JPH07118031B2 - 硬貨判別装置 - Google Patents
硬貨判別装置Info
- Publication number
- JPH07118031B2 JPH07118031B2 JP60157310A JP15731085A JPH07118031B2 JP H07118031 B2 JPH07118031 B2 JP H07118031B2 JP 60157310 A JP60157310 A JP 60157310A JP 15731085 A JP15731085 A JP 15731085A JP H07118031 B2 JPH07118031 B2 JP H07118031B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coin
- measurement
- measurement sensor
- values
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Coins (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本発明は、硬貨の転動路に発振磁界を形成する測定セン
サーを配置し、硬貨の通過による発振磁界への影響度を
測定してその測定を判別する硬貨判別装置に関する。
サーを配置し、硬貨の通過による発振磁界への影響度を
測定してその測定を判別する硬貨判別装置に関する。
（ロ） 従来の技術 かかる硬貨判別方式としては特開昭57−27387号公報に
示されている技術があり、これは硬貨の通過による発振
磁界への影響度にて硬貨の材質（電気伝導度）・板厚・
外径の各特徴を測定する測定センサーを設け、硬貨の通
過により各特徴を示すそれぞれの測定センサーの影響度
の値が所定の適正範囲内にあるか否かで硬貨の適正を判
別するものである。測定センサーはそれぞれ測定すべき
特徴にのみ感応するように発振周波数や形状或いは硬貨
に対する取次位置が選定されているが、選定値にはどう
しても他の特徴の要素が入ってしまう。例えば硬貨の外
径を測定しようとしたとき硬貨の板厚の影響を受けた
り、また板厚を測定しようとしたとき硬貨の材質の影響
を受けたりする。
示されている技術があり、これは硬貨の通過による発振
磁界への影響度にて硬貨の材質（電気伝導度）・板厚・
外径の各特徴を測定する測定センサーを設け、硬貨の通
過により各特徴を示すそれぞれの測定センサーの影響度
の値が所定の適正範囲内にあるか否かで硬貨の適正を判
別するものである。測定センサーはそれぞれ測定すべき
特徴にのみ感応するように発振周波数や形状或いは硬貨
に対する取次位置が選定されているが、選定値にはどう
しても他の特徴の要素が入ってしまう。例えば硬貨の外
径を測定しようとしたとき硬貨の板厚の影響を受けた
り、また板厚を測定しようとしたとき硬貨の材質の影響
を受けたりする。
（ハ） 発明が解決しようとする問題点 したがって従来技術によると、検査硬貨が偽貨であって
適正硬貨の或る特徴を満足していなくても、測定値には
他の特徴の要素が入るために、測定値が適正硬貨と略同
じ値を示すことがあり、この場合見分けるのは困難であ
る。
適正硬貨の或る特徴を満足していなくても、測定値には
他の特徴の要素が入るために、測定値が適正硬貨と略同
じ値を示すことがあり、この場合見分けるのは困難であ
る。
上記点より本発明は、測定センサーにて得た硬貨の材質
・外径・板厚等の複数の物理的特徴の総合的な測定値か
ら、演算により各物理的特徴毎の成分を抽出し、抽出し
た値から硬貨の真性を判別する硬貨判別装置を提供する
ものである。
・外径・板厚等の複数の物理的特徴の総合的な測定値か
ら、演算により各物理的特徴毎の成分を抽出し、抽出し
た値から硬貨の真性を判別する硬貨判別装置を提供する
ものである。
（ニ）問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決するために本発明による硬貨判別装
置は、硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬貨に順
次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の材質
・外径・板厚等の複数の物理的特徴に起因して変化する
発振周波数の変化に基づく測定信号を出力する複数の測
