JPH0644594A - ディスク装置の光学系制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】音飛びや異音の発生の少ないディスク装置の光
学系制御装置を提供する。 【構成】傷検出回路８によりディスクに傷が検出される
と、その時のフォーカスエラー信号及び／又はトラック
エラー信号をサンプル・ホールド回路１０によりサンプ
リングし、次の傷通過中に該サンプリングした値をドラ
イバ部１３に供給することにより、傷通過中の軌道から
の大きなずれを防止し、これにより音飛び等の発生を抑
制する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明はディスク装置の光学系
制御装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤプレーヤ等のディスク装置におい
て、ディスクのトラックを追従するためにトラッキング
サーボ系が設けられ、また光学系の焦点を合わせるため
にフォーカスサーボ系が設けられているが、ディスクに
傷がある場合には正しいトラッキングエラー信号及びフ
ォーカスエラー信号が得られず、サーボ不能になる問題
がある。このため、従来のディスク装置ではＲＦ信号の
欠落を検出して傷検出を行い、傷通過中のトラッキング
及びフォーカスの各コイル電圧を傷直前の電圧にホール
ドする構成やフィルタの定数切換等の構成を採用し、誤
ったサーボエラー信号に追従することを防止して、結果
として異音や音飛び等の防止を図っていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記した前値
ホールド処理を行っても、傷の幅がトラック方向に長い
場合には、傷通過中の軌道のずれ量が大きくなり、サー
ボの引き込み可能範囲を越える場合があり、傷通過後に
フォーカスサーボ系及びトラッキングサーボ系で再度ジ
ャストフォーカス及びジャストトラッキングの位置まで
戻せなくなる問題があった。その結果異音や音飛びが発
生する問題があった。本発明は上記した従来技術の問題
点を解決することを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のディスク装置の光学系制御装置は、ディスク
に対して光路を制御する光学系と、光学系駆動手段と、
前記光学系を用いてディスクを媒体として情報を記録再
生できるように前記光学系の動きを制御する光学系制御
手段と、ディスクの傷を検出する傷検出手段と、該傷検
出手段による傷検出後から所定時間経過後の前記光学系
駆動手段への入力信号を保持する保持手段と、前記傷検
出手段による傷検出時に、全光学系に対する入力を前記
光学系制御手段の出力から前記保持手段の出力に切り換
える切換制御手段とを備えたことを特徴とする。

【０００５】

【作用】該傷検出手段によりディスクの傷検出がなされ
たら、所定時間経過後の光学系駆動手段への入力信号が
保持手段により保持される。また傷検出手段による傷検
出時に、切換制御手段により前記光学系に対する入力を
光学系制御手段の出力から前記保持手段の出力に切り換
える。

【０００６】

【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。スピンドル１５により回転駆動されるディスクＸに
記録された情報はピックアップ１に備えられた対物レン
ズ１４を介して光学的に読みとられて電気信号に変換さ
れた上、ＲＦアンプ２を介して信号処理部３で所定の信
号処理を加えられてＤ／Ａ変換器４を介してスピーカ５
から音声化されて出力されるように構成されている。

【０００７】ピックアップ１はドライバ部１３によりト
ラッキングサーボ制御されており、ディスクＸのトラッ
クを追従するようなっている。また対物レンズ１４も同
様にドライバ部１３によりフォーカスサーボ制御されて
おり、ディスクＸのピットＰに焦点を合わせるように構
成されている。即ち該フォーカスサーボのエラー信号は
フォーカスエラーアンプ６を介してサーボ部１１に送ら
れ、ドライバ部１３は該エラーを修正するように対物レ
ンズ１４を駆動するようになっている。またトラッキン
グエラー信号も同様にトラッキングエラーアンプ７を介
してサーボ部１１に送られ、ドライバ部１３は該エラー
を修正するようにピックアップ１を駆動するように構成
されている。

【０００８】ＲＦアンプ２からの出力は傷検出回路８に
も入力しており、ＲＦアンプ２の出力が所定の基準電圧
以下になった時、傷ありと判定するようになっている。
該傷検出信号はタイマ９を起動して、これにより所定時
間計時を行うように構成されている。図３にＲＦアンプ
２の出力と傷検出回路８出力及びタイマ９の出力の関係
を示す。ＲＦアンプ２のレベルが下がると傷検出回路８
の出力が立ち上がり、該傷検出回路８の出力の立ち下が
りによりタイマ９が所定時間立ち上がるように構成され
ている。

