JPH05128200A - 論理合成方法及び装置 - Google Patents

論理合成方法及び装置

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JPH05128200A
JPH05128200A JP3288139A JP28813991A JPH05128200A JP H05128200 A JPH05128200 A JP H05128200A JP 3288139 A JP3288139 A JP 3288139A JP 28813991 A JP28813991 A JP 28813991A JP H05128200 A JPH05128200 A JP H05128200A
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JP
Japan
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hazard
circuit
logic
sum
logic circuit
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JP3288139A
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English (en)
Inventor
Hitomi Satou
妃登美 佐藤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、論理合成方法及び装置に関し、ハザ
ード発生を防止したASIC論理回路を自動生成するこ
とを目的とする。 【構成】1入力のみ論理値が反転しても、論理上、出力
が論理値‘1’で変化しない該積和型論理回路を検出し
(1、2)、該1入力のみの論理値反転により負パルス
のハザードが該積和型論理回路から発生したと仮定した
ときに、予め指定された回路まで該ハザードが伝播する
かどうかを検証し(3)、予め指定された回路まで該ハ
ザードが伝播する場合には、ハザード防止回路を生成し
て該積和型論理回路に付加する(4、5)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ハードウエア記述言語
で記述されたASIC論理回路仕様の入力に基づいて、
ゲートレベルの構造記述を出力する論理合成方法及び装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来では、人手で設計した論理回路に対
しては、詳細ディレイを取り扱う論理シミュレーション
によってハザード発生箇所を検出し、ハザードが発生し
ないように人手で論理回路を修正していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年の半導体
集積回路の高集積化及び大規模化に伴い、論理合成装置
で自動生成されたゲートレベルの論理回路は、人には判
読が容易でないため、人手によるハザード防止処理は困
難である。
【0004】本発明の目的は、このような問題点に鑑
み、ハザード発生を防止した論理回路を自動生成するこ
とができる論理合成方法及び装置を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段及びその作用】本発明に係
る論理合成方法を、実施例図中の対応する構成要素の符
号を引用して説明する。
【0006】この論理合成方法は、例えば図1及び図5
に示す如く、(20〜24)ハードウエア記述言語で記
述されたASIC論理回路仕様の入力に基づいて、該論
理回路を積和型論理回路で表し、セル構成に依存しない
論理最適化を行った後に、(1、2)1入力のみ2値が
変化したときに負パルスのハザードが発生する可能性の
ある積和型論理回路を検出し、(3)該1入力のみの2
値の変化により負パルスのハザードが該積和型論理回路
から発生したと仮定したときに、予め指定された回路ま
で該ハザードが伝播するかどうかを検証し、(4、5)
予め指定された回路まで該ハザードが伝播する場合に
は、ハザード防止回路を生成して該積和型論理回路に付
加し、(26〜30)該ハザード防止回路を除去しない
で、セル構成に依存した論理最適化を行い、論理ゲート
にセルを割り付け、ゲートレベルの構造記述を出力す
る。
【0007】本発明に係る論理合成装置は上記方法を実
施するためのものであり、コンピュータを用いて構成さ
れ、ハードウエア記述言語で記述されたASIC論理回
路仕様の入力に基づいて、ゲートレベルの構造記述を出
力する。この論理合成装置は、1入力のみ2値が変化し
たときに負パルスのハザードが発生する可能性のある積
和型論理回路を検出する手段と、該1入力のみの2値の
変化により負パルスのハザードが該積和型論理回路から
発生したと仮定したときに、予め指定された回路まで該
ハザードが伝播するかどうかを検証する手段と、予め指
定された回路まで該ハザードが伝播する場合には、ハザ
ード防止回路を生成して該積和型論理回路に付加する手
段と、該ハザード防止回路を除去しないで、セル構成に
