JPH06326028A - アルミニウム合金薄膜の形成方法 - Google Patents

アルミニウム合金薄膜の形成方法

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JPH06326028A
JPH06326028A JP10936993A JP10936993A JPH06326028A JP H06326028 A JPH06326028 A JP H06326028A JP 10936993 A JP10936993 A JP 10936993A JP 10936993 A JP10936993 A JP 10936993A JP H06326028 A JPH06326028 A JP H06326028A
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JP
Japan
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raw material
thin film
aluminum alloy
alloy thin
forming
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Application number
JP10936993A
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English (en)
Inventor
Hidekazu Kondo
英一 近藤
Tomoharu Katagiri
智治 片桐
Hiroshi Jinriki
博 神力
Hiroshi Yamamoto
浩 山本
Tomohiro Oota
与洋 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 不純物の混入を低減させ、良質なアルミニウ
ム合金薄膜を形成できるアルミニウム合金薄膜の形成方
法を提供することにある。 【構成】 化学気相成長によりアルミニウム合金薄膜を
形成するアルミニウム合金薄膜の形成方法であって、反
応容器10内に導入するCpCuTEP21とDMAH
31のうち、熱分解温度の高い原料となるDMAH31
をプラズマ化させた後、反応容器10内に導入すること
を特徴とする。これによって、分解反応をある程度進ま
せた状態で、被成膜基板上に導入でき、表面反応が速や
かに進行する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アルミニウム化合物原
料を気化させ、化学気相成長によってアルミニウム合金
薄膜を形成するアルミニウム合金薄膜の形成方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】LSIの微細化に伴い、集積回路装置の
配線用に用いられるAl−Cu合金などの合金薄膜を化
学気相成長法(CVD:Chemical Vapor Deposition )
によって堆積させる技術が提案されている(特開平2−
170419)。
【0003】この方法に使用される装置構成の一例を図
2に示す。一方のバブラー60内にはアルミニウム化合
物原料として、DMAH(ジメチルアルミニウムハイド
ライド:AlH(CH3 2 )61が封入され、他方の
バブラー70内には有機金属原料として、CpCuTE
P(=Cu(C5 5 )・P(C2 5 3 )71が封
入されている。それぞれ適当なキャリアガスによってバ
ブリングし、各バブラーから発生した各原料ガス及びキ
ャリアを混合して反応容器80内に供給していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この各原料の分解温度
は、DMAHでは230℃程度、CpCuTEPでは1
22℃程度であり、このように両者の分解温度が異なっ
ている。従って、両原料ガスを反応容器内において成膜
した場合、成膜温度が高ければCpCuTEPの分解が
過剰に進むために、P、Cなどの不純物が合金膜中に混
入してしまい、成膜温度が低ければアルミニウムが堆積
しないという問題があった。
【0005】本発明はこのような課題を解決すべくなさ
れたものであり、その目的は、不純物の混入を低減さ
せ、良質なアルミニウム合金薄膜を形成できるアルミニ
ウム合金薄膜の形成方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明のアルミ
ニウム合金薄膜の形成方法は、各収容体内に個々に収容
されたアルミニウム化合物原料及び有機金属原料にキャ
リアガスを供給し、それぞれ原料ガスを発生させ、この
発生した各原料ガスを個々に反応容器内に導入し、化学
気相成長によりアルミニウム合金薄膜を形成するアルミ
ニウム合金薄膜の形成方法であって、この原料ガスのう
ち、少なくとも、熱分解温度の高い一方の原料ガスをプ
ラズマ化させた後、反応容器内に導入するものである。
【0007】このアルミニウム化合物原料は、ジメチル
アルミニウムハイドライド(AlH(CH3 2 )であ
り、有機金属原料は、シクロペンタジエニル銅トリエチ
ルフォスフィン(Cu(C5 5 )・P(C
2 5 3 )であることが望ましい。
【0008】また、この原料のうち、熱分解温度の高い
ジメチルアルミニウムハイドライドをプラズマ化させる
ことが望ましい。
【0009】
【作用】各原料ガスを別々に反応容器内に導入するの
で、各原料ガスが導入前に混合されることはない。ま
た、熱分解温度の高い一方の原料ガスをプラズマ化させ
ることにより、プラズマ化された原料ガスは、プラズマ
放電エネルギーを受けて活性化され、熱分解反応が促進
される。従って、この原料ガスは、分解反応をある程度
進ませた状態で、被成膜基板上に導入され、表面反応が
速やかに進行するように作用する。
【0010】
【実施例】以下、本実施例にかかるアルミニウム合金薄
膜の形成方法について添付図面を基に説明する。
【0011】図1に、本実施例に使用するCVD装置の
全体の構成を示す。本装置は、化学気相成長によって合
金薄膜を形成する反応容器10、及びこの反応容器10
に導入する原料ガスを発生供給する2つのバブラー容器
20、30を備えている。
【0012】反応容器10内には、合金薄膜が形成され
る基板11を支持するサセプター12を設置しており、
このサセプター12上の基板11に相対して原料供給ノ
ズル13を備えている。また、サセプター12内にはヒ
ータ14を設けており、交流電圧15を印加することに
より発熱し、サセプター12と共に基板11を所定の温
度に加熱する。
【0013】バブラー容器20は、温度コントロールさ
れたオイルバス(図示せず)内に配設しており、内部に
有機金属原料としてCpCuTEP21を封入してい
る。このバブラー容器20に水素ガスなどの適当なキャ
リアガスを供給し、発生した銅原料ガスは輸送配管16
内を輸送され、原料供給ノズル13を介して反応容器1
0内の基板11上に導入される。
【0014】バブラー容器30も、温度コントロールさ
れたオイルバス(図示せず)内に配設しており、内部に
アルミニウム化合物原料としてのDMAH31を封入し
ている。このバブラー容器30に水素ガスなどの適当な
キャリアガスを供給し、発生したアルミニウム原料ガス
を輸送配管17によって輸送する。輸送配管17の終端
部は、導波管40と接続しており、この導波管40の他
端部は、反応容器10内部に至り、原料供給ノズル13
と基板11との間の空隙部付近に臨んでいる。この導波
管40の途中には、キャビティ41を設置しており、
2.45GHzのマイクロ波を与え、このキャビティ4
1内部にブラズマ放電を発生させる。これによって、バ
ブラー容器30で発生したアルミ原料ガスは、キャビテ
ィ41においてブラズマ化され、活性化された状態で基
板11上に導入される。
【0015】以上のように構成するCVD装置を用い
て、Al−Cu合金薄膜の成膜を行った。バブラー容器
20,30に供給するキャリアガスは、水素ガスを用
い、流量調節器(図示せず)によってそれぞれ100S
CCMに制御して流した。バブラー30内の圧力は、5
00Torr一定に制御し、オイルバス温度は50℃一
定とした。バブラー20内の圧力は、170Torr一
定に制御し、オイルバス温度は100℃一定とした。ま
た、反応容器10内は、圧力を2Torr、基板11の
温度を220〜260℃とした。
【0016】以上の条件で成膜を行った結果を表1に示
す。
【0017】
【表1】
【0018】表1には、上記の装置構成において成膜し
た結果を示す。また、表1には、輸送配管16側にも導
波管40及びキャビティ41を配設し、導入するいずれ
かの原料ガスにブラズマ放電を施した場合の結果を合わ
せて示す。なお、表中、“ON”,“OFF”は、ブラ
ズマ化の有無を表している。
【0019】この結果より、不純物として混入するC濃
度及びP濃度が最も低いのは、熱分解温度の高いDMA
Hの原料ガスに対してのみプラズマ化した場合であっ
た。この場合には、C濃度とP濃度の双方が、0.1w
t%以下となり、形成された合金薄膜も、微細孔に対す
る埋め込み性が良く、また平坦性にも優れたものであっ
た。また、C濃度とP濃度の双方が最も高いのは、熱分
解温度の低いCpCuTEPにのみブラズマ放電を施し
た場合であり、この他の場合には、C濃度、あるいはP
濃度に一方を低減させるのに効果があることが分かっ
た。
【0020】本実施例では、DMAHとCpCuTEP
の組み合わせのみを示したが、この他のアルミニウム化
合物原料及び有機金属原料を用いた場合にも、同様の結
果が得られた。
【0021】ここで、各実施例に適用可能な各化合物を
例示しておく。
【0022】アルミ化合物原料としては、例示した原料
のほか、AlH(C2 5 2 ,Al(CH3 3 ,A
l(C4 9 3 ,AlH3 N(CH3 3 ,Al(O
3 7 3 、(i−C3 7 )AlCl2 ,(n−C
3 7 2 AlClなどが適用できる。
【0023】また、有機金属原料としては、Cu(ac
ac)2 , Cu(hfac)2 ,C5 5 CuP(C
3 3 ,C5 5 CuP(C2 5 3 、(hfa
c)CuP(C2 5 3 ,(hfac)Cu(2−B
utyne)などの銅化合物原料の他、Ti(N(CH
3 2 4 、Ti(N(C2 5 2 4 などの有機金
属原料が適用可能である。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかるア
ルミニウム合金薄膜の形成方法によれば、各収容体発生
した原料ガスを個々に反応容器内に導入するので、従来
のように、各原料ガスを導入前の輸送中に混合する必要
がないため、分解温度が低い原料ガスが過剰に加熱され
るおそれはなく、各原料ガスを最適な温度で供給でき
る。
【0025】また、原料ガスのうち、少なくとも、熱分
解温度の高い一方の原料ガスをプラズマ化させた後、反
応容器内に導入するので、この熱分解温度の高い原料ガ
スの分解反応をある程度進ませた状態で被成膜基板上に
導入できるので、被成膜基板の温度を従来よりも低く設
定できる。従って、従来のように、分解温度が低い原料
ガスの分解が過剰に進むことはなく、これによって、
P、Cなどの不純物の混入を低減でき、埋め込み性及び
膜の平坦性が向上し、良質なアルミニウム合金薄膜を形
成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例に使用するCVD装置を示す概略構成
図である。
【図2】従来のCVD装置を示す概略構成図である。
【符号の説明】
10…反応容器、20…バブラー容器(収容体)、21
…CpCuTEP、30…バブラー容器(収容体)、3
1…DMAH、40…導波管、41…キャビティ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神力 博 千葉県千葉市中央区川崎町1番地 川崎製 鉄株式会社技術研究本部内 (72)発明者 山本 浩 千葉県千葉市中央区川崎町1番地 川崎製 鉄株式会社技術研究本部内 (72)発明者 太田 与洋 千葉県千葉市中央区川崎町1番地 川崎製 鉄株式会社技術研究本部内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各収容体内に個々に収容されたアルミニ
    ウム化合物原料及び有機金属原料にキャリアガスを供給
    し、それぞれ原料ガスを発生させ、この発生した各原料
    ガスを個々に反応容器内に導入し、化学気相成長により
    アルミニウム合金薄膜を形成するアルミニウム合金薄膜
    の形成方法であって、 前記原料ガスのうち、少なくとも、熱分解温度の高い一
    方の前記原料ガスをプラズマ化させた後、前記反応容器
    内に導入することを特徴とするアルミニウム合金薄膜の
    形成方法。
  2. 【請求項2】 前記アルミニウム化合物原料はジメチル
    アルミニウムハイドライド(AlH(CH3 2 )であ
    り、前記有機金属原料は、シクロペンタジエニル銅トリ
    エチルフォスフィン(Cu(C5 5 )・P(C
    2 5 3 )であることを特徴とする請求項1記載のア
    ルミニウム合金薄膜の形成方法。
  3. 【請求項3】 ジメチルアルミニウムハイドライドをプ
    ラズマ化させることを特徴とする請求項2記載のアルミ
    ニウム合金薄膜の形成方法。
JP10936993A 1993-05-11 1993-05-11 アルミニウム合金薄膜の形成方法 Pending JPH06326028A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9472345B2 (en) 2013-02-25 2016-10-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Aluminum precursor, method of forming a thin film and method of forming a capacitor using the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9472345B2 (en) 2013-02-25 2016-10-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Aluminum precursor, method of forming a thin film and method of forming a capacitor using the same

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