JP2002107689A - 液晶基板の支持装置 - Google Patents

液晶基板の支持装置

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JP2002107689A JP2000304285A JP2000304285A JP2002107689A JP 2002107689 A JP2002107689 A JP 2002107689A JP 2000304285 A JP2000304285 A JP 2000304285A JP 2000304285 A JP2000304285 A JP 2000304285A JP 2002107689 A JP2002107689 A JP 2002107689A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種の形状及び寸法の液晶基板に容易に
及び廉価に対応することができるようにすることにあ
る。 【解決手段】 液晶基板の支持装置は、上面を有するベ
ースと、検査すべき液晶基板を受ける受け具であって上
面と対向された受け具と、ベースに対する受け具の位置
を規制する一対の位置規制部材であってベースに上面と
平行な面内の第1の方向に間隔をおいて配置され、上面
と平行な面内を第1の方向と交差する第2の方向へ平行
に伸びる一対の位置規制部材とを含む。位置規制部材は
第1の方向に相対的に移動可能に前記ベースに配置され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
ような液晶基板を受けかつ支持するように液晶基板の検
査装置に用いられる支持装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶パネルの検査装置においては、検査
すべき液晶基板をバックライトユニットの上に配置され
た受け具に支持させて支持する支持装置を備えている。
支持装置は、受け具に受けた液晶基板を通電用のプロー
ブユニットに対し三次元的に移動させると共に液晶基板
に垂直の軸線の周りに角度的に回転させる検査ステージ
に装着される。
【0003】
【解決しようとする課題】しかし、従来のこの種の支持
装置では、バックライトユニット及び受け具が所定の形
状の表示領域及び所定の寸法を有する液晶基板に適用さ
れるにすぎないから、検査装置で検査可能の液晶基板の
種類と同数の支持装置を用意しておかねばならず、検査
装置自体が高価になる。
【0004】それゆえに、本発明の目的は、各種の形状
及び寸法の液晶基板に容易に及び廉価に対応することが
できるようにすることにある。
【0005】
【解決手段、作用及び効果】本発明に係る液晶基板の支
持装置は、上面を有するベースと、検査すべき液晶基板
を受ける受け具であって前記上面と対向された受け具
と、前記ベースに対する前記受け具の位置を規制する一
対の位置規制部材であって前記ベースに前記上面と平行
な面内の第1の方向に間隔をおいて配置され、前記上面
と平行な面内を前記第1の方向と交差する第2の方向へ
平行に伸びる一対の位置規制部材とを含む。前記位置規
制部材は前記第1の方向に相対的に移動可能に前記ベー
スに配置されている。
【0006】受け具は、位置規制部材の上に配置される
か、位置規制部材の間に配置されて、液晶基板を受け
る。位置規制部材の間隔及びベースに対する位置規制部
材の位置は、位置規制部材を第1の方向へ相対的に移動
させることにより、変更することができる。
【0007】寸法又は表示領域の形状が異なる液晶基板
に変更されるときは、位置規制部材の間隔又はベースに
対する位置規制部材の位置が新たな液晶基板に応じた値
又は位置に調整されると共に、新たな液晶基板に応じた
受け具がベースに配置される。
【0008】上記の結果、本発明によれば、高価なベー
スを複数種類の液晶基板で共通に使用することができる
から、検査装置自体が廉価になる。
【0009】前記ベースは第1の光通過領域を上部に有
するバックライトユニットを含み、前記受け具は前記バ
ックライトユニットに前記第1の光通過領域に対向して
配置された光拡散板を含むことができる。そのようにす
れば、高価なバックライトユニットを複数種類の液晶基
板で共通に使用することができるから、検査装置自体が
より廉価になる。
【0010】支持装置は、さらに、前記位置規制部材の
相対的移動を前記第1の方向に規制する一対のガイドで
あって前記第2の方向に間隔をおいて前記第1の方向へ
伸びるガイドを含むことができる。そのようにすれば、
位置規制部材の間隔を高精度に及び容易に変更すること
ができる。
【0011】支持装置は、さらに、前記ベースに対する
前記位置規制部材の位置を解除可能に維持する1以上の
維持具を含むことができる。そのようにすれば、検査の
間、ベースに対する位置規制部材の移動が維持具により
防止されて、振動に起因する位置規制部材の間隔の変化
が防止されるから、正確な検査をすることができる。
【0012】前記受け具は、取り外し可能に前記ベース
に装着されていてもよいし、前記位置規制部材の間に配
置されていてもよい。
【0013】支持装置は、さらに、前記受け具を前記位
置規制部材又は前記ベースに対し解除可能に位置決める
複数の位置決めピンを含むことができる。そのようにす
れば、位置規制部材又はベースに対する受け具の位置決
めを容易にかつ正確に行えるから、受け具の交換作業が
容易になる。
【0014】
【発明の実施の形態】図1から図4を参照するに、支持
装置10は、長方形の形状を有する液晶表示パネルのよ
うな液晶基板12の点灯検査装置に液晶基板12を受け
かつ支持するチャックトップとして用いられる。
【0015】液晶基板12は、長方形の形状を有する複
数の表示領域14を有している。各表示領域14は、液
晶が封入された長方形の形状を有しており、また図示の
例では幅方向が同一方向となるように一列に整列されて
いる。各表示領域14は、後に周囲の領域と共に矩形の
液晶表示パネルに分割される。
【0016】液晶基板12は、また、点灯検査装置のプ
ローブユニット16が電気的に接続される複数の電極
(図示せず)を、各表示領域14の周りの箇所のうち、
各表示領域14の長手方向における一方の縁部に対応す
る箇所に一列に有する。
【0017】各プローブユニット16は、液晶基板12
の電極に押圧される複数の接触子を電気絶縁性ブロック
に組み付けた公知のものであり、電気絶縁性ブロックに
おいて基板18に組み付けられている。基板18は、支
持装置10の上方に対応する箇所に開口20を有する。
【0018】点灯検査装置は、また、上記した接触子と
液晶基板12の電極との相対的な位置合わせをするため
に液晶基板12に形成されたアライメントマーク(図示
せず)を撮影するテレビカメラのようなアライメントカ
メラ22を基板20に組み付けている。
【0019】点灯検査装置が作業者の肉眼による目視点
灯検査用である場合、液晶基板12は基板18の上方か
ら開口20を介して目視により良否を判定される。しか
し、点灯検査装置が自動検査装置である場合、液晶基板
12は、基板18の上方から開口20を介してテレビカ
メラ24ですべ絵の表示領域14を含む広い範囲を一括
して撮影され、その出力信号が処理されることにより各
表示領域14又は液晶基板12全体の良否を判定され
る。
【0020】図示の例では、一般的なテレビカメラ24
を示しているが、そのようなテレビカメラ24の代わり
に、複数の受光素子を一列に配置したラインセンサを用
い、このラインセンサを液晶基板12の長手方向又は幅
方向へ移動させつつ、液晶基板12を撮影するようにし
てもよい。
【0021】支持装置10は、ベース30と、ベース3
0の上面に第1の方向に間隔をおいて配置された長尺の
一対の位置規制部材32と、液晶基板12を受けるべく
位置規制部材32を介してベース30に組み付けられた
受け具34であって補助部材36及び補助部材36に装
着された光拡散板38を備える受け具34と、光拡散板
38の上面に配置されたマスク40と、両位置規制部材
32の相対的な移動を一方向に制限する一対のガイド4
2と、ベース30に対する位置規制部材32の位置を解
除可能に維持する複数の維持具44とを含む。
【0022】ベース30は、上方に開放する箱状の容器
内に複数の光源を収容したバックライトユニットであ
り、板状の外形を有する。ベース30は、光源からの光
が上方へ通過することを許す光通過領域46を容器の上
壁に形成している。光通過領域46は、液晶基板12の
幅寸法より大きい幅寸法と液晶基板の長さ寸法とほぼ同
じ長さ寸法とを有する矩形の開口により形成されてい
る。開口すなわち光通過領域46は、透明板48により
閉塞されている。
【0023】位置規制部材32は、L字状の断面形状を
有する長尺部材により形成されている。位置規制部材3
2は、ベース30に対する受け具34の位置を規制する
ように、ベース30の上に光通過領域46と平行の面内
の第1の方向に間隔をおいて配置されており、さらに光
通過領域46と平行の面内を第1の方向と交差する第2
の方向へ平行に伸びている。
【0024】位置規制部材32は、第2の方向に間隔を
おいて第1の方向へ伸びるようにベース30の上に組み
付けられたガイド42に第1の方向に相対的に移動可能
に受けられている。ガイド42は、図示の例では、ガイ
ドレールである。
【0025】補助部材36は、上方への光の通過を許す
光通過領域50(図4を参照)を有する長方形の形状を
有する枠の形に形成されており、また光通過領域50が
光通過領域46と対向するように長方形の長い辺に対応
する各辺部分において両位置規制部材32の上に複数の
ねじ部材52により組み付けられている。光通過領域5
0は、液晶基板12よりやや小さい矩形の形状を有す
る。
【0026】補助部材36は、液晶基板の縁部を真空的
に吸着する複数の吸着溝54に連通された穴56(図4
を参照)とを長方形の長い辺に対応する各辺部分に有す
る。補助部材36の穴56は、位置規制部材32に形成
された穴58に連通されている。位置規制部材32の穴
58は、吸引ポンプのような吸引源に接続される。穴5
6,58の間の気密性は、位置規制部材32に配置され
たオーリング60(図4を参照)により維持される。
【0027】光拡散板38は、液晶基板12とほぼ同じ
大きさの長方形の形状を有しており、また補助部材36
の光通過領域50を閉鎖する状態に、接着剤のような適
宜な手段により補助部材36に装着されている。光拡散
板38は、図示の例では補助部材36の内側に配置され
ているが、補助部材36の上面に配置されていてもよ
い。
【0028】マスク40は、液晶基板12とほぼ同じ大
きさの長方形の形状を有しており、また液晶基板12の
表示領域14に個々に対応する複数の光通過領域62を
有する。各光通過領域62は、対応する表示領域14と
ほぼ同じ大きさ及び形状を有する。光通過領域62は、
図示の例では矩形の開口である。
【0029】マスク40は、図示の例では光を通過させ
ない黒色のシート材料のようないわゆる光不透過性のシ
ート状材料から形成されており、また光通過領域46,
50に対向する状態に光拡散板38の上面に接着剤よう
な適宜な手段により装着されている。しかし、マスク4
0は、図5に示すように、不透明領域を光拡散板38の
上面に印刷することにより形成してもよい。
【0030】維持具44は、位置規制部材32のねじ穴
に上方から螺合されて下端をガイド42の上面に押圧さ
れるねじ部材である。各位置規制部材32は、ねじ部材
52が螺合されるねじ穴64と、補助部材36を位置規
制部材32に対し解除可能に位置決める1以上の位置決
めピン66とを有する。各位置決めピン66は、位置規
制部材32の上面に組み付けられており、また補助部材
36に形成された穴に嵌合される。
【0031】支持装置10は、これに受けた液晶基板1
2をプローブユニット16に対し三次元的に移動させる
と共に液晶基板12に垂直な軸線の周りに角度的に回転
させる検査ステージに組み付けられる。液晶基板12
は、光拡散板38に載せられて、長方形の1つの辺部分
に形成された複数の吸着溝54に吸着される。
【0032】支持装置10に支持された液晶基板12
は、ベース30内の光源で発生した光を光拡散板38及
びマスク40を介して背面に受ける。液晶基板12の反
光照射面(図においては、上面)における各表示領域1
4の輝度むら、色むら等の光の状態は、その表示領域1
4の良否により大きく異なる。このため、液晶基板12
は、その反光照射面における光の状態を作業者による目
視検査又はテレビカメラ24のような撮像装置を用いた
自動検査により確認することによって、良否を判定され
る。
【0033】液晶基板12に照射される光は、光拡散板
38を経ることにより散乱された散乱光となる。そのよ
うな散乱光のうち、マスク40の光通過領域62を経た
光は対応する表示領域に照射されるが、光通過領域62
の周りの領域に達した光は対応する表示領域14に照射
されない。その結果、液晶基板12の各表示領域14を
通過する光の状態はその周りの領域に対応する光の影響
を受けず、したがって各表示領域14の良否を正確に判
定することができる。
【0034】支持装置10においては、マスク40が光
拡散板38の光出射面(液晶基板12側の面)に配置さ
れているから、マスク40と液晶基板12とが接近し、
それにより各表示領域14を通過する光の状態はその周
りの領域に対応する光の影響をより受けず、各表示領域
14の良否をより正確に判定することができる。しか
し、マスク40を光拡散板38の光入射面側に配置して
もよい。
【0035】検査の間、ベース30に対する位置規制部
材32の移動が維持具44により防止されるから、振動
に起因する位置規制部材32の間隔の変化及びベース3
0に対する位置規制部材32の位置の変化が防止され
る。これにより、受け具34及び液晶基板12がベース
30に対して位置決められるから、正確な検査をするこ
とができる。
【0036】寸法が異なる液晶基板又は表示領域の形状
が異なる液晶基板に変更するとき、補助部材36、拡散
板38及びマスク40を含む受け具34が新たな液晶基
板の種類に応じた受け具に交換される。
【0037】その際、図6に示すように、両位置規制部
材32が新たな液晶基板に応じて相寄る方向又は相離れ
る方向へ相対的に移動されて、両位置規制部材32の間
隔及びベース30に対する位置規制部材32及び受け具
34の位置(ひいては、ベース30やプローブユニット
16に対する液晶基板12の位置)が新たな液晶基板に
応じた値及び位置に調整された後、新たな液晶基板に応
じた受け具が位置規制部材32を介してベース30に装
着される。このため、高価なベース30や位置規制部材
32を複数種類の液晶基板で共通に使用することがで
き、検査装置自体が廉価になる。
【0038】図7、図8及び図9に示すように、新たな
液晶基板12aの寸法が元の液晶基板12の寸法と同じ
である場合は、元のマスク40を新たな液晶基板12a
に応じた光通過領域62aを有するマスク40aに交換
するだけでもよい。この場合、位置規制部材32の間隔
は変更しなくてもよいが、位置規制部材32をベース3
0に対して移動させて、ベース30に対する新たな液晶
基板60aの位置を調整してもよい。
【0039】位置規制部材32の間隔及びベース30に
対する位置規制部材32の位置を調整する際、位置規制
部材32の移動はガイド42により第1の方向に規制さ
れる。このため、位置規制部材32の間隔及びベース3
0に対する位置規制部材32の位置を高精度に及び容易
に変更することができる。
【0040】受け具34を交換するとき、補助部材36
が位置決めピン66によりベース30に対し位置決めら
れるから、位置規制部材32又はベース30に対する受
け具34の位置決めを容易にかつ正確に行えるから、受
け具の交換作業が容易になる。
【0041】図8から図10を参照するに、支持装置7
0は、吸着溝54が各位置規制部材32に形成されてい
ることと、受け具72が異なることと、位置決めピン6
6がベース30に組み付けられていることとを除いて、
図1から図4に示す支持装置10と同様に形成されてい
る。
【0042】受け具72は、角柱状の補助部材74を長
方形の光拡散板38の長手方向の各端部に装着し、光拡
散板38の上面にマスク40を装着している。補助部材
74は、位置決めピン66が嵌合される穴を有する。
【0043】受け具72は、両位置規制部材32の間に
配置され、両位置規制部材32に挟み込まれる。これに
よりベース30に対する受け具34の位置が規制され
る。液晶基板12は、受け具72の上面と両位置規制部
材72の上面の一部とに載せられて、吸着溝54に吸着
され、その状態で光拡散板38による散乱光を背面に受
ける。
【0044】図10に示すように、寸法が異なる液晶基
板又は表示領域の形状が異なる液晶基板12aに変更す
るとき、補助部材76、拡散板38及びマスク40を含
む受け具72が新たな液晶基板12aの種類に応じた受
け具72aに交換される。
【0045】受け具の交換の際、両位置規制部材32が
新たな液晶基板に応じて相寄る方向又は相離れる方向へ
相対的に移動されて、両位置規制部材32の間隔及びベ
ースに対する位置規制部材及び受け具の位置が新たな液
晶基板に応じた値及び位置に調整された後、新たな液晶
基板に応じた受け具72aが位置規制部材32によりベ
ース30に装着される。
【0046】上記の実施例では、液晶基板を受け具に水
平に受けているが、支持装置を検査装置に傾斜した状態
又は直立した状態に配置して、液晶基板を受け具に斜め
の状態又は直立した状態に受けるようにしてもよい。ま
た、受け具、特に拡散板及びマスクは、検査すべき液晶
基板に応じて、正方形のように、長方形以外の他の矩形
の形状を有していてもよい。
【0047】本発明は、液晶表示パネルの点灯検査装置
のみならず、薄膜トランジスタが形成されたガラス基板
の検査装置にも適用することができる。それえゆえに、
本発明は、上記実施例に限定されなず、本発明の趣旨を
逸脱しない限り、種々変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る液晶基板の支持装置を備えた点灯
検査装置の要部を示す斜視図である。
【図2】図1に示す装置で用いる支持装置の一実施例を
示す斜視図である。
【図3】図2に示す支持装置の分解斜視図である。
【図4】図2に示す支持装置の断面図である。
【図5】マスクを光拡散板に印刷した受け具の一実施例
を示す斜視図である。
【図6】図2に示す支持装置の位置規制部材をベースに
対して移動させる状態を説明するための斜視図である。
