JPH0664049B2 - 水質分析計のデータ処理方法 - Google Patents
水質分析計のデータ処理方法Info
- Publication number
- JPH0664049B2 JPH0664049B2 JP16504889A JP16504889A JPH0664049B2 JP H0664049 B2 JPH0664049 B2 JP H0664049B2 JP 16504889 A JP16504889 A JP 16504889A JP 16504889 A JP16504889 A JP 16504889A JP H0664049 B2 JPH0664049 B2 JP H0664049B2
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- JP
- Japan
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- standard deviation
- data
- variation
- coefficient
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- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はＴＯＣ（有機体炭素）計のように、同一試料の
繰返し測定を行なう水質分析計において、測定データの
異常値を削除して正しい測定データを得るデータ処理方
法に関するものである。
繰返し測定を行なう水質分析計において、測定データの
異常値を削除して正しい測定データを得るデータ処理方
法に関するものである。
（従来の技術） 同一試料の繰返し測定を行なう分析装置では、一般にそ
の繰返し精度を判断するために変動係数ＣＶが用いられ
ている。変動係数は標準偏差を平均値で割ったものであ
る。
の繰返し精度を判断するために変動係数ＣＶが用いられ
ている。変動係数は標準偏差を平均値で割ったものであ
る。
（発明が解決しようとする課題） 水質分析計などの分析装置において、同一試料を繰り返
し測定してデータを得ると、それらのデータにはバラツ
キが生じる。バラツキの要因を大別すると、（Ａ）ピー
ク面積やピーク高さといった測定信号の大きさにほぼ比
例するものと、（Ｂ）測定信号の大きさに関係なくほぼ
一定しているものがある。前者の測定信号にほぼ比例す
るものとしては、例えば試料注入量のバラツキなどがあ
げられる。後者の測定信号に関係しないものとしては、
例えばバックグラウンドノイズなどがあげられる。
し測定してデータを得ると、それらのデータにはバラツ
キが生じる。バラツキの要因を大別すると、（Ａ）ピー
ク面積やピーク高さといった測定信号の大きさにほぼ比
例するものと、（Ｂ）測定信号の大きさに関係なくほぼ
一定しているものがある。前者の測定信号にほぼ比例す
るものとしては、例えば試料注入量のバラツキなどがあ
げられる。後者の測定信号に関係しないものとしては、
例えばバックグラウンドノイズなどがあげられる。
例えば、測定信号が小さい場合には上記の（Ｂ）の要因
による測定データのばらつきの影響が大きく出て変動係
数ＣＶが大きくなる傾向にある。そのため、従来のよう
に繰返し精度を変動係数ＣＶだけで判断していると、設
定レンジに対し低すぎる濃度の試料に対しては設定され
た変動係数ＣＶが厳しすぎる結果になったり、逆に低濃
度側で変動係数ＣＶが大きくなるのを許容するために大
き目の変動係数ＣＶを設定すると、設定レンジに対し適
度な濃度の試料に対しては変動係数ＣＶの設定が大き目
になって不適当な結果になる。
による測定データのばらつきの影響が大きく出て変動係
数ＣＶが大きくなる傾向にある。そのため、従来のよう
に繰返し精度を変動係数ＣＶだけで判断していると、設
定レンジに対し低すぎる濃度の試料に対しては設定され
た変動係数ＣＶが厳しすぎる結果になったり、逆に低濃
度側で変動係数ＣＶが大きくなるのを許容するために大
き目の変動係数ＣＶを設定すると、設定レンジに対し適
度な濃度の試料に対しては変動係数ＣＶの設定が大き目
になって不適当な結果になる。
また、もし繰返し精度を標準偏差ＳＤだけによって判断
しようとすれば、高精度から低濃度までの広範囲におい
て上記のＡ，Ｂの２つのばらつきの要因をカバーするこ
とはできない。
しようとすれば、高精度から低濃度までの広範囲におい
て上記のＡ，Ｂの２つのばらつきの要因をカバーするこ
とはできない。
本発明はバラツキに関する上記Ａ，Ｂの２つの要因をカ
バーして広い濃度範囲に渡って繰返し精度を適切に判断
することのできるデータ処理方法を提供することを目的
とするものである。
バーして広い濃度範囲に渡って繰返し精度を適切に判断
することのできるデータ処理方法を提供することを目的
とするものである。
（課題を解決するための手段） 本発明では判断基準として標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶ
の両方を用いる。同一試料について繰り返し測定して得
られた測定データの標準偏差又は変動係数のいずれかが
予め設定した基準値以内であればそれらのデータから平
均値などを求めて出力する。
の両方を用いる。同一試料について繰り返し測定して得
