１の位相ずれは発生しない。しかしなが
ら、図２に示すように、水平系の画像データ１１が垂直
同期信号１０に対しては周期的に同期しているが、単純
な連続波形とはなっていない場合には、このように垂直
同期信号１０で同期をとって、そこから所定量だけ遅れ
た位置、または進んだ位置における水平系の画像データ
１１を計測することになる。
かけて波形の取り込みを行っている場合には、水平系の
画像データ１１の位相ずれは発生しない。しかしなが
ら、図２に示すように、水平系の画像データ１１が垂直
同期信号１０に対しては周期的に同期しているが、単純
な連続波形とはなっていない場合には、このように垂直
同期信号１０で同期をとって、そこから所定量だけ遅れ
た位置、または進んだ位置における水平系の画像データ
１１を計測することになる。
【００２２】実施例３． 次に、この発明の実施例３を図について説明する。図４
はこの発明の一実施例を示す波形図で、図１と同一の部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、１５は計測波形１に発生したノイズであり、１６は
このノイズ１５等によって判定領域３からはみ出した計
測波形１のデータ数、１７は当該計測波形１が判定領域
３の外に出ることを許容できるデータ数をあらかじめ規
定している基準値である。従って、この場合、ノイズ１
５などによって判定領域３の外にはみ出した計測波形１
のデータ数１６が、基準値１７で規定された“２”以内
であれば、その計測波形１は良と判定される。これによ
って、ノイズ成分のもともと多い波形においても、その
ノイズ１５によって波形的には正常な計測波形１が不良
と判定されることはなくなる。なお、その場合、基準値
１７を適切に設定しておけば誤判定の可能性を増大させ
ることもない。
はこの発明の一実施例を示す波形図で、図１と同一の部
分には同一符号を付してその説明を省略する。図におい
て、１５は計測波形１に発生したノイズであり、１６は
このノイズ１５等によって判定領域３からはみ出した計
測波形１のデータ数、１７は当該計測波形１が判定領域
３の外に出ることを許容できるデータ数をあらかじめ規
定している基準値である。従って、この場合、ノイズ１
５などによって判定領域３の外にはみ出した計測波形１
のデータ数１６が、基準値１７で規定された“２”以内
であれば、その計測波形１は良と判定される。これによ
って、ノイズ成分のもともと多い波形においても、その
ノイズ１５によって波形的には正常な計測波形１が不良
と判定されることはなくなる。なお、その場合、基準値
１７を適切に設定しておけば誤判定の可能性を増大させ
ることもない。
【００２３】実施例４． また、上記実施例３では、判定領域３の外にはみ出すデ
ータ数を裕度の対象とした場合について説明したが、基
本的には横軸（Ｘ軸）は時間、縦軸（Ｙ軸）は電圧や電
流などの変位量を示すものであるため、計測波形１が判
定領域３の外にはみ出した時間がｔ1 時間以内、あるい
はｔ2 時間連続して判定領域３の外に出た回数がｎ回以
内であればその計測波形１を良と判定するという設定を
しても実質的に同一であり、上記実施例と同様の効果を
奏する。
ータ数を裕度の対象とした場合について説明したが、基
本的には横軸（Ｘ軸）は時間、縦軸（Ｙ軸）は電圧や電
流などの変位量を示すものであるため、計測波形１が判
定領域３の外にはみ出した時間がｔ1 時間以内、あるい
はｔ2 時間連続して判定領域３の外に出た回数がｎ回以
内であればその計測波形１を良と判定するという設定を
しても実質的に同一であり、上記実施例と同様の効果を
奏する。
【００２４】実施例５． 次に、この発明の実施例５を図について説明する。図５
はこの発明の一実施例を示す波形図で、各部は図１に同
一符号を付したものと同一部分であるためその説明は省
略する。この場合も、図５（ａ）に示すように、実施例
１の場合と同様にして、基準波形２に基づいて判定領域
３が設定される。その時、基準波形２のピーク値
“ｐ2 ”とミニマム値“ｍ2 ”とを記憶しておく。その
後、計測波形１を入力してそのピーク値“ｐ1 ”とミニ
マム値“ｍ1 ”とを求める。次に図５（ｂ）に示すよう
に、その計測波形１のピーク値“ｐ1 ”と基準波形２の
ピーク値“ｐ2 ”との差に基づいて判定領域３の上限ラ
イン４を上方に移動させ、計測波形１のミニマム値“ｍ
1 ”と基準波形２のミニマム値“ｍ2 ”との差に基づい
て判定領域２の下限ライン５を下方に移動させる。以下
このようにして新たに設定された判定領域３の上限ライ
ン４と下限ライン５との間に計測波形１があるか否かに
よってその良否を判定する。従って、ボリューム等の制
御諸元の調整不足などによって水平系の画像データ１１
の波高値が異なる場合でも、波形そのものが正常である
か否かを判定することが可能となる。
はこの発明の一実施例を示す波形図で、各部は図１に同
一符号を付したものと同一部分であるためその説明は省
略する。この場合も、図５（ａ）に示すように、実施例
１の場合と同様にして、基準波形２に基づいて判定領域
３が設定される。その時、基準波形２のピーク値
“ｐ2 ”とミニマム値“ｍ2 ”とを記憶しておく。その
後、計測波形１を入力してそのピーク値“ｐ1 ”とミニ
マム値“ｍ1 ”とを求める。次に図５（ｂ）に示すよう
に、その計測波形１のピーク値“ｐ1 ”と基準波形２の
ピーク値“ｐ2 ”との差に基づいて判定領域３の上限ラ
イン４を上方に移動させ、計測波形１のミニマム値“ｍ
1 ”と基準波形２のミニマム値“ｍ2 ”との差に基づい
て判定領域２の下限ライン５を下方に移動させる。以下
このようにして新たに設定された判定領域３の上限ライ
ン４と下限ライン５との間に計測波形１があるか否かに
よってその良否を判定する。従って、ボリューム等の制
御諸元の調整不足などによって水平系の画像データ１１
の波高値が異なる場合でも、波形そのものが正常である
か否かを判定することが可能となる。
【００２５】実施例６． また、上記各実施例では、位相、ノイズ、および波高値
のそれぞれについて個別に対応する場合について説明し
たが、それらを複合して対応することも可能である。図
６はそのような実施例を示す波形図であり、図１および
図４と同一、もしくは相当部分には同一符号を付してそ
の説明を省略する。図において、１８は判定領域３の基
準波形に対する横軸方向の幅、１９は同じく縦軸方向の
