JPH06308035A - ディスプレイパネル用検査装置 - Google Patents

ディスプレイパネル用検査装置

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JPH06308035A
JPH06308035A JP9437993A JP9437993A JPH06308035A JP H06308035 A JPH06308035 A JP H06308035A JP 9437993 A JP9437993 A JP 9437993A JP 9437993 A JP9437993 A JP 9437993A JP H06308035 A JPH06308035 A JP H06308035A
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 ディスプレイパネル1を保持するバックアッ
プ部材9と、ディスプレイパネル1の端子部2の入力端
子に接触するプローブ3…を有するプローブカード4
と、保持されたディスプレイパネル1の下面に光を照射
するバックライト6と、上記入力端子とプローブ3…と
の接触状態を観察する観察ユニット5とを備え、上記観
察ユニット5が、ディスプレイパネル1とバックライト
6間に設けられるとともに、上記バックアップ部材9
の、上記入力端子とプローブ3…との接触部分に対応す
る部分に欠切が形成されている。 【効果】 プローブカード4の形状にかかわらず、ディ
スプレイパネル1の表示品位等の検査を良好に行うこと
ができ、検査精度を向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フラットディスプレイ
に用いられるLCD(Liquid Crystal Display) パネル
やEL(Electro Luminescence) パネル等のディスプレ
イパネルの表示品位等を検査するディスプレイパネル用
検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、フラットディスプレイの製造
工程において、周辺機器接続前のディスプレイパネルの
表示品位等を検査するディスプレイパネル用検査装置と
して、図9に示すように、ディスプレイパネル51の端
子部52に接触して表示信号を出力するプローブカード
53と、この端子部52とプローブカード53との接触
部分を観察する観察ユニット54と、上記ディスプレイ
パネル51の下面に光を照射するバックライト55と、
点灯表示したディスプレイパネル51の点灯表示状態等
の表示品位を検出する表示品位検出ユニット56とを備
えたものがある。
【0003】上記プローブカード53には、図11に示
すように、上記端子部52の入力端子52a…それぞれ
に接触する探針(プローブ)58…が設けられている。
また、このプローブカード53は、プローブ58…の入
力端子52a…との接触側を、図10に示すように、プ
ローブ58…の取り付け台としての基台57の端部側か
ら突出して設けられ、これによって、上記観察ユニット
54の先端に取り付けられた顕微鏡59により、プロー
ブ58…と入力端子52a…との接触部分を上方から観
察し得る構成となっている。
【0004】このように、プローブ58…と入力端子5
2a…との接触部分を上方から観察し得るものとして、
例えば図12に示すように、顕微鏡59を先端に取り付
けたロボットアーム61を自在に移動させ、所望する接
触部分をプローブ58…側から観察する装置が一般的に
使用されている。
【0005】また、上記ディスプレイパネル51は、図
9に示すように、端子部52の入力端子52a…の形成
面と反対側の面に当接するバックアップ部材60によっ
て吸着保持されている。このバックアップ部材60は、
ディスプレイパネル51の表示領域51aに相当する部
分が開口され、バックライット55からの光がディスプ
レイパネル51の下面に照射し得る構成となっている。
【0006】上記バックライト55によって照射された
ディスプレイパネル51は、上記表示品位検出ユニット
56のCCD(Charge Coupled Device)カメラ(図示せ
ず)により、その表示品位が検出され、この検出データ
