JPH06509673A - コイン検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 コイン検査方法及び装置 本発明は、コイン検査方法及び装置に関する。

この明細書において、用語−コイン”は、コイン式機器を動作させようとする際 に用いることができる、本物のコイン、　トークン、贋物のコイン、及び他のあ らゆる物を包含するために用いられる。

コインが、インダクタによって生じた発振磁界に入る通路の中をコインを通して コインと磁界の相互作用の度合いを測定することにより検査にかけられ、その結 果得られる測定量がコインの１つ以上の特性に依存し、受納可能なコインの１つ 以上の金種から得られる測定量に対応する１つの基中値または１組の基準値の各 々と比較されるコイン検査装置は周知である。各検査がそれぞれ異なるコイン特 性に応答する１つ以上のこのような検査を適用し、すべての検査結果がコインの １つの受納可能な金種に適する場合のみ、検査されたコインを受納可能と判断す ることが最も普通である。こういう装置の例は、ＧＢ−＾−２０９３６２０に開 示されている。

検査のうちの少なくとも１つは、主にコインが作られている材料に対して感度が 良いのが普通であり、特に、このような検査は、コイン材料の電気的伝導率によ って、また磁気材料の場合はコイン材料の導磁率によって左右され得る。前記検 査は、コインがインダクタの前面を横切ってしたがってその発振磁界の中を進む ように手配し、コインが、インダクタへの接近によって、インダクタがその一部 を形成する発振器の周波数または振幅に及ぼす影響を測定することによって行な われていた。はとんど、コインがインダクタに対して中心にある時に得られるそ の影響のピーク値が測定されていた。

しかしながら、この形式の測定量は、該測定量が作られる時点の、インダクタの 前面に垂直な方向におけるコインとインダクタ間の距離に対して感度が良い、こ の好ましくない影響には、コインがいつもインダクタから決まった距離をおいて インダクタを横切るべく助長されるように装置の機械的デザインを整えることに よりある程度逆らうことができるが、このことは、完全に達成することはできず 、しかも他の関係において好ましくなくなり得るデザイン特徴を要する。コイン の横方向位置が変わることにより生じる測定量散乱は、コイン受納範囲をより広 く設定することにより胴酌することができ、その結果、受納可能なコインは、た とえインダクタから異なる距離をおいてそれを横切ったとしても、常に検査に合 格するであろうが、これは、逆に、受納できないコインを排除する際の装置の信 頼性に影響を与える。また、コイン通路の各側面にそれぞれ配置した２Ｍのイン ダクタの組み合わせ効果を利用して、少なくともある程度は２個のインダクタ間 のコイン位置の変化の影響を互いに相殺できることは知られているが、これは第 ２のインダクタの用意を含む。

本発明の一つの目的は、コインの材料に応答し、検査インダクタからのコインの 距離に対して比較的感度が悪いコイン検査方法を提供することにある。

本発明は、−態様から、コイン検査装置におけるコイン検査方法であって、装置 に挿入されたコインをインダクタで発生した発振磁界にさらす工程と、コインが 前記磁界内に存在する時のインダクタのりアクタンス及び損失を測定する工程と 、コイン不在時のインダクタのりアクタンス及び損失を表わすコイン不在点に関 する測定量により限定されるコイン存在点の変位を表わす変位線のインピーダン ス平面における方向が、前記インピーダンス平面における基準方向に一致するか どうかを確認する工程とからなる方法を提供する。

Ｆ記に言及されたーインピーダンス平面−は、回路またはインダクタのりアクタ ンス（無効インピーダンス）及び損失（抵抗インピーダンス）が、その平面にあ る２つの互いに垂直な軸に沿った測定量またはベクトルとして表わされる平面で ある。用語“変位線”は図１に関連して後で説明されるであろう。

自走発振器を使用してインダクタンス及び損失測定を行なう実施例が説明される であろう、しかしながら、別の好適な実施例は、位相識別法を使用し、これは、 大きなコンデンサを用いる必要性を回避すると共に測定回路網のすべてのタイミ ング相をマイクロプロセッサのクロックにより決定することができ、そしてこれ は動作を簡単にする。

変位線の方向は実質的にコインの横方向位置と無関係なので１本発明は１個のイ ンダクタのみを用いて実行することができる。これは、必要な電気配線を簡単に し。

コイン通路が本体と開放可能な蓋の間にある典型的なコイン装置では、該蓋に取 り付けられたインダクタに通すフレキシブルな配線を用意する必要性を回避する 。

説明される実施例の一部においては、インピーダンス平面における基準方向かり アクタンス及び損失軸のうちの１つに対する角度として設定されることが明らか になるであろう。

コイル自身のりアクタンス及びコイル自身の損失は、温度と共に変化することが あり、またその結果時間と共に変化することがあり、さらにコイン装置の構造の わずかな変形が起きることもあるので、インピーダンス平面におけるコイン不在 点の位置は一定でないことがある。

こういう訳で、インダクタのりアクタンス及びｍ失は、コインが磁界内にある時 かつない時の両方とも測定される。変位線の方向は、測定量がそれに関して取ら れる２つの点により決定される。詳細には、２つのりアクタンス測定量が引き算 され、２つの損失測定量が引き算され、そして２つの差分の比がとられ、これが 、変位線が軸のうちの１つと共に作る角度のタンジェントを表わ次に、このタン ジェントは、もちろん、デジタル処理及び記憶が実行のために用いられる場合の デジタル形式の数として表わされる、受納可能なコインに関する対応する角度の タンジェントとしても設定かつ記憶することができる。

インピーダンス平面におけるコイン不在点の移動は取るに足らないかもしれない が、または可能な限り、補償技術によってこのような異動が生じないようにする ための工程を行なうことができる可能性がある。このような状況では、角度だけ の基準情報の代わりに、それは、例えば、その方向が基準方向でありかつその位 置が実質的に決まったコイン不在点を介して伸びているような基準変位線を共に 限定する、インピーダンス平面における１組の記憶された座標を構成し得る。次 に、変位線の方向が基準方向に一致するかどうかの確認は、コイン不在点を実際 に測定することを含む必要がない、その点は変化しなかったと仮定でき、その結 果、コイン存在点が基準変位線ヒにあるかどうかをチェックすることにより、２ つの方向の一致またはその逆を簡単に確かめることができる。もしそうなら、フ ィンは基準変位線の方向にコイン不在点の変位を引き起こしたであろう。

本発明の他の形態では、基準方向は、損失またはりアクタンス軸に対する代わり に、インダクタのコイン不在時の全インピーダンスベクトルに対する角度として 設定される。これは、下記に説明されるように、リアクタンス及び損失測定が位 相識別法で行なわれる場合の特定の値からなる０位相識別法の使用は、上述の利 点を有するが、用いられる基準信号が正確に位相を合わせられていないことに起 因する誤差も導き得る。インダクタの全インピーダンスベクトルに対する、コイ ンで生じたインピーダンス平面の変位方向を測定し、基準方向をその全インピー ダンスベクトルに対する角度としても設定することは、このような誤差を減少さ せるかまたは消去する。

位相識別法の使用は、すでに述べた利点を有するが、用いられる基準信号が正確 に位相を合わせられていないことに起因する誤差も導き得る。

他の態様から、位相識別法が変位線の方向を確かめる際に用いられるか否かに関 係なく、変位線の方向が、特定のコインタイプに適するインピーダンス平面にお ける基準方向に一致するかどうかの確認がなされ、さらに、インダクタのりアク タンスのコイン不在値とコイン存在値の差分が、同じ特定のコインタイプに適す る基準値に一致するかどうかが確認される。

この追加の検査は、直径による異なるコインタイプの識別を可能にする。コイン の直径は、インピーダンス平面における変位線の方向が非常に感度が悪くなる性 質がある。

これから説明される好適な実施例では、変位線の方向は信号比から計算される。

比がとられるので、その結果は関連した信号を扱う経路のゲインと無関係になる 。しかしながら、コイン存在時のりアクタンスとコイン不在時のりアクタンスの 差分を受納基準として用いることも望まれる場合は、経路のゲインは重要になる 。

測定量が位相識別法を用いてとられるか否かに無関係に用いることができる、本 発明の他の特徴は、コインがその磁界内にない時のインダクタのリアクタンスの 予定変化を時々シミュレートすることに呵って、前記リアクタンス間の差分によ るシステムゲインの変化の影響を補償する工程と、前記りアクタンスに依存し、 前記システムゲインの影響を受けた信号において結果的に生じる変化を検出する 工程と、検出された変化を基準値と比較する工程と、前記比較の結果から得られ た補償係数を前記リアクタンス依存信号に適用して、その信号を基準値と実質的 に一致するように調整する工程と、前記変化がシミュレートされる次回まで前記 補償係数の適用を維持する工程とからなる。

さらに他の態様から、本発明は、コイン検査装置におけるフィン検査方法であっ て、装置に挿入されたコインをインダクタにより生じた発振磁界にさらす工程と 、コインが磁界内にある時のインダクタのりアクタンス及び損失を測定する工程 と、コイン不在時のインダクタのりアクタンス及び損失を表わすコイン不在点に 対する測定量で限定されたコイン存在点の変位を表わす、変位線のインピーダン ス平面における方向が、インピーダンス平面における基準方向に一致するかどう かを確認する工程とからなり、インダクタで生じた発振磁界の周波数が、コイン 材料に関するその表皮深度がコインの厚さより大きくなるほど十分に低く、それ により前記変位線の方向が検査されるコインの厚さによって影響を受ける、コイ ン検査方法を提供する。

