JPH06331694A - 恒温式測定装置 - Google Patents
恒温式測定装置Info
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Abstract
いて、液体を用いず気中にて被測定物を恒温状態に保
ち、かつ高速に測定することを可能とする。 【構成】 室内の気体を一定温度に維持した恒温室2の
内部を複数個の測定ブロック10に区画し、各測定ブロ
ック10に恒温液体が循環する循環パイプを内部に有す
る良熱伝導性の恒温プレートを設け、該恒温プレート上
に良熱伝導性の被測定物載置ブロックを配設し、該被測
定物載置ブロックに被測定物としての電子部品1を載置
して電気特性の測定を行う構成である。
Description
化に対して電気特性変化の大きい被測定物の電気特性測
定を行う際に、気中において被測定物を恒温状態に保ち
ながら高速に電気測定を行うための恒温式測定装置に関
する。
NTCサーミスタ等の被測定物の電気特性測定を行う場
合、恒温式測定装置を用いてその被測定物のある一定の
温度における電気特性測定を行うようにしている。
温状態における電気特性の測定は、温度コントロールさ
れた液中(オイルバス等)に、被測定物を測定端子に固
定した状態で浸すことにより行われてきた。この従来の
恒温式測定装置では、測定を恒温状態の液中で行うた
め、被測定物の温度分布を気中に比べ短時間に均一にす
ることができ、高精度の測定が可能であった。
恒温式測定装置を用いた恒温測定では、液体を使用する
ため液漏れ等の問題があり、被測定物の測定装置中での
高速搬送の自動化には不向きであった。また、装置に対
する被測定物の出し入れの際においても、液体の除去乾
燥に手間がかかる等の問題がある。
されているが、気体(空気等)の熱伝導が低いため、被
測定物が温度平衡に達するのに長時間かかるという問題
点があった。
温状態での電気特性の測定において、液体を用いず気中
にて被測定物を恒温状態に保ち、かつ高速に測定するこ
とを可能とする恒温式測定装置を提供することを目的と
する。
に、本発明の恒温式測定装置は、室内の気体を一定温度
に維持した恒温室の内部に、恒温液体が循環する循環パ
イプを内部に有する良熱伝導性の恒温プレートを設け、
該恒温プレート上に良熱伝導性の被測定物載置ブロック
を配設し、該被測定物載置ブロックに被測定物を載置す
る構成としている。
し、前記被測定物及び前記被測定物載置ブロックを内部
に収納する測定室を設ける構成としても良い。
置ブロックとの間に、良熱伝導性の導体パターンを両面
に形成し、スルーホールを介して前記両面の導体パター
ンを熱的に結合した絶縁基板を介在させる構成としても
良い。
に設定する構成としても良い。
記被測定物載置ブロック上に移送する搬送手段を設ける
ことができる。
の電気特性の測定を行う上で、被測定物載置ブロック
が、被測定物を保持するとともに該被測定物の端子電極
に電気的に接続する測定電極としての役割を有し、ま
た、熱伝導性が良い材質で形成されているので、該被測
定物載置ブロックを介して一定温度に保たれた恒温プレ
ートから被測定物に熱を効果的に伝導させることができ
る。よって、単に被測定物を気中に配置して被測定物の
温度を平衡状態にする場合と比較して、被測定物の温度
平衡に達するまでの所要時間の短縮化を図ることができ
るとともに、被測定物の温度を恒温室内温度で規定され
た安定した平衡状態にすることができる。
において被測定物の電気特性の測定を行うので、液中に
おいて被測定物の電気特性の測定を行う従来の恒温式測
定装置で問題になっていた液漏れの発生や被測定物搬
送、取出時の液体乾燥、除去といった不都合が解決され
るため、被測定物の電気特性測定の大幅な高速化が可能
になる。
設し、前記被測定物及び前記被測定物載置ブロックを内
部に収納する実質的に密閉された測定室を構成したり、
恒温室の内圧を外部より高める構成とすることにより、
測定室あるいは恒温室の内部温度を安定して一定に維持
できるので、被測定物の温度の平衡状態をより安定化す
ることができる。
を図面に従って説明する。
実施例を示している。この恒温式測定装置は、被測定物
である電子部品1の電気特性の測定を一定の温度におい
て行うものであり、恒温室2、部品供給部3、部品選別
部4及び複数の測定ブロック10を具備し、操作盤5で
測定に伴う操作を行うものである。
化の大きいNTCサーミスタ等であり、チップ状に形成
されたものをここでは例示している。この電子部品1の
両端部には図2,図3のように電極部6A,6Bが形成
されている。
成され、一定温度の空気が供給されて内圧が高められて
おり、内部に被測定物としての電子部品1を搬送するた
めのX−Z駆動機構7及び吸着・装着装置8を備えた搬
送手段を有している。
(テープを用いたり、振動や空気流を利用して部品を供
給する各種パーツフィーダ)を配列したものであり、複
数の電子部品1を恒温室2内の部品供給位置に供給す
る。この部品供給部3から電子部品1を恒温室内の部品
供給位置に供給するために形成された恒温室2の開口は
内部の温度を一定に維持するために極力小さくされてい
る。
規格ごとに分別収納するためのX方向に一列に並んだ複
数の収納スペースを有する選別箱9と、該選別箱9をX
方向に移動自在に支持するガイドレール30と、前記選
別箱9をX方向に駆動するための選別箱駆動軸31と、
該選別箱駆動軸31の軸端に設けられていて駆動軸31
を回転駆動する選別箱駆動用モーター32とを移動テー
ブル33上に配置したものである。すなわち、移動テー
ブル33上に固定のガイドレール30で選別箱9はX方
向に移動自在に支持されており、移動テーブル33に固
定のモーター32で駆動軸31を回転することで、選別
箱9のX方向位置を変え得るようになっている。また、
部品選別部4の移動テーブル33は、部品供給部3の下
方に設けられた部品選別部ガイドレール34に沿って、
Y方向に移動自在で。図示しない駆動機構でY方向に移
動できる。
れたX駆動軸35及びZ駆動軸36と、それぞれの軸端
に連結されたX駆動軸用モーター37、Z駆動軸用モー
ター38とを有しており、X駆動軸35は例えばボール
螺子軸であってモーター37で回転駆動され、Z駆動軸
36は例えばスプライン軸であってモーター38で回転
駆動されている。そして、吸着・装着装置8は、X駆動
軸35の回転によりX方向に駆動され、Z駆動軸36の
回転により、吸着・装着装置8が有する複数本(部品供
給器3aの個数に対応)の吸着ノズルが上下方向(Z方
向)に昇降されるようになっている。なお、X駆動軸用
モーター37及びZ駆動軸用モーター38といった発熱
体は、恒温室2内の温度に影響を与えないように恒温室
2外に配置する。
部品供給器3aから恒温室2内の部品供給位置に供給さ
れた複数の電子部品1を同時吸着するための複数の吸着
ノズルを有している。吸着・装着装置8はX−Z駆動機
構7でX方向に移動されて前記部品供給位置上にて停止
された後、X−Z駆動機構7で吸着ノズルを昇降駆動
(Z方向に駆動)することで恒温室2内の部品供給位置
に送られてきた複数の電子部品1を吸着ノズル先端側で
吸着し、さらにX−Z駆動機構7でX方向に駆動される
ことで各電子部品1の搬送を実行する。
定ブロック10の左端との間には、排出用仮置きステー
ション11が配置されている。該排出用仮置きステーシ
ョン11は、測定が終了した電子部品1を受け入れ、一
時的に載置するための部品載置部11aを複数個有して
いる。この部品載置部11aは、測定の結果に応じて電
子部品1を規格別に選別して、部品選別部4の選別箱9
の各収納スペース内に落下させるように、それぞれ個別
に底が開くようになっている。
示すように、断熱材13で隣接部分から熱的に隔離され
た恒温プレート12及びカバー14で囲まれてなる測定
室15をそれぞれ有している。前記恒温プレート12
は、銅等の熱伝導性の良い金属板で形成されており、内
部に循環パイプ16が複数本通っており、該循環パイプ
16の内部に所望の一定温度(恒温室内に供給された空
気と実質的に同じ温度)に保たれた恒温液体17を循環
させることにより、当該恒温プレート12を恒温室2内
の温度と同じ一定温度に保っている。そして、恒温プレ
ート12上には、電子部品1を載置測定するために、測
定用部品載置ブロック18A,18Bと、上面に銅箔配
線パターン19、裏面に全面銅箔パターン20がエッチ
ング等で形成されている絶縁樹脂基板21からなる測定
基板22とが設けられている。すなわち、恒温プレート
12上に測定基板22が配置固定され、該測定基板22
上に測定用部品載置ブロック18A,18Bが固定され
ており、測定基板22の裏面の全面銅箔パターン20は
恒温プレート12に対接している。
18Bは、銅等の導電性及び熱伝導性の良い金属で形成
され、電子部品1一個に対してX方向に間隔を空けて対
向する一対を1組とし、Y方向(奥行き方向)に複数組
設けた列をX方向に複数列設けたものである。一対の測
定用部品載置ブロック18A,18Bには、間隔を空け
て対向する両者の上面側に電子部品1を載置するための
被測定物載置凹部23が形成されている。一対の測定用
部品載置ブロック18A,18Bの底面は、測定基板2
2上面に固定されている。すなわち、ブロック18Aは
良導電性かつ良熱伝導性の銅箔配線パターン19のうち
の銅箔パターン部19Aに接続固定され、ブロック18
Bは銅箔パターン部19Bに接続固定されている。そし
て、測定用部品載置ブロック18Aに接続の銅箔パター
ン部19Aは樹脂基板21に設けられたスルーホール
(内部に良導電性かつ良熱伝導性の銅が設けられてい
る)24を通して裏面側の全面銅箔パターン20に接続
され、測定用部品載置ブロック18Bに接続された銅箔
パターン部19Bは図示しないスキャナ部(測定する電
子部品を順次切り換える手段)を介し電気抵抗等の電気
特性を計測するための測定機器の測定端子(非アース