に基づいて画像処理部(図示せず)で画像処理が施さ
れ、ディスプレイパネル51の表示領域51aにおける
欠陥箇所が抽出・判定される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のディ
スプレイパネル用検査装置では、プローブ58…と入力
端子52a…との接触部分の観察をプローブカード53
の上方から行っているので、プローブカード53の形状
によっては、プローブカード53自身がプローブ58…
と入力端子52a…との接触部分での影となる場合があ
り、このような場合、接触部分の観察を行うことができ
ないという問題が生じる。
【0008】また、バックライト55によってディスプ
レイパネル51の下面に光を照射するとき、ディスプレ
イパネル51を保持するバックアップ部材60自身が影
となる場合があり、このような場合、ディスプレイパネ
ル51の表示領域51aの周縁部が中央付近より暗くな
り、ディスプレイパネル51の表示領域51aでの光量
が均等でなくなる。このため、ディスプレイパネル51
の表示状態を適切に検出することができず、検査精度に
影響を与え、正確な表示品位の判定を行うことができな
いという問題が生じる。このため、検査精度を向上させ
るには、光量の補正を行う必要がある。しかしながら、
光量の補正を行う補正装置を別に設ける必要があるの
で、ディスプレイパネル用検査装置が複雑なものとな
り、装置の製造費を向上させるという問題が生じる。
【0009】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
であって、その目的は、プローブカードの形状に関わら
ずプローブと入力端子との接触状態を観察することがで
き、光量補正装置を用いることなく、ディスプレイパネ
ルに照射される光量を均等にすることができ、検査精度
が向上するようなディスプレイパネル用検査装置を提供
することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載のディスプ
レイパネル用検査装置は、透明電極を有するディスプレ
イパネルの端子部の端子群形成面と反対側の面に当接し
て保持する保持部材と、上記端子群に接触する接触部材
を有し、ディスプレイパネルに表示信号を出力する表示
信号出力手段と、上記ディスプレイパネルの下面に光を
照射する照射手段と、上記端子群と接触部材との接触状
態を観察する観察手段と、上記表示信号出力手段によっ
て表示信号が出力されるとともに、上記照射手段によっ
て光が照射されたディスプレイパネルの表示状態を検査
する表示状態検査手段とを備えたディスプレイパネル用
検査装置において、上記観察手段が、保持されたディス
プレイパネルと上記照射手段との間に設けられるととも
に、上記保持部材の、端子群と接触部材との接触部分に
対応する部分が欠切されていることを特徴としている。
【0011】また、請求項2記載のディスプレイパネル
用検査装置は、透明電極を有するディスプレイパネルの
端子部の端子群形成面と反対側の面に当接して保持する
保持部材と、上記端子群に接触する接触部材を有し、デ
ィスプレイパネルに表示信号を出力する表示信号出力手
段と、上記ディスプレイパネルの下面に光を照射する照
射手段と、上記端子群と接触部材との接触状態を観察す
る観察手段と、上記表示信号出力手段によって表示信号
が出力されるとともに、上記照射手段によって光が照射
されたディスプレイパネルの表示状態を検査する表示状
態検査手段とを備えたディスプレイパネル用検査装置に
おいて、上記保持部材の、上記端子部との当接部分が、
上記照射手段に向かって拡がるテーパ状に形成されてい
ることを特徴としている。
【0012】
【作用】上記の構成によれば、観察手段が、ディスプレ
イパネルと照射手段との間に設けられるとともに、保持
部材の、端子群と接触部材との接触部分に対応する部分
が欠切されていることで、端子群と接触部材との接触部
分を、ディスプレイパネルの下面側、即ち端子群側から
観察することができる。これによって、表示信号出力手
段自身が、接触部分における影とならずに、常に、端子
群と接触部材との接触部分を良好に観察することができ
るので、表示信号出力手段の形状にかかわらず、ディス
プレイパネルの表示品位等の検査を良好に行うことがで
き、検査精度を向上させることができる。
【0013】また、上記の構成によれば、保持部材の、
ディスプレイパネルの端子部との当接部分が、例えば表
示品位検査手段に備えられ、ディスプレイパネルの表示
品位を検出するCCDカメラの、照射手段に対する対角
立体画角の1/2の角度にαの角度を加えた傾斜角度を
有する、上記照射手段側に向かって拡がるテーパ状に形
成されていることで、保持部材自身が照射手段による照
射光の遮蔽物とならなくなる。これによって、保持部材
の、ディスプレイパネルの端子部との当接部分近傍、即
ちディスプレイパネルの表示領域の周縁部の光量を向上
させることができる。したがって、光量補正装置を用い
ることなく、ディスプレイパネルの表示領域全域の光量
を均等にすることができるので、ディスプレイパネルの
表示状態を正確に検出することができ、ディスプレイパ
ネル用検査装置の構造を簡素なものとし、製造費を低減
させることができる。この結果、表示品位等の検査を良
好に行うことができるとともに、検査精度を向上させる
ことができる。
【0014】
【実施例】本発明の一実施例について図1ないし図8に
基づいて説明すれば、以下の通りである。
【0015】本実施例に係るディスプレイパネル用検査
装置は、図1に示すように、ディスプレイパネル1の端
子部2と接触する接触部材としての探針(プローブ)3
…を有し、上記ディスプレイパネル1に表示信号を出力
する表示信号出力手段としてのプローブカード4と、上
記端子部2とプローブ3…との接触状態を観察する観察
手段としての観察ユニット5と、上記ディスプレイパネ
ル1の下面に光を照射する照射手段としてのバックライ
ト6、ディスプレイパネル1の点灯状態等の表示品位を
検出する表示品位検出手段としての表示品位検出ユニッ
ト7とを備えている。
【0016】上記ディスプレイパネル1は、ITO(in
dium-tin oxide) 等からなる透明電極が形成された一対
のガラス基板8・8からなり、図3に示すように、上記
透明電極上に形成された端子群としての入力端子2a…
がディスプレイパネル1の周縁部に形成された端子部2
で露出し、それぞれが、上記プローブカード4のプロー
ブ3…と接触し得る構成となっている。これによって、
プローブカード4から出力された表示信号が、ディスプ
レイパネル1に供給される。
【0017】また、上記プローブカード4は、図8
(a)に示すように、ポリカーボネイト等からなる基台
10上に、上記プローブ3…、ディスプレイパネルを点
灯駆動させる駆動用ドライバ等が内蔵されたTAB(Ta
pe Automated Bonding) 11、印刷配線ボードPWB
(Printed Writing Board)12を備えており、通常、こ
のプローブカード4がプローブカード取り付け台13上
に複数個取り付けられたユニット構造のものが、ディス
プレイパネル用検査装置で使用される。
【0018】上記プローブ3…は、複数のタングステン
等の導電性を有する針状部材からなり、それぞれが接触
しないように、上記基台10で支持され、その一端側
は、上記TAB11に接続されると共に、TAB11の
圧着固定に伴って基台10上に固定される。このTAB
11には、印刷配線ボードPWB12が接続され、TA
B11を介してプローブ3…にディスプレイパネルの点
灯表示信号を供給するようになっている一方、他端側
は、略L字状に折曲され、図3に示すように、それぞれ
のプローブ3の先端部3a…が、ディスプレイパネル1
のそれぞれの入力端子2a…に接触し得る構成となって
いる。これにより、ディスプレイパネルの点灯表示によ
って行われる表示品位検査において、ディスプレイパネ
ル1の各入力端子2a…それぞれに表示信号を出力でき
るようになっている。このことから、入力端子2a…の
短絡を、容易に検出することができる。
【0019】また、ディスプレイパネル1は、図1に示
すように、端子部2の入力端子2a…の露出面とは反対
面に、保持部材としてのバックアップ部材9が当接する
ことによって吸着保持されている。このバックアップ部
材9は、図4に示すように、ディスプレイパネル1の端
子部2の形成パターンに対応するように欠切9a…が形
成されており、端子部2の入力端子2a…をディスプレ
イパネル1の下面側からバックアップ部材9を介して目
視し得る構成となっている。これによって、バックアッ
プ部材9が遮蔽物とならずに、図2に示すように、ディ
スプレイパネル1の端子部2とプローブカード4のプロ
ーブ3…との接触状態を下方から、観察ユニット5によ
り観察できる。
【0020】尚、上記バックアップ部材9の欠切9aに
限ることなく、例えば、バックアップ部材9の端子部2
との接触面をガラス等で形成することによって、端子部
2の入力端子2a…をディスプレイパネル1の下面側か
らバックアップ部材9を介して目視し得るものも可能で
ある。
【0021】また、図1に示すように、上記バックアッ
プ部材9の端子部2との当接部分9bは、下方に設けら
れたバックライト6に向かって拡がるテーパ状に形成さ
れている。これによって、バックライト6からの光が、
バックアップ部材9自身が影とならずにディスプレイパ
ネル1の表示領域1aの周縁部に照射できるようになっ
ている。尚、この当接部分9bのテーパの角度について
は、後で詳細に述べる。
【0022】上記観察ユニット5は、図1に示すよう
に、ディスプレイパネル1とバックライト6との間に設
けられており、ディスプレイパネル1側に向かって設け
られた対物レンズ18を有する顕微鏡19と、この顕微
鏡19によって観察されたプローブ3…と入力端子2a
…との接触状態を検出するCCD(Charge Copuled Dev
ice)カメラ20とを備え、これら顕微鏡19とCCDカ
メラ20とは、駆動アーム21に取り付けられ、これに
よって、所望する位置に自在に移動させることができ、
プローブ3…と入力端子2a…との接触状態をバックア
ップ部材9の欠切9a…を介して観察し得る構成となっ
ている。但し、上記CCDカメラ20によって検出され
た接触状態は、図示しない観察用モニタによって観察さ
れる。
【0023】尚、上記観察ユニット5は、ディスプレイ
パネル1とバックライト6との間を自在に移動し得る構
成となっているが、検査実行時には上記バックライト6
による照射光を遮らない位置に移動するようになってい
る。これによって、バックライト6からの光がディスプ
レイパネル1の表示領域1aに出来るだけ均等に照射さ
せることができ、上記表示品位検出ユニット7による検
出が正確に行えるようになっている。
【0024】また、上記表示品位検出ユニット7は、図
1に示すように、保持されたディスプレイパネル1の上
方に配設され、点灯表示されたディスプレイパネル1の
点灯状態を検出し、図示しない画像処理部において、検
出データに基づいて画像処理を施し、ディスプレイパネ
ル1の表示領域1aにおける欠陥箇所を抽出・判定等の
表示品位の検査を行うようになっている。尚、点灯状態
を検出する検出手段として、例えばCCDカメラが好適
に使用される。
【0025】ここで、上記バックアップ部材9の当接部
分9bにおけるテーパ角度について、図5および図6を
参照しながら以下に説明する。
【0026】一般に、ディスプレイパネル1の表示領域
1aにおける表示状態を精度良く検査するには、バック
ライト6からの光を表示領域1aに対して均等に照射
し、表示領域1aの何れの部分においても光量の低下が
見られないことが望ましい。
【0027】また、バックライト6の照射面には、通
常、散乱板等を配置しており、その照射光は散乱光とな
る為、図5に示すように、ディスプレイパネルを有効に
照射するのはCCDカメラの対角立体画角θで規定され
る第一有効照射領域22よりも広い範囲の第二有効照射
領域23の光である。即ち、第一有効照射領域22と第
二有効照射領域23の間の領域から発っせられる光をパ
ネルへの照射光として有効に作用している。
【0028】また、図6(a)に示すように、バックア
ップ部材9の端子部2に当接している当接部分9bをC
CDカメラの対角立体画角θの1/2の角度でバックラ
イト6に向かって拡がるテーパ状に形成すると、第一有
効照射領域22と第二有効照射領域23の間の領域から
発っせられる光を上記当接部分9bが障害物となって遮
蔽する為、図6(b)に示す実線の輝度分布となる。
【0029】そこで、当接部分9bをCCDカメラの対
角立体画角θの1/2の角度に光を十分に照射し得る角
度(マージン)αを加えた角度でテーパ状に形成するこ
とが考えられえている。これによって、バックライト6
の照射領域が、前記の第一有効照射領域22から第二有
効照射領域23に拡がる。
【0030】これにより、図6(b)に示すように、デ
ィスプレイパネル1の表示領域1aの周縁部X−Y領域
の輝度が増加し、表示領域1aの光量を均等にすること
ができる。
【0031】尚、一般に、表示領域1aにおける光量低
下は、上記バックアップ部材9の当接部分9bを対角立
体画角θの1/2とした場合では、バックライト6の面
発光の均一性に左右されるが、概ね5〜10%である。
また、ディスプレイパネルの表示不均一性は、概ね5〜
10%である。これにより、表示領域1aにおける光量
低下は、表示品位検査の判定に大きな影響を与える。し
たがって、上記のマージンαを約10°とすれば、表示
領域1aにおける光量の低下を無視し得るレベルとする
ことができる。
【0032】また、上記ディスプレイパネル用検査装置
に使用される表示信号出力手段として、前記のプローブ
カード4の他に、例えば、図8(b)に示すように、プ
ローブカード4のプローブ3…に換えて導電性を有する
板状の接触子15…を備えたフレキシブル基板を使用し
たプローブカード14がある。上記接触子15は、フレ
キシブル基板上に添着された緩衝性の例えばゴム等を介
在して設けられ、これによって、弾力性が付与され、デ
ィスプレイパネル1の端子部2の入力端子2aの形成パ
ターンに対応させて接触させるようになっている。
【0033】また、図8(c)に示すように、プローブ
17…一本一本にスプリングを内蔵させて、弾力性を付
与し、ディスプレイパネル1の端子部2の入力端子2a
の形成パターンに対応させて接触させるようになってい
るプローブカード16がある。
【0034】以上、図8(b)・(c)に示すようなプ
ローブカード14および16では、それぞれの接触部材
である接触子15…およびプローブ17…が、基台10
に覆われるように形成されている。これによって、入力
端子2aと接触子15…およびプローブ17…との接触
状態は、基台10が障害物となり、上方から観察するこ
とができない。
【0035】ところが、本発明では、ディスプレイパネ
ル1の端子部2の入力端子2a…とプローブ3…との接
触状態を観察する観察ユニット5が、ディスプレイパネ
ル1とバックライト6との間に設けられ、さらに、バッ
クアップ部材9に欠切9a…が設けられていることで、
入力端子2a…とプローブ3…との接触状態を、ディス
プレイパネル1の下面側、即ち入力端子2a…側から観
察することができる。
【0036】これによって、プローブカード4自身が、
接触部分における影となることを防ぐことができるの
で、常に、端子群と接触部材との接触部分を良好に観察
することができる。したがって、表示信号出力手段とし
てのプローブカードの形状にかかわらず、ディスプレイ
パネルの表示品位等の検査を良好に行うことができ、検
査精度を向上させることができる。
【0037】また、バックアップ部材9の端子部2との
当接部分9bが、CCDカメラのバックライト6に対す
る対角立体画角θの1/2の角度にαの角度を加えた傾
斜角度で、バックライト6側に向かって拡がるテーパ状
に形成することで、バックアップ部材9自身がバックラ
イト6による照射光の遮蔽物とならなくなる。これによ
って、バックアップ部材9の当接部分9b近傍、即ちデ
ィスプレイパネル1の表示領域1aの周縁部の光量を向
上させることができる。したがって、従来のように光量
補正装置によって光量を補正する必要がなく、ディスプ
レイパネル1の表示領域1a全域の光量を均等にするこ
とができるので、ディスプレイパネル1の表示状態を正
確に検出することができ、この結果、表示品位等の検査
を良好に行うことができるとともに、検査精度を向上さ
せることができる。また、光量補正装置を設ける必要が
ないので、装置の簡略化を図るとともに、製造費の低減
化を図ることができる。
【0038】尚、本発明は、例えば、図7に示すような
