JPH0630742B2 - 選別方法及び選別装置 - Google Patents
選別方法及び選別装置Info
- Publication number
- JPH0630742B2 JPH0630742B2 JP63170666A JP17066688A JPH0630742B2 JP H0630742 B2 JPH0630742 B2 JP H0630742B2 JP 63170666 A JP63170666 A JP 63170666A JP 17066688 A JP17066688 A JP 17066688A JP H0630742 B2 JPH0630742 B2 JP H0630742B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sorted
- signal
- output
- specific
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は複数の被選別物から特定物を選別する選別装置
及び選別方法に係り、特に被選別物に光を照射し、同被
選別物を反射した反射光のうち特定波長の光に着目して
前記被選別物の中から特定物を選別する選別装置及び選
別方法に関する。
及び選別方法に係り、特に被選別物に光を照射し、同被
選別物を反射した反射光のうち特定波長の光に着目して
前記被選別物の中から特定物を選別する選別装置及び選
別方法に関する。
［従来の技術］ 被選別物中に混在する特定物の色、或は光の反射率が他
の被選別物と異なる場合、被選別物を反射した光に基づ
いて前記特定物を選別する方法がよく用いられる。
の被選別物と異なる場合、被選別物を反射した光に基づ
いて前記特定物を選別する方法がよく用いられる。
例えばナッツ類のカラとその中身の光の反射率は近赤外
線域において著しく異なる。ナッツ類のカラの選別にお
いては、この反射率の相違に着目して、カラと中身の選
別が行われている。更に説明すると、例えば、アーモン
ドのカラとその中身を選別する場合、一般に近赤外線域
おいてはカラの方が中身よりも多く光を反射する。従っ
て反射光の内、近赤外線域の特定波長の光を監視し、同
特定波長の光が予め定められた基準値を越えたならばカ
ラと判断し、基準値を下回ったならば中身であると判断
することにより、選別を行う。
線域において著しく異なる。ナッツ類のカラの選別にお
いては、この反射率の相違に着目して、カラと中身の選
別が行われている。更に説明すると、例えば、アーモン
ドのカラとその中身を選別する場合、一般に近赤外線域
おいてはカラの方が中身よりも多く光を反射する。従っ
て反射光の内、近赤外線域の特定波長の光を監視し、同
特定波長の光が予め定められた基準値を越えたならばカ
ラと判断し、基準値を下回ったならば中身であると判断
することにより、選別を行う。
［解決すべき問題点］ ところで被選別物の形状は一様ではなく、このため見る
方向によって反射光量が異なり、これが選別判断に影響
を及ぼす場合がある。
方向によって反射光量が異なり、これが選別判断に影響
を及ぼす場合がある。
例えば選別装置の観察部は第1図に示すようになってお
り、シュート1から落下する被選別物2は観察位置Ｐにお
いて照明3によって照らされ、その反射光が一定方向か
ら観察される。その際、被選別物2の観察面は落下にと
もなって→→と変化する。上述したように被選別
物の形状は一様ではなく、このため落下によって観察面
が変わると同時に観察される反射光量も変化する。当然
のことながら観察面によってはカラでありながら中身と
同様に、僅かしか光を反射しない面もある。従来の選別
装置においては、常に特定の観察面に絞ってその観察面
から反射される光量が多いか少ないかに基づいて選別を
おこなっており、このため選別を誤ることがあった。
り、シュート1から落下する被選別物2は観察位置Ｐにお
いて照明3によって照らされ、その反射光が一定方向か
ら観察される。その際、被選別物2の観察面は落下にと
もなって→→と変化する。上述したように被選別
物の形状は一様ではなく、このため落下によって観察面
が変わると同時に観察される反射光量も変化する。当然
のことながら観察面によってはカラでありながら中身と
同様に、僅かしか光を反射しない面もある。従来の選別
装置においては、常に特定の観察面に絞ってその観察面
から反射される光量が多いか少ないかに基づいて選別を
おこなっており、このため選別を誤ることがあった。
また被選別物は大きさも様々であり、これも選別判断に
影響を与えることがある。即ち一般に大きなものほど反
射光量が多く、小さなものほど反射光量が少ない。従っ
てカラであっても小さいものは反射光量は少なく、中身
と区別できないことがある。従来の選別装置においては
基準レベルを画一的に設定し、これを越えるか否かによ
って選別していたため大きさが特異なものについては選
別を誤ることがあった。
影響を与えることがある。即ち一般に大きなものほど反
射光量が多く、小さなものほど反射光量が少ない。従っ
てカラであっても小さいものは反射光量は少なく、中身
と区別できないことがある。従来の選別装置においては
基準レベルを画一的に設定し、これを越えるか否かによ
って選別していたため大きさが特異なものについては選
別を誤ることがあった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、判別精度に
優れた選別装置及び選別方法を提供することを目的とす
る。
優れた選別装置及び選別方法を提供することを目的とす
る。
［問題点の解決手段］ 上記目的を達成するために本発明は、観察位置を通過す
る被選別物に光を照射すると共に、同被選別物を反射し
た反射光のうち特定波長の光を信号変換装置によって電
気信号に変換し、同変換された電気信号に基づいて前記
被選別物の中から特定物を選別する選別方法において， 前記特定波長の光を２種以上設定し、２種以上の前記特
定波長の光について各々前記信号変換装置を設け、かつ
前記被選別物が前記観察位置を通過する間、前記各信号
変換装置から出力される電気信号を積分し、前記被選別
物が前記観察位置を通過した後前記各信号変換装置から
出力される最終積分値の電気信号を、波長が隣合う二つ
の前記特定波長の光に対応する一対の電気信号の組に組
分けし、前記各組の一対の電気信号の比率を求めて所定
の設定値と比較して前記特定物を判別することを特徴と
する。
る被選別物に光を照射すると共に、同被選別物を反射し
た反射光のうち特定波長の光を信号変換装置によって電
気信号に変換し、同変換された電気信号に基づいて前記
被選別物の中から特定物を選別する選別方法において， 前記特定波長の光を２種以上設定し、２種以上の前記特
定波長の光について各々前記信号変換装置を設け、かつ
前記被選別物が前記観察位置を通過する間、前記各信号
変換装置から出力される電気信号を積分し、前記被選別
物が前記観察位置を通過した後前記各信号変換装置から
出力される最終積分値の電気信号を、波長が隣合う二つ
の前記特定波長の光に対応する一対の電気信号の組に組
分けし、前記各組の一対の電気信号の比率を求めて所定
の設定値と比較して前記特定物を判別することを特徴と
する。
また本発明は、特定波長の光は２種以上設定されると共
に、信号変換装置は２種以上の前記特定波長の光につい
て各々設けられ、かつ被選別物が観察位置を通過する
間、各信号変換装置から出力される電気信号を積分する
積分手段を有し、前記被選別物が前記観察位置を通過し
た後前記各信号変換装置から出力される最終積分値の電
気信号を、波長が隣合う二つの前記特定波長の光に対応
する一対の電気信号の組に組分けする組分け手段と、前
記各組の一対の電気信号の比を求めると共に求められた
比を所定の設定値と比較し、前記２種以上の特定波長の
光に対する前記被選別物固有の反射特性を求める比較手
段と、前記比較手段の比較結果に基づき前記特定物を判
別する判別手段とを有することを特徴とする。
に、信号変換装置は２種以上の前記特定波長の光につい
て各々設けられ、かつ被選別物が観察位置を通過する
間、各信号変換装置から出力される電気信号を積分する
積分手段を有し、前記被選別物が前記観察位置を通過し
た後前記各信号変換装置から出力される最終積分値の電
