JPH06295170A - 文字・図形分割発生方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】文字・図形のビットマップデータを任意の領域
に分割して発生させることを可能とする文字・図形分割
発生方式及び回路構成並びにメモリへのアクセスアドレ
スを簡略化することが可能となるアドレス計算方式及び
回路構成を提供すること。 【構成】描画すべきドットが発生すべき領域にたいし
て、どのような位置に存在するかを判定する。また判定
結果によっては、ドットを領域の左端に来るように水平
移動させる。メモリをアクセスするアドレスを、発生領
域の最小座標値を基準とした相対アドレスで計算する。 【効果】文字・図形のビットマップデータを任意の領域
に分割して発生させることができる。メモリをアクセス
するアドレスが、メモリの要領内に必ず納まる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ベクトル形式で表され
た文字・図形の輪郭情報（以下、ベクトルデータと称
す）からドット形式の文字・図形データ（以下、ビット
マップデータと称す）を発生し、ビットマップデータを
プリンタ，ディスプレイ等の出力装置に出力する情報処
理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、文字・図形発生装置においては、
ベクトルデータからビットマップデータを分割して発生
させるためには、東芝集積回路技術資料ＴＣ８５１１Ｆ
に記載のように、領域を左側から順次連続して分割させ
て発生させていた。つまり、文字・図形データの右端の
領域を発生させるにあたっては、文字・図形データの左
端から順次連続して分割させて発生させていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、領域
を左側から順次連続して分割させなければならないた
め、任意の領域を一回で発生できないという点について
配慮されておらず、適用範囲が狭いという問題があっ
た。例えば、文字・図形の右端の部分を分割発生させる
ためには、左端から順次連続して分割発生させた後でな
ければならない。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は、発生させる領
域（Ｘ，Ｙ方向の最大値Ｘｍａｘ，Ｙｍａｘ、最小値Ｘ
ｍｉｎ，Ｙｍｉｎで囲まれる領域）に対して、メモリに
描画すべきドットが領域内であるか、あるいはＹ方向が
領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領域内であるか、
あるいはそれ以外の領域内であるかを判定する手段を設
けたものであり、領域内であればそのまま描画し、Ｙ方
向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領域内である
場合にはＹ座標はそのままでＸ座標をＸｍｉｎとして描
画し、上記２つの領域外である場合には描画しないよう
にしたものである。

【０００５】また、ドットをメモリ上に描画するための
アドレス計算方法の簡略化のためには、（Ｘｍｉｎ，Ｙ
ｍｉｎ）を基準とした相対アドレスで供給するようにし
たものである。

【０００６】

【作用】本文字・図形分割発生回路は描画すべきドット
が発生すべき領域にたいして、領域内であるか、あるい
はＹ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領域内
であるか、あるいはそれ以外の領域内であるかを判定
し、領域内であればそのまま描画し、Ｙ方向が領域内で
Ｘ方向がＸｍｉｎより小さい領域内である場合にはＹ座
標はそのままでＸ座標をＸｍｉｎとして描画し、上記２
つの領域外である場合には描画しないように動作する。
それによって、領域内に発生された文字・図形の内部を
水平ライン毎に塗り潰すにあたり、発生すべき領域にた
いしてＹ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領
域内にあったドットが、発生すべき領域の左端に移動さ
れるので正しく塗り潰すことができる。

【０００７】また、ドットをメモリ上に描画するための
アドレスの計算方法は、（Ｘｍｉｎ，Ｙｍｉｎ）を基準
とした相対アドレスで計算されるようになっている。そ
れによって、アドレスの供給が簡略化できる。

【０００８】具体的には、ドットを描画するときのアド
レスの範囲が、メモリの容量内に納まるということであ
る。

【０００９】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。

【００１０】図１は文字・図形の一部を発生させる様子
を表すものであり、図形ＡＢＣのうち（Ｘｍａｘ，Ｙｍ
ａｘ），（Ｘｍｉｎ，Ｙｍｉｎ）で囲まれた領域（１の
領域）を発生し、内部を塗り潰す。次に内部を塗り潰し
た文字・図形を発生する方法について図２を用いて詳し
く説明する。内部を塗り潰した文字・図形を発生させる
ためには、２面のメモリが必要であり、メモリ１（２
０）に内部を塗り潰すためのデータ、メモリ２（２１）
に文字・図形の輪郭線を発生する。ここで内部を塗り潰
すためのデ−タの発生方法は以下の通りである。

