JPH0654594B2 - 磁気デイスク検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は磁気ディスク本体とセンタハブとが接着剤によ
り接着されてなる磁気ディスクの検査方法に関し、詳し
くは、前記接着剤の塗布状態の良否を判断する検査方法
に関するものである。

（従来の技術） 従来より、例えば3.5インチマイクロフロッピィディス
クにおけるハードケース内に収納された磁気ディスクの
様に、表面に磁性体層を有し、高速回転されながら磁気
ヘッドにより上記磁性体層において磁気記録読取がなさ
れるフレキシブルな円盤状の磁気ディスク本体と該本体
の中央部に設けられたセンタハブとから成る磁気ディス
クが普及している。

このような磁気ディスクの一例を第６図に示す。図示の
磁気ディスク１は、いわゆるハット状の金属製センタハ
ブ２と磁気ディスク本体３とからなり、磁気ディスク本
体３の中央円孔3aにセンタハブのハット部2aが嵌合さ
れ、フランジ部2bと磁気ディスク本体の内周縁部3bとが
透明接着剤により接着されて成るものである。このセン
タハブ２は磁気ディスク１を磁気記録読取装置（以下、
ドライバという）に装着した際に該ディスク１を所定の
位置に位置決めし、チャッキングし、かつ回転駆動する
ためのものであり、ハット部の頂面は磁気チャック面2c
で、ドライバに磁気ディスク１が装着された際、ドライ
バの吸着マグネットに磁気チャックされる。

磁気ディスク本体３とセンタハブ２の接着は、第６図に
示すようにセンタハブ２のフランジ部2bのハット部突出
側の面にリング状に均一に透明接着剤４を塗布して行な
われる。しかるに、もし第７Ａ図に示すように透明接着
剤塗布部分に気泡4aが混入したり、第７Ｂ図に示すよう
に透明接着剤塗布部分にとぎれ4bが生じたりすると、磁
気ディスク本体３の貼付状態が不均一となって該磁気デ
ィスク本体３の平面性が損なわれ、ドライバ装着後回転
駆動するとうねり（波）が発生し、ヘッドの当りが不均
一となり記録時に記録信号の乱れや誤記録等が生じやす
く、再生時にも、再生が不正確となる等の不都合が生ず
る。

このためセンタハブ２への透明接着剤４の塗布状態を検
査し、良好な塗布状態を常に確保する必要がある。

このような検査技術としては、第８Ａ図に示すように、
光源５から赤色（又は赤外、レーザ）光６を接着剤４の
塗布部分に照射し、その反射光７を位置センサ８で受光
し、その受光位置の差異により未塗布部分を感知する方
法が知られている。

この方法においては、光源から出射された光６がフラン
ジ部2bに塗布された透明接着剤４に照射されると、第８
Ｂ図に実線で示すように透明接着剤４の表面で反射され
反射光７となり位置センサ８の一定位置に受光される
が、前述した気泡4aや透明接着剤のとぎれ4bの部分に照
射されると、第８Ｂ図に破線で示すようにフランジ部2b
からの反射光７′となり、反射光７と異なる位置で受光
される。このため位置センサ８の反射光受光位置に差異
が生ずる。上記光６の照射をフランジ部2bの全周に行
い、位置センサ８で受光位置を感知することにより透明
接着剤４の未塗布部分を検出するというものである。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、このような従来の検査方法においては、接着剤
４が透明であるので光６が接着剤表面で反射せず透過さ
れてしまうことが多く、このため本来ならば第８Ｂ図に
示す反射光７のように透明接着剤４の表面で反射するは
ずの光が透明接着剤４内を通過して、フランジ部2bの表
面にあたって反射し反射光７′となることが多い。この
ためＳ／Ｎが非常に悪く誤検出が多くなり、透明接着剤
４の未塗布部分の正確な検査が困難であった。

