JPH0635954U - 蛍光x線分析装置 - Google Patents

蛍光x線分析装置

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JPH0635954U
JPH0635954U JP7688692U JP7688692U JPH0635954U JP H0635954 U JPH0635954 U JP H0635954U JP 7688692 U JP7688692 U JP 7688692U JP 7688692 U JP7688692 U JP 7688692U JP H0635954 U JPH0635954 U JP H0635954U
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sample
flow path
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sample chamber
atmosphere
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Application number
JP7688692U
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English (en)
Inventor
雅夫 水田
慎太郎 駒谷
Original Assignee
株式会社堀場製作所
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料室内の圧力を急激に上昇させたり、低下
させないようにして分析に支障が生じないようにした蛍
光X線分析装置を提供すること。 【構成】 試料室1と真空ポンプ16との間を接続する
排気流路15に、開閉弁19を備えた第1大気開放流路
17と、開閉弁20と絞り装置21とを直列に接続した
第2大気開放流路18とを互いに並列に接続し、前記試
料室1内の排気または給気が滑らかに行われるように構
成した。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、試料に対して一次X線を照射し、試料から放出される蛍光X線の強 度に基づいて試料中に含まれる成分の定量分析を行う蛍光X線分析装置に関する 。
【0002】
【従来の技術】
例えばエネルギー分散型蛍光X線分析装置においては、真空引きが可能なかつ 試料の出し入れができるように開閉自在に構成された試料室内に試料を配置し、 この試料にその下方からX線を照射するようにしている。
【0003】 図2は一般的な蛍光X線分析装置の構成を示すもので、この図において、1は 試料室で、真空引きが可能なかつ試料の出し入れができるように開閉自在に構成 されている。2は試料励起台で、その上部には開口3を備えた試料載置部4が形 成されている。5は試料で、例えば固体試料である。
【0004】 前記試料励起台2の下方には、一次X線6を開口3を介して試料5に向けて発 するX線源7と、一次X線6の試料5への照射により試料5から放出される蛍光 X線8を検出するX線検出器9とが設けられている。10は波高弁別器11、演 算器12、表示器13などよりなる演算表示部である。
【0005】 上記構成の装置によれば、試料励起台2の上部に形成された試料載置部4に試 料5を載置したした状態で、X線源7からの一次X線6を試料5に対して照射す ると、試料5からは蛍光X線8が放出され、この蛍光X線8をX線検出器9で検 出し、さらに、X線検出器9の検出出力を演算表示部10において処理すること により、試料5中に含まれる成分の量を測定することができる。
【0006】 このように、前記構成の蛍光X線分析装置によれば、試料5中に含まれる成分 の量を測定することができるが、成分によっては発生する蛍光X線のエネルギー の弱いものがあり、蛍光X線8が通過するパス14に空気が存在しているような 場合、前記蛍光X線が吸収を受けて、精度の高い測定が行えなくなる。
【0007】 そこで、従来においては、固体試料や試料セル内に収容された粒体試料の測定 に際しては、試料室1内を適宜の真空に保持し、その状態で前記測定を行ってい た。
【0008】
【考案が解決しようとする課題】
この場合、留意しなければならないことは、試料室1を大気状態から真空状態 にする場合、真空度を急激に上げたり、また、真空状態になっている試料室1内 を急激に大気状態に戻すようにしないことが肝要である。それは、このように試 料室1内の圧力が急激に変化すると、粒体試料が試料セルから飛び出したり、ま た、比較的軽量の固体試料の場合、試料載置部におけるセット位置が変わり、そ のため一次X線の照射を受けられなくなってしまうなどの不都合があるからであ る。
【0009】 本考案は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的とするところは、 試料室内の圧力を急激に上昇させたり、低下させないようにして分析に支障が生 じないようにした蛍光X線分析装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本考案に係る蛍光X線分析装置は、試料室と真空ポ ンプとの間を接続する排気流路に、開閉弁を備えた第1大気開放流路と、開閉弁 と絞り装置とを直列に接続した第2大気開放流路とを互いに並列に接続し、前記 試料室内の排気または給気が滑らかに行われるように構成されている。
【0011】
【作用】
例えば試料室内を大気状態から真空にする場合、第1大気開放流路に設けられ た開閉弁を閉じた状態で真空ポンプをオンし、その後暫くして第2大気開放流路 に設けられた開閉弁を閉じる。このようにすることにより、真空引きを開始して 暫くの間は、第2大気開放流路に設けた絞り装置を介して僅かながら大気が試料 室内に流れ込むので、急激な排気ではなく、緩やかな排気(スローバキューム) が行われる。そして、前記第2大気開放流路に設けられた開閉弁を閉じることに より、所定の排気が行われ、結果的に、試料室内の排気が滑らかに行われる。