【００１１】ドットの移動方向８通りであり、現在点を
（Ｘ，Ｙ）とすると、（ｘ＋１，Ｙ），（ｘ＋１，Ｙ−
１），（ｘ，Ｙ−１），（ｘ−１，Ｙ−１），（ｘ−
１，Ｙ＋１），（ｘ，Ｙ＋１），（ｘ＋１，Ｙ＋１），
（ｘ−１，Ｙ）である。現在点のドットを、内部を塗り
潰すためのデータとしてメモリ１（２０）上に描画する
か否かは、現在点がいずれの方向から移動してきたかの
情報と次にいずれの方向に移動するかの情報から判定す
る。判定結果がアクティブならば、そのドットを塗り潰
し用のデータとしてメモリ１（２０）に描画する。描画
にあたっては、排他的論理和（ＥＯＲ）でライトする。
つまり、メモリ１（２０）のうち対応するビットを反転
させるのである。判定結果がノンアクティブならばドッ
トを描画しない。次にメモリ１を１水平ライン毎に走査
し、奇数番目のドットから偶数番目のドットまでの間を
塗り潰す。次に塗り潰しが終了したデータ（２２のデー
タ）と２１のデータとの論理和（ＯＲ）をとることによ
り、完全な塗り潰しデータ（２３）を得る。次に文字・
図形を分割して発生させる際の、内部塗り潰し用データ
及び輪郭線データ発生方法について、図３，図４を用い
て詳しく説明する。図３（ａ）において、発生すべき領
域３０にたいしてＹ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎよ
り小さい領域にあるドットを領域３０の左端に水平移動
させる。すなわち、Ｙ座標はそのままでＸ座標をＸｍｉ
ｎとするのである。ドット移動させて発生させた塗り潰
しデータの内部を塗り潰すと、正しい塗り潰し後のデー
タ３１を得る。これに対し、文字・図形の輪郭線データ
の発生方法は図４に示すように、発生すべき領域（４
０）内にあるドットのみを描画する。描画にあたって
は、論理和（ＯＲ）でライトする。つまり、メモリ２
（２１）のうち対応するビットに１を立てるのである。
以上説明したように、文字・図形を分割して発生させて
も正しい塗り潰しデータを得ることができる。

【００１２】次に、ドットをメモリ上に描画するための
アドレス計算方法及びドットの移動方法について図５，
図６を用いて詳しく説明する。文字・図形を表現するた
めに必要な横方向のワード数をＳＷＮ（ここではメモリ
のアクセス単位をワードであるものとしたが、アクセス
単位がバイトである場合には横方向のバイト数とする）
とすると、通常文字・図形を分割しないで発生させる場
合には、点（Ｘ，Ｙ）のアドレスは、次式で表される。

【００１３】 アドレス＝ＳＷＮ＊Ｙ＋Ｘ／１６ …………（１） （少数点以下切り捨て） ここで、＊は乗算、／は除算を表す。例えばＳＷＮ＝１
０，Ｐ（１００，１００）のアドレスは、１０＊１００
＋１００／１６＝１００６となる。また、ワード内にお
けるビット位置は以下のようにして求められる。

【００１４】ビット位置＝ｘ座標の下位４ビットの値 つまり、Ｘ座標の下位４ビットが０ならば０ビット目、
７ならば７ビット目となる。しかし文字・図形を分割さ
せて発生させる場合には、このままのアドレス計算方法
では不都合が多い。例えば、ドットを描画するためのメ
モリの容量が２５６ワードしかないような場合、点Ｐの
アドレス＝１００６はメモリのアドレスに対応しない。
したがって、分割させて発生させる場合には、原点
（０，０）を基準にするのではなく、（Ｘｍｉｎ，Ｙｍ
ｉｎ）を基準とした相対アドレスを用いる必要がある。
まず横方向のワード数ＳＷＮ’を発生すべき領域のワー
ド数とする。したがって、Ｘ方向の領域設定Ｘｍａｘ，
Ｘｍｉｎは１６の倍数とすることが望ましい。また、メ
モリのアクセス単位がバイトであるならば８の倍数であ
ることが望ましい。この際、点（Ｘ，Ｙ）のアドレス計
算方法は次式であらわされる。

【００１５】 アドレス＝（Ｙ−Ｙｍｉｎ）＊ＳＷＮ’＋（Ｘ−Ｘｍｉｎ）／１６ …（２） （小数点以下切り捨て） Ｘｍｉｎ＝６４，Ｘｍａｘ＝１２８，Ｙｍｉｎ＝６４，
Ｙｍａｘ＝１２８とするとＳＷＮ’＝４となり、点Ｐ
（１００，１００）のアドレスは アドレス＝（１００−６４）＊６４＋（１００−６４）
／１６＝１４６となる。したがって、このアドレスはド
ットを発生させるメモリのアドレスに対応する。

