JPH0652252A - ハングアップ回路検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体集積回路の設計検証において、ループ
回路部分がリセット機能をもっているかどうかの判断を
容易にし、判定する時間の短縮および判断ミスの削減を
する。 【構成】 回路内の全ノードに対し設計者の意図するす
べての動作を検証できる入力波形を与え、ステップ２に
よってロジックシミュレーションを行い、このうち、ル
ープを形成する回路ブロックの関するシミュレーション
結果のみをステップ３により選択する。そして、そのロ
ジックシミュレーション結果がシミュレーション時間の
最後まで固定されている時間をステップ４により検出
し、固定されている時間の長い順にループ回路をステッ
プ５で出力表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ロジック回路の設計に
おけるハングアップ回路の検出方法に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、半導体などのロジック回路の大規
模化が急速に進み、それに伴いロジックの回路がかなり
複雑になっており、回路設計の段階での設計検証が重要
になってきている。この設計検証方法の１つにリセット
機能をもたないループを形成する回路ブロックいわゆる
ハングアップ回路の検出がある。

【０００３】以下に従来のハングアップ回路検出方法に
ついて説明する。図２は、従来のハングアップ回路検出
方法のフローチャートを示す。図２において、２１は回
路内のループ回路を検出するステップ、２２はループ内
のリセット機能の有無を判断するステップ、２３はステ
ップ２２の判断結果のエラー出力をするステップ、２４
は回路内の全ノードをチェックしたかどうかを判断する
ステップである。

【０００４】まず、ステップ２１よって設計した回路中
でループになっている部分をサーチする。このステップ
２１でサーチしたループ回路部分がもしある値に固定さ
れてしまった場合、その状態を解除するリセット機能を
もっているかどうかをステップ２２によって判断する。
ステップ２２の判断でリセット機能をもっていないと判
断した場合、ステップ２３でそのループ部分をエラー出
力する。次に、ステップ２１のループ回路の検出処理を
回路中の全ノードについて行ったかをステップ２４によ
って判断する。ステップ２４でまだ未チェックのノード
があると判断した場合は、ステップ２１からの処理を繰
り返す。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、ループ回路部分がリセット機能をもって
いるかどうかの判断を人が目で確認しているので、回路
内の全ループを判定するにはかなりの時間を要し、また
判断ミスする可能性が高いという問題を有している。

【０００６】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、ハングアップ回路である可能性の高いと思われるル
ープ回路から順にリストアップすることにより、ループ
回路部分がリセット機能をもっているかどうかの判断を
容易にし、判断時間を短縮し判断ミスを削減するハング
アップ回路の検出方法を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のハングアップ回路検出方法は、ループ回路を
検出する工程と、ロジックシミュレーションを実行する
工程と、前記ロジックシミュレーションの実行結果のう
ち前記ループ回路検出で検出したループ回路部分のロジ
ックシミュレーション結果を出力する工程と、前記出力
したロジックシミュレーション結果がシミュレーション
の最後まで固定されている時間を検出する工程と、前記
検出結果の固定されている時間が長い順にループ回路を
出力表示する工程から構成されている。

【０００８】

【作用】この構成によって、、ハングアップ回路である
可能性の高いと思われるループ回路をリストアップする
ことができ、ループ回路部分がリセット機能をもってい
るかどうかの判断を容易にし、判断する時間の短縮およ
び判断ミスの削減をすることができる。

【０００９】

【実施例】以下本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。図１は本発明の一実施例におけるハン
グアップ回路検出方法のフローチャートを示す図であ
る。図１において、１は回路内のループ回路部分を検出
するステップ、２はロジックシミュレーションを実行す
るステップ、３はステップ２によって得られたロジック
シミュレーションの結果のうちステップ１によって検出
されたループ回路部分のみのロジックシミュレーション
結果の出力をするステップ、４はステップ３の出力結果
のシミュレーションの最後まで固定されている時間を検
出するステップ、５はステップ４の検出結果の固定され
ている時間の長い順から出力表示するステップ、６はス
テップ５によって出力されたループ回路にリセット機能
があるかどうかを検証するステップ、７はステップ６に
よる検証結果のエラー出力をするステップ、８はステッ
プ５で出力表示されたループ回路のうちリセット機能の
検証が必要であると思われるすべてのループ回路につい
て検証を行ったかどうかをチェックするステップであ
る。

