JPH0644135U - 半導体のウエット処理装置 - Google Patents

半導体のウエット処理装置

Info

Publication number
JPH0644135U
JPH0644135U JP8341392U JP8341392U JPH0644135U JP H0644135 U JPH0644135 U JP H0644135U JP 8341392 U JP8341392 U JP 8341392U JP 8341392 U JP8341392 U JP 8341392U JP H0644135 U JPH0644135 U JP H0644135U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
air curtain
static
ions
generated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8341392U
Other languages
English (en)
Inventor
正記 佐藤
敏久 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SPC Electronics Corp
Original Assignee
SPC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SPC Electronics Corp filed Critical SPC Electronics Corp
Priority to JP8341392U priority Critical patent/JPH0644135U/ja
Publication of JPH0644135U publication Critical patent/JPH0644135U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 塵埃の付着を防止する。 【構成】 静電気除去装置は除電電極5に高圧を印加す
ると、アース極と除電電極5との間に高圧電界ができ、
空気がイオン化される。そして、交流電界のため、
(+)と(−)の両方のイオンができ、Siウエハ1の
帯電極性と逆の極性のイオンが引きつけられ、Siウエ
ハ1表面に付着し、帯電が中和される。更に、静電気除
去装置4はクリーンなエアーカーテン6中に位置するの
で、Siウエハ1はエアーカーテン6の中を通って処理
槽3内に送られ、薬液或は純水による各種のウエット処
理を行う。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は半導体のウエット処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体を各種薬液、純水によるウエット処理中に、半導体であるSiウエハ又 はカセットとの摩擦、又は搬送中に空気との摩擦等により静電気が発生する欠点 があった。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
前記のように静電気が発生して半導体に帯電すると、クリーン室で処理してい ても、塵埃が付着するという問題があった。 そこで、本考案においては静電気を中和させて塵埃の付着を防止することがで きる装置を提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本考案は前記課題を解決するために、工程途中にクリーンなエアーカーテンを 設け、このエアーカーテン中に静電気除去装置を設けた半導体のウエット処理装 置を構成する。
【0005】
【作用】
本考案は前記のように構成したもので、ウエハを静電気除去装置の下側を通過 させて、ウエハに帯電している帯電極性と逆の極性のイオンをウエハ表面に付着 させて帯電を中和させる。そしてクリーンなエアーカーテン中を通すことにより 塵埃の付着を阻止する。
【0006】
【実施例】
本考案の第1実施例を図1に基づいて詳細に説明する。 Siウエハ1を収納したカセット2を薬液処理する処理槽3の手前側の上方に 静電気除去装置4(イオナイザー)を設置し、除電電極5を下側に位置させ、除 電電極5から下方に向ってクリーンなエアーカーテン6をブローする。
【0007】 第1実施例は前記のように構成したもので、静電気除去装置は除電電極5に高 圧を印加すると、アース極(図示省略)と除電電極5との間に高圧電界ができ、 空気がイオン化される。そして、交流電界のため、(+)と(−)の両方のイオ ンができ、Siウエハ1の帯電極性と逆の極性のイオンが引きつけられ、Siウ エハ1表面に付着し、帯電が中和される。 更に、静電気除去装置4はクリーンなエアーカーテン6中に位置するので、S iウエハ1はエアーカーテン6の中を通って処理槽3内に送られ、薬液或は純水 による各種のウエット処理を行う。
【0008】 次に、第2実施例を図2に基づいて説明すると、本実施例は処理槽3から次工 程へ移る位置に静電気除去装置4を設置したもので、他は全て第1実施例と同様 なので、同一符合を付し説明を省略する。
【0009】 第2実施例は前記のように構成したもので、処理槽3内で処理中に発生した静 電気を次工程へ移動させる途中において中和させる。
【0010】
【考案の効果】
本考案は前記のような構成、作用を有するので、Siウエハ等のワークに付着 する帯電を中和させることができるので、パーティクルの付着を防止することが できる。
【0011】
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る半導体のウエット処理装置の第1
実施例の正面図。
【図2】第2実施例の正面図。
【符号の説明】
1 Siウエハ(ワーク) 2 カセット 3 処理槽 4 静電気除去装置(イオナイザー) 5 除電電極 6 エアーカーテン

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 工程途中にクリーンなエアーカーテンを
    設け、このエアーカーテン中に静電気除去装置を設けた
    ことを特徴とする半導体のウエット処理装置。
JP8341392U 1992-11-10 1992-11-10 半導体のウエット処理装置 Pending JPH0644135U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8341392U JPH0644135U (ja) 1992-11-10 1992-11-10 半導体のウエット処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8341392U JPH0644135U (ja) 1992-11-10 1992-11-10 半導体のウエット処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0644135U true JPH0644135U (ja) 1994-06-10

Family

ID=13801756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8341392U Pending JPH0644135U (ja) 1992-11-10 1992-11-10 半導体のウエット処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0644135U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211951A (ja) * 2011-03-30 2012-11-01 Shin Etsu Chem Co Ltd フォトマスク関連基板の洗浄方法及び洗浄装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211951A (ja) * 2011-03-30 2012-11-01 Shin Etsu Chem Co Ltd フォトマスク関連基板の洗浄方法及び洗浄装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5565179A (en) Electrostatic particle removal and characterization
US6760213B2 (en) Electrostatic chuck and method of treating substrate using electrostatic chuck
WO1994005138A1 (en) Appararus and method for producing gaseous ions by use of x-rays, and various apparatuses and structures using them
JP3191139B2 (ja) 試料保持装置
KR100630895B1 (ko) 기류반송장치
US6127289A (en) Method for treating semiconductor wafers with corona charge and devices using corona charging
EP0790642A2 (en) Method and apparatus for removing contaminant particles from surfaces in semiconductor processing equipment
JPH0644135U (ja) 半導体のウエット処理装置
JP4679813B2 (ja) パーティクル付着防止装置及び方法、大気搬送装置、真空搬送装置、並びに半導体製造装置
KR102513466B1 (ko) 정전식 피작업물 보유 방법 및 정전식 피작업물 보유 시스템
JP4986191B2 (ja) 除電装置及び除電方法
JP2915458B2 (ja) 半導体ウェーハ洗浄装置
JP3974475B2 (ja) 静電チャック装置及びその装置を用いた基板の処理方法
JP3880439B2 (ja) 基板の搬送装置
JPH0644144U (ja) 搬送機構における帯電防止装置
JPH04370697A (ja) 帯電物体の中和装置
US5506744A (en) Ionized airflow manifold for static reduction
JP4387642B2 (ja) 残留電荷除去方法及び残留電荷除去装置
KR20020091337A (ko) 기판 표면의 입자성 오염물 제거 방법 및 그 제거장치
JPH11329783A (ja) 帯電々荷中和方法及び帯電々荷中和装置
JPH0936009A (ja) イオナイザ
KR0118224Y1 (ko) LCD의 러빙(Rubbing) 공정에서 발생되는 정전기 제거장치
JPH0382029A (ja) 湿式処理装置
JPH069128U (ja) 半導体製造装置
JP3531172B2 (ja) ダスト飛散防止装置