また、このような方法は、リアクタンス及び損失測定量が位相識別法によりとら れるか否かのいずれにせよ用いることができる。

本発明の他の態様は、上記に言及したような本発明による方法を実行するための コイン検査装置である。

本発明をもっと明確に理解できるようにするために、次に、それの実施例を例と して以下の付随の概略図を参明して説明する。

図１は、図２に示されるコイン検査装置のインダクタに関するインピーダンス平 面を表わす。

図２は１位相識別法を用いてＸ及びＲ信号を発生する回路を概略的に示す。

図３は、図２の回路の動作を説明する際に役立つ他のインピーダンス平面線図で ある。

図４は、コインがインダクタを横切るにつれて、Ｘ及びＲが時間と共にどのよう に変化するかを示す。

図５は、コインがインダクタを横切るにつれて、角度θが時間と共にどのように 変化するかを示す。

図６は、本発明によってさらに発展したコイン検査方法を説明する際に役立つ他 のインピーダンス平面線図である。

図７は１図２の回路と同じであるが追加の特徴を含む回路の重要な部分を示す。

図８は、図７の回路の機能を理解する際に役立つ他のインピーダンス平面線図で ある。

図９は、図７の回路内に印加されるオフセットの影響を理解する際に役立つ他の インピーダンス平面線図である。

図１Ｏは、測定量が同じ材料だが異なる厚さからなる複数の検査円盤に関してと られる場合に、インピーダンス平面で測定される角度θが、厚さ及び周波数に対 してどのように変化するかを示すグラフである。

図１１は、Ｘ及びＲ信号が駆動されるコイルの代わりに自走発振器を用いて展開 される、本発明を用いる他のコイン検査装置を概略的に示す。

図１２は１図１１の同調回路における周波数と位相と有効抵抗の間の関係を示す 。

図１において、垂直軸は、コイルの近くにあり得るどんなコインによっても影響 を受けるような、図２に示される装置のコイル１０４のようなインダクタのイン ピーダンスの虚成分すなわちリアクタンスＸを表わす、水平軸は、またコイルの 近くにあり得るどんなコインによっても影響を受けるような、インピーダンスの 実成分すなわちその抵抗つまり損失Ｒを表わす。

Ｘ及びＲが、コインがコイルの近くにない時に測定される場合は、その結果生じ る値はコイルのみの特性であり、インピーダンス平面（図１が表わす平面）にお いて点ａを限定するであろう。

次に、コインがコイルの近くに運ばれた場合は、コイルの有効リアクタンス及び 有効損失は両方とも変化するであろう、すなわち５　ｘ及びＲがコイルプラスコ インに関して測定された場合は、その結果生じる値はインピーダンス平面におけ る異なる点すを限定するであろう。

コインが、コイルに対するその中心位置において、コイルの前面へ垂直に行った り来たりした場合、点すは実質的にまっすぐな線ａ−ｂに沿って動く。

その結果、同じコインが同じ装置の中を数回通過し、その都度、Ｘ及びＲ＠が、 コインがコイルに対して中心にあるがその都度コイルから異なる距離にある時に 測定される場合、その結果生じるＸ及びＲ測定量はインピーダンス平面において ３つの点す、ｃ及びｄを限定する。

これらの点に関するｘｍはすべて異なり、その結果Ｒ値も異なっているが、これ らの値の各組は同じ線ａ　−ｂ　Ｊ−。

にある点を限定するであろう。

時間が経過するうちに、回路構成要素の老化、濃度変化の影響、または装置の物 理的形状の変形により、線ａ−ｂの位置は、インピーダンス平面において例えば 平行な（ｉ’Ｚｉｔａ’　−ｂ′　に移動することがあるが、その勾配すなわち 角度Ｏは、同じタイプのコインに関して同じままとなる。換言すれば、インピー ダンス平面におけるコイン／コイル組み合わせを表わす点がコイルのみの点に対 して移動した線（ここでは−変位線−と呼ばれる）の方向は、コインのタイプを 示し、実質的にコインの横方向４０置と無関係になる。

したがって、特定のコイン検査装置における特定の受納可能なタイプのコインの 特性である、θに関する基準値を設定することができ、次に、未知−のコインに 関する値が同じ装置において測定される場合は、θの測定値と基準値の比較は、 θに影響を及ぼすコイン材料特性が関係する限り、未知のコインの受納性の標識 を与えるであろう、この標識は、各コインがコイルを横切った距離と無関係であ り、かつ受納可能なコインタイプに関する角度θの変化を引き起こさない時間変 化要因とも無関係である。

コインが高導磁率の磁気材料を含む場合は、損失は、ヒステリシス損失という追 加的要因によって増加し、リアクタンスは減る代わりに増加し得る。なぜなら、 コインはある程度コイルのためのコアとして作用するだろうからである。このよ うな場合には、角度θは図１に示される角度と反対向きになるであろう、これは 、磁気的なコインと非磁気的なコインの識別に用いることができる。

測定されたＸ及びＲ値が個々に基準と比較される先行技術に優る一Ｆ記方法には 、さらに別の利点がある。基準は、通常、規定値ではないが、ある範囲を限定す る上限及び下限である。異なる測定値が各基準範囲と比較される場合、コインは 、各測定値がその各基準範囲内のどこかにある場合に受納されるであろう０例え ば、測定量が上記に説明したよりなＸ及びＲ測定量であった場合は、たとえその Ｘ及びＲ測定量が両方とも各範囲の限界にあるとしても、すなわち、この測定量 の組み合わせが、実際−ト受納されるべきでないものであるコインの結果であり そうでも、コインは受納されるであろう、この方法では、Ｘ測定量がＸに関する 個々の基準範囲の限界にあるだろうコインは、そのＲ測定量がＲに関する基準範 囲の中心から一方方向に変位されたが他方の方向には変位されなかった場合にの み受納されるだろう、後者は、Ｘ及びＲ測定量のこの特定の組み合わせが、コイ ンがたとえ先行技術を用いて受納されたとしても排除されるべきであることを示 唆していることを示す。

これから説明されるであろう装置では、Ｘ及びＲの値は、コインが存在しない時 に、次に、コインがコイルの近くにある時に測定され、両Ｘ値が引き算されかつ 両Ｒ値が引き算され、その結果図１に示される△Ｘ及び八Ｒを生じる。これらの 値は、コインがコイルの有効リアクタンス及び有効損失をどれだけ変化させたか を示し、次に、△Ｘ／△Ｒがとられる。すなわち、これは未知のコインに関する タンジェントθである。受納性は、これを、受納可能なコインに関するΔＸ及び ΔＲの測定値の比に相当するタンジェントθの基準値と比較することにより検査 される。

次に、図２の装置を詳細に説明する。コイル１０４の近くのｌＯに点線で示され るコインを位置決めするための手段が提供される。この手段は、それに沿ってコ インが縁を接してコイルを通過するコイン通路１２として概略的に示される。移 動するコインを誘導的検査コイルの近くを通過させるための実際的な配置は、例 えば６Ｂ−＾−２０９３６２０に示されている。コイン１ｏがコイル１０４を通 過するにつれて、コイルの全有効損失が増加して、コインがコイルに対して中心 にある時ピークに達し、次に休止レベルまで減少する。全有効リアクタンスは負 のピークまで減少し、次いでその休止レベルまで戻ってくる０本実施例では、装 置は前記ピーク値を利用する。

図２の回路は、コイルインピーダンスの実成分（Ｒ）及び虚成分（Ｘ）を分離す るために位相識別法を用いる０回路、デジタル周波数発生器１００で構成される 信号源を含み、その出力はフィルタ１０２でろ波され、フィルタ１０２の出力は 定電流源１０３を制御し、定電流源１０３の出力はコイン検知コイル１０４を駆 動する。したがって、構成要素１００．１０２、１０３はコイルに対して定電流 源のように見える０発生器１００の出力は、正弦波に近いがデジタル的に発生し 、それは高温液を含むが、フィルタ１０２の機能はそれらをろ渡して取り除くこ とである。

コイル１０４の両端の信号は、同様に発生器１００か５２つの基準信号が入力さ れる位相感度検出器１０６に印加される。一方の基準信号は信号線１０８上にあ り、理想的には、位相感度検出器がその出力の１つにＸを表わす信号を発生する ことができるようにコイル１０４の両端電圧と同相になっている。他の信号線１ １０上には、位相感度検出器がそれのもう１つの出力にコイルのＲを示す信号を 発生することができるように最初の基準信号に対して９０°になっていると共に コイル電流と同相になっている基準信号が印加される０位相感度検出器に印加さ れる電圧信号とそれから出力される電圧信号は、ピークコイル電流が時間に対し て一定になっている間だけＸ及びＲの基準として信頼することができるにすぎな いことに注目すべきである。

Ｒ及びＸ信号は各フィルタ１１２及び１１４でろ波され、その結果生じる信号は マイクロプロセッサ１１Ｂに印加され、マイクロプロセッサ１１６は信号のさら に必要な処理を実行すると共にコイン検査に要する他の機能も実行するようにプ ログラムされている。さらに、マイクロプロセッサ１１６は、信号線１０８及び １１０上に基準信号を交互に発生するように信号発生器ｌＯＯを制御し、また、 基準信号のスイッチングと同期してＲ及びＸ出力経路間で位相感度検出器１０６ の出力も切り換え図３を参照すると、ベクトル１１８は、コインが存在しない時 のコイル１０４の全インピーダンスを表わし、したがってその端部は図１の点ａ に相当する０通過するコインがコイルの中心にある時、ベクトル１１８は変位線 １２０に沿って移動し、ベクトル１１８′になる。ベクトル１１８′の端部は図 １の点す、ｃまたはｄに相当する。マイクロプロセッサ１１６は、位相感度検出 器１０６からそれらの両ベクトルのＸ及びＲ成分を表わす信号が人力され、した がって、ΔＸと△Ｒと、前に言及したようなタンジェントθであるそれらの比△ Ｘ／ΔＲとを計算することができる。