られた測定データの標準偏差又は変動係数のいずれかが
予め設定した基準値以内であればそれらのデータから平
均値などを求めて出力する。
そのため、本発明では、基準なる標準偏差ＳＤ0と変動
係数ＣＶ0を設定しておき、同一試料の繰返し測定によ
り得られたデータの標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいず
れかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下の場合にはそのときのデ
ータを出力し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれも
が設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越える場合には１個のデータを
除いた残りのデータの標準偏差ＳＤが最小になる組合わ
せを求め、この組合わせの標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶ
のいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下であればそのとき
のデータを出力し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいず
れもがなお設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越えている場合はさら
に１個のデータを除いて残りのデータの標準偏差ＳＤが
最小になる組合わせを求め、その組合わせの標準偏差Ｓ
Ｄと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下
になるまでデータを１個ずつ減らす操作を繰り返した後
にデータを出力する。
係数ＣＶ0を設定しておき、同一試料の繰返し測定によ
り得られたデータの標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいず
れかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下の場合にはそのときのデ
ータを出力し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれも
が設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越える場合には１個のデータを
除いた残りのデータの標準偏差ＳＤが最小になる組合わ
せを求め、この組合わせの標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶ
のいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下であればそのとき
のデータを出力し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいず
れもがなお設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越えている場合はさら
に１個のデータを除いて残りのデータの標準偏差ＳＤが
最小になる組合わせを求め、その組合わせの標準偏差Ｓ
Ｄと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下
になるまでデータを１個ずつ減らす操作を繰り返した後
にデータを出力する。
また、本発明では、基準となる標準偏差ＳＤ0と変動係
数ＣＶ0及び最大繰返し回数Ｎを設定しておき、同一試
料のｎ回の繰返し測定により得られたデータの標準偏差
ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以
下の場合にはそのときのデータを出力し、標準偏差ＳＤ
と変動係数ＣＶのいずれもが設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越え
る場合には１回の追加測定を行ない、全データのうちの
ｎ個のデータの組合わせで標準偏差ＳＤが最小になる組
合わせを求め、この組合わせの標準偏差ＳＤと変動係数
ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下になるまで順
次繰り返す操作を繰返し回数がＮ未満の範囲で繰り返し
て標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ
0，ＣＶ0以下になったときのデータを出力し、繰返し回
数がＮに達したときはそのときのデータを出力する。
数ＣＶ0及び最大繰返し回数Ｎを設定しておき、同一試
料のｎ回の繰返し測定により得られたデータの標準偏差
ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以
下の場合にはそのときのデータを出力し、標準偏差ＳＤ
と変動係数ＣＶのいずれもが設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越え
る場合には１回の追加測定を行ない、全データのうちの