側)に電気的に接続されている。前記スルーホール24
を通じて一方の銅箔パターン部19Aと接続されている
全面銅箔パターン20は、良導電性かつ良熱伝導性であ
り、対面する恒温プレート12に接続固定され、測定機
器の測定端子(アース側)と電気的に接続されている。
8B、測定基板22の銅箔パターン部19A,19B、
全面銅箔パターン20及びスルーホール24は、被測定
物である電子部品1との電気的接続の役割だけでなく、
恒温プレート12からの熱を測定用部品載置ブロック1
8A,18Bに迅速に伝え、ひいては電子部品1に効果
的に伝導する役割をもっている。
縁性の材質で形成されており、恒温プレート12の周囲
を取り囲むように設けられている。
れ、図示しないカバー昇降駆動機構により上下方向に移
動自在になっており、開口面を恒温プレート12と対接
させて前記測定基板22上に覆いかぶさり、恒温プレー
ト12との間に測定室15を構成するものである。この
カバー14により、測定室15外部の温度変化、例えば
吸着・装着装置8の通過に伴う温度変化が生じても大き
な影響を受けることなく、測定室15内部の温度を一定
温度に保持することができる。そして、カバー14内側
の天井面には、電子部品1を上から押圧して固定するた
めの固定用スプリングピン25が前記一対の測定用部品
載置ブロック18A,18Bの組に対応して設けられて
おり、図3に示すように、測定基板22上にカバー14
をかぶせた状態で、一対の測定用部品載置ブロック18
A,18Bに載置されている電子部品1を上から押し付
けるようになっている。
恒温室2内に複数設けられているが、それぞれ別個に電
子部品1の測定を行うことができる。
は、図3のように、当該電子部品1を測定基板22の一
対の測定用部品載置ブロック18A,18B上に載置
し、カバー14を閉じて測定室15内を一定温度に保っ
た状態で行われるが、このとき電子部品1は一対の測定
用部品載置ブロック18A,18Bの被測定物載置凹部
23に収納され、その両端の電極部6A,6Bが一対の
測定用部品載置ブロック18A,18Bのそれぞれに接
するように配置される。電子部品1の測定用部品載置ブ
ロック18A,18Bへの供給、取り出しは、図2に示
すように、カバー14が開いている状態で吸着・装着装
置8により、図中の矢印の如く搬送することで行われ、
各列同じように行われる。
おける電子部品1の電気特性の測定の手順及び当該装置
の動作について説明する。被測定物である電子部品1の
恒温室2内の搬送手段への供給は、複数の部品供給器3
aからなる部品供給部3により行われ、Y方向に一列に
並んだ複数の電子部品1は、部品供給部3先端側の部品
供給位置において、X−Z駆動機構7で支持された吸着
・装着装置8の吸着ノズルで吸着されることで取り出さ
れる。電子部品1を保持している吸着・装着装置8は、
そのままX方向に移動して目的の測定ブロック10上に
移動する。
定基板22上方を開放する如くカバー14が開いた状態
で電子部品1を受け入れ、電子部品1は一対の測定用部
品載置ブロック18A,18Bの被測定物載置凹部23
にそれぞれ載置される。この際、電子部品1両端の電極
部6A,6Bは一対の測定用部品載置ブロック18A,
18Bにそれぞれ接しており、電気的に導通するように
なっている。
の測定用部品載置ブロック18A,18Bの列が複数列
設けられているため、以上述べた吸着・装着装置8によ
る部品供給部3から測定ブロック10の測定用部品載置
ブロック18A,18B各列への電子部品1の搬送を繰
り返し行う。
ク18各列への電子部品1の搬送が終わると、カバー1
4を下降させて図3のように閉じる。このカバー14を
閉じることにより、カバー14の内側天井面に設けられ
ている固定用スプリングピン25が電子部品1を部品載
置ブロックに押しつけ、電子部品1は測定用部品載置ブ
ロック18の被測定物載置凹部23に確実に位置決めさ
れ、電極部6A,6Bと一対の測定用部品載置ブロック
18A,18Bとの導通が確実に行われる。カバー14
を閉じた後は、測定室15内の温度が所定温度(恒温プ
レートの温度)で平衡状態に達するまで、放置して置
く。そして、電子部品1の温度は一定温度に保たれた恒
温プレート12からの熱伝導により、測定室15内の平
衡温度と同じになる。なお、測定室15内の温度コント
ロールは、測定ブロック10内に置かれた測温体(サー
ミスタ測定時には標準サーミスタを使用する等)の測定
値により、フィードバックをかけることによって行われ
ている。
と、測定用部品載置ブロック18に載置されている測定
対象の電子部品1両端の電極部6A,6Bを、銅箔配線
パターン19及び全面銅箔パターン20を通じて図示し
ないスキャナ部を介し測定機器に接続し、測定機器によ
る電子部品1の電気特性の測定を行う。なお、各測定ブ
ロック10はそれぞれ個々に遮断されているため、電子
部品1の測定は各測定ブロック10において温度平衡に
達する毎に時間をずらせて実行される。
