JPH0643018A - 赤外線センサおよびその製造方法 - Google Patents

赤外線センサおよびその製造方法

Info

Publication number
JPH0643018A
JPH0643018A JP4130617A JP13061792A JPH0643018A JP H0643018 A JPH0643018 A JP H0643018A JP 4130617 A JP4130617 A JP 4130617A JP 13061792 A JP13061792 A JP 13061792A JP H0643018 A JPH0643018 A JP H0643018A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
etching
infrared
electrode pad
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4130617A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3179861B2 (ja
Inventor
Taketoshi Mori
武寿 森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Terumo Corp
Original Assignee
Terumo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Terumo Corp filed Critical Terumo Corp
Priority to JP13061792A priority Critical patent/JP3179861B2/ja
Priority to EP93106318A priority patent/EP0566156B1/en
Priority to US08/047,472 priority patent/US5397897A/en
Priority to DE69313337T priority patent/DE69313337T2/de
Publication of JPH0643018A publication Critical patent/JPH0643018A/ja
Priority to US08/365,036 priority patent/US5521123A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3179861B2 publication Critical patent/JP3179861B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 架橋部を破壊することなく、電極パッド上に
コンタクトホールを形成できるようにする。 【構成】 電極配線層15上に、クロム(Cr)膜1
6、および銅(Cu)膜17を順次積層して電極パッド
30a、30bを形成し、続いてシリコンオキシナイト
ライド膜18を形成する。次に、シリコンオキシナイト
ライド膜18にコンタクトホール19を形成する。その
後、シリコンオキシナイトライド膜13の開口部20を
通して、ヒドラジン水溶液の異方性エッチングによりシ
リコン基板11を裏面からエッチングして架橋部を形成
する。異方性エッチングを行う際に、電極パッド30
a、30bの最上層に耐エッチング性の銅膜17が形成
されているので、電極パッド30a、30bがエッチン
グ液により溶けるおそれがない。しかも、予めコンタク
トホール19が形成されているので、架橋部が破損する
ことがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は非接触で被計測対象の温
度を計測する赤外線センサに係り、特に電極パッドの構
造を改良した赤外線センサおよびその製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】最近、非接触の体温計等に用いて好適な
赤外線センサを半導体微細加工技術を利用して作製する
技術が種々開発されている。この赤外線センサとして
は、サーモボロメータ型やサーモパイル型等種々の形式
のものがある。この中でもサーモボロメータ型の赤外線
センサは、サーミスタ効果を持つ物質により赤外線感温
膜を形成し、受光した赤外線による上昇温度を電気抵抗
値の変化で測定し、赤外線量(温度)を知るものであ
り、センサを容易に小型化できる点で他の形式のものよ
り優れている。
【0003】このサーモボロメータ型の赤外線センサで
は、赤外線感温膜の熱容量が小さく、しかもそこから外
部に伝達する熱量が小さければ、それだけ温度上昇が大
きくなり、微量な赤外線に対して応答感度が高くなる。
このため、センサ基板上に非常に小さく、薄い(0.1
〜50μm)架橋部を形成し、この架橋部の上に赤外線
感温膜を形成した構造とすることが好ましい。すなわ
ち、素子の感熱部分をセンサ基板から浮かせた架橋構造
とすることにより応答感度の改善を図るものである。
【0004】この架橋部の形成には、2つの方法があ
る。一つは、センサ基板に堀込み部を形成し、この堀込
み部を一旦埋め戻して犠牲層を形成し、この犠牲層上に
架橋部のパターンを形成するとともに、このパターン上
に赤外線感温膜を形成し、その後犠牲層を取り去り、架