ｎ個のデータの組合わせで標準偏差ＳＤが最小になる組
合わせを求め、この組合わせの標準偏差ＳＤと変動係数
ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下になるまで順
次繰り返す操作を繰返し回数がＮ未満の範囲で繰り返し
て標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定値ＳＤ
0，ＣＶ0以下になったときのデータを出力し、繰返し回
数がＮに達したときはそのときのデータを出力する。
最大繰返し回数Ｎは水質分析計で求められる繰返し精度
と処理の能率とを考慮して設定する。最大繰返し回数Ｎ
を設定せずに標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが
設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下になるまで繰り返すことにすれ
ば、いつかは設定値ＳＤ0，ＣＶ0を満たすデータの組合
わせが得られるが、一試料当りの測定時間が長くなって
水質分析計の処理能力が低下してしまう。最大繰返し回
数Ｎを設定するのは、このように処理能力の低下を抑え
るためである。繰返し回数がＮに達したときは標準偏差
ＳＤと変動係数ＣＶのいずれもが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以
下になっていないことが起こるが、それでも平均値など
を一応出力し、必要があればその出力データに設定値を
満たしていないことを表示したり、その試料の再分析を
行なうなどの処置を採ればよい。
と処理の能率とを考慮して設定する。最大繰返し回数Ｎ
を設定せずに標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが
設定値ＳＤ0，ＣＶ0以下になるまで繰り返すことにすれ
ば、いつかは設定値ＳＤ0，ＣＶ0を満たすデータの組合
わせが得られるが、一試料当りの測定時間が長くなって
水質分析計の処理能力が低下してしまう。最大繰返し回
数Ｎを設定するのは、このように処理能力の低下を抑え
るためである。繰返し回数がＮに達したときは標準偏差
ＳＤと変動係数ＣＶのいずれもが設定値ＳＤ0，ＣＶ0以
下になっていないことが起こるが、それでも平均値など
を一応出力し、必要があればその出力データに設定値を
満たしていないことを表示したり、その試料の再分析を
行なうなどの処置を採ればよい。
（作用） 標準偏差ＳＤ0と変動係数ＣＶ0が適当に設定されている
とき、設定レンジ値に近い測定値に対しては主として変
動係数ＣＶで判断され、低い濃度の試料の測定値に対し
ては主として標準偏差ＳＤで判断されることになる。
とき、設定レンジ値に近い測定値に対しては主として変
動係数ＣＶで判断され、低い濃度の試料の測定値に対し
ては主として標準偏差ＳＤで判断されることになる。
（実施例） 第１図に水質分析計の一例としてＴＯＣ（有機体炭素）
計を示す。
計を示す。
２はＴＣ（全炭素）燃焼管であり、酸化触媒が充填さ
れ、ＴＣ炉４によって６８０℃に加熱されている。ＴＣ
燃焼管２では試料中の全ての炭素（有機体炭素と無機体
炭素）が燃焼又は分解して二酸化炭素になる。ＴＣ燃焼
管２にはＴＣスライド式試料注入口６が設けられてい
る。８は高純度空気を収容しているボンベであり、ボン
ベ８からの高純度空気はガス流量制御部１０によって一
定流量に制御されて加湿器で加湿されてキャリアガスと
して試料注入口６からＴＣ燃焼管２に供給される。キャ
リアガスの流量は例えば１５０ｍ／分である。試料注
入器１４はＴＣスライド式試料注入口６と後で述べるＩ
Ｃスライド式試料注入口１６のいずれかに切り替えて試
料を注入する。
れ、ＴＣ炉４によって６８０℃に加熱されている。ＴＣ
燃焼管２では試料中の全ての炭素（有機体炭素と無機体
炭素）が燃焼又は分解して二酸化炭素になる。ＴＣ燃焼
管２にはＴＣスライド式試料注入口６が設けられてい
る。８は高純度空気を収容しているボンベであり、ボン
ベ８からの高純度空気はガス流量制御部１０によって一
定流量に制御されて加湿器で加湿されてキャリアガスと
して試料注入口６からＴＣ燃焼管２に供給される。キャ
リアガスの流量は例えば１５０ｍ／分である。試料注
入器１４はＴＣスライド式試料注入口６と後で述べるＩ
Ｃスライド式試料注入口１６のいずれかに切り替えて試
料を注入する。
１６はＩＣ（無機体炭素）スライド式試料注入口、１８
はＩＣ反応器である。ＩＣ反応器１８では水中にＩＣ反
応剤が分散又は溶解し、この中をキャリアガスが小さな
気泡となって通過しており、試料が注入されると試料中
の無機体炭素のみが二酸化炭素に変換される。
はＩＣ反応器である。ＩＣ反応器１８では水中にＩＣ反
応剤が分散又は溶解し、この中をキャリアガスが小さな
気泡となって通過しており、試料が注入されると試料中
の無機体炭素のみが二酸化炭素に変換される。
２０は除湿・ガス処理部であり、例えば電子式クーラを
備えており、燃焼生成物を含むキャリアガスはここで冷
却されて除湿される。２２は非分散型赤外線式ガス分析
部（ＫＤＩＲ）であり、二酸化炭素を検出する。２４は
データ処理部であり、ガス分析部２２の検出信号（アナ
ログ信号）はピーク形状になるので、そのピーク面積を