定センサーと、該測定センサー毎にそれぞれによる測定
信号の値のうちの前記各物理的特徴が及ぼすであろう成
分の比率を予め記憶しているメモリと、各測定センサー
の発振磁界中を通過するときに当該検査硬貨の上述の複
数の物理的特徴を示す値を未知数Ｘ・Ｙ・Ｚとしたと
き、このＸ・Ｙ・Ｚに当該測定センサーに関連して前記
メモリに記憶している各比率を対応するＸ・Ｙ・Ｚの係
数として用い係数が乗ぜられたＸ・Ｙ・Ｚの総和が当該
測定センサーの測定信号の値となる各測定センサー毎の
方程式からＸ・Ｙ・Ｚを求める演算手段と、該演算手段
にて算出したＸ・Ｙ・Ｚの各値がそれぞれ許容範囲内で
あればこの検査硬貨を適正と判別する判別手段とを備え
た構成である。
置は、硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬貨に順
次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨の材質
・外径・板厚等の複数の物理的特徴に起因して変化する
発振周波数の変化に基づく測定信号を出力する複数の測
定センサーと、該測定センサー毎にそれぞれによる測定
信号の値のうちの前記各物理的特徴が及ぼすであろう成
分の比率を予め記憶しているメモリと、各測定センサー
の発振磁界中を通過するときに当該検査硬貨の上述の複
数の物理的特徴を示す値を未知数Ｘ・Ｙ・Ｚとしたと
き、このＸ・Ｙ・Ｚに当該測定センサーに関連して前記
メモリに記憶している各比率を対応するＸ・Ｙ・Ｚの係
数として用い係数が乗ぜられたＸ・Ｙ・Ｚの総和が当該
測定センサーの測定信号の値となる各測定センサー毎の
方程式からＸ・Ｙ・Ｚを求める演算手段と、該演算手段
にて算出したＸ・Ｙ・Ｚの各値がそれぞれ許容範囲内で
あればこの検査硬貨を適正と判別する判別手段とを備え
た構成である。
（ホ）作用 検査硬貨が一の測定センサーを通過して測定信号が得ら
れると、演算手段は、検査硬貨の複数の物理的特徴を示
す未知数の値Ｘ・Ｙ・Ｚに当該測定センサー関連して前
記メモリに記憶している各比率を対応するＸ・Ｙ・Ｚの
係数として且つその総和が当該測定センサーの測定信号
の値となる方程式を求める。更に、演算手段は、検査硬
貨が他の測定センサーを通過してそれぞれ測定信号が得
られる度に同様な方程式を求めて、検査硬貨が全ての測
定センサーの通過を修了したときにこれら方程式からＸ
・Ｙ・Ｚを算出する。そして、判別手段は、演算手段に
て算出したＸ・Ｙ・Ｚの各値がそれぞれ許容範囲内であ
れば、この検査硬貨を適正と判別する。
れると、演算手段は、検査硬貨の複数の物理的特徴を示
す未知数の値Ｘ・Ｙ・Ｚに当該測定センサー関連して前
記メモリに記憶している各比率を対応するＸ・Ｙ・Ｚの
係数として且つその総和が当該測定センサーの測定信号
の値となる方程式を求める。更に、演算手段は、検査硬
貨が他の測定センサーを通過してそれぞれ測定信号が得
られる度に同様な方程式を求めて、検査硬貨が全ての測
定センサーの通過を修了したときにこれら方程式からＸ
・Ｙ・Ｚを算出する。そして、判別手段は、演算手段に
て算出したＸ・Ｙ・Ｚの各値がそれぞれ許容範囲内であ
れば、この検査硬貨を適正と判別する。
（ヘ） 実施例 本例においては硬貨の物理的特徴としては材質・板厚・
外径でとらえるものである。第２図に示すごとく、硬貨
投入口（４）に連通する硬貨レール（６）には硬貨の転
動方向に沿って測定センサー（S1）（S2）（S3）を配置
している。各測定センサー（S1）（S2）（S3）は第１図
で示すごとく、硬貨レール（６）にて形成される硬貨通
路（５）を挾み発振コイル（14）（15），（16）（1
7），（18）（19）を直列接続して成り、発振磁界を通
過する硬貨による当該発振磁界への影響度を測定するも
ので、具体的には通過硬貨内に発生する渦電流の影響に
よる発振磁界の変化を周波数の変化にて捉えている。影
響度は周波数に限らず硬貨が通過したときの最大変化電
圧或いは電圧及び電流の最大位相差でもよい。そして影
響度には硬貨の材質・板厚・外径の特徴が複合して示さ
れており、測定センサー（S1）による影響度には材質・
板厚・外径の測定成分がa:b:cの比率で検出されるよう
に設定しており、測定センサー（S2）による影響度には
上記特徴の測定成分がd:e:fの比率で検出されるように
設定しており、また測定センサー（S3）による影響度に
は上記特徴の測定成分がg:h:iの比率で検出されるよう