橋部とする方法である。もう一つは、センサ基板の一面
に架橋部のパターンおよび赤外線感温膜を形成した後、
他面から異方性エッチングを行い架橋部パターン下に空
洞部を設けることにより、架橋部を形成する方法であ
り、この方法が前者の方法に比べて製造工程が容易であ
る。
【0005】ところで、この後者の方法では、異方性エ
ッチング液として、ヒドラジン、水酸化カリウム水溶液
等が用いられる。しかしながら、このエッチング液は、
強いアルカリ性であるため、センサ基板としてのシリコ
ンだけでなく、シリコン以外の材料のアルミニウム等、
通常、電極や配線材料として用いられものも溶かしてし
まう。そのため、この架橋構造の製作にあたっては、た
とえば次のような方法を取る必要がある。
【0006】センサ基板となるシリコン基板上に架橋部
形成用の絶縁膜を形成し、その上に赤外線感温膜を形成
し、アルミニウムによる配線層および電極パッドを形成
する。そして、全面に保護膜(絶縁膜)を形成した後、
前述の異方性エッチングによりシリコン基板の裏面から
選択的にエッチングを行い、架橋部を形成する。続い
て、シリコン基板の上面の保護膜に、電極パッドに達す
るコンタクトホールを形成する。その後、このコンタク
トホールを通して、電極パッドとフレキシブルプリント
基板(FPC)とを半田付けにより電気的に接続させ
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように架橋構造を有する赤外線センサでは、架橋構造が
0.1〜50μmと極めて薄いため、非常にもろく、そ
のため異方性エッチングを行った後、電極パッド上にコ
ンタクトホールを形成する工程において架橋部が破損し
やすく、そのため製造歩留りが極めて悪くなるという問
題があった。
【0008】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、安定した架橋部および電極構造を有
する赤外線センサを提供することにある。
【0009】本発明は、また、架橋部を破壊することな
く、電極パッド上にコンタクトホールを容易に形成する
ことができる赤外線センサの製造方法を提供することを
目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明による赤外線セン
サは、半導体材料により形成されるとともに、架橋部を
有するセンサ基板と、このセンサ基板の前記架橋部に設
けられた赤外線感温膜と、この赤外線感温膜に電気的に
接続されるとともに、耐エッチング性の導電膜を含む積
層膜により形成された電極パッドとを備えている。
【0011】この赤外線センサでは、電極パッドが耐エ
ッチング性の導電膜を含んで形成されるため、電極パッ
ド上にコンタクトホールを形成し、電極パッドを露出さ
せた後に、異方性エッチングを行うことができ、そのた
め安定した架橋部を得ることができる。
【0012】本発明による赤外線センサの製造方法は、
半導体材料からなるセンサ基板の一方の主面に架橋部形
成用の第1の絶縁膜を形成するとともに、前記センサ基
板の他方の主面にエッチング用の開口部を有する第2の
絶縁膜を形成する工程と、前記第1の絶縁膜上に赤外線
感温膜を形成する工程と、前記第1の絶縁膜上に、最上
層に耐エッチング性の導電性膜を有する電極パッドを前
記赤外線感温膜に電気的に接続するように形成する工程
と、前記電極パッドを含む前記センサ基板上に第3の絶
縁膜を形成し、この第3の絶縁膜に前記電極パッドに達
するコンタクトホールを選択的に形成する工程と、前記
コンタクトホールを形成した後、前記開口部を通して前
記センサ基板の異方性エッチングを行うことにより架橋
部を形成する工程とを備えている。
【0013】この方法によれば、電極パッド上の第3の
絶縁膜にコンタクトホールを形成した後、ヒドラジン等
の強いアルカリ液による異方性エッチングを行う際に、
電極パッドの最上層に耐エッチング性の導電性膜が形成
されているので、電極パッドがエッチング液により溶け
るおそれがない。しかも、架橋部が形成された後にコン
タクトホールを形成する必要がないので、架橋部が破損
することがなく、製造歩留りが向上する。
【0014】センサ基板としては、シリコン、ゲルマニ
ウム等の半導体基板が用いられるが、容易にしかも安価
に手に入れることが可能なシリコン基板を用いることが
好ましい。また、赤外線感温膜はアモルファスゲルマニ
ウム(a−Ge)、アモルファスシリコン(a−Si)
や多結晶シリコン等の膜により形成される。この赤外線
感温膜の成膜には、スパッタリング、イオンビームスパ
ッタリング、CVD(化学的気相成長法)等が用いられ
る。
【0015】架橋部は、シリコン酸化膜(SiOx)、シリコ
ン窒化膜 (SiNy) 、シリコンオキシナイトライド(SiOxN
y)膜等により形成することができるが、特にシリコンオ
キシナイトライド膜により形成することが好ましい。シ
リコンオキシナイトライド膜は、シリコン酸化膜とシリ
コン窒化膜との両者の性質を持ち、そのため応力バラン
スが良く、安定した架橋構造を形成することが可能とな
る。
【0016】電極パッドは、通常アルミニウム(Al)
膜により形成されるが、最上層の耐エッチング膜として
は、たとえば銅(Cu)膜あるいは金(Au)膜が用い
られる。なお、銅膜とした場合には、その上には、酸化
防止のためにニッケル(Ni)膜を形成することが好ま