測定する。２５はキーボード、２６はディスプレー、２
８はプリンタであり、これらはデータ処理部２４に接続
されている。
備えており、燃焼生成物を含むキャリアガスはここで冷
却されて除湿される。２２は非分散型赤外線式ガス分析
部（ＫＤＩＲ）であり、二酸化炭素を検出する。２４は
データ処理部であり、ガス分析部２２の検出信号（アナ
ログ信号）はピーク形状になるので、そのピーク面積を
測定する。２５はキーボード、２６はディスプレー、２
８はプリンタであり、これらはデータ処理部２４に接続
されている。
第１図のＴＯＣ計において、高純度空気はキャリアガス
としてＴＣ燃焼管２を通ってＩＣ反応管１８を通過して
いる。全炭素ＴＣを測定するときは、試料１が試料注入
器１４からＴＣスライド式試料注入口６を経てＴＣ燃焼
管２に注入される。試料中の全炭素ＴＣはＴＣ燃焼管２
ですべて二酸化炭素になってキャリアガスとともに除湿
・ガス処理部２０に送られ、除湿された後にＫＤＩＲ２
２の試料セルに至り二酸化炭素が検出される。
としてＴＣ燃焼管２を通ってＩＣ反応管１８を通過して
いる。全炭素ＴＣを測定するときは、試料１が試料注入
器１４からＴＣスライド式試料注入口６を経てＴＣ燃焼
管２に注入される。試料中の全炭素ＴＣはＴＣ燃焼管２
ですべて二酸化炭素になってキャリアガスとともに除湿
・ガス処理部２０に送られ、除湿された後にＫＤＩＲ２
２の試料セルに至り二酸化炭素が検出される。
次に試料注入器１４が無機体炭素ＩＣ側に切り替えら
れ、ＩＣスライド式試料注入器１６を経てＩＣ反応器１
８に試料が注入される。ＩＣ反応器１８では無機体炭素
のみが二酸化炭素に変化されて除湿・ガス処理部２０を
経てＮＤＩＲ２２で検出される。
れ、ＩＣスライド式試料注入器１６を経てＩＣ反応器１
８に試料が注入される。ＩＣ反応器１８では無機体炭素
のみが二酸化炭素に変化されて除湿・ガス処理部２０を
経てＮＤＩＲ２２で検出される。
ＮＤＩＲ２２の検出信号のピーク面積は二酸化炭素の濃
度に比例するため、標準液により炭素濃度とピーク面積
の関係式（検量線式）を予め求めておけば、炭素濃度を
測定することができる。
度に比例するため、標準液により炭素濃度とピーク面積
の関係式（検量線式）を予め求めておけば、炭素濃度を
測定することができる。
このようにして、求められた全炭素濃度ＴＣから無機体
炭素ＩＣの濃度を差し引きすることにより、有機体炭素
ＴＯＣの濃度を求めることができる。
炭素ＩＣの濃度を差し引きすることにより、有機体炭素
ＴＯＣの濃度を求めることができる。
このＴＯＣ計において、試料１２は繰り返しＴＣ燃焼管
２とＩＣ反応管１８に注入され、測定が行なわれる。
２とＩＣ反応管１８に注入され、測定が行なわれる。
第２図は繰り返し測定された有機体炭素濃度の測定デー
タから繰返し精度を判断して平均値を出力する第１の実
施例の手順を示したものである。
タから繰返し精度を判断して平均値を出力する第１の実
施例の手順を示したものである。
まず、必要とする繰返し精度に相当する標準偏差ＳＤ0
と変動係数ＣＶ0を設置する（ステップＳ１）。
と変動係数ＣＶ0を設置する（ステップＳ１）。
その後、ＴＯＣ計によって予定の繰返し回数ｎ回だけ測
定が行なわれ（ステップＳ２）、標準偏差ＳＤと変動係
数ＣＶが計算される。計算されたＳＤ，ＣＶがそれぞれ
の設定値ＳＤ0と，ＣＶ0と比較され（ステップＳ４）、
そのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0内であれば平均値が
出力される（ステップＳ５）。
定が行なわれ（ステップＳ２）、標準偏差ＳＤと変動係
数ＣＶが計算される。計算されたＳＤ，ＣＶがそれぞれ
の設定値ＳＤ0と，ＣＶ0と比較され（ステップＳ４）、
そのいずれかが設定値ＳＤ0，ＣＶ0内であれば平均値が
出力される（ステップＳ５）。
一方、ステップＳ４において標準偏差ＳＤと変動係数Ｃ
Ｖのいずれもがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越える
場合は、ｎ個の測定データから１個の測定データを除い
た残りのｎ−１個の測定データの組合わせのうち、標準
偏差ＳＤが最小となる組合わせが選ばれる（ステップＳ
６）。そのｎ−１個のデータについての変動係数ＣＶも
さらに計算され（ステップＳ７）、標準偏差ＳＤと変動
係数ＣＶがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0と比較される
（ステップＳ４）。その結果、なお標準偏差ＳＤと変動
係数ＣＶがともに設定値ＳＤ0，ＣＶ0を超えている場合
には、さらにデータを１個削除した組合わせについて最
小の標準偏差ＳＤとなるものが選ばれ、同様にして標準
偏差ＳＤと変動係数ＣＶをそれぞれの設定値ＳＤ0，Ｃ
Ｖ0と比較する操作が繰り返えされる。このようにし
て、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定範囲
内になるまでデータが減らされていく。
Ｖのいずれもがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0を越える
場合は、ｎ個の測定データから１個の測定データを除い