角度θはｘ値開の差分及びＲ値開の差分から計算されるので、Ｘ及びＲを表わす 信号に対して回路内に不注意に印加されるどんなオフセットも誤差を引き起こさ ない、なぜなら、それらは差分値を影響を受けない状態にするからである。

インダクタは１Ｍのコイルとして示されているが、他の形態、例えばコイン通路 を横切って対向し、並列または直列の順接続あるいは逆接続状態に接続された１ 対のコイルを備えても良い。

図４は、　１個のコインに関して、コインがコイルを横切るにつれて、Ｘ及びＲ （両方ともオームで測定される）が時間と共にどのように変化するかを示す、△ Ｘと△Ｒもまた示されている。Ｘは、コイン通過の中間部分の間比較的滑らかで 平らな負のピークに達するのに対して、Ｒは、そのピークの中心部分において比 較的滑らかな高原部と、該高原部の各端部にさらに重ねられた小さなピークとを 持っていることを見ることができる。なあ、これらの小さなピークは、コインの 縁がコイルの中心を通過する時のエツジ効果によって引き起こされるものである 。

コインがコイルを横切るにつれて、インピーダンス平面におけるＸ及びＲｆＩ４ で限定される点の位置は、図５においてかぎ状曲線で示される。

その平面において、コインがすなわち時間ｔ１において到達するに先立って、Ｘ −Ｒ座標点は図５のかぎの最−Ｆ部にあり、これは図１の点ａに相当する。コイ ンが到達し、時間ｔ３においてコインに対して中心にある時、Ｘ−Ｒ測定量で限 定される点はかぎの先端に移動した。

これは図１の点すに相当する。Ｒ測定量の主ピークの始めにおける小さな付加さ れたピークの存在は、　フィンが中心位置の方へ移動するにつれて、前記点に図 ５のかぎのみ（らんだ部分を描かせる。コインが中心位置から移動してコイルか ら離れるにつれて、前記点はｔ、からｔ４乃至ｔ５までかぎを回って戻る。

コイン不在点から、移動するコインの現在のＸ−Ｒ７１ｌ定量で限定される点ま でのベクトル１２０は、かぎの先端に達するまで伸びて回転し、それから逆移動 を行なうことがわかるであろう。

このことから、コイン通過の間中中じる△Ｘ及び△Ｒの可変値を記憶し、対応す るΔＸ／ΔＲ（すなわちタンジェントθ）の時間変化値を計算し、次にタンジェ ントθの計算値の最大値を検出し、この最大値を受納可能なコインに関するタン ジェントθの基準値と比較することにより、計算を行なうことができることがわ かるであるう。

説明したように、コインを早く連続的に検査することができるように、移動中の コインに関する測定量をとることが好ましいが、損失及びリアクタンスを、静止 しているコインにより測定することも可能である。

図２のようにコイルを駆動する利点は、自走発振器を用いる方法と比較した場合 、大きなコンデンサが必要ないことと、検知回路網における全信号をマイクロプ ロセッサのクロック周波数に同期させることができ、これは相当な簡単化になる ことである。しかしながら、　（位相識別軸を限定する）信号線１０８及び１１ ０を介する基準信号の位相が、　（真のＲ及びＸ軸を限定する）コイル１０４の 電流の位相に不正確に関連するかまたは関連するようになる場合は、図２の位相 識別法を、理想的に望まれるものよりは少し正確でない程度にすることができる 可能性がある。

これらの位相の相対的な精密度が、デジタル発生器１００の分解能で制限され、 かつアナログフィルタ１０２自身が、コイル１０４に加えられる信号に温度によ り変化し得る未ｉＩ認の位相遅延を導入するので、これは可能である９位相誤差 の影響は、図３の全インピーダンスベクトル１１８及び１１８′の成分が、真の りアクタンス及び損失軸に対して回転される識別軸ｘｄ　及びＲｄに対して測定 されるだろうということである。したがって、計算値△ｘｄは望ましい真の値Δ Ｘより大きくなり、また計算値△Ｒｄは望ましい真の値ΔＲより小さくなる。そ れらの比△Ｘ、＋　／△Ｒｄ　は、見られるように、測定するつもりであった角 度θより大きい角度θｄのタンジェントになる。それを他の方法に委ねるために 、角度θは測定されるものであるが、位相識別軸の角度誤差によって決まる大き さの誤差を伴って測定されるものとなる。

これを消去する一方法を、図６に示されるインピーダンス平面線図を参照して説 明する。これは、理解を容易にするために、角度的に変位した識別軸ｘ６及びＲ ｄが実線で示され、また真のＸ及びＲ軸が点線で示されることを除き、図３に一 致する。注目すべき重要な点は、識別軸における誤差は、コインがない時の全イ ンピーダンスベクトル１１８と、コインがある時の全インピーダンスベクトル１ １８′と、ベクトル１１８の終点に対するベクトル１１８′の終点の変位を表わ す変位線１２０とで形成される三角形の形状を変λないということである。その 形状とその結果Ｃで示される内角は、２つの全インピーダンスベクトル１１８及 び１１８′の長さと方向によってのみ決定され、これらはどんな位相誤差とも無 関係である。

識別軸Ｘｄ及びＲｄに対してとられる測定量は次のように角度Ｃを引き出すため に用いることができる。角度Ｃは図６に示されるような角度Ａ及びＢの和に等し いことに注目すべきである９図６は、Ｒｄ／Ｘｄが角度Ｂのタンジェントであり その結果角度Ｂはそれらの測定値から計算することができることを示でいる。ま た、角度Ａのタンジェントは△Ｒ，＋／ΔＸｄであり、その結果角度Ａはそれら の差分値から計算することができる。したがって、説明したように（つ相識別法 における未知の位相誤差による誤差を導入し得る真のＲ及びＸ軸に対するその方 向を測定しようとする代わりに、それに対して変位線１２０の方向が測定される 軸としてベクトル１１８を用いることによって、検査コイルに対するコインの横 方向位置と、位相識別法に用いられる回路網中に存在するかも知れない位相誤差 の両方に無関係なコイン検査基準が達せられる。

与λられる角度Ａ及びＢは、両タンジェントの積が１（実際によくあるケースだ ろう）より非常に小さくなる程度のものであり、その結果角度Ｃのタンジェント は単純に△Ｒ，／△Ｘ」プラスＲｄ／Ｘ、になることが示され得る。したがって 、これらの状況では、処理は、角度Ａ及びＢのタンジェントの和によって変位線 １２０の方向を測定することにより簡単になる。

一般に、ここに言及された角度が十分に小さい場合には、それらはそれらのタン ジェントにより容認できる正確さの度合いに相当し得、これらの状況では用語” タンジェント”と“角度“はそれぞれ他方を含むべく用いられるだろうというこ とを理解すべきである。

図７では、定電流源はトランジスタ１０３及び関連構成要素の形をとっている９ 図２と比較した場合の追加の構成要素は、　１３０で一般的に示される校正兼オ フセット回路と１位相感度検出器１０６のための増幅に先立って、コイル１０４ の下端から取り出されるＸ及びＲ信号を増幅するための前置増幅器１３２と、第 ２のオフセット回路１３４と、フィルタ１１２及び１１４の出力をマイクロプロ セッサ１１６で取り扱うためのデジタル形式に変換するためのデジタル−アナロ グ変換器１３６である。１個のフィルタすなわち積分器１１２／１１４が図７に 示されており、これは図２において別々に示された２つの回路１１２及び１１４ と同等のものである。実際には、アナログ−デジタル変換器１３６を実際に組み 込むマイクロプロセッサを用いるのが好ましいだろう。

この段階ではＸ及びＲ信号は単純にコイル電圧信号のそれぞれ同相成分と９０度 位相が異なる成分であるので、コイル１０４からの出力信号は前置増幅器１３２ で常に増幅されるものであることがわかるだろう、したがって、前置増幅器１３ ２はＸ及びＲ信号の両方のための共通経路として役立っている０位相感度検出器 １０６は、その出力から、信号線１０８に（コイル電圧に対して）同相の基準信 号が印加されている時にＸ信号を発生し、信号線１１０に９０度位相の異なる基 準信号が印加されている時にＲ信号を発生することにより、Ｘ信号とＲ信号を分 離する。その結果、位相感度検出器１０６からマイクロプロセッサ１１６までの 回路構成要素は、Ｘ及びＲ信号のための共通経路として役立っているが、いつ何 時もそれらのうちの一方または他方のみを取り扱っている。

図７の回路網の第１の重要な機能は、真のＸ及びＲ軸に対する位相識別軸の角度 変位で生じる問題を取り扱う他の方法、すなわち、変位線１２０と全インピーダ ンスベクトル１１８の間の角度Ｃが誤差の影響を受けた角度θｄに代わって計算 された図３及び６に関して前に説明した方法に代わる方法を提供することにある 。

第１の工程は、以下に説明される方法で位相誤差角度θ＃（図３ｔ！照）を測定 することである。θ、は望まし。

い角度θと誤った角度θ６の差であることが図３かられかる。θ。がわかれば、 ２つの工程のどちらかまたは両方を採用することができる。第一に、マイクロプ ロセッサ１１６は、両信号線１０８及び１１０Ｆの基準信号の（位相がθ、をゼ ロに減少させる方向にシフトするようにデジタル発生器１００を調整することが できる。これは普通はできないであろう、なぜなら、発生器１００はデジタルな ので、その出力の位相はステップ的に調整することができるだけであり、そのた め普通は、調整で消去することができないθ。の残留値があるからである。しか しながら、θ、は測定されるものなので、残留値がわかり、それを誤った測定角 度θｄから引いて真の値θを得ることができる。調整により角度θ。の値をでき る限り減少させることが望ましいのはもちろんである。なぜなら、これは、上述 のように、角度とそのタンジェントが等しいという、簡単にするための仮定をよ り正確にするからである８次に、θやを測定する方法を図７を参照して説明する 。