【図7】図2に示す支持装置においてマスクのみを交換
する例を説明するための斜視図である。
【図8】本発明に係る支持装置の他の実施例を示す斜視
図である。
【図9】図8に示す支持装置の断面図である。
【図10】図8に示す支持装置において他の受け具に交
換する例を説明するための斜視図である。
【符号の説明】
10.70 支持装置 12,12a 液晶基板 14,14a 表示領域 16 プローブユニット 30 ベース(バックライトユニット) 32 位置規制部材 34,72 受け具 36,74 補助部材 38 光拡散板 40,40a マスク 42 ガイド 44 維持具 46,50,62,62a 光通過領域 48 透明板 52 ねじ部材 54 吸着溝 56,58 穴 60 オーリング 64 ねじ穴 66 位置決めピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H088 FA11 FA17 HA28 2H089 HA40 QA16 TA01 TA18 2H091 FA16Z FA41Z GA01 LA30 5F031 CA05 HA13 HA44 HA45 HA53 JA03 JA04 JA13 JA38 KA06 KA07 KA08 KA20 MA33 PA07 5G435 AA00 AA17 BB12 BB15 EE33 KK05 KK10

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面を有するベースと、検査すべき液晶
    基板を受ける受け具であって前記上面と対向された受け
    具と、前記ベースに対する前記受け具の位置を規制する
    一対の位置規制部材であって前記ベースに前記上面と平
    行な面内の第1の方向に間隔をおいて配置され、前記上
    面と平行な面内を前記第1の方向と交差する第2の方向
    へ平行に伸びる一対の位置規制部材とを含み、 前記位置規制部材は前記第1の方向に相対的に移動可能
    に前記ベースに配置されている、液晶基板の支持装置。
  2. 【請求項2】 前記ベースは第1の光通過領域を上部に
    有するバックライトユニットを含み、 前記受け具は前記バックライトユニットに前記第1の光
    通過領域に対向して配置された光拡散板を含む、請求項
    1に記載の支持装置。
  3. 【請求項3】 さらに、前記位置規制部材の相対的移動
    を前記第1の方向に規制する一対のガイドであって前記
    第2の方向に間隔をおいて前記第1の方向へ伸びるガイ
    ドを含む、請求項1又は2に記載の支持装置。
  4. 【請求項4】 さらに、前記ベースに対する前記位置規
    制部材の位置を解除可能に維持する1以上の維持具を含
    む、請求項1,2又は3に記載の支持装置。
  5. 【請求項5】 前記受け具は取り外し可能に前記ベース
    に装着されている、請求項1から4のいずれか1項に記
    載の支持装置。
  6. 【請求項6】 前記受け具は前記位置規制部材の間に配
    置されている、請求項1から4のいずれか1項に記載の
    支持装置。
  7. 【請求項7】 さらに、前記受け具を前記位置規制部材
    又は前記ベースに対し解除可能に位置決める複数の位置
    決めピンを含む、請求項1から6のいずれか1項に記載
    の支持装置。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04102890A (ja) * 1990-08-22 1992-04-03 Fujitsu Ltd 液晶表示ユニット用試験治具と動作試験方法
JPH06308035A (ja) * 1993-04-21 1994-11-04 Sharp Corp ディスプレイパネル用検査装置
JPH08152587A (ja) * 1994-11-29 1996-06-11 Nikon Corp 基板保持装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04102890A (ja) * 1990-08-22 1992-04-03 Fujitsu Ltd 液晶表示ユニット用試験治具と動作試験方法
JPH06308035A (ja) * 1993-04-21 1994-11-04 Sharp Corp ディスプレイパネル用検査装置
JPH08152587A (ja) * 1994-11-29 1996-06-11 Nikon Corp 基板保持装置

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