た残りのｎ−１個の測定データの組合わせのうち、標準
偏差ＳＤが最小となる組合わせが選ばれる（ステップＳ
６）。そのｎ−１個のデータについての変動係数ＣＶも
さらに計算され（ステップＳ７）、標準偏差ＳＤと変動
係数ＣＶがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0と比較される
（ステップＳ４）。その結果、なお標準偏差ＳＤと変動
係数ＣＶがともに設定値ＳＤ0，ＣＶ0を超えている場合
には、さらにデータを１個削除した組合わせについて最
小の標準偏差ＳＤとなるものが選ばれ、同様にして標準
偏差ＳＤと変動係数ＣＶをそれぞれの設定値ＳＤ0，Ｃ
Ｖ0と比較する操作が繰り返えされる。このようにし
て、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが設定範囲
内になるまでデータが減らされていく。
第３図は他の手順を表わしたものである。
設定する測定条件としては、標準偏差ＳＤ0と変動係数
ＣＶ0の他に、最大繰返し回数Ｎも含める（ステップＳ
１１，Ｓ１２）。最大繰返し回数Ｎの設定値は予定の繰
返し回数ｎより大きくする。両者の差（Ｎ−ｎ）が追加
測定の最大回数となる。
ＣＶ0の他に、最大繰返し回数Ｎも含める（ステップＳ
１１，Ｓ１２）。最大繰返し回数Ｎの設定値は予定の繰
返し回数ｎより大きくする。両者の差（Ｎ−ｎ）が追加
測定の最大回数となる。
その後、ＴＯＣ計ではｎ回の測定が行なわれ、標準偏差
ＳＤと変動係数ＣＶが計算される（ステップＳ１３，Ｓ
１４）。計算された標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのうち
いずれかが設定値内であれば（ステップＳ１５）、その
ときのデータの平均値が出力される（ステップＳ１
６）。
ＳＤと変動係数ＣＶが計算される（ステップＳ１３，Ｓ
１４）。計算された標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのうち
いずれかが設定値内であれば（ステップＳ１５）、その
ときのデータの平均値が出力される（ステップＳ１
６）。
しかしながら、ステップＳ１５において、標準偏差ＳＤ
と変動係数ＣＶのいずれもがそれぞれの設置値ＳＤ0，
ＣＶ0を越えている場合は、１回追加測定され（ステッ
プＳ１８）、ｎ＋１個の測定データのうちからｎ個の測
定データの組合わせの標準偏差ＳＤが計算され、最小の
標準偏差ＳＤとなる組合わせが選ばれる（ステップＳ１
９）。そのｎ個の測定データの組合わせについて標準偏
差ＣＶも計算され（ステップＳ２０）、再び、それぞれ
の設定値ＳＤ0とＣＶ0と比較される（ステップＳ１
５）。もし、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが
設定値内に入ればそのときの平均値が出力される（ステ
ップＳ１６）。しかし、なお標準偏差ＳＤと変動係数Ｃ
Ｖがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0を超えておれば、再
び追加測定が行なわれ、標準偏差ＳＤが最小となるｎ個
の組合わせについて標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶが判断
される。
と変動係数ＣＶのいずれもがそれぞれの設置値ＳＤ0，
ＣＶ0を越えている場合は、１回追加測定され（ステッ
プＳ１８）、ｎ＋１個の測定データのうちからｎ個の測
定データの組合わせの標準偏差ＳＤが計算され、最小の
標準偏差ＳＤとなる組合わせが選ばれる（ステップＳ１
９）。そのｎ個の測定データの組合わせについて標準偏
差ＣＶも計算され（ステップＳ２０）、再び、それぞれ
の設定値ＳＤ0とＣＶ0と比較される（ステップＳ１
５）。もし、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶのいずれかが
設定値内に入ればそのときの平均値が出力される（ステ
ップＳ１６）。しかし、なお標準偏差ＳＤと変動係数Ｃ
Ｖがそれぞれの設定値ＳＤ0，ＣＶ0を超えておれば、再
び追加測定が行なわれ、標準偏差ＳＤが最小となるｎ個
の組合わせについて標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶが判断
される。
この追加測定の繰返しは測定回数が設定された最大繰返
し回数Ｎを越えない範囲で行なわれ、測定回数がＮにな
ったときはそれ以上の追加測定を行なわず、そのときの
ｎ＋１個の測定データのうちで標準偏差ＳＤが最小とな
っているｎ個の測定データの組合わせの平均値が出力さ
れる（ステップＳ１７，Ｓ１６）。
し回数Ｎを越えない範囲で行なわれ、測定回数がＮにな
ったときはそれ以上の追加測定を行なわず、そのときの
ｎ＋１個の測定データのうちで標準偏差ＳＤが最小とな
っているｎ個の測定データの組合わせの平均値が出力さ
れる（ステップＳ１７，Ｓ１６）。
（発明の効果） 本発明では水質分析計で繰返し測定を行なった結果に対
し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶを組み合わせて繰返し
精度を判断するようにしたので、測定レンジの上限近く