その原理は、校正兼オフセット回路１３０の動作により、その磁界中にコインが ない時のコイル１０４のリアクタンスの変化をシミュレートすることである０位 相誤差角度θ、がＯで、コイルインピーダンスベクトル１１８のＸ成分がそのＲ 成分を変化させることなく変化した場合、位相感度検出器１０６の出力から読取 られるかまたは測定されるようなＲ成分のどんな変化も存在しないだろうという ことが、図３の検討かられかる。しかしながら、位相誤差角度θ、が０ではなく 、そのため図３に右いて軸Ｒｄが軸Ｒと一致しない場合は、軸Ｒｄに沿って測定 されるようなＲ値の変化が存在するだろう。

このことは図８を参照してもつと良く理解することができる０図８は、シミュレ ートされた変化δｘｄが全インピーダンスベクトル１１８のＸ成分に付加されて それをベクトル１１８′に変えた場合、真のＲ軸に沿って測定されるそのＲ成分 の変化はない様子を示している。しかしながら、位相識別軸Ｘｄ及びＲｄが前の ように角度θまたけ誤っている時は、軸Ｒｄ、ｈで測定した場合、測定したＲ値 に変化δＲｄ　があることがわかる、また、δＲ，Ｉ／δｘ４は角度θやのタン ジェントであることも図８から容易にわかる。

図７の校正兼オフセット回路１３０は、コイルインピーダンスのＸ成分の変化を シミュレートして、このシミュレーションがコイルのＲ成分に影−響を及ぼさな いことを確かめ、次いで、位相感度検出器１０６の出力から測定されるようなＲ の変化とＸ測定量の変化の間の関係は、誤差角度θ、を計算する根拠として用い られる。

校正兼オフセット回路１３０の通常動作形態は、トランジスタＴ２がオフ、トラ ンジスタＴｌがオンになっている０次に、コイル１０４を流れる電流は、一方で 直列抵抗Ｒｂ及びＲｃと他方で並列抵抗Ｒａに分かれる。これらはすべて精密抵 抗である９図７の回路に右いて、それは、コイル損失Ｒの基準として取られるも のである。

コイル１０４を流れる電流と同相の、コイル１０４の両端のあの電圧成分である ことを思い出す必要がある。これは、コイル電流の大きさが一定である間だけの 本当の表現にすぎない、それは、コイルリアクタンスＸの基準としてとられるも のである、コイル電流と９０°位相がずれている、コイル１０４の両端電圧成分 の値である。

実際、この後者の電圧は、抵抗Ｒｂ及びＲｃ間にタップ接続してコイル電流と同 相の電圧を得て、そのタップ接続で分圧された電圧の位相をコンデンサＣｉによ り９０゜だけ変え、その結果中じた位相シフトされた電圧を前置増幅器１３２の 入力に印加することにより、後で説明する理由のためそれに加えられるオフセッ トを持つ、このオフセット電圧は、コイル１０４の両端電圧の虚成分すなわちリ アクタンス関連成分と位相が１８００ずれているので、その影響は、前記増幅器 １３２の入力においてコイルリアクタンスＸに相当する電圧成分に固定オフセッ トを加えるにすぎない、このオフセット電圧はＡ。

Ｃ９であり、本質的に、前置増幅器１３２への入力電圧の損失関連成分に影響を 及ぼさないように位相調整される。

位相誤差を測定するために、　トランジスタＴ２はオンにされ、抵抗Ｒｃと並列 に精密抵抗Ｒｄを挿入し、それによりコンデンサＣ１を介して供給されているタ ップ分圧電圧を減少させる。この電圧減少は、前記増幅器１３２の入力において 、コイル１０４のリアクタンスＸ、すなわち図８のδＸｄ、の減少をシミュレー トする。しかしながら、それが行なわれただけなら、コイル１０４と直列の全抵 抗が減少したので、コイル電流が増加するだろう、これを補償してコイル電流を 一定に保つために、トランジスタＴｌをオフにすることによって抵抗Ｒａが切り 離される。抵抗Ｒａの値はコイル電流を一定に保つように選択されているので、 Ｘの変化のシミュレーションは、本質的に、コイル損失Ｒも同様にシミュレート することがないように整えられ、すなわち、Ｒを表わすためにコイル１０４の両 端電圧を９０°位相をずらすために要する条件が保たれる０次に、前置増幅器１ ３２からの信号出力からマイクロプロセッサ１１６で測定されるＲの変化があっ た場合は、その変化は、Ｒ及びＸ軸に対して変位されている位相識別軸という結 果になり、図８のδＲｄになる。

計算されたθ１または少なくとも△Ｒａ／ΔＸｄとしてのタンジェントθ、を持 つ、その結果生じた角度が、デジタル発生器１００に加えることができる最小の 調整より大きい場合は、マイクロプロセッサ１１６は、デジタル発生１１ｉ１１ ００に位相識別誤差を減少させる程度までその調整をすることを命令する。測定 された誤差角度が最小調整ステップより小さくなるような時には、マイクロプロ セッサ１１６は、それを測定値θｄと加算してコイン検査に望ましい角度θを得 る。θ、を正または負にし、その結果加算が測定値θｄを増加または減少のどち らかにすることができることがわかるであろう。

θ、のト配計算ともし必要ならその調整は、例えば３秒毎の間隔で、しかしコイ ンがコイルの所にない時だけ、マイクロプロセッサ１１６の制御の下に自動的に 行なわれる。各々の時以後、トランジスタＴ１及びＴ２は、Ｔ２がオフ、Ｔ１が オンの通常動作状態に戻る。

その代わり、回路網は、Ｘのどんな変化もシミュレートすることなく、また、△ Ｒａの測定値及びその結果生じるあらゆる△Ｘｄの測定値からθ、またはタンジ ェントθ、を計算することなく、Ｒの変化をシミュレートするように適応させる ことができる。

校正兼オフセット回路１３０の第２の機能はすでに簡単に述べたが、次に説明す る。それは、Ｃｉを介した前置増幅器１３２の入力における、コイル１０４の両 端電圧のＸ成分に対して１８０°逆位相のオフセット電圧の増幅である。このこ との理由は、実際には、ＸはＲより非常に大きい、典型的には約３０倍大きいこ とにある。

さらに、コインで生じた変化△Ｘ及び△Ｒは、典型的にＸ及びＨのコイン不在値 の２０％の範囲内にあり得る。

Ｘ及びＲ信号は共に、前置増幅器１３２及び位相感度検出器１０６の共通鮮路で 処理されなければならず、しかも一方の信号は他方の信号の大きさの約３０倍の ため、非常に劣る信号雑音比が得られ、ΔＲ１１１！定量のどんな意味ある抽出 も不可能にする可能性がある。コンデンサＣｉを介してＸ信号に加えられるオフ セットが実在し、その結果、それは、前置増幅器１３２の入力におけるＸ信号を Ｒ信号と大きさを匹敵させる。したがって、非常に改善された使用は演算増幅器 １３２のダイナミックレンジでなされ、信号雑音比を受け入れ可能にすることが できる。

オフセット電圧の正確な値はそれが一定である限り重要ではないことに注目すべ きである。なぜならオフセット電圧は、コイン存在時のＸ＠とコイン不在時のＸ 値の両方に加えられ、そのため角度θまたはそのタンジェントを計算する際に用 いられる差分△Ｘのどんな変化も引き起こさないからである。オフセットは前置 増幅器１３２の入力におけるＲ信号には加えられない。

校正兼オフセット回路１３０は第３の機能を持っているが、それを説明する前に 、図７の回路を利用してコイン検査に用いられるさらに別の方法について言及す る必要がある。

インピーダンス平面における変位線の方向の測定は、コイン材料の良好な標識で あり、実質的にコイルからのコインの距離と無関係であることを上記に説明した 。これは有効なコイン検査を形成するが、異なるタイプのコインが同じ材料から できていることがあるので、異なるタイプのコインを識別するためにはそれだけ では通常十分ではない。

したがって、少なくとも１つの別のコイン特性を検知することが望ましく、コイ ンの直径は有効な１つである。しかしながら、変位線の方向（例えば角度）は、 コイルが検査されるべき最も大きな直径のコインとほぼ同じかまたはそれより大 きく作られていても、コインの直径に対して、有効な直径検査を提供するほど十 分には感度が良くない９図７の回路を用いた場合、そしてインダクタ１０４の直 径が検査されるべき最も大きなコインとほぼ同じかまたはそれより大きければ、 △Ｘの値はコインの直径に対して有効に感度があり、第２のコイン検査として用 いることができ、コインは、その△Ｘ値がその変位線方向をとるのと同じタイプ の受納可能なコインのＸ値と一致する時のみ受納されることがわかる。

