JPH0650742Y2 - 光測定装置 - Google Patents
光測定装置Info
- Publication number
- JPH0650742Y2 JPH0650742Y2 JP14184788U JP14184788U JPH0650742Y2 JP H0650742 Y2 JPH0650742 Y2 JP H0650742Y2 JP 14184788 U JP14184788 U JP 14184788U JP 14184788 U JP14184788 U JP 14184788U JP H0650742 Y2 JPH0650742 Y2 JP H0650742Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- output
- correction
- time
- amplifier circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
この考案は、光部品などの光損失等を測定することなど
に用いる光測定装置に関する。
に用いる光測定装置に関する。
光パワーメーター等の光測定装置では、受光素子に入る
光を遮光したにも拘らず出力が現われることがある（こ
の出力を通常オフセットと呼ぶ）。このオフセットは受
光素子の暗電流や、受光素子出力を増幅する増幅回路の
オフセット電圧、オフセット電流に起因するもので避け
ることができないため、これをキャンセルするゼロ調整
を行なうことが必要である。 従来の光パワーメーターでもこのゼロ調整機能を備える
が、従来のものでは、操作者の手動によりボタンやボリ
ューム等のつまみを操作して行なう方式のものとなって
いる。
光を遮光したにも拘らず出力が現われることがある（こ
の出力を通常オフセットと呼ぶ）。このオフセットは受
光素子の暗電流や、受光素子出力を増幅する増幅回路の
オフセット電圧、オフセット電流に起因するもので避け
ることができないため、これをキャンセルするゼロ調整
を行なうことが必要である。 従来の光パワーメーターでもこのゼロ調整機能を備える
が、従来のものでは、操作者の手動によりボタンやボリ
ューム等のつまみを操作して行なう方式のものとなって
いる。
しかしながら、従来の光パワーメーターでは、このよう
にゼロ調整するかしないか、ゼロ調整するタイミング及
び調整量等は操作者の主観的判断に任されているため、
ゼロ調整を行なうことを忘れて測定を行なってしまうと
いう操作ミスが生じ易い。また、測定系のセッティング
等の条件で人手に頼るゼロ調整を随時行なうことが不可
能であるという理由で、あるいは無人の長時間連続自動
測定においてはゼロ調整を行なうために大がかりな装置
や操作プログラムが必要となるという理由で、ゼロ調整
を行なわないことが多い。オフセットは電源投入からの
時間経過や、周囲温度の変化等によって変化するため、
このように長時間ゼロ調整を行なわないことは誤差の発
生原因になり、測定値の信頼性を低めるため問題であ
る。 この考案は、操作者の主観的判断に頼ることなくつねに
オフセットをキャンセルすることができる、光測定装置
を提供することを目的とする。
にゼロ調整するかしないか、ゼロ調整するタイミング及
び調整量等は操作者の主観的判断に任されているため、
ゼロ調整を行なうことを忘れて測定を行なってしまうと
いう操作ミスが生じ易い。また、測定系のセッティング
等の条件で人手に頼るゼロ調整を随時行なうことが不可
能であるという理由で、あるいは無人の長時間連続自動
測定においてはゼロ調整を行なうために大がかりな装置
や操作プログラムが必要となるという理由で、ゼロ調整
を行なわないことが多い。オフセットは電源投入からの
時間経過や、周囲温度の変化等によって変化するため、
このように長時間ゼロ調整を行なわないことは誤差の発
生原因になり、測定値の信頼性を低めるため問題であ
る。 この考案は、操作者の主観的判断に頼ることなくつねに
オフセットをキャンセルすることができる、光測定装置
を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、この考案による光測定装置に
おいては、安定した出力光を被測定物に与える光発生手
段と、該光発生手段から被測定物に与える光をON・OFF
する光ON・OFF手段と、被測定物からの光を検出する手