気信号を、波長が隣合う二つの前記特定波長の光に対応
する一対の電気信号の組に組分けする組分け手段と、前
記各組の一対の電気信号の比を求めると共に求められた
比を所定の設定値と比較し、前記２種以上の特定波長の
光に対する前記被選別物固有の反射特性を求める比較手
段と、前記比較手段の比較結果に基づき前記特定物を判
別する判別手段とを有することを特徴とする。
［実施例］ 以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
具体的な実施例の説明に入る前に、該実施例の理解を容
易にするため本発明の基本的概念について説明する。
易にするため本発明の基本的概念について説明する。
第3図は近赤外線域におけるアーモンドのカラＡ、果肉
Ｂ及び中身Ｃの各々光の反射率を示すグラフである。こ
のグラフに示されるように波長が1000ｎｍ、1200ｎｍ及
び1450ｎｍの3種の赤外線を特定波長の反射光として検
出するものとし、波長1000ｎｍの光について、カラＡ、
果肉Ｂ及び中身Ｃの反射率をそれぞれ、Ａx，Ｂx、及び
Ｃxとし、また波長1200ｎｍの光についてカラ、果肉及
び中身の反射率をそれぞれＡy，Ｂy及びＣyとし、また
波長1450ｎｍの光の反射率をＡz，Ｂz及びＣzとする。
この場合、グラフから明らかなように Ａx／Ａy＜Ｂx／Ｂy … Ａx／Ａy＜Ｃx／Ｃy … となる。ここで Ａx／Ａy＜ｋ1＜Ｂx／Ｂy … 及び Ａx／Ａy＜ｋ1＜Ｃx／Ｃy … なる値ｋ1を想定する。
Ｂ及び中身Ｃの各々光の反射率を示すグラフである。こ
のグラフに示されるように波長が1000ｎｍ、1200ｎｍ及
び1450ｎｍの3種の赤外線を特定波長の反射光として検
出するものとし、波長1000ｎｍの光について、カラＡ、
果肉Ｂ及び中身Ｃの反射率をそれぞれ、Ａx，Ｂx、及び
Ｃxとし、また波長1200ｎｍの光についてカラ、果肉及
び中身の反射率をそれぞれＡy，Ｂy及びＣyとし、また
波長1450ｎｍの光の反射率をＡz，Ｂz及びＣzとする。
この場合、グラフから明らかなように Ａx／Ａy＜Ｂx／Ｂy … Ａx／Ａy＜Ｃx／Ｃy … となる。ここで Ａx／Ａy＜ｋ1＜Ｂx／Ｂy … 及び Ａx／Ａy＜ｋ1＜Ｃx／Ｃy … なる値ｋ1を想定する。
次にグラフから明らかなように Ａy／Ａz＜Ｂy／Ｂz … Ｃy／Ｃz＜Ｂy／Ｂz … となる。ここで、 Ａy／Ａz＜ｋ2＜Ｂy／Ｂz … 及び Ｃy／Ｃz＜ｋ2＜Ｂy／Ｂz … なる値ｋ2を想定する。
さて、ある被選択物（カラであるか果肉であるか中身で
あるか不明）について検出された上記各特定波長1000ｎ
ｍ，1200ｎｍ及び1450ｎｍの光の反射量がそれぞれ、
ｘ，ｙ及びｚであったとすると、上記条件、、及
びから ｘ／ｙ＜ｋ1かつｙ／ｚ＜ｋ2 … であれば被選別物はカラである。
あるか不明）について検出された上記各特定波長1000ｎ
ｍ，1200ｎｍ及び1450ｎｍの光の反射量がそれぞれ、
ｘ，ｙ及びｚであったとすると、上記条件、、及
びから ｘ／ｙ＜ｋ1かつｙ／ｚ＜ｋ2 … であれば被選別物はカラである。
ｋ1＜ｘ／ｙかつｋ2＜ｙ／ｚ … であれば被選別物は果肉である。また ｋ1＜ｘ／ｙかつｙ／ｚ＜ｋ2 … であれば被選別物は中身である。
次に第2図は本発明の概略的作用を説明するためのブロ
ック図であり、この装置はアーモンドを被選別物2とし
て、その中から、カラ・果肉を排除し、若しくは中身を
取り出す。観察位置Ｐにおいて被選別物2を反射した光
は分光装置10によって受光される。分光装置10は反射光
のうち上述した3種の特定波長の光、即ち波長が1000ｎ
ｍ，1200ｎｍ及び1450ｎｍの３種の波長の光を分光し、
各々を電気信号ｘ′，ｙ′及びｚ′に変換した後、積分
器11、12及び13に供給する。積分器11、12、13は、被選
別物2が観察位置Ｐを通過する間、分光装置10から供給
される電気信号を積分し、被選別物2が観察位置Ｐを通
過後、各々最終積分結果ｘ，ｙ，ｚを出力し、比較器1
4、15へ供給する。この場合、積分結果ｘは比較器14に
供給され、積分結果ｙは比較器14及び15に供給され、積
分結果ｚは比較器15に供給される。
ック図であり、この装置はアーモンドを被選別物2とし
て、その中から、カラ・果肉を排除し、若しくは中身を
取り出す。観察位置Ｐにおいて被選別物2を反射した光
は分光装置10によって受光される。分光装置10は反射光
のうち上述した3種の特定波長の光、即ち波長が1000ｎ
ｍ，1200ｎｍ及び1450ｎｍの３種の波長の光を分光し、
各々を電気信号ｘ′，ｙ′及びｚ′に変換した後、積分
器11、12及び13に供給する。積分器11、12、13は、被選
別物2が観察位置Ｐを通過する間、分光装置10から供給
される電気信号を積分し、被選別物2が観察位置Ｐを通
過後、各々最終積分結果ｘ，ｙ，ｚを出力し、比較器1
4、15へ供給する。この場合、積分結果ｘは比較器14に
供給され、積分結果ｙは比較器14及び15に供給され、積
分結果ｚは比較器15に供給される。
比較器14には上述した値ｋ1が設定されている。このｋ1
は上述した条件及びを満足するように予め実験によ
って求められた値である。比較器14は積分結果ｘ，ｙを
受けると、ｘ，ｙの比率ｘ／ｙを求め、同比率ｘ／ｙと
値ｋ1とを比較し、大小関係を調べる。そして大小関係
に応じて論理信号ｖを出力する。ここで、ｘ／ｙ＜ｋ1
ならば、ｖ＝“0”を出力し、ｘ／ｙ＞ｋ1ならば、ｖ＝
“1”を出力する。
は上述した条件及びを満足するように予め実験によ
って求められた値である。比較器14は積分結果ｘ，ｙを
受けると、ｘ，ｙの比率ｘ／ｙを求め、同比率ｘ／ｙと
値ｋ1とを比較し、大小関係を調べる。そして大小関係
に応じて論理信号ｖを出力する。ここで、ｘ／ｙ＜ｋ1
ならば、ｖ＝“0”を出力し、ｘ／ｙ＞ｋ1ならば、ｖ＝
“1”を出力する。
比較器15には上述した値ｋ2が設定されている。このｋ2
は上述した条件及びを満足するように予め実験によ
って求められた値である。比較器15は積分結果ｙ，ｚを
受けると、ｙ，ｚの比率ｙ／ｚを求め、同比率ｙ／ｚと
ｋ2とを比較し、大小関係を調べる。そして比較器14と
同様にその大小関係に応じて理信号ｗを出力する。ここ
で、ｙ／ｚ＜ｋ2ならば，ｗ＝“0”であり、ｙ／ｚ＞ｋ
2ならば、ｗ＝“1”である。
は上述した条件及びを満足するように予め実験によ
って求められた値である。比較器15は積分結果ｙ，ｚを
受けると、ｙ，ｚの比率ｙ／ｚを求め、同比率ｙ／ｚと
ｋ2とを比較し、大小関係を調べる。そして比較器14と
同様にその大小関係に応じて理信号ｗを出力する。ここ
で、ｙ／ｚ＜ｋ2ならば，ｗ＝“0”であり、ｙ／ｚ＞ｋ
2ならば、ｗ＝“1”である。
これら論理信号ｖ，ｗは組合せ論理回路16に供給され、
この組合せ論理回路16は論理信号ｖ，ｗに基づいて、カ
ラ及び果肉の排除信号、または中身の取出し信号を出力
する。
この組合せ論理回路16は論理信号ｖ，ｗに基づいて、カ
ラ及び果肉の排除信号、または中身の取出し信号を出力
する。
第4図はカラ及び果肉の排除信号を出力する組合せ論理
回路16である。この回路はｖ＝“0”，またはｗ＝“1”
の時、即ち上述した条件及びの時にカラ及び果肉の
排除信号を出力する。一方、第5図は中身の取出し信号
を出力する組合せ論理回路16である。この回路はｖ＝
“1”及びｗ＝“0”の時に、即ち上述した条件の時に
中身の取出し信号を出力する。第4図に示す論理回路を
採用するか、若しくは第5図に示す論理回路を採用する
かは、目的に応じて適宜決定される。
回路16である。この回路はｖ＝“0”，またはｗ＝“1”
の時、即ち上述した条件及びの時にカラ及び果肉の
排除信号を出力する。一方、第5図は中身の取出し信号
を出力する組合せ論理回路16である。この回路はｖ＝
“1”及びｗ＝“0”の時に、即ち上述した条件の時に
中身の取出し信号を出力する。第4図に示す論理回路を
採用するか、若しくは第5図に示す論理回路を採用する
かは、目的に応じて適宜決定される。
本装置においては被選別物2が観察位置Ｐを通過する
間、分光装置10から出力される電気信号を積分して観察
面全体に於ける反射光量を求め、その全体の反射光量に
基づいて被選別物の判別を行う。これによって各観察面
の反射光量の相違に左右されることなく選別を行うこと