依存した論理最適化を行い、論理ゲートにセルを割り付
け、ゲートレベルの構造記述を出力する手段とを有す
る。
【0008】上記構成において、1入力のみ2値が変化
したときに負パルスのハザードが発生する可能性のある
積和型論理回路とは、オンキューブ間の距離が1となる
オンキューブを有する積和型論理回路である。ただし、
距離が1となるオンキューブについて要素間距離が1と
なる要素が、他のオンキューブでd(dはドントケア
で、0又は1のいずれであってもよいことを意味する)
となるものがあり、かつ、要素がdとなるこのオンキュ
ーブと相互間距離1のオンキューブの各々との間の距離
がいずれも0となる積和型論理回路は、ハザードが発生
する可能性がない。予め指定された回路とは、フリップ
フロップやスリーステート型バッファゲート等であり、
ハザードにより誤動作や短絡が生ずる回路であって、例
えば論理合成プログラム内で予め指定されている。ま
た、負パルスのハザードが指定回路まで伝播するかどう
かの検証は、論理回路の故障診断の分野において確立さ
れている公知のDアルゴリズムを採用することができ
る。ハザード防止回路は、相互間距離が1となるオンキ
ューブの要素間距離が1となる要素がdで、かつ、該相
互間距離1のオンキューブの各々との間の距離がいずれ
も0となるオンキューブで表される論理積であり、この
論理積の出力を論理和に供給すればよい。
【0009】ハザード発生の検出は一般には複雑である
が、ハザード発生の虞が最も強いのは、2段の積和型論
理回路において、正確ではないが簡単に表現すれば、1
入力のみ2値が変化しても、論理演算上、出力が論理値
‘1’で変化しない場合である。本発明はこの点に着目
して案出されたものであり、本発明によれば、負パルス
のハザード発生の大部分が防止される。また、ハザード
発生の虞があっても指定回路まで伝播しない場合には、
積和型論理回路にハザード防止回路を付加しないので、
不必要に論理回路が冗長になるのを防止することができ
る。
【0010】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
【0011】図6は、論理合成装置のハードウエア構成
を示す。この装置はコンピュータ10で構成され、ゲー
トアレイ方式やスタンダードセル方式のASIC論理回
路に対する仕様を記述したハードウエア記述ソースファ
イル11をコンピュータ10に入力すると、コンピュー
タ10は、以下の手順でネットリスト等のゲートレベル
構造記述ファイル12を生成し出力する。
【0012】図5は、この手順の概略を示す。以下、括
弧内の数値は図中のステップ識別番号を表す。ステップ
25、及び、ステップ26での例外処理以外は、公知技
術である。
【0013】(20)ハードウエア記述ソースファイル
11を読み込む。このソースは、機能レベル又は動作レ
ベルで、目的とするASIC論理回路の設計仕様を記述
したものである。
【0014】(21)読み込んだソースファイルをコン
パイルした後、設計対象の論理回路を2段の積和型、す
なわち複数の論理積の和の形で表す。
【0015】(22)設計対象の論理回路は、通常、順
序論理回路であり、フリップフロップの状態を回路の内
部状態に割り当て、状態を遷移させるための制御マトリ
ックスを生成し、組合せ論理回路とフリップフロップと
で順序論理回路を合成する。
【0016】(23)積和型の2段論理を最適化して構
成を簡単化する。
【0017】(24)論理式を括弧で括って多段化し、
さらに、多段論理を最適化する。
【0018】(25)本発明の特徴部分であるハザード
防止回路付加処理を、後述の如く行う。
【0019】(26)使用するセルのハードウエア構成
に依存した局所論理最適化を行う。但し、ステップ25
での処理に関係した後述の例外処理がある。
【0020】(27)論理ゲートをセルに割り付ける。
【0021】(28)信号伝播遅延時間の最適化処理を
行う。
【0022】(29)デザインルールチェックを行い、
与えられたデザインルールを満たすように修正する。
【0023】(30)以上の処理結果を、ネットリスト
等のゲートレベル構造記述ファイルとして出力する。
【0024】次に、上記ステップ25の詳細を、図1に
基づき、図2〜図4を参照して説明する。
【0025】(1)ハザード発生の虞が最も強いのは、
2段の積和型論理回路において、一般に1入力のみ2値
が変化しても論理演算上出力が論理値‘1’で変化しな
い場合である。そこで、2段の積和型論理回路を順に見
ていき、ハザード発生の恐れがあるこのような積和型論
理回路を検出する。
【0026】例えば、図2に示す如く、積和型論理回路
30の前段に積和型論理回路40、41及び42が接続
され、積和型論理回路30の後段に積和型論理回路50
が接続されている場合を考える。この積和型論理回路3
0は、アンドゲート31、32、インバータ33及びオ
アゲート34を備えている。そして、積和型論理回路4
0の出力A及び積和型論理回路41の出力Xがアンドゲ
ート31に供給され、積和型論理回路41の出力Xをイ
ンバータ33で反転したもの及び積和型論理回路42の
出力Bがアンドゲート32に供給され、アンドゲート3