しい。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して具体
的に説明する。
【0018】図1は本発明の一実施例に係る赤外線セン
サの縦断面構造を表すものである。この赤外線センサは
裏面側(図において下側)から赤外線が入射する形式の
ものである。
【0019】本実施例の赤外線センサ10では、センサ
基板としてのシリコン基板11に空洞部21が形成され
ている。この空洞部21の上面には、たとえば幅20μ
m、長さ2mm、膜厚3μmの架橋部12aを有するシ
リコンオキシナイトライド(SiOxNy)膜12が形成されて
いる。架橋部12aの中央部の上面には赤外線感温膜1
4が設けられている。この赤外線感温膜14は、たとえ
ばアモルファスゲルマニウム(a−Ge)により形成さ
れている。赤外線感温膜14には、たとえばアルミニウ
ム(Al )膜により形成された電極配線層15の一端部
が電気的に接続されている。シリコン基板11上の周縁
部において、この電極配線層15上には電極パッド30
a、30aが設けられている。
【0020】電極パッド30a、30bはそれぞれクロ
ム(Cr)膜16および銅(Cu)膜17の積層膜によ
り形成されている。シリコン基板11の表面は保護膜と
してのシリコンオキシナイトライド膜18により覆われ
ており、このシリコンオキシナイトライド膜18には電
極パッド30a、30b各々に対向してコンタクトホー
ル19が設けられている。このコンタクトホール19に
は銅膜17上にニッケル(Ni)膜22が形成されてお
り、銅膜17の酸化を防止している。ニッケル膜22に
は、半田付け等によりフレキシブルプリント基板(図示
せず)が電気的に接続されている。なお、シリコン基板
11の下面には架橋部形成用のシリコンオキシナイトラ
イド膜13が形成されている。
【0021】この赤外線センサ10では、赤外線感温膜
14に赤外線が入射され、その赤外線量(温度)に応じ
て赤外線感温膜14の電気抵抗値が変化する。この電気
抵抗値の変化に伴い電極配線層15に流れる電流値が変
化するとともに電極パッド30a、30b間の電圧値が
変化するため、この電流値或いは電圧値の変化を図示し
ないフレキシブルプリント基板を介して信号処理回路で
検出することにより、被計測対象の温度を測定すること
ができる。
【0022】図2(A)〜(D)ないし図4(A)、
(B)は上記赤外線センサ10の製造工程を表すもので
ある。
【0023】まず、図2(A)に示すような結晶面方位
(100)のシリコン基板11を用意し、このシリコン
基板11の両面にそれぞれ、第1および第2の絶縁膜と
して、プラズマCVD法により同図(B)に示すような
膜厚2μmのシリコンオキシナイトライド膜12、13
を形成した。すなわち、シリコン基板11を450℃に
加熱し、成膜条件として、圧力を0.45toor、高周波
出力を400W とし、反応ガスとして、モノシラン(S
i H4 )を15SCCM、窒素(N2 )を203SCCM、笑気
ガス(N2 O)を32SCCM流し、シリコン基板11の両
面にそれぞれシリコンオキシナイトライドを20分間気
相成長させ成膜させた。
【0024】次に、シリコン基板11の表面のシリコン
オキシナイトライド膜12をパターニングして架橋部1
2aのパターンを形成した。このパターニングはたとえ
ば反応性イオンエッチング(RIE)により、下地のシ
リコン基板11が露出するまで行った。このエッチング
は、エッチングガスとして三フッ化メタン(CHF3
と酸素(O2 )を用い、その流量をCHF3 =47.5
SCCM、O2 =2.5SCCMとし、エッチング時の圧力を
0.075Torr、高周波出力を150Wとし、エッチン
グ時間を3時間とした。
【0025】続いて、シリコンオキシナイトライド膜1
2の中央部上面に図2(C)に示すような赤外線感温膜
14を形成した。すなわち、ゲルマニウム(Ge)をタ
ーゲットとしてスパッタリングを行い、シリコンオキシ
ナイトライド膜12上にアモルファスゲルマニウム(a
ーGe)膜を形成した。このスパッタリングは、ガス流
量をアルゴン(Ar)=4SCCM、成膜圧力を3×10-3
Torr、高周波出力を160Wとして10分間行った。次
に、400°Cでアニール処理を行い、アモルファスゲ
ルマニウムの多結晶化を促進した。続いて、反応性イオ
ンエッチングを行って多結晶化されたアモルファスゲル
マニウム膜のパターニングを行った。続いて、50°C
に加熱してたとえば蒸着法によりシリコン基板11の表
面に膜厚0.5μmのアルミニウム膜を形成した後、パ
ターニングして図2(D)に示すような電極配線層15
を形成した。
【0026】次に、図3(A)に示すように、シリコン
基板11の周縁部に電極パッド30a、30bを形成し
た。すなわち、真空蒸着法により電極配線層15上に、
膜厚0.05μmのクロム(Cr)膜16、および耐エ
ッチング膜としての膜厚1.5μmの銅(Cu)膜17
を順次形成した。続いて、シリコン基板11の表面に、
図3(B)に示すように第3の絶縁膜として、たとえば
膜厚1μmのシリコンオキシナイトライド膜18を形成
した。
【0027】次に、図3(C)に示すように、電極パッ
ド30a、30bそれぞれに対応させてシリコンオキシ
ナイトライド膜18にコンタクトホール19を形成し
た。続いて、裏面のシリコンオキシナイトライド膜13
を選択的にエッチングして開口部20を形成した。