ができる。即ち被選別物は各観察面において反射光量に
バラツキがあるため、単に一観察面を捕らえてそれが中
身であるか否かを判別することはできない。しかしなが
ら各観察面を反射した反射光量を全て積分するとその最
終積分値は、被選別物の性質を反映し、被選別物の種類
に応じて異なる値になる。本装置においてはこの最終積
分値に基づいて判別を行うため極めて判別精度が高い。
間、分光装置10から出力される電気信号を積分して観察
面全体に於ける反射光量を求め、その全体の反射光量に
基づいて被選別物の判別を行う。これによって各観察面
の反射光量の相違に左右されることなく選別を行うこと
ができる。即ち被選別物は各観察面において反射光量に
バラツキがあるため、単に一観察面を捕らえてそれが中
身であるか否かを判別することはできない。しかしなが
ら各観察面を反射した反射光量を全て積分するとその最
終積分値は、被選別物の性質を反映し、被選別物の種類
に応じて異なる値になる。本装置においてはこの最終積
分値に基づいて判別を行うため極めて判別精度が高い。
また本装置においては、3種の特定波長の反射光につい
てそれらに対応する電気信号ｘ，ｙ，ｚを（ｘ，ｙ）及
び（ｙ，ｚ）の２組に組分けし、各組について電気信号
の比率、即ち対応する特定波長の光の反射光量の比率を
求め、その比率から被選別物の種類を判別している。
てそれらに対応する電気信号ｘ，ｙ，ｚを（ｘ，ｙ）及
び（ｙ，ｚ）の２組に組分けし、各組について電気信号
の比率、即ち対応する特定波長の光の反射光量の比率を
求め、その比率から被選別物の種類を判別している。
被選別物は大きさが様々であり、当然のことながら大き
ければ反射光量は多く、小さければ反射光量は少ない。
従って反射光量の全体値を捕らえて被選別物の種類を判
別すると選別を誤る虞れがある。しかしながら上述した
ように3種の特定波長の反射光に着目し、隣合う特定波
長の反射光量の比率を求めると、被選別物の反射特性が
分かる。これによって従来のように絶対値と比較しなく
てもその反射特性から被選別物を特定することができ、
被選別物の大きさの大小に因る反射光量の変化に左右さ
れることなく選別を行うことができる。
ければ反射光量は多く、小さければ反射光量は少ない。
従って反射光量の全体値を捕らえて被選別物の種類を判
別すると選別を誤る虞れがある。しかしながら上述した
ように3種の特定波長の反射光に着目し、隣合う特定波
長の反射光量の比率を求めると、被選別物の反射特性が
分かる。これによって従来のように絶対値と比較しなく
てもその反射特性から被選別物を特定することができ、
被選別物の大きさの大小に因る反射光量の変化に左右さ
れることなく選別を行うことができる。
次に第６図は本発明の実施例に係る選別装置の構成を示
すブロック図である。この図において100は被選別物で
あり、より具体的にはアーモンドである。ここで100aは
アーモンドの中身、100bはアーモンドの果肉及びカラで
ある。これら被選別物100は図示せぬシュータから落下
して、観察位置Ｐを通過する。この観察位置Ｐは前後に
設けられた複数のハロゲン電球若しくはタングステン電
球等の照明101によって照明されている。
すブロック図である。この図において100は被選別物で
あり、より具体的にはアーモンドである。ここで100aは
アーモンドの中身、100bはアーモンドの果肉及びカラで
ある。これら被選別物100は図示せぬシュータから落下
して、観察位置Ｐを通過する。この観察位置Ｐは前後に
設けられた複数のハロゲン電球若しくはタングステン電
球等の照明101によって照明されている。
観察位置Ｐの後方には背景箱102が設置されており、こ
の背景箱102の具体的構成が第７図に示されている。即
ち背景箱102の前方には窓102aが形成されており、また
その内部は光を吸収する構成になっている。従って窓10
2aから侵入した光は背景箱102内部で吸収され外部には
出て行かない。この結果、外部から見るとこの窓102aは
全く光を放たず、黒く見えることになる。即ち窓102aを
背景として観察位置Ｐを見る場合、被選別物100が観察
位置Ｐを通過するときは純粋に被選別物100を反射した
光のみを見ることができ、更に観察位置Ｐに被選別物10
0が存在しないときは真っ暗な背景が見えることにな
る。
の背景箱102の具体的構成が第７図に示されている。即
ち背景箱102の前方には窓102aが形成されており、また
その内部は光を吸収する構成になっている。従って窓10
2aから侵入した光は背景箱102内部で吸収され外部には
出て行かない。この結果、外部から見るとこの窓102aは
全く光を放たず、黒く見えることになる。即ち窓102aを
背景として観察位置Ｐを見る場合、被選別物100が観察
位置Ｐを通過するときは純粋に被選別物100を反射した
光のみを見ることができ、更に観察位置Ｐに被選別物10
0が存在しないときは真っ暗な背景が見えることにな
る。
一方、観察位置Ｐの前方、背景箱102の窓102aと観察位
置Ｐとを結ぶ位置には前方に向かって順にレンズ103、
スリット104及び分光装置105が設けられている。上記レ
ンズ103は観察位置Ｐを通過する被選別物100を反射した
光をスリット104上に結像する。スリット104はレンズ10
3から供給される光の内、その中心部分のみを絞って通
過させる。即ちスリット104は観察位置Ｐを、背景箱102
の窓102aのみを背景とする限られた範囲に制限し、その
範囲からの光のみを絞って通過させる。この結果、被選
別物100が観察位置Ｐを通過する場合、被選別物100を反
射した光のみがスリット104を通過して分光装置105へ入
射する。一方、観察位置Ｐに被選別物100が存在しない
ときは背景となる窓102aから全く光が放射されないた
め、スリット104を通過する光はなく、分光装置105には
光が全く入射されない。
置Ｐとを結ぶ位置には前方に向かって順にレンズ103、
スリット104及び分光装置105が設けられている。上記レ
ンズ103は観察位置Ｐを通過する被選別物100を反射した
光をスリット104上に結像する。スリット104はレンズ10
3から供給される光の内、その中心部分のみを絞って通
過させる。即ちスリット104は観察位置Ｐを、背景箱102
の窓102aのみを背景とする限られた範囲に制限し、その
範囲からの光のみを絞って通過させる。この結果、被選
別物100が観察位置Ｐを通過する場合、被選別物100を反
射した光のみがスリット104を通過して分光装置105へ入
射する。一方、観察位置Ｐに被選別物100が存在しない
ときは背景となる窓102aから全く光が放射されないた
め、スリット104を通過する光はなく、分光装置105には
光が全く入射されない。
分光装置105の具体的な構成を第８図に示す。分光装置1
05は入射光を、検出対象とする2以上の特定波長の光を
数だけ分光し、かつ分光された光から各々異なる波長の
光を選択し、その強度に応じた電気信号に変換するもの
で、各々検出対象とする2以上の特定波長の光の数だけ
設けられたビームスプリッタ106、フィルタ107及びセン
サ108を有している。この実施例においては検出対象と
する特定波長の光の数はｎ個である。第８図に示される
ように分光装置は105はその後面に窓105aを有し、スリ
ット104を通過した光はこの窓105aから分光装置105内に
侵入する。前記ビームスプリッタ106-1 〜 nは分光装置10
5内において侵入した光の経路Ｌに沿って配置されてお
り、各ビームスプリッタ106は侵入した光の一部をその
まま通過させる一方、他の一部を光の経路Ｌに対して垂
直に反射させる。ビームスプリッタ106を反射した光
は、各々ビームスプリッタに対応して設けれらたフィル
タ107-1 〜 nに供給され、各フィルタはそれぞれ検出対象
となる異なる波長の光のみを選択して通過させる。フィ
ルタ107を通過した光は、同じくビームスプリッタに対
応して設けられた受光素子108-1 〜 nに受光され、これら
受光素子によって電気信号に変換される。この結果分光
装置105からは被選別物100が観察位置Ｐを通過するとき
に検出対象とする複数の特定波長の光の強弱を示すアナ
ログ信号ｓ1，ｓ2‥ｓnが、前記各特定波長の光に対応
して出力される。一方、観察位置Ｐに被選別物100が存
在しないときは、前記窓102aが全く光を放射しないの
で、上記信号はゼロレベルとなる。
05は入射光を、検出対象とする2以上の特定波長の光を
数だけ分光し、かつ分光された光から各々異なる波長の
光を選択し、その強度に応じた電気信号に変換するもの
で、各々検出対象とする2以上の特定波長の光の数だけ
設けられたビームスプリッタ106、フィルタ107及びセン
サ108を有している。この実施例においては検出対象と
する特定波長の光の数はｎ個である。第８図に示される
ように分光装置は105はその後面に窓105aを有し、スリ
ット104を通過した光はこの窓105aから分光装置105内に
侵入する。前記ビームスプリッタ106-1 〜 nは分光装置10
5内において侵入した光の経路Ｌに沿って配置されてお
り、各ビームスプリッタ106は侵入した光の一部をその
まま通過させる一方、他の一部を光の経路Ｌに対して垂
直に反射させる。ビームスプリッタ106を反射した光
は、各々ビームスプリッタに対応して設けれらたフィル
タ107-1 〜 nに供給され、各フィルタはそれぞれ検出対象
となる異なる波長の光のみを選択して通過させる。フィ
ルタ107を通過した光は、同じくビームスプリッタに対
応して設けられた受光素子108-1 〜 nに受光され、これら
受光素子によって電気信号に変換される。この結果分光
装置105からは被選別物100が観察位置Ｐを通過するとき
に検出対象とする複数の特定波長の光の強弱を示すアナ
ログ信号ｓ1，ｓ2‥ｓnが、前記各特定波長の光に対応
して出力される。一方、観察位置Ｐに被選別物100が存
在しないときは、前記窓102aが全く光を放射しないの
で、上記信号はゼロレベルとなる。
分光装置105から出力された電気信号ｓ1，ｓ2‥ｓnは各
々増幅器109-1 〜 nによって増幅され、抵抗110-1 〜 nを介
して積分器111-1 〜 nに供給される。
々増幅器109-1 〜 nによって増幅され、抵抗110-1 〜 nを介
して積分器111-1 〜 nに供給される。
積分器111はオペアンプ112を中心として構成され、その
出力端と反転入力端との間にはコンデンサ114が介挿さ
れている。更に積分器111はコンデンサ114に平行に介挿
されたスイッチ114を有しており、このスイッチ114はオ
アゲート115の出力状態に応じてオン／オフする。この
場合スイッチ114は、オアゲート115の出力が“1”の時
にオフして、コンデンサ113の両端を解放する一方、オ
アゲート115の出力が“0”の時にオンしてコンデンサ11
3の両端を短絡する。従って積分器111はスイッチ114が
オフしている時に積分器として機能し、増幅器109によ
って増幅された信号ｓ1，ｓ2‥ｓnを積分する一方、ス
イッチ114がオンしている時は積分器をして機能せず、
出力をゼロレベルに保持する。
出力端と反転入力端との間にはコンデンサ114が介挿さ
れている。更に積分器111はコンデンサ114に平行に介挿
されたスイッチ114を有しており、このスイッチ114はオ
アゲート115の出力状態に応じてオン／オフする。この
場合スイッチ114は、オアゲート115の出力が“1”の時
にオフして、コンデンサ113の両端を解放する一方、オ
アゲート115の出力が“0”の時にオンしてコンデンサ11
3の両端を短絡する。従って積分器111はスイッチ114が
オフしている時に積分器として機能し、増幅器109によ
って増幅された信号ｓ1，ｓ2‥ｓnを積分する一方、ス
イッチ114がオンしている時は積分器をして機能せず、
出力をゼロレベルに保持する。
前記増幅器109-nの出力は対応する積分器111-n以外に、
更に通過検出用比較器117の第１入力端に供給される。
通過検出用比較器117の2入力端には基準電圧v0が供給さ
れており、この基準電圧v0は分光装置105から出力され
る信号がゼロレベルの時、即ち観察位置Ｐに被選別物10
0が存在しない時に増幅器109-nから出力される信号レベ
ルよりも僅かに高く設定されている。したがって通過検
出用比較器117は増幅器109-nの出力が基準電圧v0を越え
ている間、即ち被選別物100が観察位置Ｐを通過するこ
とにより分光装置105から信号ｓnが出力されている間、
論理レベル“1”の通過検出信号をオアゲート115の第1
入力端及び単安定マルチバイブレータ118に供給する。
一方、観察位置Ｐに被選別物100が存在しないときは通
過検出用比較器117の出力は“0”レベルを保持しする。
更に通過検出用比較器117の第１入力端に供給される。
通過検出用比較器117の2入力端には基準電圧v0が供給さ
れており、この基準電圧v0は分光装置105から出力され
る信号がゼロレベルの時、即ち観察位置Ｐに被選別物10
0が存在しない時に増幅器109-nから出力される信号レベ
ルよりも僅かに高く設定されている。したがって通過検
出用比較器117は増幅器109-nの出力が基準電圧v0を越え
ている間、即ち被選別物100が観察位置Ｐを通過するこ
とにより分光装置105から信号ｓnが出力されている間、
論理レベル“1”の通過検出信号をオアゲート115の第1
入力端及び単安定マルチバイブレータ118に供給する。
一方、観察位置Ｐに被選別物100が存在しないときは通
過検出用比較器117の出力は“0”レベルを保持しする。
単安定マルチバイブレータ118は通過検出用比較器117の
出力が立ち下がると同時にパルス信号を出力し、オアゲ
ート115の第2入力端およびアンドゲート119の第1入力端
に供給する。従ってオアゲート115は被選別物100が観察
位置Ｐを通過する時間及びそれに続いて単安定マルチバ
イブレータ118から出力されるパルス幅の時間、出力が
“1”となる。そしてオアゲート115の出力が“1”の
間、積分器111が信号ｓ1、ｓ2‥ｓnを積分し、積分結果
Ｓ1、Ｓ2‥Ｓnを信号選択回路116に供給する。
出力が立ち下がると同時にパルス信号を出力し、オアゲ
ート115の第2入力端およびアンドゲート119の第1入力端
に供給する。従ってオアゲート115は被選別物100が観察
位置Ｐを通過する時間及びそれに続いて単安定マルチバ
イブレータ118から出力されるパルス幅の時間、出力が
“1”となる。そしてオアゲート115の出力が“1”の
間、積分器111が信号ｓ1、ｓ2‥ｓnを積分し、積分結果
Ｓ1、Ｓ2‥Ｓnを信号選択回路116に供給する。
信号選択回路116は隣合う二つの特定波長の反射光に対
応する一対の積分信号を重複を許して選択し、各々を一
組として出力し、信号比・比較回路120へ供給する。即
ち(Ｓ1、Ｓ2)、(Ｓ2、Ｓ3)、(Ｓ3、Ｓ4)‥(Ｓn-2、Ｓ
n-1)及び(Ｓn-1、Ｓn)を各々一組とするｎ-1個の信号の
組を生成し、各組を対応する信号比・比較回路120へ供
給する。
応する一対の積分信号を重複を許して選択し、各々を一
組として出力し、信号比・比較回路120へ供給する。即
ち(Ｓ1、Ｓ2)、(Ｓ2、Ｓ3)、(Ｓ3、Ｓ4)‥(Ｓn-2、Ｓ
n-1)及び(Ｓn-1、Ｓn)を各々一組とするｎ-1個の信号の
組を生成し、各組を対応する信号比・比較回路120へ供
給する。
信号比・比較回路120は前記各信号の組に対応してｎ-1
個設けられており、各組の一対の積分値の比を予め設定
された定数と比較する。即ち各信号比・比較回路120は
可変利得増幅器121、加算器122及び比較器123から構成
され、可変利得増幅器121は一方の積分値を増幅して増
幅値を加算器122へ供給する。加算器122は同増幅値から
他方の積分値を減算して減算結果を比較器123の非反転
端子へ供給する。比較器123の反転端子は接地されてお
り、この結果加算器122による演算結果がプラスのとき
は比較器123から“1”の論理信号が出力され、加算器12
2による演算結果がマイナスのときには比較器123から
“0”の論理信号が出力される。積分結果(Ｓ1、Ｓ2)の
組を例にとって更に説明する。積分結果Ｓ1は可変利得
増幅器121に供給され、同可変利得増幅器121によりk倍
に増幅され加算器122へ供給される。加算器122はｋ倍に
増幅された積分結果ｋＳ1から積分結果Ｓ2を減算し、演
算結果を比較器123の非反転入力端子に供給する。即
ち、積分結果Ｓ1は可変利得増幅器121により増幅される
