JPH06308114A - 液体試薬に含まれる化合物の分析システム - Google Patents

液体試薬に含まれる化合物の分析システム

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JPH06308114A
JPH06308114A JP6084764A JP8476494A JPH06308114A JP H06308114 A JPH06308114 A JP H06308114A JP 6084764 A JP6084764 A JP 6084764A JP 8476494 A JP8476494 A JP 8476494A JP H06308114 A JPH06308114 A JP H06308114A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 とくに臨床パラメーターの測定に適した、乾
燥試薬によるサンプル液体の分析システムを提供する。 【構成】 ２またはそれより多くの試料液体を分析する
システムであって、直線に配列した２またはそれより多
くのテストエレメント、該システムの内側に位置し、か
つ、該システムから取り除くことのできる、テストエレ
メントを収納する保存容器、テストエレメントに生じる
変化を検出するための測定装置、および水分の出入りに
対してテストエレメントを密閉するための接触圧力デバ
イスであって、該保存容器に機械的圧力をかけるデバイ
スからなることを特徴とするシステム。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料液体の分析用システ
ムに関し、該システムはテストエレメントの直線配列(l
inear arrangement)、テストエレメント上に生じる変化
を検出するための測定装置および２またはそれより多く
のテストエレメントをシステム中に包含してなるもので
ある。このテストエレメントは水分に対する保護のため
のデバイスを備えている。
【０００２】本発明はまた、２またはそれより多くのテ
ストエレメントのための保存容器、および水分に対して
密閉可能な形状のテストエレメントを包含してなるもの
である。
【０００３】本発明のシステムを用いれば、液体試薬を
使用しない試料液体の分析方法が可能である。
【０００４】
【従来の技術】試料液体中の個々のパラメーターを分析
できる分析システムは従来の技術から知られている。と
くに、医薬と環境保護の分野では、あまり訓練されてい
ない人間でも操作できるシステムがある。液体試薬を使
用せずに操作する機器 (instruments)は、しばしば乾式
分析と呼ばれ、通常操作が行ないやすい。たとえば、患
者が血液をテストストリップに適用し、操作が簡単な機
器において測定を行なうような、血液中のグルコース測
定用機器が知られている。従来の技術の乾燥試薬を使用
する分析システムでは、テストエレメントは機器の外側
に別々に備わっている。
【０００５】既知の機器には開口部、通常スロット(slo
t)があり、これを通してテストストリップが挿入され
る。ガイドエレメント(guiding element) によりテスト
ストリップが確実に正しく挿入される。テストストリッ
プが機器に手で挿入されるため、機器はテストストリッ
プが確実に目的の位置に位置するような構造設計上の特
徴を有していなければならない。このことは通常、テス
トストリップが与えられた目的位置を超えて挿入される
ことを防ぐことによりなしとげられる。もっとも通常の
システムは、色の変化にもとづく分析試験のために設計
されたものである。テストストリップ上に生じる色の変
化の検出は、もっとも普通には、反射光度測定によって
行なわれる。透過率の測定もまた可能であるが、テスト
ストリップが少なくとも部分的に透明でなければならな
い。光度測定法を用いる際の輻射光(beams of radiatio
n)を発生させ、検出するために必要なデバイスは、従来
の技術においてたいてい知られている。
【０００６】従来の技術のテストストリップは、テスト
フィールドと、テストストリップを取り扱うための保持
域(holding zone)を有している。テストフィールド自体
はいくつかの層からなっていてもよい。血中定量のため
のテストフィールドには通常、血清から細胞を分離する
ためのフリース(fleece)層が備わっている。さらにま
た、反応が起こり、あるいは分析物の適用(dosage)が実
施される層をも特徴とする。テストストリップの設計
は、たとえばＥＰ−Ａ−0271854 に記載されているよう
なものでもよい。分析物の検出方法としての直接的な色
彩形成はごくまれなばあいにしか起こらない。通常、検
出には色の形成または色の分解をもたらす一連の化学的
および／または生化学的な反応を要する。色の形成や分
解が行なわれるテストフィールドの大きさと形状は、均
一な寸法のテストフィールドが測定に用いることができ
ることを確実にするような機器とテストエレメントの製