1及び32の出力がオアゲート34に供給され、オアゲ
ート34の出力Yが積和型論理回路50に供給される。
【0027】Y=‘1’となるのは、 A=‘1’、B=d、X=‘1’、又は、 A=d、B=‘1’、X=‘0’ の場合である。ここに、d(do'nt care)は、‘0’又
は‘1’のいずれかである。換言すれば、積和型論理回
路40のオンキューブ(A,B,X)は、(1,d,
1)及び(d,1,0)である。
【0028】オンキューブ間の距離は、オンキューブの
対応する各要素について、一方が1で他方が0のとき要
素間距離1とし、その他の場合は要素間距離0とし、各
要素間距離を加えた値で定義される。オンキューブ
(1,d,1)と(d,1,0)との間の距離は、1と
dの要素間距離0、dと1の要素間距離0、1と0の要
素間距離1であるから、1である。
【0029】積和型論理回路30は、入力A及びBがA
=‘1’かつB=‘1’のとき、1つの入力Xが反転し
ても出力Yは‘1’のままで変化しない。すなわち、オ
ンキューブ(1,d,1)と(d,1,0)との間の距
離は、1である。このような場合、負パルスのハザード
が発生する可能性が高い。この積和型論理回路30で
は、インバータ33の信号伝播遅延により負パルスのハ
ザードが発生する。
【0030】ただし、上記一般原則には例外があり、図
4に示すような積和型論理回路は除外する。この場合、
オンキューブは(1,d,1)と(d,1,0)と
(1,1,d)であり、距離が1となるオンキューブ
(1,d,1)と(d,1,0)について要素間距離が
1となる要素Xが、他のオンキューブ(1,1,d)で
dとなっており、かつ、このオンキューブ(1,1,
d)と相互間距離1のオンキューブ(1,d,1)及び
(d,1,0)の各々との間の距離がいずれも0であ
る。このような積和型論理回路は、ハザードが発生する
可能性がないので、検出しない。
【0031】(2)前記のようなハザード発生の虞があ
る積和型論理回路30を検出することができなかった場
合には、すなわち全ての積和型論理回路30についてハ
ザード検出処理を終了した場合には、処理を終了する。
ハザード発生の虞がある積和型論理回路30を検出した
場合には、次のステップ3へ進む。
【0032】(3)予め指定した回路までハザードが伝
播するかどうかを検証する。この指定回路は、フリップ
フロップやスリーステート型バッファゲート等であり、
ハザードにより誤動作や短絡が生ずる回路であって、論
理合成プログラム内で予め指定されている。
【0033】例えば図3(A)に示す如く、積和型論理
回路30の出力Yがオアゲート51の一方の入力端に供
給され、出力Yが負パルスのハザードとなったときに、
オアゲート51の他方の入力端に必ず‘1’が供給され
る場合には、ハザードがオアゲート51の出力に現れ
ず、消滅する。負パルスのハザードが指定回路まで伝播
するかどうかの検証は、論理回路の故障診断の分野にお
いて確立されている公知のDアルゴリズムを採用してい
る。
【0034】Dアルゴリズムを用いた簡単な例を説明す
ると、図3(B)に示す如く、指定回路であるフリップ
フロップ52のリセット入力端Rが、負パルスのハザー
ドの伝播で‘0’になったと仮定し、入力側に遡って行
き、この仮定が矛盾しないかどうかを調べる。この場
合、オアゲート51の2つの入力は共に‘0’でなけれ
ばならない。しかし、出力Yがハザードで‘0’となっ
たとき、入力Aは必ず‘1’となり、最初の仮定が矛盾
する。したがって、負パルスのハザードがフリップフロ
ップ52のリセット入力端Rまで伝播しないと判断す
る。
【0035】これに対し、図3(C)に示す如く、出力
Yが負パルスのハザードのときに、オアゲート51に供
給されるCを‘0’にすることができる場合には、ハザ
ード伝播の仮定が矛盾しない。したがって、ハザードが
指定回路まで伝播すると判断する。
【0036】(4)ハザードが指定回路まで伝播しない
と判断した場合には、上記ステップ1へ戻り、伝播する
と判断したした場合には、次のステップ5へ進む。
【0037】(5)ハザードが伝播すると判断された積
和型論理回路30に対し、ハザード防止回路を付加す
る。例えば図2の積和型論理回路30に対し、図4に示
す如く、アンドゲート35を付加して積和型論理回路3
0Aとする。一般に、2段の積和型論理回路30に対す
るハザード防止回路は、インバータ33とアンドゲート
35を用いて構成でき、その出力をオアゲート34に供
給すればよい。換言すれば、ハザード防止回路は、相互
間距離が1となるオンキューブの要素間距離が1となる
要素がdで、かつ、該相互間距離1のオンキューブの各
々との間の距離がいずれも0となるオンキューブで表さ
れる論理積であり、この論理積の出力を論理和に供給す
ればよい。
【0038】このハザード防止回路は、図5のステップ
26において除去されないように、マークしておく。ハ
ザード防止回路を除去しないというのがステップ26で
の上記例外処理である。
【0039】以上のような処理により、負パルスのハザ
ード発生の大部分が防止され、また、ハザード発生の虞
があっても指定回路まで伝播しない場合には、積和型論
