JPH064852A - 磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気ディスク装置

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JPH064852A
JPH064852A JP16236792A JP16236792A JPH064852A JP H064852 A JPH064852 A JP H064852A JP 16236792 A JP16236792 A JP 16236792A JP 16236792 A JP16236792 A JP 16236792A JP H064852 A JPH064852 A JP H064852A
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JP
Japan
Prior art keywords
magnetic disk
head
film
magnetic
disk device
Prior art date
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Pending
Application number
JP16236792A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhiro Taki
充博 瀧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH064852A publication Critical patent/JPH064852A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 コンタクト方式の磁気ディスク装置におい
て、磁気ディスクとヘッドとが常時接触摺動しても、磁
性膜が損傷するのを防止する。 【構成】 ガラス基板を用い、このガラス基板上に積層
した磁性膜上に膜厚50〜80オングストロームのパー
フルオロポリエーテルの潤滑膜を有する磁気ディスク4
と、荷重0.01〜0.1g重を有するヘッド6とを備
えている。このように、ヘッド6を荷重を小さくし、か
つ磁気ディスク4面に潤滑膜を形成することにより、ヘ
ッド6が常時磁気でディスクと接触摺動しても、磁性膜
が摩耗することはない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータの外部記
憶装置に使用する磁気ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスク装置は起動時に磁気ディス
クが回転して、ヘッドが磁気ディスクと接触しながら空
気の粘性による浮力を受けて浮上し、定常回転数になる
と一定の浮上量を保ち、磁気記録の書き込み及び読み出
しを行う。そして、停止時には、磁気ディスクの回転数
の低下と共にヘッドは浮上量が低下し、磁気ディスクと
接触摺動して停止する。
【0003】これは、コンタクト・スタート・ストップ
(CSS)方式と呼ばれ、広く採用されている。また、
高記録密度を達成するために、磁気ディスク及びヘッド
の特性向上に加えて、ヘッドの低浮上化がはかられてき
た。最近では、ヘッドの浮上量は0.1μmの達成を要
求されており、さらには、0.1μm以下のニアーコン
タクトレコーディングの領域、そして、最終的には、常
時接触するコンタクレコーディング方式まで進むと考え
られており、コンタクト方式の磁気ディスク装置として
ヘッドの軽量化及び低荷重化をはかった装置が考案され
ている。
【0004】磁気ディスクはNi−Pメッキ処理を施し
たアルミ基板にテクスチャーと呼ばれる同心円状の溝を
設け、その上にスパッタ法で成膜した下地Cr膜,磁性
膜及びアモルファスカーボン保護膜、そして、最表面に
潤滑膜を有するのが一般的である。テクスチャーは磁気
ディスク装置停止時に、ヘッドと磁気ディスクとの間に
生じる吸着力を低下させる目的で施せられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述したコンタクト方
式の磁気ディスク装置では、ヘッドと磁気ディスクとが
起動・停止時接触摺動するため、低荷重のヘッドであっ
ても、アモルファスカーボン保護膜が摩耗して磁性膜が
損傷したり、また、カーボン膜の摩耗によって生じた微
小粉がヘッドに付着し、記録特性に悪影響を与えるとい
う問題点があった。
【0006】さらに、ヘッドが磁気ディスク表面上にあ
る微小突起と衝突すると、低荷重のヘッドは跳ね上り、
着地の際に磁気ディスク面を損傷させるという問題点が
あった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、装置の起動・
停止時にヘッドと磁気ディスクとが接触摺動するコンタ
クト・スタート・ストップ方式の磁気ディスク装置にお