【００１０】このように構成された本実施例のハングア
ップ回路検出方法について以下にその動作を説明する。
まず、ステップ１によってループ回路になっている部分
の検出を検証しようとする回路全体について行う。次
に、ステップ２によって回路全体のロジックシミュレー
ションを行う。このロジックシミュレーション時、回路
中の全ノードに対しあらゆる状況の動作検証を行えるよ
うな入力波形を与える必要がある。次に、ステップ２に
よって実行したロジックシミュレーションの結果のうち
ステップ１で検出したループ回路中のノードについての
シミュレーション結果のみをステップ３によって出力す
る。そして、ステップ４でステップ３によって出力され
たループ中の各ノードのロジックシミュレーションの実
行結果がシミュレーションの最後まで固定されている時
間を検出する。ステップ４によって検出された固定され
ているシミュレーション時間の長い順にステップ５によ
ってそのループ回路および固定されているシミュレーシ
ョン時間を出力表示する。このステップ５によって固定
されているシミュレーション時間の長い順、つまり、ハ
ングアップ回路である可能性の高い順にループ回路が出
力表示されるので、ステップ６によるループ回路がリセ
ット機能をもっているかどうかの判断が行いやすくな
る。その後は従来例と同様で、ステップ６の判断でリセ
ット機能をもっていないと判断した場合、ステップ７で
そのループ部分をエラー出力する。次に、ステップ５で
出力表示されたループ回路のうちリセット機能の検証が
必要であると思われるすべてのループ回路について検証
を行ったかをステップ８によって判断する。このステッ
プ８でまだ未チェックのループ回路があると判断した場
合は、ステップ６からの処理を繰り返す。

【００１１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、ループ回
路を検出する工程と、ロジックシミュレーションを実行
する工程と、前記ロジックシミュレーションの実行結果
のうち前記ループ回路検出で検出したループ回路部分の
ロジックシミュレーション結果を出力する工程と、前記
出力したロジックシミュレーション結果がシミュレーシ
ョンの最後まで固定されている時間を検出する工程と、
前記検出結果の固定されている時間が長い順にループ回
路を出力表示する工程を備えたことにより、ハングアッ
プ回路である可能性の高いと思われるループ回路をリス
トアップすることができ、ループ回路部分がリセット機
能をもっているかどうかの判断を容易にし、判断する時
間の短縮および判断ミスの削減を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のハングアップ回路検出方法
のフローチャート

【図２】従来のハングアップ回路検証方法のフローチャ
ート

【符号の説明】

１ 回路内のループ回路部分の検出ステップ ２ ロジックシミュレーションの実行ステップ ３ ループ回路部分のロジックシミュレーション結果の
出力ステップ ４ シミュレーションの最後まで固定されている時間の
検出ステップ ５ シミュレーション結果の固定されている時間の長い
順の出力表示ステップ ６ ループ回路にリセット機能があるかどうかの検証ス
テップ ７ 検証結果のエラー出力ステップ ８ リセット機能の検証が必要であると思われるすべて
のループ回路について検証を行ったかどうかのチェック
ステップ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ループを形成する回路ブロック（以下、
   ループ回路と略す）を検出する工程と、ロジックシミュ
   レーションを実行する工程と、前記ロジックシミュレー
   ションの実行結果のうち前記ループ回路検出で検出した
   ループ回路部分のロジックシミュレーション結果を出力
   する工程と、前記出力したロジックシミュレーション結
   果がシミュレーションの最後まで固定されている時間を
   検出する工程と、前記検出結果の固定されている時間が
   長い順にループ回路を出力表示する工程を備えたハング
   アップ回路検出方法。