理回路にハザード防止回路を付加しないので、不必要に
論理回路が冗長になるのを防止することができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明に係る論理合
成方法及び装置では、ハードウエア記述言語で記述され
たASIC論理回路仕様の入力に基づいて、該論理回路
を積和型論理回路で表し、セル構成に依存しない論理最
適化を行った後に、1入力のみ2値が変化したときに負
パルスのハザードが発生する可能性のある該積和型論理
回路を検出し、該1入力のみの2値の変化により負パル
スのハザードが該積和型論理回路から発生したと仮定し
たときに、予め指定された回路まで該ハザードが伝播す
るかどうかを検証し、予め指定された回路まで該ハザー
ドが伝播する場合には、ハザード防止回路を生成して該
積和型論理回路に付加し、該ハザード防止回路を除去し
ないで、セル構成に依存した論理最適化を行い、論理ゲ
ートにセルを割り付け、ゲートレベルの構造記述を出力
するので、負パルスのハザード発生の大部分が防止さ
れ、また、ハザード発生の虞があっても指定回路まで伝
播しない場合には、積和型論理回路にハザード防止回路
を付加しないので、不必要に論理回路が冗長になるのを
防止することができるという優れた効果を奏し、ASI
C論理回路の開発期間短縮化及び信頼性向上に寄与する
ところが大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の特徴部分であるハザード防止回路付加
手順を示すフローチャートである。
【図2】負パルスのハザードが発生する積和型論理回路
図である。
【図3】負パルスのハザード伝播説明図である。
【図4】ハザード防止回路が付加された積和型論理回路
図である。
【図5】論理合成手順を示すフローチャートである。
【図6】論理合成装置構成図である。
【符号の説明】
30、30A、40〜42、50 積和型論理回路 31、32、35 アンドゲート 34、51 オアゲート 33 インバータ 52 フリップフロップ R リセット入力端

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ハードウエア記述言語で記述されたAS
    IC論理回路仕様の入力に基づいて、該論理回路を積和
    型論理回路で表し、セル構成に依存しない論理最適化を
    行った後に(20〜24)、 1入力のみ2値が変化したときに負パルスのハザードが
    発生する可能性のある積和型論理回路を検出し(1、
    2))、 該1入力のみの2値の変化により負パルスのハザードが
    該積和型論理回路から発生したと仮定したときに、予め
    指定された回路まで該ハザードが伝播するかどうかを検
    証し(3)、 予め指定された回路まで該ハザードが伝播する場合に
    は、ハザード防止回路を生成して該積和型論理回路に付
    加し(4、5)、 該ハザード防止回路を除去しないで、セル構成に依存し
    た論理最適化を行い、論理ゲートにセルを割り付け、ゲ
    ートレベルの構造記述を出力する(26〜30)ことを
    特徴とする論理合成方法。
  2. 【請求項2】 ハードウエア記述言語で記述されたAS
    IC論理回路仕様の入力に基づいて、ゲートレベルの構
    造記述を出力する論理合成装置において、 1入力のみ2値が変化したときに負パルスのハザードが
    発生する可能性のある積和型論理回路を検出する手段
    と、 該1入力のみの2値の変化により負パルスのハザードが
    該積和型論理回路から発生したと仮定したときに、予め
    指定された回路まで該ハザードが伝播するかどうかを検
    証する手段と、 予め指定された回路まで該ハザードが伝播する場合に
    は、ハザード防止回路を生成して該積和型論理回路に付
    加する手段と、 該ハザード防止回路を除去しないで、セル構成に依存し
    た論理最適化を行い、論理ゲートにセルを割り付け、ゲ
    ートレベルの構造記述を出力する手段と、 を有することを特徴とする論理合成装置。
JP3288139A 1991-11-02 1991-11-02 論理合成方法及び装置 Withdrawn JPH05128200A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7617466B2 (en) 2006-05-09 2009-11-10 Nec Corporation Circuit conjunctive normal form generating method, circuit conjunctive normal form generating device, hazard check method and hazard check device
JP2014142743A (ja) * 2013-01-23 2014-08-07 Nec Corp データ処理装置、データ処理システム、データ処理方法、及びデータ処理プログラム

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