しかしながら、△Ｘ及び八Ｒの比と違って、ΔＸ信号の値だけはシステムゲイン によって決まり、これは時間や湿度と共に変化することが予想され得る。

ΔＸの測定量への前記ゲイン変化の影響を補償するために、校正兼オフセット回 路１３０は周期的に（例えばスイッチングオン時や数秒毎に）次のように動作す る。

説明したように、トランジスタＴ２は回路の通常動作中オフになっている。ゲイ ン変化を校正するために、トランジスタＴ１もオフになっており、したがって抵 抗Ｒａを回路から切り離している。これはＲｈ及びＲｃと並列になっているので 、全インピーダンスが増加し、コイル１０４を流れる電流は低下する。３つの抵 抗Ｒａ、Ｒｂ及びＲｃは、精密抵抗なので、Ｒａを切り離すことがコイル電流の 非常に正確な一定パーセンテージの変化１例えば２％、を繰返し生じるように選 択することができる。コイル電圧のＸ成分が関係している限り、これはコイルリ アクタンスの２％の減少として現われるであろう、当然、システムは、コイル１ ０４からデジタル−アナログ変換器１３６まである望ましい総合ゲインで動作す るように設計されるであろう０例＾ば、望ましい総合ゲインは、コイル電圧のＸ 成分の２％の変化がアナログ−デジタル変換器出力における２００のカウント変 化を生じる程度になっていると仮定しよう、ＴＩがオフとなって２％の変化を引 き起こす時、その結果中じるアナログ−デジタル変換器の出力におけるカウント の変化は、マイクロプロセッサ１１６でチェックされる。それが２００の場合は 動作は行なわれないが、２００でな（例えばｎの場合は、補償係数２００　／　 ｎが計算される。

この後、　トランジスタＴ１は再びオンになって、回路を通常動作形態に戻し、 その後、ΔＸがマイクロプロセッサ１１６で（もちろんコイン存在及びコイン不 在時のＸ値に関するアナログ−デジタル変換器１３６のカウント出力に基づいて ）計算されるたびに、結果は補償係数２００　／　ｎで乗算され、それにより、 システムゲインの変化を補償した△ｘｌを生じる。要するに、アナログ構成要素 のゲインの変化が測定され、次に、コイルからの出力と最終的な計算された△Ｘ 値の間のゲインが一定に維持されるようにデジタル段における乗算によって補償 される。

アナログ−デジタル変換器１３６は、Ｘ及びＲ信号が処理されるべきさらに別の 共通経路を形成する。コインがコイル１０４を横切る、Ｘ信号は減少し、Ｒ信号 は増加する。アナログ−デジタル変換器のダイナミックレンジすなわち分解能を 最大限に利用するために、及び／または、より低い分解能を有しかつそれにより 消費されるコストが少ない変換器を可能にするために、さらに別のオフセットが 、各信号のコイン不在値がアナログ−デジタル変換器１３６のダイナミックレン ジの適当な限界の近くになるように、Ｘ及びＲ信号の両方に加えられる。

これらはり、Ｃ，オフセットであり、マイクロプロセッサ１１６の制御の下に第 ２のオフセット回路１３４により加えられ、それぞれ異なる値を有し、一つはＸ 信号が処理されるかまたは得られる時に関する値であり、もう１つはＲ信号が処 理されるかまたは得られる時に関する値であり、回路１３４の出力は、それに応 じて異なる位相にされた２つの位相識別基準信号間のスイッチングと同期して切 り換えられる。

すべてのオフセットの累積結果は図９を参照して理解することができる０図９は 、Ｒ成分より非常に大きいＸ成分を用いたより現実的な尺度に基づいて、図３の 同じコイン存在時及びコイン不在時のインピーダンスベクトル１１８及び１１８ ′を示している。コイン存在及びコイン不在Ｘ値はそれぞれＸ、及びｘ２である 。コイン存在時及びコイン不在時のＲ値はそれぞれＲ５及びＲ２であり、２つの 差分値はΔＸ及びΔＲとして図９の最上部右側に示される。これらは変位線１２ ０を限定する。前に説明したようにコンデンサＣｉを介して印加される実質的な 第１のオフセット電圧はＸ。として表わされ、Ｘ、及びｘ２を、Ｒ，及びＲ２と 大きさが匹敵するＸＩＯ及びＸ２０に縮小し、その結果線１２０は１２０′にシ フトされる。第２のオフセット回路１３４によって印加される第２のＸオフセッ ト電圧はＸ。′として表わされ、電圧ＸＩＯ及びＸ２０をそれぞれＸ　ＩＱ’及 びＸ　２０′にシフトし、したがって線１２０′を１２０″にシフトする０回路 １３４からのＲオフセット電圧はＲ９′として表わされ、電圧Ｒ７及びＲ２をそ れぞれＲ１０’及びＲ２０′にシフトし、その結果線１２０′を１２０″′にシ フトする。体１トすなわちコイン不在時のＸ成分値ＸＩＯ’　はゼロに近くなる ことが図９かられかる。これは、それをアナログ−デジタル変換器１３６のダイ ナミックレンジの最下部に置＜、Ｒ成分信号のコイン不在値ＲＩＯ′はアナログ −デジタル変換器１３６のダイナミックレンジの最上部の近くに置かれる。差分 値△Ｘ及び八Ｒとその結果であるθは、図９の最下部左角の近くに示されるよう に、オフセットの印加により変わらないままになり、差分値は反対向きになって いるが、アナログ−デジタル変換器のダイナミックレンジの違っているが実質的 に重なり合った部分を占め、その結果そのダイナミックレンジが最大限に利用さ れている。

コインが、コインの検査に最も普通に用いられる周波数においてコイル１０４の 磁界全体に影響を与えるほど大きければ、１−紀に説明しかつ図面に示される角 度θと、図４に示される角度Ｃは、所定のコイン材料に関して一定になる。しか しながら、周波数が最も普通に用いられる範囲以下に、例えば２０ｋＨｚ以下に 、減少するにつれて、角度θが変化し始め、その変化はコインの厚さに依存する ０図１０は、同じ材料だが厚さが異なる３つの検査円盤に関する角度θの値を表 わす３つの曲線のセットを示す、θの値は、コイル１０４を駆動することができ る（対数目盛りによる）周波数範囲にわたって示されている０円盤が薄くなれば なるほど、厚さが角度θに影響を与え始める周波数が高くなり、その逆もしかり である。一般に、角度θの厚さ依存は、材料における磁界の表皮深度が材料の厚 さの約１／３になる点まで周波数が減少した時顕著になる８表皮深度が全ての検 査円盤の厚さよりほとんど少なくなるほど周波数が高い場合は、角度θの厚さ依 存はなくなることが、図１０かられかる。材料の伝導率が高くなればなるほど、 所定周波数における表皮深度は少なくなる。その結果、より高い伝導率のコイン 材料に対して有効な厚さ依存を得るためには、より低い周波数に進める必要があ る。米国のコインセットは主に比較的高い伝導率からなり、そのコインセット及 び磁気的なコインに対する厚さ感度を得るためには、１０ｋＨｚ以下例えば６ｋ Ｈｚ以下の周波数を用いることが好ましい、英国のコインセットに共通のキュプ ロニッケルに関しては、伝導率はもつと低くて、表皮深度は所定周波数において もつと大きいので、１００ｋ　Ｈｚ以下の周波数でかなりの厚さ依存性を得るこ とができ、好ましくは５０ｋＨｚ以下、さらに好ましくは３５ｋＨｚの周波数で もつと大きな効果が得られる。これらの低い方の周波数範囲に右いて、角度θは 材料と同じようにコイン厚さに依存するが、はとんどの部分はコイルからのコイ ンの間隔と無関係になっており、そのため、信頼できる厚さ依存測定を、コイン 通路の片側に設けられた１個のコイルを用いて行なうことができる。

実際のコイン検査装置は、図７に関して個々に説明された技術を用い、インダク タ１０４に匹敵する２つの検査インダクタを用いるものが構成されていた０両イ ンダクタはコイン通路の同じ片側に設けられていた。フェライトボットコア内に 設置された環状コイルからなる第１のインダクタは直径１４ｍｍで、８ｋ）（ｚ で駆動された。コイン進行方向に関して２番目のインダクタは、同じ構成からな るが、直径３７．５ｍｍで１１５ｋＨ２で駆動された。１Ｊ１のインダクタは、 受納されるべき最小のコインより直径が小さく、コインがコイルに対して中心に ある時コインによりいつも完全にさえぎられるようにコイン通路上に設置される 。このインダクタは８ｋＨｚという比較的低い周波数で駆動されるので、このコ イルを用いて引き出される角度θの値はコインの材料と厚さの両方に依存した。

第２のインダクタは、受納されるべき最大のコインより大きい直径を有し、コイ ン通路に対してその最下端の平面に設置された。　１１５ｋＨｚというより高い 周波数は、このインダクタを用いて引き出される角度θが実質的にコイン厚さと 無関係になることを確実にもたらしたが、コイルの大きな直径は、角度θがコイ ルの材料ばかりでなくその直径または面積にも感度があるようにした。このイン ダクタは、コイン通路の下流に位置決めされてコインのはずみを止めさせた。さ もなければ、このコインのはずみは、　コインの直径感度測定に影響を及ぼすだ ろう、このようなはずみは、もっと小さな厚さ感度インダクタの出力への影響は 少ないだろう。

両コイルは同じデジタル信号発生器１００で駆動され、両コイルからの出力は、 図７を参照して、同じ前置増幅器１３２と、マイクロプロセッサ１１６まで通る 有銅の他の構成要素とにより処理された。各インダクタは、それ自身のフィルタ １０２と、駆動トランジスタ１０３と、構成及びオフセット回路１３０とを備え 、２つのこれらの構成要素群は、マイクロプロセッサ１１６の制御の下に、図７ のＰ点で交互に図７の回路網に入れられたり切り離されたりされた。マイクロプ ロセッサ１１６は、同時に、２つのインダクタに適する低い方の周波数と高い方 の周波数に発生器１００を切り換えた。

説明したように、測定量は、変位線方向及びＸ自体が極値にある時に生成される が、知られているように、コインがセンサを通過している間の他の時間にとられ る測定量を用いることもでき、説明した技術を同様にその方法に用いることもで きろ。

上記に説明した実施例では、Ｘ、Ｒ１△Ｘ及びΔＲを引き出すために位相識別法 が用いられるが、それらの実施例の種々の新規かつ発明的な態様は、たとえそれ らの引き出しのために（図１１及び１２に関して説明されるだろうような）他の 方法、例えば、変位線方向に加えて受納基準としてＸを用いることや、厚さ応答 測定として低い方の周波数における変位線方向を用いること、が用いられても利 用可能である。

ゲイン変化を補償する説明済の技術は、処理される信号の出所または意義と無関 係にコイン装置に利用可能である。

次に、図１１の装置を詳細に説明する。パイ型同調回路２は、　１個のコイル４ 形式のインダクタと、２つのコンデンサ６及び７と、抵抗８を含む、抵抗８は普 通独立した構成要素ではなく、主にコイル４の固有損失からなるであろう同調回 路の有効損失を表わすものと考えるべきである。

コイル４の近くの１０に点線で示されるコインを位置決めするための手段が提供 され、この手段は、それに沿ってコインが縁を接してコイルを通過するコイン通 路１２として概略的に示される。コイン１０がコイル４を通過するにつれて、同 調回路の全有効損失は増加して、コインがコイルに対して中心にある時にピーク に達し、次いで体１トレベルまで減少する０本実施例では、装置はこの有効損失 のビーク偵に応答する。

同調回路２は自走発振器を形成するように帰還路を備えている。帰還路は一般に １４で示され、同調回路のある点に生じる電圧を運ぶ信号線１６と、スイッチン グ回路１８と、帰還路のゲインを与える反転増幅器２０とを含む、２４で概略的 に示される位相遅延回路は、スイッチング回路１８の状態により、交互に帰還路 内に入れられたり側路されたりする０位相遅延回路２４が帰還路に入れられてい ない時は、帰還路を回る位相シフトは１８０°になり、次いでパイ型同調回路の 両端の位相シフトも１８０°になる。この状態において、発振器はその共振周波 数で動作している。

次に図１２を参照するのが好都合である９図１２は、同調回路の全有効損失の、 比較的低い値Ｒ１から比較的高い４１１Ｒ５までの５つの異なる値に関する、発 振周波数と帰還路の位相シフトＩＩ（φ）との間の関係を示している。一般的な 言い方では、有効損失が可変のパイ型同調回路に関して、あらゆる特定の時間に おける同調回路の有効損失の大きさは、帰還路の位相シフト量をある既知の値か ら他の値に（またはある既知の量だけ）変え、その結果生じる周波数変化を測定 することによって、確かめることができる９位相シフト変化と周波数変化間の関 係は、図１２に示される曲線のうちの１つの勾配を有効に表わし、その結果回路 がどの曲線に基づいて動作中であるか、したがって回路の現在の有効損失がいく らかを示す０例えば、位相シフトが図示のように１８０°から量φ、（約３０° ）だけ変化し、かつ周波数が△ｆＮＣだけ変化すると、有効損失は低い値Ｒ１に なる。しかしながら、周波数がもっと大きい量△ｆＣ，たけ変化すると、有効損 失はもっと高い値Ｒ４になる。

これは、図１１に概略的に示される回路網で実行される０図１１の説明は次で終 わるであろう。

発振器の周波数は、信号線２６を介して周波数検知回路２８に供給される。制御 回路３０は、信号線３２により、位相遅延回路２４を発振器帰還路に入れたりは ずしたりするようにスイッチング回路１８を動作させる。同じ信号線３２を経由 して、制御回路３０は、スイッチング回路１８と同期してスイッチ３４も動作さ せ、その結果、検知回路２８で検知された周波数値は記憶器３６に記憶される（ これは、発振回路内に位相遅延がない時の周波数値である）と共に、記憶器３８ に記憶される（これは、発振回路内に位相遅延が導入された時の周波数値である ）１図１１と以下の説明は、種々の周波数と周波数差のために用いられる表示法 の下記表を参照することによりもっと良く理解することができる。すなわち、ｆ Ｏ＝位相シフトのない周波数 ｆφ　＝位相シフトを伴う周波数 Δｆ　＝ｆφ−ｆＯ △ｆＮＣ＝コインがない時のΔｆ ΔｆＣ＝コインがある時の△ｆのピーク値ｆＯｃ　＝コインがある時のｆＯのピ ーク値ｆＯＮＧ＝コインがない時のｆＯの値 域算器４０はｆφからｆＯを減算して△ｆを展開し、スイッチ４２の通常状態で は、この△ｆの値は記憶器４４に送られる。この通常状態は、コインがコイル４ の近くにない間支配しており、この場合、同調回路の有効損失は低くなっており （すなわち、図１２の低い値Ｒ１）、配憶器４４に記憶される周波数差分値はΔ ｆＮＣ（図１２に示される）になり、この値は、測定が行なわれている時の同調 回路自身の固有の有効損失を示す。

コイン１０がコイル４の近くに到達し始めるにつれて、周波数検知回路２８の出 力のｆＯは変化し始める。

制御回路３０の一部４６は信号線４８からのこの変化の開始を検出し、それに応 じて信号線５０を介してスイッチ４２の状態を変え、ΔｆＮＣの最近の休止値を 記憶器４４に保持せしめる。

フィン１０が近づき、コイル４に対して中心の位置に達すると、周波数ｆＯはピ ークの低い値に達するまで降下する０回路部分４６はこのピーク発生を検出する ように適合されており、それに応じて、スイッチ４２に、コインが中心にある時 に発生したΔｆの値を記憶器５２に向けさせる。これは１例えば図１２に示され るように値ΔｆＣになり、コインがインダクタを通過する間に発生する付加位相 変化φｌから生じる周波数シフトの最大値になる。この周波数シフトは、同調回 路の全有効損失が現在１回路に固有の有効損失プラス現在コイル４の中心にある 特定のコインにより回路に導入される有効損失からなる比較的高い値Ｒ４になる ことを示す、コイルの有効損失Ｒはに１Δｆになる。ここでに１は定数である。

コインのみにより導入される有効損失を示す値は、ΔｆＣから△ｆＮＣを減算し て定数に、を乗算する回路５４から引き出される。これは前に言及したよりなΔ Ｒに等しい。

図１１の回路は、△Ｘすなわち次のようにコインにより同調回路２に導入される リアクタンス量も測定する。

ｆｏの（＊（すなわち、どんな付加位相シフトもない発振周波数）は信号線６４ を介してスイッチ６２に印加される。その結果、位相シフトがないコイン不在つ まり休止周波数は記憶器６６に記憶されるようになり、コインがインダクタ４を 通過する時位相遅延がなく達したコイン存在ピーク低周波数は記憶器６８に配憶 されるようになる。これらの周波数は同調回路自身の全リアクタンスを示し、そ れぞれコインの追加的影響を伴う、コイルの有効リアクタンスＸはｋ　２　／　 ｆ　Ｏになる。ここでに２は定数である。△Ｘは、画周波数の逆数をとりそれら を減算し定数に２を乗算する回路７０により引き出される。

回路５４及び７０の出力は除算器７２に供給され、除算器７２は、ΔＸ／ΔＲ（ すなわち、検査されるコインに関するｔａｎθ）をとってそれを比較器７４に送 り、ここでそれは基準回路７４からのｔａｎθの基準値と比較される。それらが 一致する場合は、比較器７４はアンドゲート７６に出力を供給する。

実際には、　１つ以トの検査がコインに関して行なわれるであろう、そして、同 じタイプのコインに関して基準値に匹敵する各検査値に関するさらに別の入力が 、アンドゲート７６に印加される。全ての入力、それぞれ各検査に関するものだ が、が、検査されるコインがコインの所定の金種に関する各基準値に匹敵する値 の完全なセットを生じた時、アンドゲート７６はその出力に受納信号を発生して 、例えば受納／排除ゲートを周知の方法で動作させることによりコインを受納せ しめる。もちろん、図１乃至１０に関して以前に説明したものと共に。

追加の検査を用いることもできる。

図１１の実施例は、スイッチ及び機能ブロックによりＦ記に説明しかつ例示した が、実際には、点線の枠８０内に示される全構成要素は、適当にプログラムされ たマイクロプロセッサにより好適に与えられる。そのプログラミングは、技術に 巧けたプログラマ−のわざ内に含まれ、上２に説明したように達せられるべき機 能を与えられる。

インダクタは、　１個のコイルとして示されているが、他の形態、例えばコイン 通路を横切って対向し、並列もしくは直列の順接続あるいは逆接続状態に接続さ れる１組のコイル、を備＾ても良い。

説明したように、測定量は、発振周波数がピーク値にある時に生成されるが、知 られているように、コインがコイルを通過する間の他の時間に有効な測定量をと ることも可能であり、図１１及び１２の技術を同様にその方法に用いることもで きる。所定金種の同一の受納可能なコインはある程度特性が変わるという事実を 考慮するたたコイン関連情報から計算することができる。

ＦＩＧ、　７゜ ＦＩＧ、２゜ ｒ：：ｔｒ”、ｎ ｔ−ｔＵ、メ ＬＪ＋）　４ｎＮｖ− ロ＝Ｃピ　ｃｔ＝　ｃｅ　ｃピ フロントページの続き （７２）発明者　ベイリー、ジョン　ウィリアムイギリス、アールジー６２ニー テイー。