【0012】 一方、真空状態にある試料室内を大気状態に戻す場合、真空ポンプを停止した 状態に保つと共に、第2大気開放流路に設けられた開閉弁を開き、その後暫くし て第1大気開放流路に設けられた開閉弁を開く。このようにすることにより、給 気開始から暫くの間は急激な給気ではなく、緩やかな給気(スローリーク)が行 われる。そして、第1大気開放流路に設けられた開閉弁を開くことにより、所定 の給気が行われ、結果的に、試料室内の給気が滑らかに行われる。
【0013】
【実施例】
以下、本考案の実施例を、図面に基づいて説明する。
【0014】 図1は本考案に係る蛍光X線分析装置の給・排気系統を概略的に示す図で、こ の図において、15は試料室1に接続された排気流路で、真空ポンプ16を備え ている。この真空ポンプ16の他端側は例えば大気開放されており、また、図外 のコントローラによってオンオフ制御される。
【0015】 17,18は試料室1と真空ポンプ16との間の排気流路15に対し接続され る互いに並列な流路で、真空ポンプ16に近い流路17(以下、第1大気開放流 路17と云う)には、開閉弁19が介装され、その他端は大気開放されている。 また、試料室1により近い流路18(以下、第2大気開放流路18と云う)には 、開閉弁20と絞り装置21とが直列に接続された状態で介装され、その他端側 は大気開放されている。
【0016】 前記開閉弁19,20としては例えば電磁弁が用いられ、前記コントローラで 開閉制御される。また、絞り装置21としてはニードル弁またはキャピラリが用 いられ、流量を例えば1/10程度に絞り込むことができる。
【0017】 次に、上述のように構成された蛍光X線分析装置の動作について説明すると、 例えば試料室1内を大気状態から真空にする場合、第1大気開放流路17に設け られた開閉弁19を閉じた状態で真空ポンプ16をオンし、その後暫くして第2 大気開放流路18に設けられた開閉弁20を閉じる。このようにすることにより 、真空引きを開始して暫くの間は、第2大気開放流路18に設けられた絞り装置 21を介して僅かながら大気が試料室1内に流れ込むので、急激な排気ではなく 、スローバキュームが行われる。そして、前記真空ポンプ16をオンしてから例 えば5〜6秒経過後に、第2大気開放流路18に設けられた開閉弁20を閉じる ことにより、所定の排気が行われ、結果的に、試料室1内の排気が滑らかに行わ れる。
【0018】 一方、真空状態にある試料室1内を大気状態に戻す場合、真空ポンプ16を停 止した状態に保つと共に、第2大気開放流路18に設けられた開閉弁20を開き 、その後暫くして第1大気開放流路17に設けられた開閉弁19を開く。このよ うにすることにより、給気開始から暫くの間は急激な給気ではなく、スローリー クが行われる。そして、前記開閉弁20の開いて後、例えば5〜6秒経過後に、 第1大気開放流路17の開閉弁19を開くことにより、所定の給気が行われ、結 果的に、試料室1内の給気が滑らかに行われる。
【0019】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案によれば、試料室内を真空にしたり、大気状態に 戻すような場合に、その内部圧力が急激に上昇したり、低下することがなくなる 。従って、試料室内に配置された固体試料が不用意に移動したり、試料セル内の 粒体試料が飛散すると云ったことがなくなり、測定に支障が生ずることがなくな る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る蛍光X線分析装置の排気系統を概
略的に示す図である。
【図2】一般的な蛍光X線分析装置の構成を示す図であ
る。
【符号の説明】
1…試料室、5…試料、6…一次X線、8…蛍光X線、
15…排気流路、16…真空ポンプ、17…第1大気開
放流路、18…第2大気開放流路、19,20…開閉
弁、21…絞り装置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空ポンプによって真空引きされる試料
    室内に設けられた試料に対して一次X線を照射し、その
    とき試料から放出される蛍光X線の強度に基づいて試料
    中に含まれる成分分析を行うようにした蛍光X線分析装
    置において、前記試料室と真空ポンプとの間を接続する
    排気流路に、開閉弁を備えた第1大気開放流路と、開閉
    弁と絞り装置とを直列に接続した第2大気開放流路とを
    互いに並列に接続し、前記試料室内の排気または給気が
    滑らかに行われるように構成したことを特徴とする蛍光
    X線分析装置。
JP7688692U 1992-10-11 1992-10-11 蛍光x線分析装置 Pending JPH0635954U (ja)

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JP7688692U JPH0635954U (ja) 1992-10-11 1992-10-11 蛍光x線分析装置

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JPH0635954U true JPH0635954U (ja) 1994-05-13

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ID=13618124

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JP (1) JPH0635954U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011013027A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Horiba Ltd 蛍光x線分析装置
JP2014130169A (ja) * 2014-04-10 2014-07-10 Horiba Ltd 蛍光x線分析装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011013027A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Horiba Ltd 蛍光x線分析装置
JP2014130169A (ja) * 2014-04-10 2014-07-10 Horiba Ltd 蛍光x線分析装置

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