段と、検出された出力を補正する補正手段と、上記光ON
・OFF手段を制御して一定周期で被測定物に与える光をO
N・OFFさせ、OFF時の検出出力がゼロとなるようにOFF時
の検出出力から所定の出力を差し引く演算を上記補正手
段をして行なわせ、この所定の出力が差し引かれる演算
がON時の検出出力についても行なわれるように上記補正
手段を制御する制御手段とを備えることが特徴となって
いる。
おいては、安定した出力光を被測定物に与える光発生手
段と、該光発生手段から被測定物に与える光をON・OFF
する光ON・OFF手段と、被測定物からの光を検出する手
段と、検出された出力を補正する補正手段と、上記光ON
・OFF手段を制御して一定周期で被測定物に与える光をO
N・OFFさせ、OFF時の検出出力がゼロとなるようにOFF時
の検出出力から所定の出力を差し引く演算を上記補正手
段をして行なわせ、この所定の出力が差し引かれる演算
がON時の検出出力についても行なわれるように上記補正
手段を制御する制御手段とを備えることが特徴となって
いる。
光発生手段から被測定物に与えられる光が一定周期でON
・OFFされる。すなわち、制御手段により光発生手段自
体をON・OFFさせたり、あるいは光発生手段自体はON・O
FFさせずに連続的に光を発生する状態としておいて別途
設けた遮光手段を制御手段で制御することによりその被
測定物に与える光のみをON・OFFさせる。この被測定物
に与えられる光がOFFになっているときは、被測定物か
らの光を検出する手段の検出出力はゼロにならなければ
ならないが、光電変換素子の暗電流や増幅回路のオフセ
ット等によりゼロにならないことがある。 そこで、このOFF時の検出出力がゼロとなるようにOFF時
の検出出力から所定の出力を差し引く演算を補正手段を
して行なわせるとともに、この所定の出力が差し引かれ
る演算がON時の検出出力についても行なわれるように補
正手段を制御する。 すると、検出出力がゼロにならなければならないときに
そうなるような補正演算が、被測定物に与えられる光が
OFFになっているときのみならず、ONになっているとき
も行なわれることになるので、光電変換素子の暗電流や
増幅回路のオフセット等が補正されることになる。つま
り、検出出力のゼロ調整が被測定物に与えられる光がOF
Fになっている期間に行なわれるので、上記の被測定物
に与える光のON・OFFの周期に応じた一定周期で検出出
力のゼロ調整が自動的に行なわれることになる。そのた
め、操作者がゼロ調整操作を忘れた場合などでも、つね
に補正手段によりオフセット等の適切な補正がなされる
ことになって正確な測定値を得ることができる。
・OFFされる。すなわち、制御手段により光発生手段自
体をON・OFFさせたり、あるいは光発生手段自体はON・O
FFさせずに連続的に光を発生する状態としておいて別途
設けた遮光手段を制御手段で制御することによりその被
測定物に与える光のみをON・OFFさせる。この被測定物
に与えられる光がOFFになっているときは、被測定物か
らの光を検出する手段の検出出力はゼロにならなければ
ならないが、光電変換素子の暗電流や増幅回路のオフセ
ット等によりゼロにならないことがある。 そこで、このOFF時の検出出力がゼロとなるようにOFF時
の検出出力から所定の出力を差し引く演算を補正手段を
して行なわせるとともに、この所定の出力が差し引かれ
る演算がON時の検出出力についても行なわれるように補
正手段を制御する。 すると、検出出力がゼロにならなければならないときに
そうなるような補正演算が、被測定物に与えられる光が
OFFになっているときのみならず、ONになっているとき
も行なわれることになるので、光電変換素子の暗電流や
増幅回路のオフセット等が補正されることになる。つま
り、検出出力のゼロ調整が被測定物に与えられる光がOF
Fになっている期間に行なわれるので、上記の被測定物
に与える光のON・OFFの周期に応じた一定周期で検出出
力のゼロ調整が自動的に行なわれることになる。そのた
め、操作者がゼロ調整操作を忘れた場合などでも、つね
に補正手段によりオフセット等の適切な補正がなされる
ことになって正確な測定値を得ることができる。
つぎにこの考案の一実施例について図面を参照しながら
説明する。第１図はこの考案の一実施例にかかる光測定
装置の構成を示すブロック図で、光源１より発生した光
が被測定物（たとえば光ファイバなどの光部品）２に入
射され、その透過光または反射光が光パワーメーター３
に導かれる。光パワーメーター３は、この光を受光して
電気的な信号に変換する受光素子４と、その電気的な出
力を増幅する増幅回路５と、増幅回路５の出力を補正す
る補正回路６とからなる。光源１はこの実施例の場合、
出力光を駆動電流にフィードバックすることなどにより
電源投入後瞬時に安定した出力光が得られる。瞬時安定
型の光源が用いられており、この光源１の電源が制御装
置７によってオン・オフ制御されるようになっている。
この制御装置７はパーソナルコンピュータ等のコンピュ
ータから構成され、増幅回路５の出力信号を所定のタイ
ミングで取り入れ、それに応じて補正回路６を制御する
機能をも有する。 この実施例の場合、光源１は、制御装置７によって制御
されて第２図に示すようなパターンで、発光（時間T1）
と消光（時間T2）とを繰り返している。いずれの場合も
受光素子４からの電気的な出力は増幅回路５で増幅され
るが、制御装置７は消光時間T2に同期して増幅回路５の
出力を取り込む。このときの増幅回路５の出力は、光源
１が消光しており受光素子４に光が入射していないので
あるから、ゼロにならなければならない。受光素子４の
暗電流や増幅回路５のオフセットなどがあると増幅回路
５の出力はゼロにならないことになるが、ゼロでない場
合に制御装置７は出力に応じて補正回路６を制御し、こ
の補正回路６において増幅回路５の出力から一定の出力
を差し引く演算を行なってその結果の出力がゼロとなる
ように調整する。 したがって、つぎの発光状態の時間T1では、光パワーメ
ーター３がゼロ調整された状態となっている。そこで、
このときの被測定物２からの光は受光素子４に導かれ、
その出力が増幅回路５に送られ、増幅回路５の出力が補
正回路６によって補正されることになるため、光パワー
メーター３は、受光素子４に入射した被測定物２からの
光に正しく対応した測定出力を生じることになる。この
測定出力は図示しない表示装置に送られて測定値が表示
されたり、図示しない記録装置に送られて記録されたり
するのに使用される。 そして、この発光状態の時間T1が終了してつぎの消光状
態の時間T2になると、再び上記のようなゼロ調整が行な
われ、これが繰り返される。 このように、発光時間T1の直前の消光時間T2において必
ずゼロ調整が行なわれるため、つねにオフセットが補正
された状態となり、誤差のない正しい測定値を得ること
ができる。 光源１として瞬時安定型の光源を用いない場合は、第３
図に示すように、遮光板８と駆動機構９とを用いること
もできる。遮光板８は光源１の光発射側に設けらてい
て、被測定物２へ入射する光を遮断する。駆動機構９は
この遮光板８を移動させることにより、遮光板８を光源
１の前面に置いて遮光状態とすることと、光源１の前面
より退避させて光が導かれる導光状態とすることを選ぶ
ものである。そして、制御装置７がこの駆動機構９を制
御して上記第２図で示したような一定周期のパターンで
導光状態と遮光状態とを繰り返すようにする。この場
合、光源１の電源を投入した後、十分にウォーミングア
ップ時間をとり、光出力が安定した状態とした上で、導
光状態と遮光状態との繰り返しを行なう。なお、光のシ
ャッター機構としては液晶シャッターなどを用いること
もできる。 ここでは、１つの制御装置７で光源１と光パワーメータ
ー３とを共通に制御しているが、それぞれ別個の制御装
置で制御するようにすることも可能である。この場合
は、発光時間T1と消光時間T2とをあらかじめ定めてお
き、増幅回路５の出力が急に小さくなったことなどを検
出することにより消光状態となったことを知り、そのタ
イミングで増幅回路５の出力を取り込むようにする。し
たがって、消光時間T2は、増幅回路５の出力を取り込む
時間に、消光状態を検出するのに必要な時間を加えたも
のとする必要がある。 また、制御装置７は光源１及び光パワーメーター３の外
部のコンピュータ等を使用するのでなく、最近の光源や
光パワーメーターにはCPUが組み込まれていることが多
いので、これらに組み込まれたCPU等を用いてもよい。
この場合は主にプログラムの変更だけでよいので実現が
容易である。 さらに、光パワーメーター３にCPUが組み込まれている
場合、そのCPUを利用して補正回路６で行なうべき差し
引き演算を行なうように構成することができる。またこ
のような補正回路６を用いず、増幅回路５を制御してそ
のオフセットを調整してゼロ調整することもできる。
説明する。第１図はこの考案の一実施例にかかる光測定
装置の構成を示すブロック図で、光源１より発生した光
が被測定物（たとえば光ファイバなどの光部品）２に入
射され、その透過光または反射光が光パワーメーター３
に導かれる。光パワーメーター３は、この光を受光して
電気的な信号に変換する受光素子４と、その電気的な出
力を増幅する増幅回路５と、増幅回路５の出力を補正す
る補正回路６とからなる。光源１はこの実施例の場合、
出力光を駆動電流にフィードバックすることなどにより
電源投入後瞬時に安定した出力光が得られる。瞬時安定
型の光源が用いられており、この光源１の電源が制御装
置７によってオン・オフ制御されるようになっている。
この制御装置７はパーソナルコンピュータ等のコンピュ
ータから構成され、増幅回路５の出力信号を所定のタイ
ミングで取り入れ、それに応じて補正回路６を制御する
機能をも有する。 この実施例の場合、光源１は、制御装置７によって制御
されて第２図に示すようなパターンで、発光（時間T1）
と消光（時間T2）とを繰り返している。いずれの場合も
受光素子４からの電気的な出力は増幅回路５で増幅され
るが、制御装置７は消光時間T2に同期して増幅回路５の
出力を取り込む。このときの増幅回路５の出力は、光源
１が消光しており受光素子４に光が入射していないので
あるから、ゼロにならなければならない。受光素子４の
暗電流や増幅回路５のオフセットなどがあると増幅回路
５の出力はゼロにならないことになるが、ゼロでない場
合に制御装置７は出力に応じて補正回路６を制御し、こ
の補正回路６において増幅回路５の出力から一定の出力
を差し引く演算を行なってその結果の出力がゼロとなる
ように調整する。 したがって、つぎの発光状態の時間T1では、光パワーメ
ーター３がゼロ調整された状態となっている。そこで、
このときの被測定物２からの光は受光素子４に導かれ、
その出力が増幅回路５に送られ、増幅回路５の出力が補
正回路６によって補正されることになるため、光パワー
メーター３は、受光素子４に入射した被測定物２からの
光に正しく対応した測定出力を生じることになる。この
測定出力は図示しない表示装置に送られて測定値が表示
されたり、図示しない記録装置に送られて記録されたり
するのに使用される。 そして、この発光状態の時間T1が終了してつぎの消光状
態の時間T2になると、再び上記のようなゼロ調整が行な
われ、これが繰り返される。 このように、発光時間T1の直前の消光時間T2において必
ずゼロ調整が行なわれるため、つねにオフセットが補正
された状態となり、誤差のない正しい測定値を得ること
ができる。 光源１として瞬時安定型の光源を用いない場合は、第３
図に示すように、遮光板８と駆動機構９とを用いること
もできる。遮光板８は光源１の光発射側に設けらてい
て、被測定物２へ入射する光を遮断する。駆動機構９は
この遮光板８を移動させることにより、遮光板８を光源
１の前面に置いて遮光状態とすることと、光源１の前面
より退避させて光が導かれる導光状態とすることを選ぶ
ものである。そして、制御装置７がこの駆動機構９を制
御して上記第２図で示したような一定周期のパターンで
導光状態と遮光状態とを繰り返すようにする。この場
合、光源１の電源を投入した後、十分にウォーミングア
ップ時間をとり、光出力が安定した状態とした上で、導
光状態と遮光状態との繰り返しを行なう。なお、光のシ
ャッター機構としては液晶シャッターなどを用いること
もできる。 ここでは、１つの制御装置７で光源１と光パワーメータ
ー３とを共通に制御しているが、それぞれ別個の制御装
置で制御するようにすることも可能である。この場合
は、発光時間T1と消光時間T2とをあらかじめ定めてお
き、増幅回路５の出力が急に小さくなったことなどを検
出することにより消光状態となったことを知り、そのタ
イミングで増幅回路５の出力を取り込むようにする。し
たがって、消光時間T2は、増幅回路５の出力を取り込む
時間に、消光状態を検出するのに必要な時間を加えたも
のとする必要がある。 また、制御装置７は光源１及び光パワーメーター３の外
部のコンピュータ等を使用するのでなく、最近の光源や
光パワーメーターにはCPUが組み込まれていることが多
いので、これらに組み込まれたCPU等を用いてもよい。
この場合は主にプログラムの変更だけでよいので実現が
容易である。 さらに、光パワーメーター３にCPUが組み込まれている
場合、そのCPUを利用して補正回路６で行なうべき差し
引き演算を行なうように構成することができる。またこ
のような補正回路６を用いず、増幅回路５を制御してそ
のオフセットを調整してゼロ調整することもできる。
この考案の光測定装置によれば、オフセットをキャンセ
ルするゼロ調整が一定周期で自動的に行なわれるので、
操作者の操作ミスなどに無関係につねにオフセットの補
正された正しい測定値を得ることができる。また、自動
的に一定周期で行なわれるので、測定が長時間にわた
り、経過時間や温度変動などによってオフセット自体が
ずれてくるような場合でも、それに対応してゼロ調整す
ることができ、精度の高い測定を続けることができる。
ルするゼロ調整が一定周期で自動的に行なわれるので、
操作者の操作ミスなどに無関係につねにオフセットの補
正された正しい測定値を得ることができる。また、自動
的に一定周期で行なわれるので、測定が長時間にわた
り、経過時間や温度変動などによってオフセット自体が
ずれてくるような場合でも、それに対応してゼロ調整す
ることができ、精度の高い測定を続けることができる。
第１図はこの考案の一実施例のブロック図、第２図は同
実施例の動作を説明するためのタイムチャート、第３図
は変形例の一部を示すブロック図である。 １…光源、２…被測定物、３…光パワーメーター、４…
受光素子、５…増幅回路、６…補正回路、７…制御装
置、８…遮光板、９…駆動機構。
実施例の動作を説明するためのタイムチャート、第３図
は変形例の一部を示すブロック図である。 １…光源、２…被測定物、３…光パワーメーター、４…
受光素子、５…増幅回路、６…補正回路、７…制御装
置、８…遮光板、９…駆動機構。
Claims (1)
- 【請求項１】安定した出力光を被測定物に与える光発生
手段と、該光発生手段から被測定物に与える光をON・OF
Fする光ON・OFF手段と、被測定物からの光を検出する手
段と、検出された出力を補正する補正手段と、上記光ON
・OFF手段を制御して一定周期で被測定物に与える光をO
N・OFFさせ、OFF時の検出出力がゼロとなるようにOFF時
の検出出力から所定の出力を差し引く演算を上記補正手
段をして行なわせ、この所定の出力が差し引かれる演算
がON時の検出出力についても行なわれるように上記補正
手段を制御する制御手段とを備えることを特徴とする光
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14184788U JPH0650742Y2 (ja) | 1988-10-29 | 1988-10-29 | 光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14184788U JPH0650742Y2 (ja) | 1988-10-29 | 1988-10-29 | 光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0263434U JPH0263434U (ja) | 1990-05-11 |
| JPH0650742Y2 true JPH0650742Y2 (ja) | 1994-12-21 |
Family
ID=31407283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14184788U Expired - Lifetime JPH0650742Y2 (ja) | 1988-10-29 | 1988-10-29 | 光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650742Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-10-29 JP JP14184788U patent/JPH0650742Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0263434U (ja) | 1990-05-11 |
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