バークシャー、リーディング、エアーリイ、アダムズ　ウェイ　１８ （７２）発明者　ラルフ、アラン イギリス、ニスオー４２７ダブリユデー。

ハンプシャー、ニア−ブ口ツケンハースト、イースト　ブルダー　ロード（番地 なし） （７２）発明者　チットルポロー、マイケルイギリス、エッチビー１０　ゼロエ ヌビー。

パックス、ハイ　ウィユム、ウッドバーンムア、ファルコンズ　クロフト、シェ リー　クロウズ　３ （７２）発明者　サガディ、カーリイ アメリカ合衆国＋　１９３３５　ペンシルヴアニア、ダウニングトン、コンレイ ズ　ウェイ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．コイン検査装置におけるコイン検査方法であって．挿入されるコインを、イ ンダクタにより生じた発振磁界にさらす工程と、前記コインが前記磁界内にある 詩に前記インダクタのリアクタンス及び損失を測定する工程と、コインがない時 の前記インダクタのリアクタンス及び損失を表わすコイン不在点に対する、前記 測定量で限定されるコイン存在点の変位を表わす変位線のインピーダンス平面に おける方向が、該インピーダンス平面における基準方向に一致するかどうかを確 認する工程とからなることを特徴とするコイン検査方法。 ２．請求の範囲第１項記載の方法において、リアクタンス及び損失測定量は位相 識別法で生成される方法。 ３．請求の範囲第２項記載の方法において、信号源でインダクタを駆動する工程 を含む方法。 ４．請求の範囲第３項記載の方法において、前記信号源は定電流源として作用す る方法。 ５．請求の範囲第２項記載の方法において、位相が実質的に９０°離れる都度イ ンダクタの両端電圧をサンプリングして、インダクタのリアクタンス及び損失を 表わす各信号を引き出す工程を含む方法。 ６．請求の範囲第２項記載の方法において、真のリアクタス及び損失軸に対する 位相識別軸のインピーダンス平面における角度変位を測定する工程を含む方法。 ７．請求の範囲第６項記載の方法において、コインがその磁界内にない時のイン ダクタのリアクタンスまたは損失のみの変化をシミュレートすることにより、前 記角度変位を測定する工程と、前記位相識別法によって生成された損失またはリ アクタンス測定量のその結果生じる変化を検出する工程と、シミュレートされた 変化と検出されたその結果生じる変化の間の間係から前記角度変位を計算する工 程とを含む方法。 ６．請求の範囲第７項記載の方法において、シミュレートされた変化はインダク タのリアクタンスのみにあり、その結果生じる損失測定量の変化が検出される方 法。 ９．請求の範囲第６項記載の方法において、位相識別軸を角度的にシフトして、 前記角度変位を減少させる工程を含む方法。 １０．請求の範囲第６項記載の方法において、前記確認工程には、前記角度変位 測定から引き出される補償係数を印加する工程を含む方法。 １１．請求の範囲第１項記載の方法において、前記基準方向はリアクタンス及び 損失軸のうちの１つに対する角度として設定される方法。 １２．請求の範囲第１１項記載の方法において、リアクタンス及び損失測定は位 相識別法で行なわれ、前記確認工程は、位相識別軸のうちの１つに対する前記変 位線の角度を評価する工程を含む方法。 １３．請求の範囲第１２項記載の方法において、前記確認工程には、前記角度変 位測定から引き出される補償係数を印加する工程を含み、補償係数の印加は、位 相識別軸の測定された角度変位と変位線の前記評価された角度とを合体する工程 を含む方法。 １４．請求の範囲第１項記載の方法において、コイン不在時のインダクタのリア クタンス及び損失を表わす点は、コイン不在時のインダクタのリアクタンス及び 損失を測定することにより限定され、前記変位線の方向は、コイン存在時及びコ イン不在時の測定量から確かめられる方法。 １５．請求の範囲第１４項記載の方法において、コイン不在時の測定量はコイン が検査されるたびに取られる方法。 １６．請求の範囲第１項記載の方法において、インピーダンス平面における方向 が前記基準方向でありかつインピーダンス平面における位置がコイン不在点を介 して延びるようになっている基準変位線を提供する工程を含み、前記確認工程は 、コイン存在リアクタンス及び損失測定量が実質的に基準変位線上にある点を限 定するかどうかを確認する工程を含む方法。 １７．請求の範囲第１項記載の方法において、前記確認工程は、インダクタのコ イン不在時の全インピーダンスベクトルに対する前記変位線の角度を評価する工 程を含む方法。 １８．請求の範囲第１７項記載の方法において、リアクタンス及び損失測定は位 相識別法によって行なわれ、前記評価は、位相識別軸に対する前記コイン不在時 の全インピーダンスベクトルの角度を測定する工程と、位相識別軸に対する前記 変位線の角度を測定する工程と、これらの２つの測定された角度を合体する工程 とからなる方法。 １９．請求の範囲第１７項記載の方法において、前記基準方向は、インピーダン ス平面におけるインダクタのコイン不在時の全インピーダンスベクトルに対する 角度として設定される方法。 ２０．請求の範囲第１項記載の方法において、インダクタのそれぞれリアクタン ス及び損失に依存する信号は共通経路で処理され、リアクタンス依存信号のコイ ン存在値とコイン不在値の差分は前記確認工程に用いられ、前記処理の前に、リ アクタンス依存信号にオフセットが加えられてその値をリアクタンス依存信号の 値の方へ実質的に減少させる方法。 ２１．請求の範囲第２０項記載の方法において、前記共通経路から、信号はさら に別の共通経路に進み、リアクタンス依存信号及び損失依存信号の両方のコイン 存在値とコイン不在値の差分は前記確認工程に用いられ、前記さらに別の共通経 路に進む前に、各信号のコイン不在値がさらに別の共通経路の構成要素のダイナ ミックレンジの端部に近くなるように信号のどちらかまたは両方にオフセットが 加えられ、それにより前記構成要素のダイナミックレンジを最大限に利用する方 法。 ２２．請求の範囲第２１項記載の方法において、前記構成要素はＡ−Ｄ変換器で ある方法。 ２３．請求の範囲第１項記載の方法において、前記基準方向は特定のコインタイ プに適しており、さらに、インダクタのリアクタンスのコイン不在値とコイン存 在値の差分が同じ特定のコインタイプに適する基準値に一致するかどうかを確認 する工程を含む方法。 ２４．請求の範囲第２３項記載の方法において、コインがその磁界内にない時の インダクタのリアクタンスの予め決められた変化を時々シミュレートすることに よってリアクタンス値間の前記差分により変化するシステムゲインの影響を補償 する工程と、信号が前記システムゲインに支配される前記リアクタンスに依存す る信号の結果的に生じる変化を検出する工程と、検出された変化を基準値と比較 する工程と、前記リアクタンス依存信号に前記比較の結果から引き出された補償 係数を印加してその信号を基準値と実施的に一致するように調整する工程と、次 に前記変化がシミュレートされるまで前記補償係数の印加を維持する工程とを含 む方法。 ２５．請求の範囲第２３項記載の方法において、前記リアクタンスに依存する前 記信号はアナログ信号であり、前記結果的に生じる変化を検出する前に、前記ア ナログ信号をデジタル形式に変換する工程と、デジタル形式の経路出力の変化を デジタル基準値と比較する工程と、該比較からデジタル補償係数を引き出す工程 と、前記変化がシミュレートされる次回まで、デジタル補償係数をデジタル形式 のリアクタンス依存信号に印加する工程を含む方法。 ２６．請求の範囲第１項記載の方法において、インダクタにより生じた発振磁界 の周波数は、前記変位線の方向が検査されるコインの厚さによって影響を受ける ほど十分に低い方法。 ２７．請求の範囲第２６項記載の方法において、前記周波数は、コイン材料に対 するその表皮深度がコインの厚さの１／３より多くなるほど十分に低い方法。 ２６．請求の範囲第２６項記載の方法において、前記周波数は１００ｋＨｚ以下 である方法。 ２９．請求の範囲第２６項記載の方法において、前記周波数は３５ｋＨｚ以下で ある方法。 ３０．請求の範囲第２６項記載の方法において、前記周波数は１０ｋＨｚ以下で ある方法。 ３１．請求の範囲第１項記載の方法において、コインの片側のみから前記発振磁 界を発生する工程を含む方法。 ３２．請求の範囲第１項記載の方法において、確認工程は、複数の受納可能なコ インタイプにそれぞれ対応する複数の基準方向に関して行なわれる方法。 ３３．請求の範囲第１項記載の方法において、前記確認工程は、少なくとも、前 記変位線の方向がコインがインダクタを通過する間の極値に達する時に行なわれ る方法。 ３４．請求の範囲第３３項記載の方法において、コインが縁を接してインダクタ を通過するにつれて、前記変位線の方向を繰返し評価する工程と、変位線の方向 が極値にある時に評価の結果から検出する工程とを含む方法。 ３５．コイン通路と、インダクタを含み、該インダクタにコイン通路に発振磁界 を発生せしめるように適合される回路網と、コインが磁界内にある時にインダク タのリアクタンス及び損失を測定するように適合される手段と、コイン不在時の インダクタのリアクタンス及び損失を表わすコイン不在点に対する測定量によっ て限定されるコイン存在点の変位を表わす変位線のインピーダンス平面における 方向が、インピーダンス平面における基準方向に一致するかどうかを確認するた めの手段とからなるコイン検査装置。 ３６．請求の範囲第３５項記載の装置において、コインが磁界内にある時のイン ダクタのリアクタンス及び損失を測定するように適合される前記手段は、位相識 別回路網を含む装置。 ３７．請求の範囲第３６項記載の装置において、インダクタを駆動ずるように配 置される信号源を含む装置。 ３８．