【０００９】サーボ部１１とドライバ部１３の間にはサ
ンプル・ホールド回路１０と切換スイッチ１２が介装さ
れている。図３に示すようにサンプル・ホールド回路１
０はタイマ９の出力がある間サーボ部１１からの出力を
サンプリングし、その後該出力をホールドするようにな
っている。切換スイッチ１２はサーボ部１１とサンプル
・ホールド回路１０を選択的にドライバ部１３に接続す
るためのもので、常態ではｂ接点に接続してドライバ部
１３をサーボ部１１に接続するようになっている。図３
に示すように傷検出回路８からの信号があると、この信
号がある間切換スイッチ１２はａ接点に接続を切り換え
て、サンプル・ホールド回路１０をドライバ部１３に接
続してサンプル・ホールド回路１０からの出力によりサ
ーボ制御を実行するようになっている。２０はマイクロ
コンピュータであり、上記した構成の全体的な制御を実
行するように構成されている。

【００１０】図３に示すように、最初に傷が検出された
時には例えば前値ホールド電圧がドライバ部１３に供給
され、この時の傷検出回路８の出力の立ち下がりによ
り、傷通過後のエラー信号（フォーカスエラー信号及び
又はトラッキングエラー信号。以下同じ）をサンプル・
ホールド回路１０によりホールドし（ア点）、次の傷検
出時に切換スイッチ１２をサンプル・ホールド回路１０
側に切り換えて該ホールドした電圧をドライバ部１３に
供給し（イ点）、これに基づいてサーボ制御を実行させ
るように構成されている。

【００１１】次に図２に示すような傷Ｄがあった場合を
仮定して、動作を説明する。この傷Ｄは内周側トラック
の傷Ｄ１と次のトラックの傷Ｄ２にわたっており、その
トラック方向の幅も外周側のほうの傷Ｄ２が長くなって
いる。従来の構成では傷Ｄ２のようにトラック方向に長
い傷があると、この傷通過中に軌道のずれ量が大きくな
り、サーボの引き込み範囲を越えてしまう問題があった
が、この実施例ではこのような問題を解決できる。な
お、下記ではフォーカスサーボについて説明するが、ト
ラッキングサーボの場合も同じ動作である。ディスクＸ
に傷がない部分を再生しているときは、図３の区間Ａに
示すようにＲＦアンプ２からはＲＦ信号が傷検出回路８
に入力されている。ピックアップ１が傷Ｄ１上に到来す
ると、ピックアップ１からのレーザ光は正常に反射して
戻らず、ＲＦアンプ２からのＲＦ信号のレベルが低下す
る。これがＢ区間であり、傷検出回路８は該レベル低下
を検出している間、傷検出信号を出力する。傷検出回路
８のＨ出力により同時に切換スイッチ１２がａ側に切り
換わり、ドライバ部１３には例えば従来と同様に前値ホ
ールド電圧が供給される。傷検出回路８の立ち下がりに
よりタイマ９がＴｔの間起動し、傷通過後のフォーカス
エラーアンプ６からのフォーカスエラー信号をサンプル
・ホールド回路１０によりア点においてサンプリング
し、この値をホールドする。このＴｔ時間は任意でよい
が、傷通過後フォーカスサーボが再引き込みを終了する
時間Ｔｏよりも十分短いことが必要である。

【００１２】該Ｔｏの間、傷通過中の区間Ｂでジャスト
フォーカス位置からずらされた相対距離をジャストフォ
ーカス位置へ引き込んで通常のサーボ動作に復帰する。
次に傷Ｄ２の位置に来ると、同様な動作により切換スイ
ッチ１２がａ端子側に切り換わり、イ点においてサンプ
ル・ホールド回路１０にホールドされている電圧がドラ
イバ部１３に供給される。この電圧は前値ホールド電圧
やアンプの持っているオフセット電圧よりもより理想的
な値となっているから、長いＢ区間を経過した後も、軌
道が大きくずれることがなく、傷通過後に再引き込みが
可能になる。２回目の傷通過時点でも、タイマ９の出力
によりサンプル・ホールド回路１０はサンプリングを実
行し、この電圧を次の傷通過の際にドライバ部１３に供
給する。

【００１３】以上説明した通り、上記構成によれば２回
目以降の傷については、軌道が大きくずれることなく、
良好なフォーカス及びトラッキングサーボを実現でき
る。従って、最初の傷がトラック方向に長い傷である場
合には、音飛び等の可能性が残るが、図２に示すように
小さな傷から開始される場合には、傷通過毎にピックア
ップ１或いは対物レンズ１４の位置が修正されるので、
その後傷が大きくなっても音飛び等が効果的に防止され
る。