ことにより、 ｋ×Ｓ1＝ｋＳ1 ‥ となる。これから積分結果Ｓ2が減算されることによ
り、 ｋＳ1−Ｓ2 ‥ となり、この正負が比較器123によって判断される。即
ち、 ｋＳ1−Ｓ2＞0 ‥ の時、即ち ｋ＞Ｓ2／Ｓ1 ‥ の時に比較器123から“1”の論理信号が出力されること
になり、 ｋＳ1−Ｓ2＜0 ‥ の時、即ち ｋ＜Ｓ2／Ｓ1 ‥ の時に比較器123から“0”の論理信号が出力されること
になる。ここで可変利得増幅器121の増幅率kが前述した
式、、及びにしめす定数ｋ1及びｋ2に相当し、
所定の条件（及び、若しくは及びに相当する条
件）を満足するように予め実験によって求められたもの
である。
個設けられており、各組の一対の積分値の比を予め設定
された定数と比較する。即ち各信号比・比較回路120は
可変利得増幅器121、加算器122及び比較器123から構成
され、可変利得増幅器121は一方の積分値を増幅して増
幅値を加算器122へ供給する。加算器122は同増幅値から
他方の積分値を減算して減算結果を比較器123の非反転
端子へ供給する。比較器123の反転端子は接地されてお
り、この結果加算器122による演算結果がプラスのとき
は比較器123から“1”の論理信号が出力され、加算器12
2による演算結果がマイナスのときには比較器123から
“0”の論理信号が出力される。積分結果(Ｓ1、Ｓ2)の
組を例にとって更に説明する。積分結果Ｓ1は可変利得
増幅器121に供給され、同可変利得増幅器121によりk倍
に増幅され加算器122へ供給される。加算器122はｋ倍に
増幅された積分結果ｋＳ1から積分結果Ｓ2を減算し、演
算結果を比較器123の非反転入力端子に供給する。即
ち、積分結果Ｓ1は可変利得増幅器121により増幅される
ことにより、 ｋ×Ｓ1＝ｋＳ1 ‥ となる。これから積分結果Ｓ2が減算されることによ
り、 ｋＳ1−Ｓ2 ‥ となり、この正負が比較器123によって判断される。即
ち、 ｋＳ1−Ｓ2＞0 ‥ の時、即ち ｋ＞Ｓ2／Ｓ1 ‥ の時に比較器123から“1”の論理信号が出力されること
になり、 ｋＳ1−Ｓ2＜0 ‥ の時、即ち ｋ＜Ｓ2／Ｓ1 ‥ の時に比較器123から“0”の論理信号が出力されること
になる。ここで可変利得増幅器121の増幅率kが前述した
式、、及びにしめす定数ｋ1及びｋ2に相当し、
所定の条件（及び、若しくは及びに相当する条
件）を満足するように予め実験によって求められたもの
である。
各信号比・比較回路120の比較器は比較結果を組合せ論
理回路124に供給する。この組合せ論理回路124は第4図
又は第5図に示すようなTTL回路であり、中身以外のカラ
若しくは果肉が観察位置Ｐを通過したときに“1”の論
理信号を出力し、中身が通過したときは“0”の論理信
号を出力するように構成されている。組合せ論理回路12
4から出力された論理信号はアンドゲート119の第２入力
端に供給される。
理回路124に供給する。この組合せ論理回路124は第4図
又は第5図に示すようなTTL回路であり、中身以外のカラ
若しくは果肉が観察位置Ｐを通過したときに“1”の論
理信号を出力し、中身が通過したときは“0”の論理信
号を出力するように構成されている。組合せ論理回路12
4から出力された論理信号はアンドゲート119の第２入力
端に供給される。
アンドゲート119の第1入力端には単安定マルチバイブレ
ータ118の出力が供給されており、従って単安定マルチ
バイブレータ118の出力により、組合せ論理回路124の出
力がゲートされてアンドゲート119から出力される。
ータ118の出力が供給されており、従って単安定マルチ
バイブレータ118の出力により、組合せ論理回路124の出
力がゲートされてアンドゲート119から出力される。
アンドゲート119の出力は単安定マルチバイブレータ126
へ供給され、同単安定マルチバイブレータ126はアンド
ゲート119から出力されるパルスのパルス幅を排除に必
要とされる時間、引き伸ばし遅延回路126へ供給する。
遅延回路126は落下する被選別物100が観察位置Ｐを通過
してから排除位置Ｑに達するまでの時間、単安定マルチ
バイブレータ126から出力された信号を遅延させ、ドラ
イブ回路127へ供給する。ドライブ回路127は遅延回路12
6から信号が供給されると、その信号のパルス幅に相当
する時間、イジェクタ駆動信号をイジェクタ128へ供給
する。イジェクタ128は上述した排除位置Ｑに設置され
ており、ドライブ回路127からイジェクタ駆動信号が供
給されると排除位置Ｑを通過する被選別物100に圧搾空
気を吹き掛け、それを吹き飛ばす。
へ供給され、同単安定マルチバイブレータ126はアンド
ゲート119から出力されるパルスのパルス幅を排除に必
要とされる時間、引き伸ばし遅延回路126へ供給する。
遅延回路126は落下する被選別物100が観察位置Ｐを通過
してから排除位置Ｑに達するまでの時間、単安定マルチ
バイブレータ126から出力された信号を遅延させ、ドラ
イブ回路127へ供給する。ドライブ回路127は遅延回路12
6から信号が供給されると、その信号のパルス幅に相当
する時間、イジェクタ駆動信号をイジェクタ128へ供給
する。イジェクタ128は上述した排除位置Ｑに設置され
ており、ドライブ回路127からイジェクタ駆動信号が供
給されると排除位置Ｑを通過する被選別物100に圧搾空
気を吹き掛け、それを吹き飛ばす。
以上の構成を有する選別装置の動作について説明する。
第6図に示すように図示せぬシュータから排出された被
選別物100は観察位置Ｐを通過した後排除位置Ｑに達す
る。この被選別物100は中身100aと、カラ及び果肉のそ
の他100bが混在したものである。
選別物100は観察位置Ｐを通過した後排除位置Ｑに達す
る。この被選別物100は中身100aと、カラ及び果肉のそ
の他100bが混在したものである。
観察位置Ｐは照明101によって照明されており、被選別
物100が観察位置Ｐを通過するときに、同被選別物100を
反射したした光がレンズ103及びスリット104を介して分
光装置105に入射する。なお観察位置Ｐに被選別物100が
存在しないときは、背景箱102の窓102aが光を全く発し
ないため、分光装置105に光は入射しない。
物100が観察位置Ｐを通過するときに、同被選別物100を
反射したした光がレンズ103及びスリット104を介して分
光装置105に入射する。なお観察位置Ｐに被選別物100が
存在しないときは、背景箱102の窓102aが光を全く発し
ないため、分光装置105に光は入射しない。
分光装置105に入射した光は複数のビームスプリッタ106
によってそれぞれ分光され、各ビームスプリッタ106に
対応するフィルタ107に供給される。フィルタ107では、
各々検出対象となる、異なる波長の光が取り出され、各
フィルタ107に対応するセンサ108に供給される。各セン
サ108では対応するフィルタ107を通過した光が電気信号
ｓ1、ｓ2‥ｓnに変換され、各々対応する増幅器109に供
給される。更に増幅器109では供給された信号が増幅さ
れ、各々対応する積分器111へ供給される。
によってそれぞれ分光され、各ビームスプリッタ106に
対応するフィルタ107に供給される。フィルタ107では、
各々検出対象となる、異なる波長の光が取り出され、各
フィルタ107に対応するセンサ108に供給される。各セン
サ108では対応するフィルタ107を通過した光が電気信号
ｓ1、ｓ2‥ｓnに変換され、各々対応する増幅器109に供
給される。更に増幅器109では供給された信号が増幅さ
れ、各々対応する積分器111へ供給される。
第9図は第6図に示す選別装置の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。この図の(a)に示される様に
増幅器109は、被選別物100の下端が観察位置Ｐに達した
時刻Ｔ1から被選別物100の上端が観察位置Ｐを通り過ぎ
る時刻Ｔ2までの間の時間ｔ1、電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓn
を増幅して出力する。ここで電気信号ｓnは通過検出用
比較器117へ供給され、電気信号ｓnが基準電圧ｖ0を越
えている間、即ち略時刻Ｔ1から時刻Ｔ2の間、通過検出
用比較器117から第9図の(ｂ)に示す通過検出信号が出力
される。この通過検出信号が出力されることにより、オ
アゲート115の出力が“1”となり、各積分器111のスイ
ッチ114がオフして、各積分器111において増幅器109の
出力の積分が開始される。即ち第9図の(e)に示される様
に、時刻Ｔ1から電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓnの積分が開始さ
れ、積分器111から徐々に増加する積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓn
が出力される。
イミングチャートである。この図の(a)に示される様に
増幅器109は、被選別物100の下端が観察位置Ｐに達した
時刻Ｔ1から被選別物100の上端が観察位置Ｐを通り過ぎ
る時刻Ｔ2までの間の時間ｔ1、電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓn
を増幅して出力する。ここで電気信号ｓnは通過検出用
比較器117へ供給され、電気信号ｓnが基準電圧ｖ0を越
えている間、即ち略時刻Ｔ1から時刻Ｔ2の間、通過検出
用比較器117から第9図の(ｂ)に示す通過検出信号が出力
される。この通過検出信号が出力されることにより、オ
アゲート115の出力が“1”となり、各積分器111のスイ
ッチ114がオフして、各積分器111において増幅器109の
出力の積分が開始される。即ち第9図の(e)に示される様
に、時刻Ｔ1から電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓnの積分が開始さ
れ、積分器111から徐々に増加する積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓn
が出力される。
次いで被選別物100の上端から観察位置Ｐを通過した時
刻Ｔ2において各電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓnはゼロレベルに
なり、積分が終了する。また時刻Ｔ2において通過検出
用比較器117の出力が立ち下がると、単安定マルチバイ
ブレータ１２５の出力が立ち上がり、この単安定マルチ
バイブレータ125からパルス幅ｔ2のパルス信号が出力さ
れる。これによって通過検出用比較器117の出力が立ち
下がった後も、時間ｔ2の間、即ち時間Ｔ2から時刻Ｔ3
の間、オアゲート115の出力が“1”の状態を保持し、従
って各積分器111は時刻Ｔ1から時刻Ｔ3の間、更に積分
器として機能し、この結果、時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間、
各積分器111の出力は最終積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓnに保持さ
れ、一定となる。次いで時刻Ｔ3においてオアゲート115
の出力が“0”になると、積分器111の出力もゼロレベル
になる。
刻Ｔ2において各電気信号ｓ1、ｓ2‥ｓnはゼロレベルに
なり、積分が終了する。また時刻Ｔ2において通過検出
用比較器117の出力が立ち下がると、単安定マルチバイ
ブレータ１２５の出力が立ち上がり、この単安定マルチ
バイブレータ125からパルス幅ｔ2のパルス信号が出力さ
れる。これによって通過検出用比較器117の出力が立ち
下がった後も、時間ｔ2の間、即ち時間Ｔ2から時刻Ｔ3
の間、オアゲート115の出力が“1”の状態を保持し、従
って各積分器111は時刻Ｔ1から時刻Ｔ3の間、更に積分
器として機能し、この結果、時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間、
各積分器111の出力は最終積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓnに保持さ
れ、一定となる。次いで時刻Ｔ3においてオアゲート115
の出力が“0”になると、積分器111の出力もゼロレベル
になる。
一方、時刻Ｔ1から時刻Ｔ3の間、積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓn
は信号選択回路116に供給され、同信号選択回路116にお
いては隣合う2つの特定波長の反射光に対応する一対の
積分値が重複を許して選択され、n-1個の信号の組み(Ｓ
1、Ｓ2)、(Ｓ2、Ｓ3)、(Ｓ3、Ｓ4)‥(Ｓn-2、Ｓn-1)及
び(Ｓn-1、Ｓn)が、各々対応する信号比・比較回路120
へ供給される。
は信号選択回路116に供給され、同信号選択回路116にお
いては隣合う2つの特定波長の反射光に対応する一対の
積分値が重複を許して選択され、n-1個の信号の組み(Ｓ
1、Ｓ2)、(Ｓ2、Ｓ3)、(Ｓ3、Ｓ4)‥(Ｓn-2、Ｓn-1)及
び(Ｓn-1、Ｓn)が、各々対応する信号比・比較回路120
へ供給される。
信号比・比較回路120では、可変利得増幅器121において
一方の積分値に予め実験によって求められた値ｋが乗ぜ
られ、次いで加算器122において、同乗算値から他方の
積分値が減算され、減算結果が比較器123の非反転端子
へ供給される。比較器123では加算器122による演算結果
の正負が判断され、演算結果がプラスのときは比較器12
3から“1”の論理信号が出力される一方、演算結果がマ
イナスのときには比較器123から“0”の論理信号が出力
され、この論理信号が組合せ論理回路124に供給され
る。
一方の積分値に予め実験によって求められた値ｋが乗ぜ
られ、次いで加算器122において、同乗算値から他方の
積分値が減算され、減算結果が比較器123の非反転端子
へ供給される。比較器123では加算器122による演算結果
の正負が判断され、演算結果がプラスのときは比較器12
3から“1”の論理信号が出力される一方、演算結果がマ
イナスのときには比較器123から“0”の論理信号が出力
され、この論理信号が組合せ論理回路124に供給され
る。
組合せ論理回路124では信号比・比較回路120からの出力
に基づいて被選別物の判別が行われ、判別結果がアンド
ゲート119へ供給される。ここで、組合せ論理回路124の
出力は、被選別物110が中身の時に“0”となり、カラ若
しくは果肉の時は“1”になる。但し、前述したように
被選別物100の観察面の形状は一様ではなく、その観察
面の一部からの反射光を捕らえて被選別物を特定すると
選別を誤る虞れがある。したがって、観察面全体につい
て反射光の積分が終了するまでの間は、組合せ論理回路
124の出力は信頼性に乏しい。
に基づいて被選別物の判別が行われ、判別結果がアンド
ゲート119へ供給される。ここで、組合せ論理回路124の
出力は、被選別物110が中身の時に“0”となり、カラ若
しくは果肉の時は“1”になる。但し、前述したように
被選別物100の観察面の形状は一様ではなく、その観察
面の一部からの反射光を捕らえて被選別物を特定すると
選別を誤る虞れがある。したがって、観察面全体につい
て反射光の積分が終了するまでの間は、組合せ論理回路
124の出力は信頼性に乏しい。
即ち、時刻Ｔ1から時刻Ｔ2までの間は、信号比・比較回
路120及び組合せ論理回路124が、時間の経過に伴って増
加する、不安定な積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓnに基づいて動作
しており、この間での組合せ論理回路124の出力を信用
することはできない。一方、第９図の(f)及び(g)に示す
ように、時刻Ｔ2以降、時間Ｔ3までの間においては信号
比・比較回路120及び組合せ論理回路124は、安定な最終
積分値に基づいて動作しており、この間の組合せ論理回
路124の出力は信頼できる。
路120及び組合せ論理回路124が、時間の経過に伴って増
加する、不安定な積分値Ｓ1，Ｓ2‥Ｓnに基づいて動作
しており、この間での組合せ論理回路124の出力を信用
することはできない。一方、第９図の(f)及び(g)に示す
ように、時刻Ｔ2以降、時間Ｔ3までの間においては信号
比・比較回路120及び組合せ論理回路124は、安定な最終
積分値に基づいて動作しており、この間の組合せ論理回
路124の出力は信頼できる。
組合せ論理回路124の出力はアンドゲート119において、
時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間“１”となる、単安定マルチバ
イブレータ１１８の出力によってゲートされて、信頼で
きる判断結果のみが取り出され、単安定マルチバイブレ
ータ125へ供給される。
時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間“１”となる、単安定マルチバ
イブレータ１１８の出力によってゲートされて、信頼で
きる判断結果のみが取り出され、単安定マルチバイブレ
ータ125へ供給される。
被選別物100がカラ若しくは果肉の場合、アンドゲート1
19の出力は時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間、“1”となり、こ
れが第９図の(h)に示すように、単安定マルチバイブレ
ータ125によって時間ｔ3の間、保持される。次いで単安
定マルチバイブレータ125の出力は遅延回路126によって
遅延され、ドライブ回路127に供給される。この結果、
カラ若しくは果肉が排除位置Ｑに達したときにイジェク
タ128から空気が吹き付けられ、これらカラ及び果肉が
排除される。
19の出力は時刻Ｔ2から時刻Ｔ3の間、“1”となり、こ
れが第９図の(h)に示すように、単安定マルチバイブレ
ータ125によって時間ｔ3の間、保持される。次いで単安
定マルチバイブレータ125の出力は遅延回路126によって
遅延され、ドライブ回路127に供給される。この結果、
カラ若しくは果肉が排除位置Ｑに達したときにイジェク
タ128から空気が吹き付けられ、これらカラ及び果肉が
排除される。
被選別物100が中身の場合は、アンドゲート119の出力は
時間Ｔ2から時刻Ｔ3の間、“0”となり、従ってイジェ
クタ128から空気は噴出せず、中身は排除位置Ｑを通過
し、図示せぬ収容部に収容される。
時間Ｔ2から時刻Ｔ3の間、“0”となり、従ってイジェ
クタ128から空気は噴出せず、中身は排除位置Ｑを通過
し、図示せぬ収容部に収容される。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、被選別物が観察位
置を通過する間、各信号変換装置から出力される電気信
号を瀬分することにより、観察面全体に於ける反射光量
を求め、各信号変換装置から出力される最終積分値に基
づいて２種以上の波長の光に対する前記被選別物固有の
反射特性を求め、その反射特性から前記特定物を判別す
るようにしたので、被選別物の各観察面の反射光量の相
違に左右されることなく被選別物の性質を反映した選別
を行うことができ、かつ被選別物の大きさの大小に因る
反射光量の変化に左右されることなく選別を行うことが
でき、判別制度を極めて高くすることができる。
置を通過する間、各信号変換装置から出力される電気信
号を瀬分することにより、観察面全体に於ける反射光量
を求め、各信号変換装置から出力される最終積分値に基
づいて２種以上の波長の光に対する前記被選別物固有の
反射特性を求め、その反射特性から前記特定物を判別す
るようにしたので、被選別物の各観察面の反射光量の相
違に左右されることなく被選別物の性質を反映した選別
を行うことができ、かつ被選別物の大きさの大小に因る
反射光量の変化に左右されることなく選別を行うことが
でき、判別制度を極めて高くすることができる。
第1図はシュータから落下する被選別物の観察面の変化
を示すブロック図、第2図は本発明に係る選別装置の概
略構成を示すブロック図、第3図はアーモンドのカラ、
果肉及び中身の光の反射率を示すグラフ、第4図はカラ
・果肉を排除するため第2図に示す選別装置に用いられ
る組合せ論理回路の回路例、第5図は中身を取り出すた
め第2図に示す選別装置に用いられる組合せ論理回路の
回路例、第6図は本発明に係る選別装置の具体的実施例
を示すブロック図、第7図は背景箱の構成を示す斜視
図、第8図は分光装置105の具体的構成を示すブロック
図、第9図は第6図に示す選別装置の動作を説明するため
のタイミングチャートである。 100:被選別物、2及び101:照明、102:背景箱、103:レン
ズ、104:スリット、10及び105:分光装置、109:増幅器、
11及び111:積分器、116:信号選択回路、117:通過検出用
比較器、118及び125:単安定マルチバイブレータ、14及
び120:信号比・比較回路、124:組合せ論理回路、126:遅
延回路、127:ドライブ回路、128:イジェクタ。
を示すブロック図、第2図は本発明に係る選別装置の概
略構成を示すブロック図、第3図はアーモンドのカラ、
果肉及び中身の光の反射率を示すグラフ、第4図はカラ
・果肉を排除するため第2図に示す選別装置に用いられ
る組合せ論理回路の回路例、第5図は中身を取り出すた
め第2図に示す選別装置に用いられる組合せ論理回路の
回路例、第6図は本発明に係る選別装置の具体的実施例
を示すブロック図、第7図は背景箱の構成を示す斜視
図、第8図は分光装置105の具体的構成を示すブロック
図、第9図は第6図に示す選別装置の動作を説明するため
のタイミングチャートである。 100:被選別物、2及び101:照明、102:背景箱、103:レン
ズ、104:スリット、10及び105:分光装置、109:増幅器、
11及び111:積分器、116:信号選択回路、117:通過検出用
比較器、118及び125:単安定マルチバイブレータ、14及
び120:信号比・比較回路、124:組合せ論理回路、126:遅
延回路、127:ドライブ回路、128:イジェクタ。
Claims (2)
- 【請求項１】観察位置を通過する被選別物に光を照射す
ると共に、同被選別物を反射した反射光のうち特定波長
の光を信号変換装置によって電気信号に変換し、同変換
された電気信号に基づいて前記被選別物の中から特定物
を選別する選別方法において、 前記特定波長の光を２種以上設定し、２種以上の前記特
定波長の光について各々前記信号変換装置を設け、かつ
前記被選別物が前記観察位置を通過する間、前記各信号
変換装置から出力される電気信号を積分し、前記被選別
物が前記観察位置を通過した後前記各信号変換装置から
出力される最終積分値の電気信号を、波長が隣合う二つ
の前記特定波長の光に対応する一対の電気信号の組に組
分けし、前記各組の一対の電気信号の比率を求めて所定
の設定値と比較して前記特定物を判別することを特徴と
する選別方法。 - 【請求項２】観察位置を通過する被選別物に光を照射す
ると共に、同被選別物を反射した反射光のうち特定波長
の光を信号変換装置によって電気信号に変換し、同変換
された電気信号に基づいて前記被選別物の中から特定物
を選別する選別装置において 前記特定波長の光は２種以上設定されると共に、前記信
号変換装置は２種以上の前記特定波長の光について各々
設けられ、かつ前記被選別物が前記観察位置を通過する
間、前記各信号変換装置から出力される電気信号を積分
する積分手段を有し、前記被選別物が前記観察位置を通
過した後前記各信号変換装置から出力される最終積分値
の電気信号を、波長が隣合う二つの前記特定波長の光に
対応する一対の電気信号の組に組分けする組分け手段
と、前記各組の一対の電気信号の比を求めると共に求め
られた比を所定の設定値と比較し、前記２種以上の特定
波長の光に対する前記被選別物固有の反射特性を求める
比較手段と、前記比較手段の比較結果に基づき前記特定
物を判別する判別手段とを有することを特徴とする選別
装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63170666A JPH0630742B2 (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 選別方法及び選別装置 |
| GB8829909A GB2221985B (en) | 1988-07-08 | 1988-12-22 | Discrimination method and apparatus therefor |
| DE3844497A DE3844497C2 (de) | 1988-07-08 | 1988-12-30 | Verfahren und Vorrichtung zur Selektion von Gegenständen |
| CN89100077A CN1015089B (zh) | 1988-07-08 | 1988-12-31 | 用光学和电子技术选择物体的方法及设备 |
| KR1019880018159A KR900001421A (ko) | 1988-07-08 | 1988-12-31 | 선별방법 및 선별장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63170666A JPH0630742B2 (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 選別方法及び選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0221979A JPH0221979A (ja) | 1990-01-24 |
| JPH0630742B2 true JPH0630742B2 (ja) | 1994-04-27 |
Family
ID=15909122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63170666A Expired - Fee Related JPH0630742B2 (ja) | 1988-07-08 | 1988-07-08 | 選別方法及び選別装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0630742B2 (ja) |
| KR (1) | KR900001421A (ja) |
| CN (1) | CN1015089B (ja) |
| DE (1) | DE3844497C2 (ja) |
| GB (1) | GB2221985B (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0472554A (ja) * | 1990-07-13 | 1992-03-06 | Hajime Sangyo Kk | 透明容器検査装置 |
| DE4125045A1 (de) * | 1991-07-29 | 1993-02-04 | Rwe Entsorgung Ag | Verfahren zum sortieren von abfallgemischen |
| DE4414112A1 (de) * | 1994-04-22 | 1995-10-26 | Johannes Bauer Maschinen Und A | Verfahren und Vorrichtung zum Trennen unterschiedlicher Wertstoffe |
| US6400833B1 (en) | 1998-06-19 | 2002-06-04 | Oms-Optical Measuring Systems | Method and apparatus for discrimination of product units from spread spectrum images of thin portions of product units |
| KR100408811B1 (ko) * | 2001-05-31 | 2003-12-06 | 주식회사 이오니아 | 근적외선에 의한 플라스틱 선별장치 |
| KR100528403B1 (ko) * | 2003-04-01 | 2005-11-21 | (주)이오니아이엔티 | 플라스틱 자동 분류장치 및 자동 분류방법 |
| JP2008209211A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Hitachi High-Tech Control Systems Corp | 異物検査装置および異物検査方法 |
| JP5531271B2 (ja) * | 2008-05-10 | 2014-06-25 | 独立行政法人国立高等専門学校機構 | 二枚貝の検査方法及び検査装置 |
| JP6580937B2 (ja) * | 2015-10-19 | 2019-09-25 | Ｊｆｅテクノリサーチ株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
| CN107020252B (zh) * | 2017-06-05 | 2023-02-10 | 佛山科学技术学院 | 运动控制的一种延时电路 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH646788A5 (de) * | 1978-11-28 | 1984-12-14 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zum erkennen von farben. |
| US4476982A (en) * | 1981-04-01 | 1984-10-16 | Sunkist Growers, Inc. | Method and apparatus for grading articles according to their surface color |
| JPH0239175B2 (ja) * | 1982-06-25 | 1990-09-04 | Matsushita Electric Works Ltd | Koirunoseizohoho |
| JPS6046190U (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-01 | コ−ア電子工業株式会社 | 粒状物を反射率と大きさにより選別する装置 |
| KR890002004B1 (ko) * | 1984-01-11 | 1989-06-07 | 가부시끼 가이샤 도오시바 | 지폐류 판별장치 |
| GB8425274D0 (en) * | 1984-10-05 | 1984-11-14 | Spandrel Etab | Signal responsive to parameter of objects |
| DE3445428A1 (de) * | 1984-12-13 | 1986-06-19 | MAB Marlis Kellermann, 7521 Dettenheim | Glas-sortieranlage |
-
1988
- 1988-07-08 JP JP63170666A patent/JPH0630742B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-22 GB GB8829909A patent/GB2221985B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-30 DE DE3844497A patent/DE3844497C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-31 CN CN89100077A patent/CN1015089B/zh not_active Expired
- 1988-12-31 KR KR1019880018159A patent/KR900001421A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2221985B (en) | 1992-10-21 |
| DE3844497C2 (de) | 1996-05-30 |
| GB8829909D0 (en) | 1989-02-15 |
| CN1038953A (zh) | 1990-01-24 |
| DE3844497A1 (de) | 1990-01-11 |
| KR900001421A (ko) | 1990-02-27 |
| CN1015089B (zh) | 1991-12-18 |
| JPH0221979A (ja) | 1990-01-24 |
| GB2221985A (en) | 1990-02-21 |
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