いて、前記ヘッドが荷重0.01〜0.1グラム重を有
し、かつ前記磁気ディスクがガラス基板とこのガラス基
板に積層する磁性膜とこの磁性膜上に形成する50〜8
0オングストロームの潤滑膜とを有している。
【0008】また、前記磁気ディスクの前記潤滑膜が次
に示す分子式 (A) R−CF2 −(OC2 4m −(OCF2
n −OCF2 −R (C) F−(C3 6 O)q −C2 4 −R″ ただし、R,R′,R″:アルキル基 m,n,p,qは0又は正の整数のパーフルオロポリエ
ーテルのいずれか1つよりなることを特徴とする。
【0009】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0010】図1(a),(b)は本発明の一実施例を
示す上面図及び側面図である。図1(a),(b)にお
いて、ベース1上にスピンドルモータ2とアクチュエー
タ3とが搭載され、スピンドルモータ2には磁気ディス
ク4が取り付けられ、また、アクチュエータ2にはヘッ
ドアーム5を介してヘッド6が取り付けられている。こ
のヘッド6は0.01〜0.1g重の荷重で磁気ディス
ク4上にロードされる。そして、アクチュエータ3とボ
イスコイルモータ7とによって、ヘッド6は磁気ディス
ク4の半径方向の移動し、所定のトラックに位置決めさ
れる。
【0011】図2(a),(b)は本発明の磁気ディス
ク装置に用いたヘッド6の構成を示す図である。ジンバ
ルスプリング8に取り付けられたAl2 3 TiC(ア
ルミナ・チタン・カーバイド)製のコア9には、Fe−
Ni合金10に挟まれた絶縁層11中にコイル12が形
成され、最上層には絶縁保護膜13が設けられている。
【0012】図3(a)は本実施例の磁気ディスク装置
に用いた磁気ディスク4の構成を示す図である。この磁
気ディスクは、表面粗さRa=1.0〜1.5nmに仕
上げられたガラス基板14上に、下地Cr膜15を10
00オングストローム、CoCrPt合金よりなる磁性
膜16を300オングストローム、カーボン保護膜17
を300オングストロームずつ順次形成し、さらに、カ
ーボン保護膜17上には、図4に示す分子式で表される
パーフルオロポリエーテルよりなる潤滑膜18が成膜さ
れている。そして、これらの下地Cr膜15,磁性膜1
6およびカーボン保護膜17はスパッタ法により形成
し、潤滑膜18はディッピング法により形成いた。続い
て、図3(b)に示す磁気ディスクは、他の実施例であ
って、磁性膜16の上にカーボン保護膜17を設けず、
直接潤滑膜18を成膜したものである。
【0013】次に、本実施例の磁気ディスク装置に用い
た磁気ディスク及びヘッドの耐久性試験の結果について
説明する。
【0014】図6は各環境下における磁気ディスク及び
ヘッドの耐久性試験結果を説明する図であって、本実施
例の磁気ディスク装置を5℃−5%RH,23℃−50
%RH及び60℃−80%RHの環境下で、図1に示す
磁気ディスク装置のヘッド6の位置を固定し、磁気ディ
スク4を毎分3600回転の回転数で500時間連続回
転させた後、ヘッド6及び磁気ディスク4の外観を調査
した結果を本実施例と従来例とについて比較したもので
ある。
【0015】また、試験される磁気ディスクのサンプル
は、カーボン膜の有り及び無しの2種類、潤滑剤のタイ
プは、図4に示すように3種類とした。そして、潤滑膜
厚は本実施例では50及び80オングストロームの2種
類とした。この潤滑剤は膜厚を厚く、例えば、100オ
ングストローム以上にすると、磁気ディスクが回転する
際に、遠心力によって周囲に飛散するため、別の障害を
引起すという弊害がある。
【0016】なお、従来例の磁気ディスクは、図5に示
すように、メッキ処理によりNi−P膜20を20μm
を有するアルミニウム基板19上に、スパッタ法により
下地Cr膜15を1000オングストローム、CoCr
Pt合金よりなる磁性膜16を300オングストロー
ム、カーボン保護膜17を300オングストロームずつ
順次形成し、さらに、カーボン保護膜17上には、ディ
ッピング法により膜厚20オングストロームのパーフル
オロポリエーテルよりなる潤滑膜18を形成したものを
用いた。
【0017】図6によると、本実施例では、すべての環
境下において異常は認められないが、従来例では、5℃
−5%RH及び60℃−80%RHで磁気ディスク4の
摩耗による異常が認められた。また、すべての実施例に
おいて、磁気ディスク4を毎分3600回転の回転数で
500時間連続回転させ、さらに、23℃−50%RH
で48時間放置した後でも、磁気ディスク装置の再起動
が支障なくできることが確認された。
【0018】なお、潤滑膜厚の測定は、X線分光分析機
(例えば、SSI社(米国),MプローブESCA)を
用い、潤滑剤の組成であるパーフルオロポリエーテルの
CF結合及びCH結合に対する光電子の強度(ピーク
値)をそれぞれ測定し、次式により求めた。
【0019】 潤滑膜厚(オングストローム) =40ln{2.06×(CFピーク)/(CHピーク)+1}
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気ディ
スク装置は、ガラス基板に積層した磁性膜上に膜厚50
〜80オングストロームの潤滑膜を有する磁気ディスク
と、低荷重のヘッドとを備えたので、磁気ディスクが摩
耗しにくく耐久性に優れるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】分図(a),(b)は本発明の一実施例を示す
上面図及び側面図である。
【図2】分図(a)は図1のヘッド6を示す図であり、
分図(b)は同図(a)のコア9の拡大断面図である。
【図3】分図(a),(b)は図1の磁気ディスク4の
構成を示す断面図である。
【図4】図3の磁気ディスク4の潤滑膜に用いた潤滑剤
の分子式を示す図である。
【図5】従来の磁気ディスクの構成の一例を示す断面図
である。
【図6】各環境下における磁気ディスク及びヘッドの耐
久性試験結果を説明する図である。
【符号の説明】
1 ベース 2 スピンドルモータ 3 アクチュエータ 4 磁気ディスク 5 ヘッドアーム 6 ヘッド 7 ボイスコイルモータ 8 ジンバルスプリング 9 コア 10 Fe−Ni合金 11 絶縁層 12 コイル 13 絶縁保護膜 14 ガラス基板 15 下地Cr膜 16 磁性膜 17 カーボン保護膜 18 潤滑膜 19 アルミニウム基板 20 Ni−P膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置の起動・停止時にヘッドと磁気ディ
    スクとが接触摺動するコンタクト・スタート・ストップ
    方式の磁気ディスク装置において、前記ヘッドが荷重
    0.01〜0.1グラム重を有し、かつ前記磁気ディス
    クがガラス基板とこのガラス基板に積層する磁性膜とこ
    の磁性膜上に形成する50〜80オングストロームの潤
    滑膜とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
  2. 【請求項2】 前記磁気ディスクの前記潤滑膜が次に示
    す分子式 (A) R−CF2 −(OC2 4m −(OCF2
    n −OCF2 −R (C) F−(C3 6 O)q −C2 4 −R″ ただし、R,R′,R″:アルキル基 m,n,p,qは0又は正の整数のパーフルオロポリエ
    ーテルのいずれか1つよりなることを特徴とする請求項
    1記載の磁気ディスク装置。
JP16236792A 1992-06-22 1992-06-22 磁気ディスク装置 Pending JPH064852A (ja)

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JP16236792A JPH064852A (ja) 1992-06-22 1992-06-22 磁気ディスク装置

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JP16236792A JPH064852A (ja) 1992-06-22 1992-06-22 磁気ディスク装置

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JPH064852A true JPH064852A (ja) 1994-01-14

Family

ID=15753224

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16236792A Pending JPH064852A (ja) 1992-06-22 1992-06-22 磁気ディスク装置

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JP (1) JPH064852A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100884481B1 (ko) * 2002-09-12 2009-02-17 주식회사 포스코 오븐 탄화실 도어
US8781405B2 (en) 2009-03-26 2014-07-15 Kyocera Corporation Radio communication terminal

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KR100884481B1 (ko) * 2002-09-12 2009-02-17 주식회사 포스코 오븐 탄화실 도어
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Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980916