【0028】続いて、この開口部20を通してシリコン
基板11を裏面から選択的にエッチングし、図4(A)
に示すように空洞部21を形成した。このエッチングは
ヒドラジン水溶液を用いた異方性エッチング液により、
温度110°Cで1時間30分行い、シリコン基板11
の表面のシリコンオキシナイトライド膜12に達するま
で行った。なお、この異方性エッチングは水酸化カリウ
ム水溶液を用いて行うようにしてもよい。
【0029】次に、無電解めっき法により図4(B)に
示すように、電極パッド30a、30bそれぞれのコン
タクトホール19に、銅膜17の酸化防止用としてニッ
ケル膜22を形成した。このめっきは、めっき液として
トップケミアロイB−1(奥野製薬工業(株)社製)を
用い、65°Cで5分間浸して膜厚1μmの厚さのニッ
ケル膜22とした。
【0030】本実施例の方法によれば、第3の絶縁膜と
してのシリコンオキシナイトライド膜18にコンタクト
ホール19を形成した後、ヒドラジン等の強いアルカリ
液による異方性エッチングを行う際には、電極パッド3
0a、30bの最上層に耐エッチング性を有する銅膜1
7が形成されているので、電極パッド30a、30bが
エッチング液により溶けるおそれがない。しかも、シリ
コン基板11の上面にコンタクトホール19を形成する
際には、架橋部12aは形成されていないので、架橋部
12aが破損することがなく、このため製造歩留りが著
しく向上する。
【0031】なお、上記実施例においては、銅膜17の
酸化防止用としてのニッケル膜22を、異方性エッチン
グを行った後に形成するようにした(図4(B))が、
このニッケル膜22の成膜は異方性エッチングを行う前
で、コンタクトホール19を形成した後に行うようにし
てもよい。
【0032】また、上記実施例では、電極パッド30
a、30bをそれぞれクロム膜16および銅膜17から
なる2層の積層膜により形成するようにしたが、図5に
電極パッド30aを取り出して示すように、銅膜17上
にさらに金(Au)膜23を形成して3層構造としても
よく、この場合には上記実施例のようなニッケル膜22
は不要となる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように請求項1記載の赤外
線センサによれば、半導体材料により形成されるととも
に、架橋部を有するセンサ基板と、このセンサ基板の前
記架橋部に設けられた赤外線感温膜と、この赤外線感温
膜に電気的に接続されるとともに、耐エッチング性の導
電膜を含む積層膜により形成された電極パッドとを備え
るようにしたので、電極パッドにコンタクトホールを形
成した後に、強いアルカリ液による異方性エッチングを
行うことができ、そのため安定した架橋部を得ることが
できる。
【0034】また、請求項2記載の赤外線センサの製造
方法によれば、強いアルカリ液による異方性エッチング
を行う前に、最上層に耐エッチング性の導電性膜を有す
る電極パッドを形成するとともにコンタクトホールを形
成するようにしたので、異方性エッチングを行う際に、
電極パッドの最上層に耐エッチング性の導電性膜が形成
されており、電極パッドがエッチング液により溶けるお
それがなく、しかも架橋部が破損することがなく、製造
歩留りが向上するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る赤外線センサの構成を
表す縦断面図である。
【図2】図1の赤外線センサの製造工程を表す縦断面図
である。
【図3】図1の赤外線センサの製造工程を表す縦断面図
である。
【図4】図1の赤外線センサの製造工程を表す縦断面図
である。
【図5】本発明の他の実施例に係る赤外線センサの縦断
面図である。
【符号の説明】
10 赤外線センサ 11 シリコン基板(センサ基板) 12 シリコンオキシナイトライド膜(第1の絶縁膜) 12a 架橋部 13 シリコンオキシナイトライド膜(第2の絶縁膜) 14 赤外線感温膜 15 電極配線層 16 クロム膜 17 銅膜 18 シリコンオキシナイトライド膜(第3の絶縁膜) 19 コンタクトホール 20 開口部 21 空洞部 22 ニッケル膜 23 金膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体材料により形成されるとともに、
    架橋部を有するセンサ基板と、 このセンサ基板の前記架橋部に設けられた赤外線感温膜
    と、 この赤外線感温膜に電気的に接続されるとともに、耐エ
    ッチング性の導電膜を含む積層膜により形成された電極
    パッドとを備えたことを特徴とする赤外線センサ。
  2. 【請求項2】 半導体材料からなるセンサ基板の一方の
    主面に架橋部形成用の第1の絶縁膜を形成するととも
    に、前記センサ基板の他方の主面にエッチング用の開口
    部を有する第2の絶縁膜を形成する工程と、 前記第1の絶縁膜上に赤外線感温膜を形成する工程と、 前記第1の絶縁膜上に、最上層に耐エッチング性の導電
    性膜を有する電極パッドを前記赤外線感温膜に電気的に
    接続するように形成する工程と、 前記電極パッドを含む前記センサ基板上に第3の絶縁膜
    を形成し、この第3の絶縁膜に前記電極パッドに達する
    コンタクトホールを選択的に形成する工程と、 前記コンタクトホールを形成した後、前記開口部を通し
    て前記センサ基板の異方性エッチングを行うことにより