請求の範囲第３７項記載の装置において、前記信号源は定電流源である装 置。 ３９．請求の範囲第３６項記載の装置において、位相識別回路網は、位相が実質 的に９０°離れるたびにインダクタの両端電圧をサンプリングしてインダクタの リアクタンス及び損失を表わす各信号を引き出すように適合される装置。 ４０．請求の範囲第３６項記載の装置において、真のリアクタンス及び損失軸に 対する位相識別軸のインピータンス平面における角度変位を測定するための手段 を含む装置。 ４１．請求の範囲第４０項記載の装置において、コインがその磁界内にない時の インダクタのリアクタンスまたは損失のみの変化をシミュレートするための手段 と、結果的に生じる損失またはリアクタンス測定置の変化を検出するための手段 と、シミュレートされた変化と検出された結果的に生じる変化との間の関係から 前記角度変位を計算するための手段とを含む装置。 ４２．請求の範囲第４１項記載の装置において、シミュレート手段は、インダク タのリアクタンスのみの変化をシミュレートするように適合され、検出手段は、 結果的に生じる損失測定量の変化を検出するように適合される装置。 ４３．請求の範囲第４１項記載の装置において、前記シミュレート手段は、コイ ル信号を、外コイル信号と同じ周波数を有すると共に、変化がシミュレートされ るべきインピーダンス成分を表わすコイル信号のその成分と同相のまたは１８０ °位相がずれた信号と一時的に加算するように適合される装置。 ４４．請求の範囲第４２項記載の装置において、インダクタを有する回路に接続 される抵抗網と、インダクタの両端電圧を位相識別回路網に印加するために、イ ンダクタを前記回路網の入力に接続するための手段と、前記抵抗網のある点から 前記入力に接続され、それによりインダクタ電圧と１８０°位相がずれた電圧を 前記入力に供給するコンデンサとを含む装置。 ４５．請求の範囲第４４項記載の装置において、前記コンデンサを介して供給さ れる電圧を一時的に変更し、それにより前記リアクタンス変化をシミュレートす るために、前記抵抗網を変更するための第１の手段を含む装置。 ４５．請求の範囲第４５項記載の装置において、前記第１の手段の動作により引 き起こされるインダクタ電流のどんな変化も相殺するように前記抵抗網を変更す るための第２の手段を含む装置。 ４７．請求の範囲第４０項記載の装置において、前記角度変位を減少させるため に、前記位相識別回路網が動作する位相識別軸を角度的にシフトするための手段 を含む装置。 ４８．請求の範囲第４０項記載の装置において、確認手段は、前記角度変位測定 量から引き出されれる補償係数を加えるための手段を含む装置。 ４９．請求の範囲第４０項記載の装置において、インダクタはデジタル信号発生 器で決定される周波数で駆動される装置。 ５０．請求の範囲第４９項記載の装置において、デジタル信号発生器の出力を、 インダクタに印加される前に、ろ波するように配置されるアナログフィルタを含 む装置。 ５１．請求の範囲第３５項記載の装置において、リアクタンス及び損失軸のうち の１つに対する角度として前記基準方向を設定するための手段を含む装置。 ５２．請求の範囲第５１項記載の装置において、インダクタのリアクタンス及び 損失を測定するように適合された位相識別回路網を含み、前記確認手段は、位相 識別軸のうちの１つに対して前記変位線の角度を評価するように適合される装置 。 ５３．請求の範囲第５２項記載の装置において、前記確認手段は、前記角度変位 測定量から引き出される補償係数を加えるための手段を含み、前記補償係数印加 手段は、測定された位相識別軸の毎度変位と前記評価された変位線の角度を合体 するように適合される装置。 ５４．請求の範囲第３５項記載の装置において、測定手段は、さらに、コイン不 在時のインダクタのリアクタンス及び損失を測定して、コイン不在時のインダク タのリアクタンス及び損失を表わす点を設定するように適合され、コイン存在測 定量及びコイン不在測定量から前記変位線の方向を確認するための手段を含む装 置。 ５５．請求の範囲第５４項記載の装置において、測定手段に、コインが検査され る度にコイン不在時の測定量を取らせるための手段を含む装置。 ５６．請求の範囲第３５項記載の装置において、インピーダンス平面における方 向が前記基準方向でありかつインピーダンス平面における位置がコイン不在点を 介して伸びるようになっている基準変位線の表示を提供するための手段を含み、 前記確認手段は、コイン存在時のリアクタンス及び損失測定量が実質的に基準変 位線上にある点を限定するかどうかを確認するように適合される装置。 ５７．請求の範囲第３５項記載の装置において、前記確認手段は、インダクタの コイン不在時の全インピーダンスベクトルに対する前記変位線の角度を評価する ように適合される装置。 ５８．請求の範囲第５７項記載の装置において、インダクタのリアクタンス及び 損失を測定するように適合された位相識別回路網を含み、前記確認手段は、位相 識別軸に対する前記コイン不在時の全インピーダンスベクトルの角度を測定し、 位相識別軸に対する前記変位線の再度を測定して、これらの２つの測定角度を合 体するように適合される装置。 ５９．請求の範囲第５７項記載の装置において、インピーダンス平面におけるイ ンダクタのコイン不在時の全インピーダンスベクトルとして前記基準方向を設定 するための手段を含む装置。 ６０．請求の範囲第３５項記載の装置において、インダクタのそれぞれリアクタ ンス及び損失に依存する信号が処理される共通経路と、リアクタンス依存信号に オフセットを加えて、その値を抵抗依存信号のそれの方へ実質的に減少させるた めの手段とを含み、前記確認手段は、コイン存在値及びコイン不在値の差分を用 いるように適合される装置。 ６１．請求の範囲第６０項記載の装置において、前記共通経路から、信号はさら に別の共通経路に進み、前記確認手段は、前記確認工程におけるリアクタンス依 存信号及び損失依存信号の両方のコイン存在値及びコイン不在値の差分を用いる ように適合され、前記さらに別の共通経路の前に、各信号のコイン不在値がさら に別の共通経路の構成要素のダイナミックレンジの端部に近くなり、それにより 前記構成要素のダイナミックレンジを最大限に利用するように信号のどちらかま たは両方にオフセットを加えるための手段が備えられる装置。 ６２．請求の範囲第６１項記載の装置において、前記構成要素はＡ−Ｄコンバー タである装置。 ５３．請求の範囲第３５項記載の装置において、前記基準方向は特定のコインタ イプに適しており、前記確認手段は、さらに、インダクタのコイン不在値及びコ イン存在値の差分が同じ特定のコインタイプに適する基準値に一致するかどうか を確認するように適合される装置。 ６４．請求の範囲第６３項記載の装置において、インダクタのリアクタンスに依 存する信号は、基準値間の前記差分に影響を与えるシステムゲインを変更するこ とを条件として回路網によって処理され、コインがその磁界内にない時のインダ クタのリアクタンスの予め決められた変化を時々シミュレートするための手段と 、信号が前記システムゲインに支配された前記リアクタンスに依存する信号の結 果的に生じる変化を検出するための手段と、検出された変化を基準値と比較する ための手段と、前記リアクタンス依存信号に、前記比較の結果から引き出された 補償係数を加えて、その信号を実質的に基準値に一致するように調整するための 手段と、前記変化がシミュレートされる次回まで、前記補償係数の印加を維持す るための手段を含む装置。 ６５．請求の範囲第６４項記載の装置において、前記リアクタンスに依存する前 記信号はアナログ信号であり、前記結果的に生じる変化を検出する前に、前記ア ナログ信号をデジタル形式に変換するための手段と、デジタル形式の信号の変化 をデジタル基準値と比較するための手段と、比較からデジタル補償係数を引き出 すための手段と、次に前記変化がシミュレートされるまで、デジタル形式のリア クタンス依存信号にデジタル補償係数を加えるための手段とを含む装置。 ６５．請求の範囲第３５項記載の装置において、前記インダクタで生じる発振磁 界の周波数は、前記変位線の方向が検査されるコインの厚さによって影響を受け るほど十分に低くなっている装置。 ６７．請求の範囲第６６項記載の装置において、前記周波数は、コイン材料に関 するその表皮深度がコインの厚さの１／３以上になるほど十分に低くなっている 装置。 ６８．請求の範囲第６６項記載の装置において、前記周波数は１００ｋＨｚ以下 である装置。 ６９．請求の範囲第６６項記載の装置において、前記周波数は３５ｋＨｚ以下で ある装置。 ７０．請求の範囲第６６項記載の装置において、前記周波数は１０ｋＨｚ以下で ある装置。 １７．請求の範囲第３５項記載の装置において、前記インダクタはコイン通路の 片側のみにある装置。 ７２．請求の範囲第３５項記載の装置において、複数の受納可能なコインタイプ に対応する複数の基準方向を提供するための手段を含み、前記確認手段は、前記 複数の基準方向に関して前記確認工程を実行するように適合される装置。 ７３．請求の範囲第５６項記載の装置において、前記提供手段は、方向が複数の 受納可能なコインタイプにそれぞれ対応する複数の基準変位線の表示を提供する ように適合され、前記確認手段は、前記複数の基準変位線に関して前記確認工程 を実行するように適合される装置。 ７４．請求の範囲第３５項記載の装置において、コインがインダクタを通過する 間に極値に達する前記変位線の方向を検品するための手段を含み、前記確認手段 は前記極値の方向を用いるように適合される装置。 ７５．請求の範囲第７４項記載の装置において、前記確認手段は、コインが縁を 接してインダクタを通過するにつれて、前記変位線の方向を繰り返し評価して、 評価の結果から変位線の方向が極値にある時を検出するように動作可能になって いる装置。