から下限近くまでの広い範囲で異常値（飛び離れた測定
値）の削除の処理を合理的に行なうことができる。
し、標準偏差ＳＤと変動係数ＣＶを組み合わせて繰返し
精度を判断するようにしたので、測定レンジの上限近く
から下限近くまでの広い範囲で異常値（飛び離れた測定
値）の削除の処理を合理的に行なうことができる。
標準偏差又は変動係数が予め設定した値を満たすまで追
加測定を繰り返す本発明の方法では、最大繰返し回数を
定めておくようにしたので、予定の繰返し精度に達しな
いデータが出力されることがあるが、その場合は再分析
などの方法を採ることにして、水質分析計の処理能力の
低下を抑えることができる。
加測定を繰り返す本発明の方法では、最大繰返し回数を
定めておくようにしたので、予定の繰返し精度に達しな
いデータが出力されることがあるが、その場合は再分析
などの方法を採ることにして、水質分析計の処理能力の
低下を抑えることができる。
第１図は本発明が適用される一例としてのＴＯＣ計を示
す構成図、第２図及び第３図はそれぞれ実施例の処理手
順を示すフローチャート図である。
す構成図、第２図及び第３図はそれぞれ実施例の処理手
順を示すフローチャート図である。
フロントページの続き (72)発明者 角 心吾 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (72)発明者 松久 浩明 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内
Claims (2)
- 【請求項１】同一試料の繰返し測定を行なう水質分析計
において、基準となる標準偏差と変動係数を設定してお
き、同一試料の繰返し測定により得られたデータの標準
偏差と変動係数のいずれかが前記設定値以下の場合には
そのときのデータを出力し、標準偏差と変動係数のいず
れもが前記設定値を越える場合には１個のデータを除い
た残りのデータの標準偏差が最小になる組合わせを求
め、この組合わせの標準偏差と変動係数のいずれかが前
記設定値以下であればそのときのデータを出力し、標準
偏差と変動係数のいずれもがなお前記設定値を越えてい
る場合はさらに１個のデータを除いて残りのデータの標
準偏差が最小になる組合わせを求め、その組合わせの標
準偏差と変動係数のいずれかが前記設定値以下になるま
でデータを１個ずつ減らす操作を繰り返した後にデータ
を出力するデータ処理方法。 - 【請求項２】同一試料の繰返し測定を行なう水質分析計
において、基準となる標準偏差と変動係数及び最大繰返
し回数Ｎを設定しておき、同一試料のｎ回の繰返し測定
により得られたデータの標準偏差と変動係数のいずれか
が前記設定値以下の場合にはそのときのデータを出力
し、標準偏差と変動係数のいずれもが前記設定値を越え
る場合には１回の追加測定を行ない、全データのうちの
ｎ個のデータの組合わせで標準偏差が最小になる組合わ
せを求め、この組合わせの標準偏差と変動係数のいずれ
かが前記設定値以下になるまで順次繰り返す操作を繰返
し回数がＮ未満の範囲で繰り返して標準偏差と変動係数
のいずれかが前記設定値以下になったときのデータを出
力し、繰返し回数がＮに達したときはそのときのデータ
を出力するデータ処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16504889A JPH0664049B2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 水質分析計のデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16504889A JPH0664049B2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 水質分析計のデータ処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0328762A JPH0328762A (ja) | 1991-02-06 |
| JPH0664049B2 true JPH0664049B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=15804846
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16504889A Expired - Lifetime JPH0664049B2 (ja) | 1989-06-26 | 1989-06-26 | 水質分析計のデータ処理方法 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JPH0664049B2 (ja) |
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-
1989
- 1989-06-26 JP JP16504889A patent/JPH0664049B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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