幅、２０は位相基準点の決定に際して設定されたトリガ
レベル７の値、２１は同じく波形の立上り／立下りの種
別であり、２２は記憶された基準波形の位相基準点８の
位置、２３は同じく基準波形のピーク値、２４はミニマ
ム値である。なお、この場合も、波形を処理するエリア
は横軸方向が５１２、縦軸方向が１２８の大きさをもつ
ものとし、その動作は上記各実施例のそれぞれと同等で
あるため、その説明は省略する。
のそれぞれについて個別に対応する場合について説明し
たが、それらを複合して対応することも可能である。図
６はそのような実施例を示す波形図であり、図１および
図４と同一、もしくは相当部分には同一符号を付してそ
の説明を省略する。図において、１８は判定領域３の基
準波形に対する横軸方向の幅、１９は同じく縦軸方向の
幅、２０は位相基準点の決定に際して設定されたトリガ
レベル７の値、２１は同じく波形の立上り／立下りの種
別であり、２２は記憶された基準波形の位相基準点８の
位置、２３は同じく基準波形のピーク値、２４はミニマ
ム値である。なお、この場合も、波形を処理するエリア
は横軸方向が５１２、縦軸方向が１２８の大きさをもつ
ものとし、その動作は上記各実施例のそれぞれと同等で
あるため、その説明は省略する。
【００２６】
【発明の効果】以上のように、請求項１に記載の発明に
よれば、計測波形と基準波形とのピーク値およびミニマ
ム値の差に応じて判定領域の上限ラインと下限ラインを
補正し、その判定領域に基づいて計測波形の良否を判定
するように構成したので、制御諸元の未調整などによっ
て波高値のみが変動して波形的には正常な計測波形を、
誤判定の可能性を増大させることなく良と判定すること
ができる効果がある。
よれば、計測波形と基準波形とのピーク値およびミニマ
ム値の差に応じて判定領域の上限ラインと下限ラインを
補正し、その判定領域に基づいて計測波形の良否を判定
するように構成したので、制御諸元の未調整などによっ
て波高値のみが変動して波形的には正常な計測波形を、
誤判定の可能性を増大させることなく良と判定すること
ができる効果がある。
【００２７】また、請求項２に記載の発明によれば、ノ
イズ等によって判定領域からはみ出す計測波形に係るデ
ータ数に裕度を持たせ、そのデータ数が所定の基準数以
内であれば当該計測波形を良と判定するように構成した
ので、ノイズ等を含むが波形的には正常な計測波形を、
誤判定の可能性を増大させることなく良と判定すること
ができる効果がある。
イズ等によって判定領域からはみ出す計測波形に係るデ
ータ数に裕度を持たせ、そのデータ数が所定の基準数以
内であれば当該計測波形を良と判定するように構成した
ので、ノイズ等を含むが波形的には正常な計測波形を、
誤判定の可能性を増大させることなく良と判定すること
ができる効果がある。
【００２８】
【図１】この発明の実施例１を示す波形図である。
【図２】上記実施例における被試験波形の一例を示す波
形図である。
形図である。
【図３】この発明の実施例２を示す波形図である。
【図４】この発明の実施例３を示す波形図である。
【図５】この発明の実施例５を示す波形図である。
【図６】この発明の実施例６を示す波形図である。
【図７】従来の計測波形判定方法の一例を示す波形図で
ある。
ある。
【図８】その波高値オーバーによる不良判定を示す波形
図である。
図である。
【図９】その位相ずれによる不良判定を示す波形図であ
る。
る。
【図１０】従来の計測波形判定方法の他の例を示す波形
図である。
図である。
１ 計測波形 ２ 基準波形 ３ 判定領域 ４ 上限ライン ５ 下限ライン ８ 位相基準点 ９ 位相基準点 １３ 計測ポイント １４ 計測ポイント １６ データ数 １７ 基準値
Claims (2)
- 【請求項１】 計測波形が基準波形に基づいて設定され
た判定領域内にあるか否かによって、当該計測波形の良
否を判定する計測波形判定方法において、前記計測波形
のピーク値とミニマム値とを検出し、検出されたピーク
値と前記基準波形のピーク値との差に基づいて前記判定
領域の上限ラインを、検出されたミニマム値と前記基準
波形のミニマム値との差に基づいて前記判定領域の下限
ラインをそれぞれ補正することを特徴とする計測波形判
定方法。 - 【請求項２】 計測波形に対してサンプリングを実施し
て得られた複数の離散的な振幅データのなかで判定領域
からはみ出したデータ数が、あらかじめ定められた基準
数以内であれば良と判定することを特徴とする請求項１
記載の計測波形判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23760892A JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP23760892A JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
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Family
ID=17017842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23760892A Expired - Fee Related JP3215722B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 計測波形判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3215722B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
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-
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- 1992-08-14 JP JP23760892A patent/JP3215722B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH0666861A (ja) | 1994-03-11 |
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