【００１６】次に図６を用いて、Ｙ方向が領域内でＸ方
向がＸｍｉｎより小さい領域内のドットを、発生すべき
領域の左端に水平移動させる具体的な方法について詳し
く説明する。Ｙ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小
さい領域内にあるドットのアドレスをＡＤ，座標を（Ｘ
Ｈ，ＹＨ）とすると、このドットを発生すべき領域の左
端に水平移動させるための計算は次式で表される。移動
後のアドレスをＡＤ’とすると ＡＤ’＝ＡＤ−（ＸＨ−Ｘｍｉｎ）／１６ ……（３） （ここで（ＸＨ−Ｘｍｉｎ）／１６の計算は小数点以下
切り捨て） 例えばＱ（４０，８０），Ｑ’（６４，８０）とすると
点Ｑ（４０，８０）のアドレスは、（２）式から求める
と、（８０−４０）＊４＋（４０−６４）／１６＝６２
であり、点Ｑ’（６４，８０）のアドレスは、（２）式
から求めると、（８０−６４）＊４＋（６４−６４）／
１６＝６４である。ＱのアドレスＱＡＤはＱＡＤ＝６２
であり、ＱをＱ’に移動した後のアドレスＱ’ＡＤは
（３）式により、 Ｑ’ＡＤ＝６２−（４０−６４）／１６＝６４となり、
正しく移動されたことが証明できる。またドットを移動
させた場合には、移動後のアドレスを求めるだけでな
く、ワ−ド内（バイト内）のビット位置も変えなければ
ならない。Ｑ（４０，８０）のビット位置は８ビット目
であるが、ドットを左端に水平移動させるのであるか
ら、ビット位置は必ず０ビット目にしなければならな
い。

【００１７】次に、本発明を実現するための回路構成に
ついて図７，図８，図９，図１０を用いて詳しく説明す
る。図７は塗り潰し，輪郭線データ発生回路のブロック
図である。７０は塗り潰し用，輪郭線データを発生する
ための処理の流れを制御するＣＯＮＴＲＯＬ部，７１は
ＣＯＮＴＲＯＬ部からの信号により加減算等の演算を行
ない、結果を格納するＥＸＥＣＵＴＩＯＮ ＵＮＩＴ
（ＥＵ）であり、加減算器，シフタ，セレクタ，レジス
タなどから構成される。７２は描画すべきドットが領域
内にあるか、Ｙ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小
さい領域内にあるか、あるいはそれ以外の領域内である
かを判定するブロック（以下ＤＩＶブロックと称す）。
７４は塗り潰し用データを発生するためのメモリ（以下
メモリ１と称す）。７５は輪郭線データを発生するため
のメモリ（以下メモリ２と称す）。７３はメモリ１，メ
モリ２からリードしたデータを加工し再びメモリ１，メ
モリ２にライトするモディファイブロックである。ＣＯ
ＮＴＲＯＬ部は塗り潰し用データ，輪郭線データ発生の
アルゴリズムを回路化したものであり、通常、状態遷移
図，フローチャートを回路化したものが用いられる。Ｃ
ＯＮＴＲＯＬ部はＥＵ，ＤＩＶ，モディファイブロッ
ク，メモリ１，メモリ２に対して、順次制御信号を発生
して、各ブロックに所定の処理を実行させる。まず、ド
ットがどの領域にあるかを判定するために、ＥＵに必要
な演算を実行させる。次に、ＥＵの実行結果を基にし
て、ＤＩＶブロックにドットがいずれの領域内にあるか
を判定させる。次に、判定結果を基にして、モディファ
イブロックに、メモリ１，メモリ２からリードしたデー
タをどのように加工させるかを判定させる。モディファ
イブロックは判定結果を基にして、リードデータを加工
する。また、ＣＯＮＴＲＯＬ部はＤＩＶブロックの判定
結果により、描画すべきドットのアドレスをそのままに
しておくか、あるいはＹ座標はそのままで、Ｘ座標をＸ
ｍｉｎとしたアドレスに変換するかを判定し、所定の演
算をＥＵに実行させる。

【００１８】次に、ＥＵブロック，ＤＩＶブロックの詳
細及び２つのブロックの関係について図８，図９を用い
て詳しく説明する。図８はＥＵブロックの詳細回路図で
あり、図９はＤＩＶブロックの詳細回路図である。