ディスプレイパネル用検査装置に採用することも可能で
ある。
【0039】上記のディスプレイパネル用検査装置で
は、ディスプレイパネル31をバックアップ部材32に
よって吸着保持し、プローブカード33…をディスプレ
イパネル31の端子部の寸法に合わせて取り付け台34
に取り付け、このプローブカード33…の取り付けられ
た取り付け台34をさらに昇降ユニット35に取り付け
ている。
【0040】この昇降ユニット35は、ディスプレイパ
ネル31の端子方向に合わせて各一巻ずつ配設され、デ
ィスプレイパネル31の端子部に上記プローブカード3
3…を接触させるように、昇降し得る構成となってい
る。これによって、ディスプレイパネル31の端子部に
プローブカード33…を適切に接触させ、ディスプレイ
パネル31を点灯表示させている。また、この昇降ユニ
ット35・35は、そぞれ架台36に取り付けられてい
る。
【0041】また、上記プローブカード33とディスプ
レイパネル31の端子部との接触状態を観察するCCD
カメラ38を有する観察ユニット37が設けられ、ディ
スプレイパネル31載置場所の下方には、バックライト
39が設けられている。
【0042】さらに、上記観察ユニット37を直交ロボ
ット40に取り付け、数値制御を行うことによってディ
スプレイパネル31の端子部とプローブカード33との
接触部分に適切に移動しながら、観察するようになって
いる。
【0043】以上のようなディスプレイパネル用検査装
置によっても、前記実施例におけるディスプレイパネル
用検査装置と同様の効果を得ることができる。
【0044】
【発明の効果】請求項1記載の発明のディスプレイパネ
ル用検査装置は、以上のように、透明電極を有するディ
スプレイパネルの端子部の端子群形成面と反対側の面に
当接して保持する保持部材と、上記端子群に接触する接
触部材を有し、ディスプレイパネルに表示信号を出力す
る表示信号出力手段と、上記ディスプレイパネルの下面
に光を照射する照射手段と、上記端子群と接触部材との
接触状態を観察する観察手段と、上記表示信号出力手段
によって表示信号が出力されるとともに、上記照射手段
によって光が照射されたディスプレイパネルの表示状態
を検査する表示状態検査手段とを備え、上記観察手段
が、ディスプレイパネルと照射手段との間に設けられる
とともに、上記保持部材の、上記端子群と接触部材との
接触部分に対応する部分が欠切されている構成である。
【0045】それゆえ、表示信号出力手段の形状にかか
わらず、ディスプレイパネルの表示品位等の検査を良好
に行うことができ、検査精度を向上させることができる
という効果を奏する。
【0046】また、請求項2記載の発明のディスプレイ
パネル用検査装置は、以上のように、透明電極を有する
ディスプレイパネルの端子部の端子群形成面と反対側の
面に当接して保持する保持部材と、上記端子群に接触す
る接触部材を有し、ディスプレイパネルに表示信号を出
力する表示信号出力手段と、上記ディスプレイパネルの
下面に光を照射する照射手段と、上記端子群と接触部材
との接触状態を観察する観察手段と、上記表示信号出力
手段によって表示信号が出力されるとともに、上記照射
手段によって光が照射されたディスプレイパネルの表示
状態を検査する表示状態検査手段とを備え、上記保持部
材の、上記端子部との当接部分が、上記照射手段に向か
って拡がるテーパ状に形成されている構成である。
【0047】それゆえ、ディスプレイパネルの表示領域
全域の光量を均等にすることができるので、ディスプレ
イパネルの表示状態を正確に検出することができ、この
結果、表示品位等の検査を良好に行うことができるとと
もに、検査精度を向上させることができるという効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のディスプレイパネル用検査
装置の概略構成図である。
【図2】図1のプローブカードとディスプレイパネルと
の接触状態を示す斜視図である。
【図3】図2におけるプローブカードのプローブとディ
スプレイパネルの入力端子との接触状態を示す斜視図で
ある。
【図4】図1のディスプレイパネルとバックアップ部材
と保持位置関係を示す平面図である。
【図5】図1のバックライットの有効照射領域を示す概
略構成図である。
【図6】図5におけるディスプレイパネルの表示領域に
おける光量とバックアップ部材のテーパの角度との関係
を示すものであり、同図(a)は概略構成図であり、同
図(b)は表示領域と輝度との関係を示すグラフであ
る。
【図7】本発明の他の実施例のディスプレイパネル用検
査装置の概略構成図である。
【図8】図1および図7に使用される各種プローブカー
ドを示すものであり、同図(a)はプローブカードから
突出した針状のプローブを有するものの斜視図であり、
同図(b)はプローブとしてフレキシブル基板を使用し
たものの斜視図であり、同図(c)はプローブそれぞれ
にスプリングを内蔵したものの斜視図である。
【図9】従来のディスプレイパネル用検査装置の概略構
成図である。
【図10】図9のプローブカードとディスプレイパネル
との接触状態を示す斜視図である。
【図11】図10におけるプローブカードのプローブと
ディスプレイパネルの入力端子との接触状態を示す斜視
図である。
【図12】図9のディスプレイパネル用検査装置を採用
した検出装置の斜視図である。
【符号の説明】
1 ディスプレイパネル 2 端子部 2a 入力端子(端子) 3 プローブ(接触部材) 4 プローブカード(表示信号出力手段) 5 観察ユニット(観察手段) 6 バックライト(照射手段) 7 表示品位検出ユニット(表示品位検出手段) 9 バックアップ部材(保持部材) 9a 欠切 14 プローブカード(表示信号出力手段) 15 接触子(接触部材) 16 プローブカード(表示信号出力手段) 17 プローブ(接触部材)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明電極を有するディスプレイパネルの端
    子部の端子群形成面と反対側の面に当接して保持する保
    持部材と、 上記端子群に接触する接触部材を有し、ディスプレイパ
    ネルに表示信号を出力する表示信号出力手段と、 上記ディスプレイパネルの下面に光を照射する照射手段
    と、 上記端子群と接触部材との接触状態を観察する観察手段
    と、 上記表示信号出力手段によって表示信号が出力されると
    ともに、上記照射手段によって光が照射されたディスプ
    レイパネルの表示状態を検査する表示状態検査手段とを
    備えたディスプレイパネル用検査装置において、 上記観察手段が、保持されたディスプレイパネルと上記
    照射手段との間に設けられるとともに、上記保持部材
    の、端子群と接触部材との接触部分に対応する部分が欠
    切されていることを特徴とするディスプレイパネル用検
    査装置。
  2. 【請求項2】透明電極を有するディスプレイパネルの端
    子部の端子群形成面と反対側の面に当接して保持する保
    持部材と、 上記端子群に接触する接触部材を有し、ディスプレイパ
    ネルに表示信号を出力する表示信号出力手段と、 上記ディスプレイパネルの下面に光を照射する照射手段
    と、 上記端子群と接触部材との接触状態を観察する観察手段
    と、 上記表示信号出力手段によって表示信号が出力されると
    ともに、上記照射手段によって光が照射されたディスプ
    レイパネルの表示状態を検査する表示状態検査手段とを
    備えたディスプレイパネル用検査装置において、 上記保持部材の、上記端子部との当接部分が、上記照射
    手段に向かって拡がるテーパ状に形成されていることを
    特徴とするディスプレイパネル用検査装置。
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JP2002107689A (ja) * 2000-10-04 2002-04-10 Micronics Japan Co Ltd 液晶基板の支持装置
JP2006301633A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示パネルとその検査装置及び検査方法

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