作公差に見合うものでなければならない。従来の技術で
知られているテストエレメントはストリップまたは平ら
な方形のプレートの形状をしている。用いられる材料は
紙、特別な厚紙またはプラスチックである。テストフィ
ールドは該材料上に含浸または層を追加する形態で適用
する。多くのテストエレメントの保存安定性は水分の影
響により激しく低下する。それゆえ、市販のテストエレ
メントは、個別に密閉されているか、大量生産されてい
るばあいは、特別な容器に包装される。プラスチックを
積層した金属ホイル、とくにアルミニウムの積層物が通
常密閉に用いられる。この種のパッケージはとくに、視
覚的に評価されねばならない迅速な試料に用いられる。
テストエレメントを実際に使用する際、密閉は手で取り
除き、エレメントをパッケージから取り出す。たとえば
血中グルコースの測定用の、同じ人間により繰り返し用
いられる複数のテストストリップは通常、水分を通さな
い、かつ、それに加えて容器に侵入しうる水分を吸収す
る乾燥剤の入った容器に収容される。
【０００７】錠剤の安定性もまた、水分により大いに低
下する。乾燥剤の入った容器もまた錠剤に使用される
が、市販の錠剤のほとんどはいわゆるブリスター包装に
密閉されている。
【０００８】乾燥剤を用いた既知の分析システムでの実
際の測定は、分析機器と別にテストストリップを用いて
実施される。システムの使用者は手で保存容器を開け、
テストストリップを取り出し、容器に残るテストストリ
ップを水分から保護するために再び保存容器を閉じる。
そののち分析する液体を、取り出したテストストリップ
の反応フィールドに適用する。それから、適用後ただち
に、もしくは決められたインキュベーション時間が経過
したのち、テストストリップを分析機器に挿入する。既
知のシステムには、サンプルを、テストストリップが機
器中に挿入されてはじめて適用するものもある。いずれ
の手順においても、テストストリップは使用者によって
機器中に位置づけられる。正確な位置づけを確実にする
ために、使用者はテストストリップを、機械的バリヤと
接触するまで挿入する。
【０００９】そののち、機器上のキーを押すことにより
測定が始められる。しかし、テストストリップが機器に
挿入されたときに自動的に測定が始まるようなシステム
もある。測定が完了すると（これは機器のディスプレイ
上に示されるが）、テストストリップを取り去ることに
より分析手順は終えられる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術で知られて
いるシステムの不都合な点は、機器とテストストリップ
が互いに分離していることである。実際の機器に加え
て、使用者は少なくとも１つの、別の容器を運ばねばな
らない。さらに、全てのテストストリップ用保存容器の
不都合な点は、１つのエレメントを取り出すときに、そ
こに入っている全エレメントが水分と接触するというこ
とである。また、現在あるシステムの別の不都合な点
は、使用者がテストストリップを手で位置づけることに
あり、このため、正しくない使用が完全にはなくならな
い。
【００１１】かくして、本発明の目的は、個々のテスト
ストリップを外側から機器に導入することなく、多数の
分析測定を実施するシステムを提供することである。シ
ステムが水分の存在下で保存されたときも、使用者は信
頼できる測定を実施できなければならない。さらに、シ
ステムにより、操作誤差ができる限り避けられるように
エレメントが位置づけられるべきである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記目的は、２またはそ
れより多くの試料液体を分析するシステムであって、直
線に配列した２またはそれより多くのテストエレメン
ト、該システムの内側に位置し、かつ、該システムから
取り除くことのできる、テストエレメントを収納する保
存容器、テストエレメントに生じる変化を検出するため
の測定装置、および水分の出入りに対してテストエレメ
ントを密閉するための接触圧力デバイスであって、該保
存容器に機械的圧力をかけるデバイスからなることを特
徴とするシステムによって達成される。
【００１３】ここにおいては、テストエレメントが機械
的に連結していないもの、プシングデバイスがテストエ
レメントを測定位置にまで移動させるもの、テストエレ
メントの２つの相対する側に対して圧力をかけるシステ
ムの一部の接触圧力デバイスによって、テストエレメン
トのテストフィールドに水分が出入りするのを妨げるも
の、保存容器の開口部が機械的圧力をかけるデバイスに
よって閉じられることにより、保存容器に収納されたテ
ストエレメントが水分から保護されるもの、保存容器
が、テストエレメントを水分に対して密閉するのに必要
なデバイスを備えているもの、テストエレメントが機械
的に連結した配列で備えられているもの、テストエレメ
ントの配列が、個々のテストエレメントを分離するため
の決められた破壊点を備えているもの、テストエレメン
トが互いに引っかかってつながっているもの、テストエ
レメントの与えられた位置で試料の適用と測定の両方が
行なわれるものおよびデータを読むためのデバイスが設
置されているものが好ましい。
【００１４】また、本発明は、２またはそれより多くの
テストエレメントを備えた保存容器であって、テストエ
レメントを保存容器の内側から外側へと搬送するための
デバイス、およびテストエレメントを水分から密閉する
ための接触圧力デバイスからなる保存容器に関する。
【００１５】さらに、本発明は、２またはそれより多く
のテストエレメントのための保存容器であって、容器の
壁をテストエレメントに対して押すことにより水分を締
め出すように密閉できる開口部を有している保存容器に
関する。
【００１６】これらにおいては、データが保存されるも
のが好ましい。
【００１７】また、本発明はテストフィールドが、球ま
たは円錐の部分セグメントによって水分を締め出すよう
に密閉されうる円形エッジのリセスに設けられているテ
ストエレメントに関する。
【００１８】また、本発明は個々のテストエレメントを
折り取って取り去るための決められた破壊点を備えた、
機械的に連結したテストエレメントの配列に関する。
【００１９】ここにおいては、各々のテストエレメント
が、試験物質を含有せず保持域としての役割をはたす領
域を有しているものが好ましい。
【００２０】また、本発明は前記システムによって試料
液体を分析する方法であって、プシングデバイスを備え
たテストエレメントを保存容器から測定位置にまで搬送
する工程、試料液体をテストエレメント上に適用する工
程、テストエレメントの試料によって引き起こされた変
化を検出する工程、検出された変化にもとづき、測定結
果を計算する工程、ディスプレイから測定結果を読む工
程、およびアームもしくはレバーでテストエレメントを
排出する工程からなる方法に関する。
【００２１】さらに、本発明は試料液体の分析方法であ
って、接触圧力デバイスの圧力を抜くことによって密閉
デバイスを開ける工程、テストエレメント配列のテスト
エレメントを保存容器から測定位置にまで搬送する工
程、密閉デバイスを閉じる工程、試料液体をテストエレ
メント上に適用する工程、テストエレメントの試料によ
って引き起こされた変化を検出する工程、検出された変
化にもとづき測定結果を計算する工程、ディスプレイか
ら測定結果を読む工程、および使用したテストエレメン
トをテストエレメント配列から取り去る工程からなる方
法に関する。
【００２２】これらの方法においては、システムに貯え
られたテストエレメントに関するデータが読み取られる
方法、および保存容器が機器中に挿入されるときデータ
が読み取られる方法が好ましい。
【００２３】
【作用および実施例】本発明のシステムは測定機器とテ
ストエレメントの配列を含んでなる。測定機器は、２ま
たはそれより多くのテストエレメントを収容する保存容
器のための挿入デバイスを備えている。テストエレメン
トは測定部位に連続的に送られる。機器には、線源(rad
iation source)と輻射レシーバ(radiation receiver)を
含んでなる測定デバイスがある。分析は、強度がサンプ
ル中の測定すべきパラメーターの濃度に依存する検出シ
グナルによってなされる。専門家であればそのような分
析に適した、たとえば光学的、電気的または磁気的シグ
ナルなどの検出可能なシグナルについて熟知しているで
あろう。線源は、可視スペクトルで光を輻射することが
好ましい。連続的な、あるいは不連続のスペクトルの線
源を使用することができる。輻射された光線はテストエ
レメントに直接当てることもできるし、前もって光学装
置を通すようにすることもできる。本発明による光学装
置は、レンズ、ミラーおよび放射光のある範囲を弱める
ための部品などのエレメントからなる。これは好ましく
は光学フィルターである。しかしながら、ある周波数(f
requency) 、もしくはある周波数範囲を選択するグリッ
ドやプリズムもまた可能である。
【００２４】テストエレメントによって反射される光の
一部は、光学装置を通過したあと、レシーバに到達す
る。そのような光学装置には、前記のエレメントが含ま
れうる。本発明はまた、反射された光が直接レシーバに
当たるような製品(accomplishment)もまた包含する。レ
シーバは光電子増倍管、フォトダイオード、光起電力エ
レメント、もしくは従来の技術において知られているそ
の他のセンターの形態でありうる。レシーバによって出
されるシグナルは直接、あるいは主に知られた電気回路
を通すことにより加工され、そののちにディスプレイ上
に視覚化される。本発明によるディスプレイは、たとえ
ばアナログ測定機器または、好ましくはデジタルディス
プレイでありうる。
【００２５】本発明において、機器はまた、用いられる
テストエレメントおよび／または実施される分析に対す
る特有のデータを読み取る集中読み取りデバイス(integ
rated reading device) をも特色とする。そのようなデ
ータは、たとえばテストエレメント用の保存容器にディ
スプレイされることもできるし、別々に機器に供給して
もよい。読み取りデバイスとしてはバーコードリーダ
ー、磁気ストリップ読取機構(magnetic strip reader
s)、その他の既知のデバイスがある。読み取られるデー
タは、たとえば用いられるテストエレメントの型、ロッ
ト番号、使用期限、およびテストエレメントの製作公差
などを含む。データには行なわれる分析のタイプも含ま
れる。
【００２６】本発明は、テストエレメントを搬送するた
めのデバイスおよびテストエレメントを水分に対して密
閉するためのデバイスの両方を含んでなる、２またはそ
れより多くのテストエレメント用保存容器を包含する。
本発明のシステムは、たとえば、２つの相対する側に対
して互いに圧力をかけることにより水分を閉め出すため
に閉じることのできる開口部を有する、２またはそれよ
り多くのテストエレメント用保存容器を用いて実現でき
る。本発明のシステムは、テストエレメントが水分から
保護され、保存されるような保存容器によって特徴づけ
られる。テストエレメントは直線の配列で備えられてお
り、それぞれが水分に対して保護されている。各々のテ
ストエレメントに接触圧力(contact pressure)をかける
ことによって水分が閉め出されるため、個々の密閉が達
成されている。システムから保存容器を取り去ったあと
もテストエレメントが水分から保護されるように、機械
的接触圧ユニットが保存容器中に備えられていることが
好ましい。たとえば、システムに備えられ、かつ、末端
の１つがテストエレメントの相当するリセスにぴったり
入るようなボディを有するスプリングによって、接触圧
力ユニットは実現できる。たとえば、テストエレメント
の円形リセスにあるようなテストフィールドは、半球形
エレメントを用いて圧力を適用することにより密閉でき
る。
【００２７】テストエレメントを水分に対して個々に密
閉する方法とは別に、それらが収納されている保存容器
全体を密閉することもできる。このばあい、容器の開口
部に圧力を適用することにより密閉を実現するような実
施態様が好ましい。したがって、開口部が容易に押され
るように、容器開口部または容器全体が弾性材料ででき
ていれば好都合である。好ましい材料には、プラスチッ
ク、とくにポリビニルクロライド、ポリエチレン、ポリ
プロピレンおよびテフロンが含まれる。容器は廃棄する
ばかりでなく、全てのテストエレメントが使用されたの
ち、再び詰めることのできる保存容器を使用することも
できる。テストエレメントを保存容器から、サンプル適
用位置にまで搬送することは、機械的ユニットによって
達成される。これはたとえばプシングデバイスであって
もよいが、テストエレメントを搬送する目的でテストエ
レメントの配列自体を用いることもできる。本発明の好
ましい具体例においては、保存容器はシステムから取り
去ることができる。
【００２８】本発明の保存容器には、容器に直接貼付さ
れているかあるいは別々に備わっている、相当するラベ
ルを備えることもできる。別々に備えるばあいは、使用
者はそれを明瞭に確認できなければならない。たとえ
ば、保存容器には、その保存容器が機器中に挿入される
ときに自動的に読まれるバーコードや磁気ストリップを
備えることができる。別の実施態様では、保存容器とラ
ベルは別々に備わってはいるが、いっしょに包装されて
いる。確認はバーコードを備えたストリップ、チップカ
ード、電波識別カード（ＲＦ−ＩＤチップ）およびこの
技術分野で知られているその他の保存できる形態を用い
て提供される。
【００２９】本発明にはさらに、個々のテストエレメン
トをそれらを折り取ることにより移動させうるように決
められた破壊点が備えられた、テストエレメントの機械
的に連結した配列を包含する。この種の配列において
は、引裂いたり、破壊したり、割ったり(snapping)する
ことにより、残りのテストエレメントの配列から、使用
したテストエレメントを取り除くことができる。別の機
械的に連結した配列では、テストエレメントが互いに、
ジグソーパズルの破片がつながるのと同じようにつなが
ることが提案される。この種の接続では、テストエレメ
ントの全配列は、保存容器の外側に位置する１つのテス
トエレメントを動かすことによって搬送されうる。保存
容器の外側のテストエレメントは、搬送の方向と垂直方
向にそれを動かすことにより配列から取り去ることがで
きる。１つのテストエレメントを取り除いたあとは、少
なくとも１つの別のテストエレメントの保持域が保存容
器の外側に位置することが好ましい。このテストエレメ
ントはそののち、前記保持域によって搬送されうる。保
持域が保存容器の外側にあるあいだ、相当するテストエ
レメントの湿度に敏感な部分は、水分から保護されてい
る保存容器の内側に位置する。
【００３０】さらに、本発明はまた、他のエレメントの
接触圧力によって水分からテストフィールドを密閉でき
るような形状を有するテストエレメントをも包含する。
本発明のテストエレメントは、テストフィールドを傷つ
けることなく本発明のシステムにおけるテストエレメン
トを搬送できるような充分な機械的安定性を示す材料で
できた枠を備えていることが好ましい。好ましい材料と
してはプラスチック、ガラス、ボール紙および金属があ
げられる。枠はテストフィールドのためのリセスを備え
ており、好ましい実施態様においては、グリップやホル
ダーとして使用されるために適切な形状になっていても
よい。枠はテストフィールドと機械的に連結している。
好ましくは、テストフィールドは枠に囲まれた、ある１
つの高さ(level) にある。テストフィールドは、枠の中
に押し込まれるか、あるいはくっつけられる。枠がプラ
スチックでできているとき、それは製造中にテストフィ
ールドの周囲に成形したり射出したりすることもでき
る。望むならば、テストフィールドにはサンプル適用域
としての役割を果たすいくつかの層または領域を有す
る。前記サンプル適用域では、要すれば細胞が分離さ
れ、反応が起こって、ある分析物が存在すれば検出でき
るような変化をもたらす。その他全てのばあいにおい
て、テストフィールドは従来の技術について前に記載し
たごとき実施態様を備えることができる。本発明によれ
ば、システム中のデバイスは枠とともにそれぞれのテス
トフィールドを含むような空間を形成しており、この空
間が外部に対して密閉されているため、テストフィール
ドは水分に対して保護される。たとえば、枠は平面であ
るか、あるいは表面に高くなったセグメントを有してい
てもよく、これによってテストフィールドは、デバイ
ス、好ましくはプレートまたはスタンプ(stamp) が、テ
ストエレメントの上部面および下部面の両方を押すとき
に密閉されることになる。テストエレメントはまた、枠
の円形リセスにテストフィールドが備わるように設計さ
れていてもよい。このばあい、テストフィールドへの水
分の出入りは、球形、球の一部または円錐シリンダーを
円形リセスに押しつけることによって防ぐことができ
る。
【００３１】本発明のシステムを用いれば、前記システ
ムによって試料液体を分析する方法であって、プシング
デバイスを備えたテストエレメントを保存容器から測定
位置にまで搬送する工程、試料液体をテストエレメント
上に適用する工程、テストエレメントの試料によって引
き起こされた変化を検出する工程、検出された変化にも
とづき、測定結果を計算する工程、ディスプレイから測
定結果を読む工程、およびアームもしくはレバーでテス
トエレメントを排出する工程からなる方法を実施するこ
とができる。
【００３２】さらに、本発明はまた、試料液体の分析方
法であって、接触圧力デバイスの圧力を抜くことによっ
て密閉デバイスを開ける工程、テストエレメント配列の
テストエレメントを保存容器から測定位置にまで搬送す
る工程、密閉デバイスを閉じる工程、試料液体をテスト
エレメント上に適用する工程、テストエレメントの試料
によって引き起こされた変化を検出する工程、検出され
た変化にもとづき測定結果を計算する工程、ディスプレ
イから測定結果を読む工程、および使用したテストエレ
メントをテストエレメント配列から取り去る工程からな
る方法をも包含する。
【００３３】本発明のシステムを用いる使用者にとって
の利点は、テストエレメントを収容するシステムに組み
込まれた箱(magazine)を有しているため、テストストリ
ップ用の外部保存デバイスを要しないことである。この
システムで必要であった、個々のテストストリップを保
存容器から機器へと手で搬送することは、かくして不要
となり、また、たとえば搬送中に誤って落としてしまう
ことなどによる汚染の危険も減じられる。さらに、本発
明のシステムにおいては、テストエレメントがとくに質
が低下することもなく数週間あるいは数ヵ月で使用され
うるように、テストエレメント自体が取り出したのちも
水分から充分に保護されうる。
【００３４】本発明のシステムのとくに好ましい実施態
様はつぎの図に示したような設計によって実現されう
る。
【００３５】図１は本発明の分析システムの斜視図であ
る。
【００３６】図２（ａ）および（ｂ）は上部カバーを取
りはずし、保護キャップが開けられた、本発明の分析シ
ステムの斜視図である。
【００３７】図３は本発明のテストエレメント用保存容
器の斜視図である。
【００３８】図４は本発明のテストエレメントの斜視図
である。
【００３９】図５は密閉デバイスを閉じた本発明の分析
システムの斜視図である。
【００４０】図６（ａ）および（ｂ）はテストエレメン
トの配列を備えた本発明のテストエレメント用保存容器
の上面図である。
【００４１】図７は密閉デバイスが開けられた本発明の
分析システムの斜視図である。
【００４２】図１は上部カバー２が開いた状態の分析シ
ステム１を示している。上部カバー２はシステムのベー
ス(base)を汚染と破損から保護する。前記ベース３は組
み込まれた操作エレメント４および組み込まれたディス
プレイ５を備えている。
【００４３】図２においてシステムは上部カバー２を外
した状態で示されている。テストエレメント用の保存容
器６はカバー７の下のシステムの前方部分に位置してい
る。これはほぼ横木(bar) の形状をしており、ベース
の、より大きい方の幅にわたって延びている。サンプル
適用および測定部位へのテストエレメントの搬送は、プ
シングデバイス８によってなされる。サンプル適用およ
び測定は測定開口部10の上方に位置する同じ部位で実施
される。この測定開口部10の下方には、光学ユニットま
たは前記のような線源およびレシーバを備えることがで
きる。測定中、テストエレメントは測定開口部10の上部
に位置しており、アーム９によって保持される。測定開
口部10の上方域は保護キャップ11で閉じられる。これに
よって、測定のエラーのもとになる周囲の光から保護さ
れる。そのほかの適切な測定方法を採用するばあい、保
護キャップ11によって周囲の光を締め出さなくとも測定
は実施できる。システムを使用しないときは、保護キャ
ップ11はほこりや汚染から、敏感な測定域を保護する。
【００４４】図２（ａ）および（ｂ）は、どのようにし
て測定が行なわれるかを示している。テストエレメント
を収納した保存容器６は側面からシステムに挿入され
る。プシングデバイス８は、テストエレメントがアーム
９のリセスに落ち着くまで測定開口部10の方に移動させ
る。そして保護キャップ11を開き、分析液体をテストエ
レメントのテストフィールド上に適用する。測定を行な
うために、保護キャップ11は閉じなければならない。測
定は操作エレメント４のうちの１つによって始めるか、
あるいは保護キャップ11を閉じることにより、たとえ
ば、保護キャップ11によってオンの状態になる光バリヤ
ーやスウィッチによる制御によって、自動的に開始す
る。測定の終了はディスプレイ５上に視覚的に示される
か、あるいは音声によって聴覚的に示される。測定結果
はディスプレイ５上に示され、要すれば、システム中に
貯えられる。使用したテストエレメントは、アーム９を
図２（ｂ）に示した位置に持ってくることにより、シス
テムから取り去ることができる。そのテストエレメント
はアーム９から自動的に離される。アーム９はそのの
ち、図２（ａ）に示された位置まで戻る。そしてシステ
ムは新しい分析測定の準備が整った状態となる。
【００４５】図３はテストエレメント用の保存容器６を
示している。上側には、テストエレメントを密閉するた
めの、システムのベース３に備えられた球体によって圧
力がかけられる多数の高くなった部分12(elevated port
ion)がある。保存容器６の各々の高くなった部分12の下
には、箱が満たされているばあいはテストエレメントが
ある。保存容器にはテストエレメントのための出口13が
あり、保存容器６をシステムに挿入したばあい、測定開
口部10の隣に位置するようになる。
【００４６】図４は１個のテストエレメント14を示して
いる。テストフィールド16は枠15で囲まれており、枠15
の上下側には水分からの保護を可能におよび／または向
上させる、材質が円形に高くなった部分(elevation of
material)17 が備わっている。
【００４７】本発明のシステムの別の好ましい実施態様
を図５に示す。システム30にはカバー31とベース32があ
る。ベース32には組み込まれた操作エレメント33と組み
込まれたディスプレイ34が備えられている。テストエレ
メントのための保存コンテナは密閉デバイス35の下方に
位置する。この実施態様においては、測定開口部36の上
に位置する同じ位置で、測定とサンプル適用とが行なわ
れる。測定中、保護キャップ37はテストエレメントを周
囲の光から保護する。
【００４８】図６（ａ）は、テストエレメントが本発明
にしたがって配列したテストエレメント39用保存容器38
を示している。保存容器38は、テストエレメントの配列
39を挿入するための開口部を１つだけ有する小さい箱の
形態である。テストエレメントの配列39をなすテストエ
レメントには、テストフィールド40、枠41および保持位
置42が備わっている。テストエレメントは互いにつなが
っているが、テストエレメントを互いに分離する決めら
れた破壊点43を有している。
【００４９】図６（ｂ）もまた本発明のテストエレメン
ト用保存容器38を示している。配列は図６（ｂ）に示さ
れているのに相当するものである。しかしながら、テス
トエレメント41は互いにジグソーパズルにおけるように
接続している。突出部44がリセス45に入る。テストエレ
メント41は分離されることなく保存容器38から引き出す
ことができる。しかしながら、テストエレメントが測定
開口部36の上方にあるとき、これは測定開口部の方へ移
動し、突出部44とリセス45との間の連結が分離する。測
定後、このテストエレメントは割ったり壊したりする必
要もなくシステムから取り去ることができる。
【００５０】図７はどのようにして密閉デバイス35が働
くかを示している。新しいテストエレメントを測定位置
に運ぶために、差し込み様式で取りつけられた(bayonet
-like attached) 密閉デバイス35をまず図５に示した位
置から図７に示した位置に移動させる。このことによっ
て保存容器の開口部から機械的圧力を抜く。
【００５１】新しいテストエレメントは、保持域42でこ
れを引っぱることによって保存容器38から移動して出し
てくることができる。密閉デバイス35が図５に示した位
置に戻されるばあい、保存容器38の側面(sides) は互い
に押しつけられる。密閉デバイス35はこのように保存容
器38に残っているテストエレメントを密閉し、とくに、
これらのエレメントのテストフィールド40を水分から保
護する。
【００５２】図５にしたがった測定はつぎのような工程
で行なわれる。
【００５３】密閉デバイス35を開ける。保存容器38を密
閉デバイス35の下に挿入する。保持域42を引っぱること
によって、テストフィールド40が測定開口部36の上方に
位置するまでテストエレメントを移動させる。密閉デバ
イス35を閉じる。サンプル液体をテストフィールド40上
に適用する。保護キャップ37を閉じる。操作エレメント
33を、必要であれば作動させる。ディスプレイ34から測
定結果を読む。保護キャップ37を開ける。使用したテス
トエレメントを、その使用したエレメントとつぎの新し
いテストエレメントとのあいだの決められた破壊点43で
折り取る。保護キャップ37を閉じる。保存容器がすでに
システムに挿入してあるばあいは、前記操作のうちこれ
に相当する操作ステップは省略できる。
【００５４】従来の技術で知られた適切な測定方法を用
いて、前記操作のうち保護キャップ37の開閉のステップ
を省略することができる。測定は、操作エレメント33を
作動させること、あるいはサンプル適用を検出すること
により始められる。
【００５５】
【発明の効果】本発明により、とくに臨床パラメーター
の測定に適した、乾燥試薬によるサンプル液体の分析シ
ステムおよび方法が提供される。本発明のシステムによ
れば、個々のテストストリップを外側から機器に導入す
ることなく、多数の分析測定を行なうことができ、ま
た、システムが水分の存在下で保存されたばあいでも、
信頼できる測定を行なうことができるうえ、操作誤差も
生じない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の分析システムの斜視図である。
【図２】（ａ）、（ｂ）とも、上部カバーを取りはず
し、保護キャップが開けられた、本発明の分析システム
の斜視図である。
【図３】本発明のテストエレメント用保存容器の斜視図
である。
【図４】本発明のテストエレメントの斜視図である。
【図５】密閉デバイスを閉じた本発明の分析システムの
斜視図である。
【図６】（ａ）、（ｂ）とも、テストエレメントの配列
を備えた本発明のテストエレメント用保存容器の上面図
である。
【図７】密閉デバイスが開けられた本発明の分析システ
ムの斜視図である。
【符号の説明】
１、30 システム ２、31 上部カバー ３、32 ベース ４、33 操作エレメント ５、34 ディスプレイ ６、38 テストエレメント用保存容器 ７ カバー ８ プシングデバイス ９ アーム 10、36 測定開口部 11、37 保護キャップ 12 高くなった部分 13 保存容器の出口 14 テストエレメント 15、41 テストエレメントの枠 16、40 テストフィールド 17 テストエレメント材料の高くなった部分 35 密閉デバイス 39 テストエレメントの配列 42 保持域 43 決められた破壊点 44 テストエレメントの突出部 45 テストエレメントのリセス
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年４月２５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 イエルク シュライバー ドイツ連邦共和国、デー−68542 ヘッデ スハイム、ベルフォルトシュトラーセ 10 (72)発明者 ビルフリート シュミット ドイツ連邦共和国、デー−68259 マンハ イム、フランケンシュトラーセ 18ベー (72)発明者 ハンス−ユルゲン クール ドイツ連邦共和国、デー−68219 マンハ イム、ペレイシュトラーセ 30

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ２またはそれより多くの試料液体を分析
    するシステムであって、直線に配列した２またはそれよ
    り多くのテストエレメント、該システムの内側に位置
    し、かつ、該システムから取り除くことのできる、テス
    トエレメントを収納する保存容器、テストエレメントに
    生じる変化を検出するための測定装置、および水分の出
    入りに対してテストエレメントを密閉するための接触圧
    力デバイスであって、該保存容器に機械的圧力をかける
    デバイスからなることを特徴とするシステム。
  2. 【請求項２】 テストエレメントが機械的に連結してい
    ない請求項１記載のシステム。
  3. 【請求項３】 プシングデバイスがテストエレメントを
    測定位置にまで移動させる請求項１または２記載のシス
    テム。
  4. 【請求項４】 テストエレメントの２つの相対する側に
    対して圧力をかけるシステムの一部の接触圧力デバイス
    によって、テストエレメントのテストフィールドに水分
    が出入りするのを妨げる請求項１、２または３記載のシ
    ステム。
  5. 【請求項５】 保存容器の開口部が機械的圧力をかける
    デバイスによって閉じられることにより、保存容器に収
    納されたテストエレメントが水分から保護される請求項
    １、２、３または４記載のシステム。
  6. 【請求項６】 保存容器が、テストエレメントを水分に
    対して密閉するのに必要なデバイスを備えている請求項
    ４記載のシステム。
  7. 【請求項７】 テストエレメントが機械的に連結した配
    列で備えられている請求項１記載のシステム。
  8. 【請求項８】 テストエレメントの配列が、個々のテス
    トエレメントを分離するための決められた破壊点を備え
    ている請求項７記載のシステム。
  9. 【請求項９】 テストエレメントが互いに引っかかって
    つながっている請求項７記載のシステム。
  10. 【請求項１０】 テストエレメントの与えられた位置で
    試料の適用と測定の両方が行なわれる請求項１、２、
    ３、４、５、６、７、８または９記載のシステム。
  11. 【請求項１１】 データを読むためのデバイスが設置さ
    れている請求項１、２、３、４、５、６、７、８、９ま
    たは10記載のシステム。
  12. 【請求項１２】 ２またはそれより多くのテストエレメ
    ントを備えた保存容器であって、テストエレメントを保
    存容器の内側から外側へと搬送するためのデバイス、お
    よびテストエレメントを水分から密閉するための接触圧
    力デバイスからなる保存容器。
  13. 【請求項１３】 ２またはそれより多くのテストエレメ
    ントのための保存容器であって、容器の壁をテストエレ
    メントに対して押すことにより水分を締め出すように密
    閉できる開口部を有している保存容器。
  14. 【請求項１４】 データが保存される請求項12または13
    記載のテストエレメント用保存容器。
  15. 【請求項１５】 テストフィールドが、球または円錐の
    部分セグメントによって水分を締め出すように密閉され
    うる円形エッジのリセスに設けられているテストエレメ
    ント。
  16. 【請求項１６】 個々のテストエレメントを折り取って
    取り去るための決められた破壊点を備えた、機械的に連
    結したテストエレメントの配列。
  17. 【請求項１７】 各々のテストエレメントが、試験物質
    を含有せず保持域としての役割をはたす領域を有してい
    る請求項16記載のテストエレメント配列。
  18. 【請求項１８】 請求項１記載のシステムによって試料
    液体を分析する方法であって、プシングデバイスを備え
    たテストエレメントを保存容器から測定位置にまで搬送
    する工程、試料液体をテストエレメント上に適用する工
    程、テストエレメントの試料によって引き起こされた変
    化を検出する工程、検出された変化にもとづき、測定結
    果を計算する工程、ディスプレイから測定結果を読む工
    程、およびアームもしくはレバーでテストエレメントを
    排出する工程からなる方法。
  19. 【請求項１９】 試料液体の分析方法であって、接触圧
    力デバイスの圧力を抜くことによって密閉デバイスを開
    ける工程、テストエレメント配列のテストエレメントを
    保存容器から測定位置にまで搬送する工程、密閉デバイ
    スを閉じる工程、試料液体をテストエレメント上に適用
    する工程、テストエレメントの試料によって引き起こさ
    れた変化を検出する工程、検出された変化にもとづき測
    定結果を計算する工程、ディスプレイから測定結果を読
    む工程、および使用したテストエレメントをテストエレ
    メント配列から取り去る工程からなる方法。
  20. 【請求項２０】 システムに貯えられたテストエレメン
    トに関するデータが読み取られる請求項18または19記載
    の方法。
  21. 【請求項２１】 保存容器が機器中に挿入されるときデ
    ータが読み取られる請求項20記載の方法。
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