に設定している。この３通りの比率はセンサーの形成或
いは構成，発振周波数，硬貨レールからの取付け位置を
違えることで全ての比率が異るように設定する。そして
硬貨投入口（４）から投入された硬貨が測定センサー
（S1）（S2）（S3）を通過すると第３図のように発振器
（11）（12）（13）の周波数が上昇し、それぞれにおけ
る最大周波数P1,P2,P3を検出すると、材質・板厚・外径
の特徴を示す値をｘ・ｙ・ｚとすると以下の近似式が成
立する。
外径でとらえるものである。第２図に示すごとく、硬貨
投入口（４）に連通する硬貨レール（６）には硬貨の転
動方向に沿って測定センサー（S1）（S2）（S3）を配置
している。各測定センサー（S1）（S2）（S3）は第１図
で示すごとく、硬貨レール（６）にて形成される硬貨通
路（５）を挾み発振コイル（14）（15），（16）（1
7），（18）（19）を直列接続して成り、発振磁界を通
過する硬貨による当該発振磁界への影響度を測定するも
ので、具体的には通過硬貨内に発生する渦電流の影響に
よる発振磁界の変化を周波数の変化にて捉えている。影
響度は周波数に限らず硬貨が通過したときの最大変化電
圧或いは電圧及び電流の最大位相差でもよい。そして影
響度には硬貨の材質・板厚・外径の特徴が複合して示さ
れており、測定センサー（S1）による影響度には材質・
板厚・外径の測定成分がa:b:cの比率で検出されるよう
に設定しており、測定センサー（S2）による影響度には
上記特徴の測定成分がd:e:fの比率で検出されるように
設定しており、また測定センサー（S3）による影響度に
は上記特徴の測定成分がg:h:iの比率で検出されるよう
に設定している。この３通りの比率はセンサーの形成或
いは構成，発振周波数，硬貨レールからの取付け位置を
違えることで全ての比率が異るように設定する。そして
硬貨投入口（４）から投入された硬貨が測定センサー
（S1）（S2）（S3）を通過すると第３図のように発振器
（11）（12）（13）の周波数が上昇し、それぞれにおけ
る最大周波数P1,P2,P3を検出すると、材質・板厚・外径
の特徴を示す値をｘ・ｙ・ｚとすると以下の近似式が成
立する。
ax＋by＋cz＝P1 dx＋ey＋fz＝P2 gx＋hy＋iz＝P3 この３元１次方程式からｘ・ｙ・ｚを導びけば硬貨の材
質・板厚・外径の各特徴の値が分かる。したがって演算
によって得られたこの特徴の値を、予め設定している適
正硬貨の場合の特徴の値と比較して硬貨の適正を判定す
る。
質・板厚・外径の各特徴の値が分かる。したがって演算
によって得られたこの特徴の値を、予め設定している適
正硬貨の場合の特徴の値と比較して硬貨の適正を判定す
る。
第１図において、制御装置（２）は測定センサー（S1）
（S2）（S3）の測定に関連して制御信号ａ・ｂ・ｃを順
次繰返し出力するが、制御信号ａの発生により発振器
（11）の発振出力がANDゲート（21）及びORゲート（2
4）を通してカウンタ（１）へ導入され、制御信号ｂの
発生により発振器（12）の発振出力がANDゲート（22）
及びORゲート（24）を通してカウンタ（１）へ導入さ
れ、また制御信号ｃの発生により発振器（13）の発振出
力がANDゲート（23）及びORゲート（24）を通してカウ
ンタ（１）へ導入される。カウンタ（１）は制御信号ａ
の発生期間でANDゲート（21）から出力される発振出力
をカウントすることで発振器（11）の発振周波数を検出
し、制御信号ｂの発生期間でANDゲート（22）から出力
される発振出力をカウントすることで発振器（12）の発
振周波数を検出し、制御信号ｃの発生期間でANDゲート
（23）から出力される発振出力をカウントすることで発
振器（13）の発振周波数を検出する。そして制御装置
（２）は各制御信号ａ・ｂ・ｃの出力による所定のサン
プリング期間でカウンタ（１）がカウントした発振周波
数データを導入する。硬貨が投入されて各測定センサー
（S1）（S2）（S3）に接近すると、それに応じて各発振
器（11）（12）（13）の発振周波数は上昇し、通過後離
反すると下降する。したがって制御装置（２）は、制御
信号ａを出力する度に導入してくる発振周波数データを
逐次比較して硬貨の投入による測定センサー（S1）への
影響度である発振器（11）の最大周波数P1を検出し、制
御信号ｂを出力する度に導入してくる発振周波数データ
を逐次比較して測定センサー（S2）への影響度である発