【００１４】また、図２に示すような１本の傷では、傷
の端面形状や傷表面の反射率は内周側から外周側のトラ
ックまで同じで共通であるが、異なる傷の場合には、こ
れらは全て異なってくる。従って、傷通過後にホールド
された値は、同じ傷通過時に利用することが望ましく、
そのために複数のサンプル・ホールド回路１０を設けて
おき、ディスクＸ１回転中に検出された傷毎に各サンプ
ル・ホールド回路１０を対応させ、同一の傷については
共通のホールド値を使用するようにすることが望まし
い。具体的には、傷検出毎に第１サンプル・ホールド回
路１０から順にサンプル・ホールドしていき、トラック
ナンバ等の検出によりディスクＸの１回転を検出した
ら、第１サンプル・ホールド回路１０に戻り、各傷と各
サンプル・ホールド回路１０を対応させることにより実
現できる。この時、例えばディスクＸ１回転中に検出さ
れた傷の数がサンプル・ホールド回路１０の数Ｎよりも
多い場合には、全てのサンプル・ホールド回路１０がサ
ンプルホールドした後は、他の傷を通過してもホールド
しない等の構成とする事が望ましい。

【００１５】また、サンプル・ホールド回路１０を１つ
だけ設ける場合には、ディスクＸ１回転中に複数の傷が
検出された場合には他の傷通過後にはサンプル・ホール
ド回路１０によりサンプルホールド動作を行わないよう
に構成するのが望ましい。上記した動作はマイクロコン
ピュータ２０により実現可能である。

【００１６】

【発明の効果】以上説明したように本発明のディスク装
置の光学系制御装置は、ディスクに対して光路を制御す
る光学系と、光学系駆動手段と、前記光学系を用いてデ
ィスクを媒体として情報を記録再生できるように前記光
学系の動きを制御する光学系制御手段と、ディスクの傷
を検出する傷検出手段と、該傷検出手段による傷検出後
から所定時間経過後の前記光学系駆動手段への入力信号
を保持する保持手段と、前記傷検出手段による傷検出時
に、全光学系に対する入力を前記光学系制御手段の出力
から前記保持手段の出力に切り換える切換制御手段とを
備えているため、ディスク上にトラック方向に長い傷等
があっても、異音や音飛び等の発生を抑制することが可
能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示すブロック図。

【図２】ディスクの傷の一例を示す説明図。

【図３】本発明の一実施例の動作を説明するタイミング
図。

【符号の説明】

１：ピックアップ、２：ＲＦアンプ、３：信号処理部、
４：Ｄ／Ａ変換器、５：スピーカ、６：フォーカスエラ
ーアンプ、７：トラッキングエラーアンプ、８：傷検出
回路、９：タイマ、１０：サンプル・ホールド回路、１
１：サーボ部、１２：切換スイッチ、１３：ドライバ
部、１４：対物レンズ、１５：スピンドル、２０：マイ
クロコンピュータ。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスクに対して光路を制御する光学系
   と、 光学系駆動手段と、 前記光学系を用いてディスクを媒体として情報を記録／
   再生できるように前記光学系の動きを制御する光学系制
   御手段と、 ディスクの傷を検出する傷検出手段と、 該傷検出手段による傷検出後から所定時間経過後の前記
   光学系駆動手段への入力信号を保持する保持手段と、 前記傷検出手段による傷検出時に、前記光学系に対する
   入力を前記光学系制御手段の出力から前記保持手段の出
   力に切り換える切換制御手段と、 を備えたことを特徴とするディスク装置の光学系制御装
   置。
2. 【請求項２】 前記保持手段が複数であり、 該複数の保持手段は、ディスク１回転中に複数の傷が検
   出された場合には、各傷検出後から所定時関経過後の前
   記光学系駆動手段への入力信号を順次保持し、 前記切換制御手段は各傷検出時に各傷に対応する保持手
   段の出力に切り換える、 請求項１に記載のディスク装置の光学系制御装置。
3. 【請求項３】ディスク１回転中における傷の数が前記保
   持手段の数を上回っている場合には、前記保持手段の数
   を上回った傷に対しては保持手段による入力信号の保持
   を行わない、 請求項１又は２に記載のディスク装置の光学系制御装
   置。
4. 【請求項４】前記光学系は対物レンズであり、 前記光学系駆動手段は前記対物レンズをディスク方向に
   移動する対物レンズ駆動手段であり、 前記光学系制御手段は前記対物レンズの焦点がディスク
   の情報記録面に一致するように前記対物レンズ駆動手段
   を制御する対物レンズ制御手段である、 請求項１又は２又は３に記載のディスク装置の光学系制
   御装置。
5. 【請求項５】前記光学系は対物レンズを備えたピックア
   ップであり、 前記光学系駆動手段は前記ピックアップをディスクのト
   ラック間方向に移動するピックアップ駆動手段であり、 前記光学系制御手段は前記ピックアップがディスクのト
   ラックに追従するように前記ピックアップ駆動手段を制
   御するピックアップ制御手段である、 請求項１又は２又は３に記載のディスク装置の光学系制
   御装置。