て測定基板22上を開放し、吸着・装着装置8を用いて
電子部品1を測定用部品載置ブロック18A,18Bよ
り吸着して回収する。吸着・装着装置8に吸着された測
定済みの各電子部品1は、X方向に搬送されて、前記排
出用仮置きステーション11上の各部品載置部11aに
載置される。
されている電子部品1を測定機器による測定結果を元に
所定の規格(例えば、誤差10%以内、20%以内等の
誤差による規格)毎に個々の部品載置部11aの底を開
放することで電子部品1を落下させて選別する。この選
別排出のとき、前記部品選別部4の移動テーブル33が
恒温室2内に入り込んで部品供給部3の下方に位置して
おり(図1の2点鎖線)、移動テーブル33上の選別箱
9をX方向に移動させることで、選別箱9の特定の収納
スペースが順次排出用仮置きステーション11の真下に
くるようにする。すなわち、排出用仮置きステーション
11の真下に位置する収納スペースの規格に応じた電子
部品1があると、その電子部品1の位置する部品載置部
11aの底を開放し収納スペースに落下させる。例えば
選別箱9の収納スペース9aが誤差10%以内の良品を
収納する所であるとすると、誤差10%以内の良品が載
置された部品載置部11aの底が開いて誤差10%以内
の良品である電子部品1が収納スペース9aに落下す
る。このように、選別箱9をX方向に移動させるととも
に、選別箱9の各収納スペースの規格に合う電子部品1
を落下させることで、電子部品1は所定の規格別に選別
箱9に選別収納される。
ック10に対する供給あるいは回収は、各測定ブロック
10に対して個別に行われ、ある測定ブロック10への
電子部品1の供給が完了すると、他の測定ブロック10
へ順次供給あるいは回収を行うものである。
子部品1の電気特性の測定を行う上で、電子部品1を保
持するとともに該電子部品1の電極部6A,6Bに電気
的に接続する測定用端子電極としての役割を有する測定
用部品載置ブロック18A,18Bを導電性かつ熱伝導
性が良い銅等の金属で形成し、該測定用部品載置ブロッ
ク18A,18Bを介して一定温度に保たれた恒温プレ
ート12から電子部品1に熱を伝導して電子部品1の温
度を恒温室2内温度と一致した平衡状態にする構成とし
ているため、単に電子部品1を気中において電子部品1
の温度を平衡状態にする場合と比較して、電子部品1の
温度平衡に達するまでの所要時間を短くすることができ
る。
一定温度に保持された恒温プレート12を設けたことや
カバー14による測定室15内温度の保持を図っている
ことから、電子部品1の温度の平衡状態が安定してい
る。
部品1の電気特性の測定を行っているので、従来の液中
において電子部品1の電気特性の測定を行う恒温式測定
装置で問題になっていた液漏れや、液体の乾燥、除去等
の電子部品1の高速搬送による測定自動化を図る上での
障害が解決されるため、電子部品1の電気特性の測定の
大幅な高速化が可能になる。
A,6Bを有する電子部品1を被測定物として用いる恒
温式測定装置の構成を述べたが、3個以上の電極部(又
は端子)を有する電子部品を被測定物として用いる場合
にも本発明は適用できる。この場合、電子部品の3個以
上の電極部に対応する測定基板22の3個以上の測定用
部品載置ブロックを1組とし、それらの測定用部品載置
ブロックに対応した銅箔配線パターン及び全面銅箔パタ
ーンを有する樹脂基板を用いて測定基板を構成すればよ
い。例えば、4端子を有する電子部品を被測定物とする
場合、該被測定物に対応した被測定物載置凹部を有する
2対の測定用部品載置ブロックを1組とし、それに対応
した銅箔配線パターン及び全面銅箔パターンを樹脂基板
に形成することで4端子測定が可能な恒温式測定装置を
構成することができる。
ロック18A,18Bに接続する導体パターンとして、
樹脂基板21に銅箔配線パターン19、全面銅箔パター
ン20及びスルーホール24を形成した測定基板22を
用いる構成としたが、恒温プレート12上面に絶縁塗料
(絶縁層)を介する等して直接導体パターンを形成する
構成としても良い。
が、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の
範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者
には自明であろう。
定装置によれば、室内の気体を一定温度に維持した恒温
室の内部に、室内の気体と実質的に同じ温度の恒温液体
が循環する循環パイプを内部に有する良熱伝導性の恒温
プレートを設け、該恒温プレート上に良熱伝導性の被測
定物載置ブロックを配設し、該被測定物載置ブロックに
被測定物を載置する構成としたので、被測定物載置ブロ
ックを介して一定温度に保たれた恒温プレートから被測
定物に効果的に伝導させることができる。よって、単に
被測定物を気中に配置して被測定物の温度を平衡状態に
する場合と比較して、被測定物の温度平衡に達するまで
の所要時間の短縮化を図って、気中での測定の高速化を
図ることができる。また、液中において被測定物の電気
特性の測定を行う従来の恒温式測定装置で問題になって
いた液漏れの発生や被測定物搬送時の液体乾燥、除去と
いった不都合が解決されるため、被測定物の高速搬送に
よる測定自動化を図る上でも有利である。
面図である。
けた状態を示す部分側断面図である。
じた状態を示す部分側断面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 室内の気体を一定温度に維持した恒温室
の内部に、恒温液体が循環する循環パイプを内部に有す
る良熱伝導性の恒温プレートを設け、該恒温プレート上
に良熱伝導性の被測定物載置ブロックを配設し、該被測
定物載置ブロックに被測定物を載置することを特徴とす
る恒温式測定装置。 - 【請求項2】 前記恒温プレート上にカバーを配設し、
前記被測定物及び前記被測定物載置ブロックを内部に収
納する測定室を構成した請求項1記載の恒温式測定装
置。 - 【請求項3】 良熱伝導性の導体パターンを両面に形成
し、スルーホールを介して前記両面の導体パターンを熱
的に結合した絶縁基板を、前記恒温プレートと前記被測
定物載置ブロックとの間に介在させた請求項1記載の恒
温式測定装置。 - 【請求項4】 前記被測定物の供給部から被測定物を前
記被測定物載置ブロック上に移送する搬送手段が設けら
れている請求項1記載の恒温式測定装置。 - 【請求項5】 前記恒温室の内圧を外部より高めた請求
項1記載の恒温式測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13982193A JP3174432B2 (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 恒温式測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13982193A JP3174432B2 (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 恒温式測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06331694A true JPH06331694A (ja) | 1994-12-02 |
JP3174432B2 JP3174432B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=15254258
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13982193A Expired - Lifetime JP3174432B2 (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 恒温式測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3174432B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007057442A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Nidec-Read Corp | 基板保持台 |
JP2009139192A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Sharp Corp | バーンイン装置 |
JP4889653B2 (ja) * | 2005-11-17 | 2012-03-07 | 株式会社アドバンテスト | デバイス実装装置、テストヘッド及び電子部品試験装置 |
-
1993
- 1993-05-20 JP JP13982193A patent/JP3174432B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007057442A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Nidec-Read Corp | 基板保持台 |
JP4889653B2 (ja) * | 2005-11-17 | 2012-03-07 | 株式会社アドバンテスト | デバイス実装装置、テストヘッド及び電子部品試験装置 |
JP2009139192A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Sharp Corp | バーンイン装置 |
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---|---|
JP3174432B2 (ja) | 2001-06-11 |
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