振器（12）の最大周波数P2を検出し、また制御信号ｃを
出力する度に導入してくる発振周波数データを逐次比較
して測定センサー（S3）への影響度である発振器（13）
の最大周波数P3を検出する。メモリ（３）には測定セン
サー（S1）（S2）（S3）毎に検出される影響度に対して
材質・板厚・外径の各特徴が及ぼす比率の値ａ〜ｉを設
定しており、制御装置（２）は最大発振周波数P1・P2・
P3の検出によりメモリ（３）からａ〜ｉを読取って上記
方程式の演算を行ない、硬貨の材質・板厚・外径の各特
徴を示す値ｘ・ｙ・ｚをそれぞれ算出する。更にメモリ
（３）には、各特徴を示す値ｘ・ｙ・ｚと照合して硬貨
の適正を判定するための判定データが材質・板厚・外径
毎に設定されている。判定データは許容範囲の上限値と
下限値を示しており、制御装置（２）は材質・板厚外径
の各特徴を示す値ｘ・ｙ・ｚを検出するとメモリ（３）
から判定データを読出して照合し、何れも許容範囲内に
あると硬貨を適正と判別して適正信号Ｒを出力する。ま
た複数の硬貨種を判別するものであれば硬貨種毎に材質
・板厚・外径についての判定データを設定し、特徴を示
す値ｘ・ｙ・ｚが何れも同じ硬貨種についての許容範囲
内にあればこの硬貨を適正な当該硬貨種と判別する。
（S2）（S3）の測定に関連して制御信号ａ・ｂ・ｃを順
次繰返し出力するが、制御信号ａの発生により発振器
（11）の発振出力がANDゲート（21）及びORゲート（2
4）を通してカウンタ（１）へ導入され、制御信号ｂの
発生により発振器（12）の発振出力がANDゲート（22）
及びORゲート（24）を通してカウンタ（１）へ導入さ
れ、また制御信号ｃの発生により発振器（13）の発振出
力がANDゲート（23）及びORゲート（24）を通してカウ
ンタ（１）へ導入される。カウンタ（１）は制御信号ａ
の発生期間でANDゲート（21）から出力される発振出力
をカウントすることで発振器（11）の発振周波数を検出
し、制御信号ｂの発生期間でANDゲート（22）から出力
される発振出力をカウントすることで発振器（12）の発
振周波数を検出し、制御信号ｃの発生期間でANDゲート
（23）から出力される発振出力をカウントすることで発
振器（13）の発振周波数を検出する。そして制御装置
（２）は各制御信号ａ・ｂ・ｃの出力による所定のサン
プリング期間でカウンタ（１）がカウントした発振周波
数データを導入する。硬貨が投入されて各測定センサー
（S1）（S2）（S3）に接近すると、それに応じて各発振
器（11）（12）（13）の発振周波数は上昇し、通過後離
反すると下降する。したがって制御装置（２）は、制御
信号ａを出力する度に導入してくる発振周波数データを
逐次比較して硬貨の投入による測定センサー（S1）への
影響度である発振器（11）の最大周波数P1を検出し、制
御信号ｂを出力する度に導入してくる発振周波数データ
を逐次比較して測定センサー（S2）への影響度である発
振器（12）の最大周波数P2を検出し、また制御信号ｃを
出力する度に導入してくる発振周波数データを逐次比較
して測定センサー（S3）への影響度である発振器（13）
の最大周波数P3を検出する。メモリ（３）には測定セン
サー（S1）（S2）（S3）毎に検出される影響度に対して
材質・板厚・外径の各特徴が及ぼす比率の値ａ〜ｉを設
定しており、制御装置（２）は最大発振周波数P1・P2・
P3の検出によりメモリ（３）からａ〜ｉを読取って上記
方程式の演算を行ない、硬貨の材質・板厚・外径の各特
徴を示す値ｘ・ｙ・ｚをそれぞれ算出する。更にメモリ
（３）には、各特徴を示す値ｘ・ｙ・ｚと照合して硬貨
の適正を判定するための判定データが材質・板厚・外径
毎に設定されている。判定データは許容範囲の上限値と
下限値を示しており、制御装置（２）は材質・板厚外径
の各特徴を示す値ｘ・ｙ・ｚを検出するとメモリ（３）
から判定データを読出して照合し、何れも許容範囲内に
あると硬貨を適正と判別して適正信号Ｒを出力する。ま
た複数の硬貨種を判別するものであれば硬貨種毎に材質
・板厚・外径についての判定データを設定し、特徴を示
す値ｘ・ｙ・ｚが何れも同じ硬貨種についての許容範囲
内にあればこの硬貨を適正な当該硬貨種と判別する。
（ト） 発明の効果 本発明によると、測定センサーにて得た硬貨の材質・外
径・板厚等の複数の物理的特徴の総合的な測定値から演
算により各物理的特徴毎の成分を抽出し、抽出した値か
ら硬貨の真性を判別するために、硬貨を各物理的特徴毎
に正確に検査でき正確な硬貨判別が期待できる。
径・板厚等の複数の物理的特徴の総合的な測定値から演
算により各物理的特徴毎の成分を抽出し、抽出した値か
ら硬貨の真性を判別するために、硬貨を各物理的特徴毎
に正確に検査でき正確な硬貨判別が期待できる。
第１図は本発明の実施例を説明するブロック図、第２図
は測定センサーの配置構成図、第３図は硬貨の通過によ
る発振器の周波数変化を示す図である。 （S1）（S2）（S3）……測定センサー、（１）……カウ
ンタ、（２）……制御装置、（３）……メモリ。
は測定センサーの配置構成図、第３図は硬貨の通過によ
る発振器の周波数変化を示す図である。 （S1）（S2）（S3）……測定センサー、（１）……カウ
ンタ、（２）……制御装置、（３）……メモリ。
Claims (1)
- 【請求項１】硬貨通路と、該硬貨通路を通過する検査硬
貨に順次発振磁界を印加するよう配置されて該検査硬貨
の材質・外径・板厚等の複数の物理的特徴に起因して変
化する発振周波数の変化に基づく測定信号を出力する複
数の測定センサーと、該測定センサー毎にそれぞれによ
る測定信号の値のうちの前記各物理的特徴が及ぼすであ
ろう成分の比率を予め記憶しているメモリと、各測定セ
ンサーの発振磁界中を通過するときに当該検査硬貨の上
述の複数の物理的特徴を示す値を未知数Ｘ・Ｙ・Ｚとし
たとき、このＸ・Ｙ・Ｚに当該測定センサーに関連して
前記メモリに記憶している各比率を対応するＸ・Ｙ・Ｚ
の係数として用い係数が乗ぜられたＸ・Ｙ・Ｚの総和が
当該測定センサーの測定信号の値となる各測定センサー
毎の方程式からＸ・Ｙ・Ｚを求める演算手段と、該演算
手段にて算出したＸ・Ｙ・Ｚの各値がそれぞれ許容範囲
内であればこの検査硬貨を適正と判別する判別手段とか
ら成る硬貨判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60157310A JPH07118031B2 (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 硬貨判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60157310A JPH07118031B2 (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 硬貨判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6217890A JPS6217890A (ja) | 1987-01-26 |
| JPH07118031B2 true JPH07118031B2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=15646876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60157310A Expired - Lifetime JPH07118031B2 (ja) | 1985-07-17 | 1985-07-17 | 硬貨判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07118031B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02201590A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-09 | Anritsu Corp | 硬貨選別装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55121590A (en) * | 1979-03-12 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Coin selector |
-
1985
- 1985-07-17 JP JP60157310A patent/JPH07118031B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6217890A (ja) | 1987-01-26 |
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