本発明の目的は、上記問題点に鑑み、検査におけるＳ／
Ｎを良化し、透明接着剤の未塗布部分を安定的に検出し
得る磁気ディスク検査方法を提供することにある。

（問題点を解決するための手段） 本発明は前述したような問題点を解決するために、磁気
ディスク本体とセンタハブとを接着するために塗布され
た透明接着剤の塗布状態を検査する磁気ディスク検査方
法において、前記塗布された透明接着剤に紫外光を含む
光線を照射し、その反射光に含まれる前記紫外光を受光
し受光された紫外光の強度に基づいて前記接着剤の塗布
状態を検査することを特徴とする。

（作用） 磁気ディスクにおいて一般的に多く使用されている透明
接着剤、例えばポリウレタン系、酢酸ビニール系、ポリ
エステル系、シアノアクリレート系等の接着剤は紫外光
を吸収する性質を有する。また、センタハブは紫外光も
全反射する。

（発明の効果） 本発明は、紫外光を含む光線を磁気ディスク本体とセン
タハブとを接着する透明接着剤の塗布された部分に照射
し、この反射光を受光し、その反射光の強度に基づいて
透明接着剤の塗布状態を検査するものである。前記透明
接着剤は紫外光を吸収する性質を有するため該接着剤か
らの反射光の強度は極めて強く、気泡やとぎれ等により
接着剤が塗布されていない部分においてはセンタハブに
あたった紫外光が全反射されるため、反射光の強度が高
くなる。このように透明接着剤の塗布、未塗布によって
反射光の強度が明確に異なるので、検査におけるＳ／Ｎ
が良化し、透明接着剤未塗布部分を安定的に検出するこ
とが可能となる。

（実施例） 以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。

従来の技術の項で第６図以下により説明したように、磁
気ディスク１における磁気ディスク本体３とセンタハブ
２との接着はセンタハブ２ののフランジ部2bに塗布され
た透明接着剤４を介して行なわれる。本発明においては
この透明接着剤４がフランジ部2bの全周に亘って均一に
塗布されたか否かの検査を紫外光を用いて行うものであ
る。

第１図は、本発明に係る磁気ディスクの検査方法の一実
施例を実施するために使用する装置を示す概略図であ
る。

回転テーブル10の上に磁気チャック面2cを上にして設置
されたセンタハブ２のフランジ部2bの上面に塗布された
透明接着剤４に対して、紫外光光源11に接続された光フ
ァイバ12の先端から紫外光６を照射する。前記回転テー
ブル10を一定方向に360度回転させることにより、フラ
ンジ部2b上の透明接着剤４の全長にわたって紫外光６が
照射され、塗布、未塗布の検出が行なわれる。すなわち
透明接着剤４に照射された紫外光６はその殆んどが透明
接着剤４に吸収されるので紫外光を感知する受光器13に
よって検出される反射光量は極めて少ないが、気泡4a等
による透明接着剤未塗布部分に照射された紫外光６はフ
ランジ部2bにあたって反射され、強度の高い反射光とな
って受光器13に受光される。したがって、上記受光器13
が受光した反射光の光量を監視し、該光量が一定のレベ
ルで設定されたＴＨレベル（閾値）より大きくなった部
分を透明接着剤未塗布部分として検出することができ
る。横軸にフランジ部2bの円周上の位置、縦軸に紫外光
受光器の出力レベルをとったグラフを第２図に示す。こ
のグラフに示すように所定のＴＨレベルより反射光の強
度が高くなったときにはその高くなった部分が透明接着
剤の塗布されていない部分ということである。

第３図に本発明の他の実施例を示す。この実施例におい
ては、紫外光６を光源20から出射させ、磁気チャック面
2cを上にして設置されたセンタハブ２に照射する。前述
したようにフランジ部に塗布されている透明接着剤４は
紫外光６を吸収するため透明接着剤４の塗布されていな
い部分のみ光が反射され、その反射光が紫外光透過フィ
ルタ21と紫外光に感度を有するＣＣＤ受光素子内蔵カメ
ラ22とから成る受光器23によって受光される。このカメ
ラ22のＣＣＤ受光素子により光電変換された画像信号を
画像処理部24に入力せしめて閾値処理を施し、さらにこ
の処理結果に所定の演算処理を施して接着剤塗布状態の
良否を判断するものである。接着剤塗布状態が良好のと
きはＯＫ信号出力端子25からＯＫ信号が出力され、上記
状態が不良のときはＮＧ信号出力端子26からＮＧ信号が
出力される。なお、画像処理部24から、閾値処理の結果
に対応する信号がモニタ27に送出され、視覚的にも接着
剤塗布状態が識別し得るようになっている。また、上記
画像処理部24は、第４図に示すように、画像入力信号に
ついて該入力信号の強度を基準値と遂次比較して２値化
処理を行なう閾値処理部28と、この閾値処理部28により
接着剤塗布部分であると判別された領域の面積、連結性
解析等を高速で演算し、この演算結果に基づいて塗布状
態の良否を判断し、その判断に応じてＯＫ信号あるいは
ＮＧ信号を出力する画像演算部29と、この画像演算部29
をコントロールするＣＰＵ30からなっている。

本発明に用いられる透明接着剤としては一般にポリウレ
タン系接着剤、または酢酸ビニール系接着剤、ポリエス
テル系接着剤、シアノアクリレート系接着剤等があげら
れる。これらの接着剤は、第５図に示す様に波長が約40
0ｎｍから約750ｎｍの可視光に対する透過率は極めて高
く、波長が約400ｎｍより小さい紫外光に対する透過率
は極めて小さく該紫外光を十分に吸収するものである。
従って、上記透明接着剤の塗布未塗布の検出を反射紫外
光の強度に基づいて正確に行うことができる。

なお、紫外光光源としてキセノンのストロボスコープ等
を使用すれば一般に短寿命とされている紫外光光源の長
寿命化を図ることができる。

上記本発明においては、紫外光光源として例えば上記紫
外光を主として出射する光源（光源）、上記紫外光と
それ以外の光とを出射する光源（光源）および光源
であって前面に紫外光透過フィルタを備えたもの（光源
）を使用することができ、また受光器として例えば紫
外光に主として感度を有する受光器（受光器）、紫外
光とそれ以外の光にまで感度を有する受光器（受光器
）および受光器であって前面に紫外光透過フィルタ
を備えたもの（受光器）を使用することができる。た
だし、それらは次の様な組合せで使用する必要がある。

光源と受光器、もしくは 光源と受光器もしくは 光源と受光器、もしくは

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る磁気ディスクの検査方法を実施す
るために用いる装置の一実施例を示す概略図、 第２図は、第１図に示す検査方法の実施例において感知
された反射光の光量の一例を示すグラフ、 第３図は、本発明に係る磁気ディスクの検査方法を実施
するために用いる装置の他の実施例を示す概略図、 第４図は、第３図に示す装置の一部を詳細に示すブロッ
ク図、 第５図は本発明において使用する透明接着剤の光透過率
を示すグラフ、 第６図は一般的な磁気ディスクの構成を示す斜視図、 第７Ａ図および第７Ｂ図は、センタハブの接着剤塗布状
態の良否を示す図、 第８Ａ図および第８Ｂ図は従来の磁気ディスクの検査方
法を示す略図である。 １…磁気ディスク ２…センタハブ ３…磁気ディスク本体 ４…透明接着剤 ６…紫外光 ７…反射光

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気ディスク本体とセンタハブとを接着す
   るためにセンタハブに塗布された透明接着剤の塗布状態
   を検査する磁気ディスク検査方法において、 前記塗布された透明接着剤に紫外光を含む光線を照射
   し、その反射光に含まれる前記紫外光を受光し、受光さ
   れた紫外光の強度に基づいて、前記接着剤の塗布状態を
   検査することを特徴とする磁気ディスク検査方法。