    架橋部を形成する工程とを備えたことを特徴とする赤外
    線センサの製造方法。
JP13061792A 1992-04-17 1992-05-22 赤外線センサの製造方法 Expired - Fee Related JP3179861B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13061792A JP3179861B2 (ja) 1992-05-22 1992-05-22 赤外線センサの製造方法
EP93106318A EP0566156B1 (en) 1992-04-17 1993-04-19 Infrared sensor and method for production thereof
US08/047,472 US5397897A (en) 1992-04-17 1993-04-19 Infrared sensor and method for production thereof
DE69313337T DE69313337T2 (de) 1992-04-17 1993-04-19 Infrarotsensor und Verfahren für dessen Herstellung
US08/365,036 US5521123A (en) 1992-04-17 1994-12-28 Infrared sensor and method for production thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13061792A JP3179861B2 (ja) 1992-05-22 1992-05-22 赤外線センサの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0643018A true JPH0643018A (ja) 1994-02-18
JP3179861B2 JP3179861B2 (ja) 2001-06-25

Family

ID=15038512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13061792A Expired - Fee Related JP3179861B2 (ja) 1992-04-17 1992-05-22 赤外線センサの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3179861B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102318616B1 (ko) * 2019-08-28 2021-10-28 강준우 기하패턴을 갖는 지퍼

Also Published As

Publication number Publication date
JP3179861B2 (ja) 2001-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH06317475A (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
JP4235278B2 (ja) 交差配置形電極構造体を備えたセンサの製造方法
JPH05206482A (ja) ピエゾ抵抗半導体センサ・ゲージ及びこれを作る方法
JP3258066B2 (ja) サーモパイル型赤外線センサの製造方法
US5622586A (en) Method of fabricating device made of thin diamond foil
KR100421177B1 (ko) 전기도금을 이용한 초소형 열유속 센서 및 그 제조방법
KR20020011384A (ko) 박막 피에조 저항 센서의 제조 방법
JPH0661012A (ja) 薄膜サーミスタ
JP3179861B2 (ja) 赤外線センサの製造方法
JP3274881B2 (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
JP2000146511A (ja) 歪ゲージ
KR100300285B1 (ko) 미세 열유속센서 및 그 제조 방법
JP2001057358A (ja) 薄膜を備えたセンサを製作するための方法
JPH11354302A (ja) 薄膜抵抗素子
JPH0213739B2 (ja)
JPH0755523A (ja) 流量センサ
JPS61181103A (ja) 白金測温抵抗体
JP2742287B2 (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
JPH05307045A (ja) 流速センサ
JP3249174B2 (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
JPH0765937B2 (ja) センサ素子およびその製造方法
JP2946351B2 (ja) 赤外線センサおよびその製造方法
JP3061680B2 (ja) センサ装置の製造方法
JPH07318445A (ja) 静電容量型圧力センサとその製造方法
JP3132210B2 (ja) ガスセンサ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees