JPH0649926U - 光ディスクのハブ穴径測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクのハブ穴の内径寸法測定が短時間
でしかも安定した精度で容易に行えるハブ穴径測定装置
を提供する。 【構成】 載置台３上に載せられた光ディスクを上方か
ら押え付ける押え筒４と、この押え筒４内を摺動し針先
状に形成された下端が光ディスクのハブ穴内に挿入され
ることにより光ディスクのハブ穴中心と載置台３の貫通
穴２の中心とを位置合わせする芯出しピン６とを設ける
とともに、接触式内径測定器の接触子がアクチュエータ
により載置台３の下方から上昇し載置台３の貫通穴２を
突き抜けて載置台３上の光ディスクのハブ穴内に挿入さ
れる構成の測定装置とする。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、光ディスクのハブ穴の径寸法を測定する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

近年、光ディスクは、コンパクトでありながら容量が大きい優れた記憶手段と して、コンピュータ産業をはじめ各種の分野で使用されているが、この光ディス クをドライブ装置において適正に機能させるには、そのハブ穴の径が高精度に所 定の寸法に仕上げられていることが極めて重要である。

【０００３】 なぜなら、周知のように、光ディスクは、そのハブ穴を基準として機械的にド ライブ装置において位置決めされた状態で、表面の所定位置に微細な複数の穴が 加工されることによりデータが登録され、またこのデータがレーザ光の反射を利 用して読み取られるものであり、前記ハブ穴はデータが格納される場所（アドレ ス）を特定し又捜査する上で基準となるので、この穴の加工誤差が大きいとデー タの読み取り不能等の不具合が発生するからである。したがって、この穴の加工 技術のみならず、寸法測定技術の向上が望まれていた。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかし、従来、この光ディスクのハブ穴の径寸法測定は、手動スタンプと呼ば れる器具により手動操作で行っていたので、短時間で大量の製品を処理すること が困難で、また作業者の熟練度によっては要求される精度の測定が安定的に行え ないという問題があった。

【０００５】 すなわち、手動スタンプとは、ボアゲージと呼ばれる接触式の内径測定器をレ バー操作により上下動させ、載置台の上に載せた光ディスクのハブ穴内にその接 触子を挿入させてハブ穴の径を測定するものであったため、レバーの操作の具合 によっては誤測定となったり、測定精度がばらつくことがあった。また、一度の レバー操作で接触子を適当な位置に挿入して測定を行うことが困難で、しばしば レバーの操作をやり直さなければならないので、測定に長時間を要して短いタク トタイムで大量生産される光ディスクを次々と検査するには人手が多く必要であ った。

【０００６】 本考案は、上記従来の事情に鑑みなされたもので、光ディスクのハブ穴の内径 寸法測定が短時間でしかも安定した精度で容易に行える光ディスクのハブ穴径測 定装置を提供することを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

本考案の光ディスクのハブ穴径測定装置は、水平に設けられ中心に鉛直方向の 貫通穴が形成された光ディスクの載置台と、この載置台の上方であって前記貫通 穴の中心線の延長線上に配置され上下動自在とされた押え筒と、この押え筒の下 端に取付けられ光ディスクのハブ内に挿入自在なリング状の弾性部材と、前記押 え筒内の中心線上に上下動自在に設けられ、針先状に形成されたその下端が前記 弾性部材を突き抜けて下方に突出可能とされた芯出しピンと、その接触子が前記 貫通穴の中心線上において上下動自在となるように前記載置台の下方に配設され た接触式内径測定器と、前記接触子を上下動させる接触子駆動手段とを備えるこ とを特徴としている。

【０００８】

【作用】

本考案の光ディスクのハブ穴径測定装置によると、光ディスクのハブ穴と載置 台の貫通穴の中心を概略一致させて光ディスクを載置台上に載せ、押え筒を下げ て弾性部材を介して光ディスクを載置台に押え付け、次に、先端が光ディスクの ハブ穴にはまり込むまで芯出しピンを下降させた後退避させ、その後接触子駆動 手段を作動させる、という簡単な操作でハブ穴径の高精度な測定が短時間で容易 に行える。

【０００９】 すなわち、芯出しピンが一旦ハブ穴にはめ込まれることにより光ディスクのハ ブ穴中心は正確に載置台の貫通穴の中心（すなわち、接触式内径測定器の接触子 の中心）に一致し、この状態で接触子が接触子駆動手段により常に一定距離上昇 させられハブ穴内に挿入されるので、操作する者の器量によらず、接触子は常に 一定の位置関係で光ディスクのハブ穴内に接触しつつ挿入されて、高精度な測定 が一回の操作で確実に行われるのである。

【００１０】

【実施例】

以下、本考案の一実施例を図１〜図５により説明する。図１は本実施例の測定 装置の下部構造を示す図であり、図２は上部構造を示す図である。

【００１１】 本実施例の測定装置は、図１，図２に示すように、架台１の上面に水平に設け られ中心に鉛直方向の貫通穴２が形成された光ディスクの載置台３と、この載置 台３の上方であって貫通穴２の中心線の延長線上に配置され上下動自在とされた 押え筒４と、この押え筒４の下端に取付けられ光ディスクのハブＨ内に挿入自在 なリング状の弾性部材５と、押え筒４内の中心線上に上下動自在に設けられ、針 先状に形成されたその下端が弾性部材５を突き抜けて下方に突出可能とされた芯 出しピン６と、その接触子７が貫通穴２の中心線上において上下動自在となるよ うに載置台３の下方の架台１内に配設された接触式内径測定器８と、架台１内に 配置され接触子７を上下動させるアクチュエータ９（接触子駆動手段）とを備え るものである。

【００１２】 載置台３は、軸受け１０，１１により支持されて鉛直軸（貫通穴２の中心）を 中心に回転自在とされたもので、その貫通穴２の上部にはハブ支持ブッシュ１２ とガイドブッシュ１３とが取付けられている。そして、これらブッシュ１２，１ ３の上端面は、前記弾性部材５の下面に対向し、光ディスクのハブＨの底を支持 する面として、載置台３の上方に若干突出し高精度な平面に仕上げられている。 また、ガイドブッシュ１３は、ハブ支持ブッシュ１２の内側に取付けられたもの で、その内径は光ディスクのハブ穴径よりも若干大きい程度とされ、その下端の 角部は接触子７が滑らかに挿入されるように斜めにカットされた形状又は丸みを 有する形状とされている。なお、このガイドブッシュ１３は、内面に接触子７が 接触しても滑らかに摺動するように、例えば自己潤滑性のある材料により形成さ れていることが好ましい。

【００１３】 押え筒４は、架台１の上面から伸びる支持アーム１４に軸受け１５を介して取 付けられ上下動自在とされたもので、下端には回転筒１６が軸受け１７を介して 水平回転自在に取付けられ、この回転筒１６の下端に前記弾性部材５が取付けら れている。また、この押え筒４において、支持アーム１４から突出する上端には 筒状のバネ受け部材１８が固定され、支持アーム１４よりも下方に突出する部分 には連結板１９の右端が固定されている。連結板１９は、支持アーム１４の水平 部分（オーバーハングしている部分）の下側に水平に配設されたもので、左端は 支持アーム１４に上下動自在に支持された補助軸２０の下端に固定されている。 そして、押え筒４と補助軸２０の外周であって、連結板１９と支持アーム１４の 水平部分との間には圧縮バネ２１，２２がそれぞれ配設され、これら圧縮バネ２ １，２２により押え筒４は下方に付勢されている。

【００１４】 芯出しピン６は、下部外周が押え筒４の下端側に極めて僅かな隙間で嵌合させ られることにより、押え筒４の軸中心線上に配置されて押え筒４に対して上下方 向に摺動自在とされたもので、その下端側外径は弾性部材５の内径よりも小さく 光ディスクのハブ穴よりも若干大きく設定されており、前述のように下端は針先 状に成形されている。また、芯出しピン６の上端には、バネ受けキャップ２３が 固定されており、このバネ受けキャップ２３の内側の端面と前記バネ受け部材１ ８との間に配設された圧縮バネ２４により、芯出しピン６は、常にその下端が弾 性部材５よりも上方に退避した位置に戻るように付勢されている。すなわち、図 ２は、作業者によってバネ受けキャップ２３の上端が押し下げられ、圧縮バネ２ ４が自然状態よりも縮んでいる状態を示している。

【００１５】 接触式内径測定器８は、接触子７が左右に二つ割りとされたもので、この接触 子７が計測しようとする穴内に挿入されて、二つ割りとされた一方と他方とが互 いに近接する方向に押されたときの、その開度の変化を電気信号として出力する もので、配線２５によってこの接触式内径測定器８に接続された処理装置におい てこの電気信号が読み取られ、内径寸法に換算されて表示されるようになってい るものである。なお、前述したように、この接触式内径測定器８は、接触子７と ともに上下動自在とされているものであり、そのためのガイド機構として、例え ばリニアベアリング等（図示略）が設けられている。

【００１６】 また、アクチュエータ９は、この場合例えば直動型のもので、架台１内に固定 状態に設けられ、上下に動作するその出力軸２６が連結アーム２７等により接触 式内径測定器８に連結されて、連結アーム２７等を介して接触式内径測定器８全 体を上下に動作させるものである。なお、接触式内径測定器８を上昇させたとき に、接触子７の先端が、前記支持ブッシュ１２又はガイドブッシュ１３の上端面 よりも若干上方に突出し、前記上端面に載置された光ディスクのハブＨの内径を 測定すべく最適な位置に停止するように、アクチュエータ９のストロークは設定 されている。なお、アクチュエータ９としては、例えばエアシリンダ、あるいは モータとボールネジを組合せたもの等の公知技術を利用したものが使用できる。

【００１７】 以上のように構成された測定装置であると、作業者が熟練者でなくても、以下 のようにして容易に短時間で高精度な光ディスクのハブ穴径測定が行える。

【００１８】 まず、連結板１９を持って上に引上げることにより押え筒４又は芯出しピン６ を上方に退避させた状態で、光ディスクのハブ穴と載置台３の貫通穴２の中心を 概略一致させて光ディスクを載置台３上に載せ、その後、連結板１９を持上げる 力を徐々に緩めることで圧縮バネ２１，２２の付勢力によって押え筒４を下降さ せ、図３に示す如く、弾性部材５により光ディスクを載置台３に押し付ける。

【００１９】 次に、バネ受けキャップ２３を下方に押すことにより、図２，図４に示す如く 、先端が光ディスクのハブＨの穴にはまり込むまで芯出しピン６を下降させ、そ の後、バネ受けキャップ２３を押す力を開放させて芯出しオイン６を上方に退避 させる。

【００２０】 そして、アクチュエータ９を作動させて、図５に示す如く接触子７を上昇させ れば、接触子７の先端はハブＨの穴に適正な位置関係で挿入されるので、このと き接触式内径測定器８から出力される信号が測定値に応じたものとなる。

【００２１】 すなわち、芯出しピン６が一旦ハブ穴にはめ込まれることによりハブ穴中心は 正確に載置台３の貫通穴２の中心（すなわち、接触式内径測定器８の接触子７の 中心）に一致し、この状態で接触子７が接触子駆動手段８により一定距離上昇さ せられハブ穴内に挿入されるので、操作する者の器量によらず、接触子７は常に 一定の位置関係でハブ穴内に接触しつつ挿入されて、高精度な測定が一回の操作 で確実に行われるのである。

【００２２】

【考案の効果】

以上の説明から明らかなように、本考案の光ディスクのハブ穴径測定装置によ ると、作業者の熟練度によらず高精度な測定が一回の操作で確実に行われるので 、光ディスクの大量生産ラインにおけるハブ穴径の検査が少ない人手で容易に行 えるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】光ディスクのハブ穴径測定装置の下部構造を示
す側面図である。

【図２】光ディスクのハブ穴径測定装置の上部構造を示
す側面図である。

【図３】本考案の作用を説明するための図であって、載
置台の貫通穴上部と押え筒の下端を示す側断面図であ
る。

【図４】本考案の作用を説明するための図であって、載
置台の貫通穴上部と押え筒の下端を示す側断面図であ
る。

【図５】本考案の作用を説明するための図であって、載
置台の貫通穴上部と押え筒の下端を示す側断面図であ
る。

【符号の説明】

２ 貫通穴 ３ 載置台 ４ 押え筒 ５ 弾性部材 ６ 芯出しピン ７ 接触子 ８ 接触式内径測定器８ ９ 接触子駆動手段（アクチュエータ）

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 水平に設けられ中心に鉛直方向の貫通穴
   が形成された光ディスクの載置台と、この載置台の上方
   であって前記貫通穴の中心線の延長線上に配置され上下
   動自在とされた押え筒と、この押え筒の下端に取付けら
   れ光ディスクのハブ内に挿入自在なリング状の弾性部材
   と、前記押え筒内の中心線上に上下動自在に設けられ、
   針先状に形成されたその下端が前記弾性部材を突き抜け
   て下方に突出可能とされた芯出しピンと、その接触子が
   前記貫通穴の中心線上において上下動自在となるように
   前記載置台の下方に配設された接触式内径測定器と、前
   記接触子を上下動させる接触子駆動手段とを備えること
   を特徴とする光ディスクのハブ穴径測定装置。