【００１９】図８において、８０１はベクトルデータを
格納するためのレジスタ群であり、（Ｘ０，Ｙ０），
（Ｘ１，Ｙ１）が格納される。この場合（Ｘ０，Ｙ０）
→（Ｘ１，Ｙ１）に向かってドットを発生させる。ドッ
トを移動させるアルゴリズムは、通常ブレゼンハムのア
ルゴリズムが用いられる。ブレゼンハムのアルゴリズム
については様々な文献に記載されているので、ここでの
説明は省略する。８０２は領域を設定するための値を格
納するためのレジスタ群であり、Ｘｍｉｎ，Ｙｍｉｎ，
Ｘｍａｘ，Ｙｍａｘが格納される。８０３は発生領域の
横方向のワード数ＳＷＮ、メモリ１，メモリ２をリード
／ライトするためのアドレス（ＭＡＤＲ）が格納され
る。８０４は加減算を行うＡＬＵ（Ａｒｉｔｈｍｅｔｉ
ｃ Ｌｏｇｉｃａｌ Ｕｎｉｔ）、８０５は演算結果を
一時的に格納するためのラッチ、８０６はワード内にお
けるビット位置を指定するためのレジスタ（ＭＡＳ
Ｋ）、８０７はＭＡＳＫを左右に１ビットシフトするた
めのシフタ、８０８は値“０”を格納するレジスタ、８
０９は値“１”を格納するレジスタ、８１０はＸ０の下
位４ビットの値からワード内におけるビット位置を算出
するデコーダである。

【００２０】まず、Ｘ０の下位４ビットをデコードして
ワード内のビット位置を求めＭＡＳＫに格納する。次
に、ブレゼンハムのアルゴリズムに従ってドットを移動
させる。ドットがＹ方向に＋１移動する場合には、ＭＡ
ＤＲ＋ＳＷＮをＡＬＵを用いて行い結果をＭＡＤＲに格
納する。またこの場合Ｙ０＋１をＡＬＵを用いて行い結
果をＹ０に格納する。８０９の“１”をセレクトすれば
よい。Ｙ方向にドットを−１移動する場合には、ＭＡＤ
Ｒ−ＳＷＮをＡＬＵを用いて行い結果をＭＡＤＲに格納
する。またこの場合Ｙ０−１をＡＬＵを用いて行い結果
をＹ０に格納する。８０９の“１”をセレクトすればよ
い。Ｘ方向にドットを＋１移動する場合には、ＭＡＳＫ
データを左に１ビットシフトし結果を再度ＭＡＳＫに格
納し、Ｘ０＋１を実行し、結果をＸ０に格納する。ま
た、シフトしたことによりキャリーが生じた場合にはＳ
ＷＮ＋１を行い、キャリーが生じない場合には、ＳＷＮ
＋０を行う。この場合８０８の“０”をセレクトして実
行する。また、キャリーが生じた場合にはビット位置を
０とする。Ｘ方向に−１移動する場合にはＭＡＳＫデー
タを右に１ビットシフトし、Ｘ０−１を行う。また、シ
フトしたことによりキャリーが生じた場合にはＳＷＮ−
１を行い、キャリーが生じない場合にはＳＷＮ＋０を行
う。また、キャリーが生じた場合にはビット位置を１５
とする。

【００２１】次にドットを移動した後に、どの領域に存
在するかを判定するために、Ｘ０−Ｘｍｉｎ，Ｘ０−Ｘ
ｍａｘ，Ｙ０−Ｙｍｉｎ，Ｙ０−Ｙｍａｘの演算を行
う。Ｘ０−Ｘｍｉｎ及びＹ０−Ｙｍｉｎについては演算
結果が負ならば、すなわち結果の１５ビット目が“１”
ならば、領域にたいしてＸあるいはＹ方向がＸｍｉｎ，
Ｙｍｉｎより小さくなったことを示す。また、Ｘ０−Ｘ
ｍａｘ，Ｙ０−Ｙｍａｘについては演算結果が正なら
ば、すなわち結果の１５ビット目が“０”ならば、領域
にたいしてＸあるいはＹ方向がＸｍａｘ，Ｙｍａｘより
大きくなったことを示す。この演算結果の１５ビット目
のデータを領域判定用のデータとしてＤＩＶブロックに
供給する。

【００２２】次に、この１５ビット目のデータを供給さ
れたＤＩＶブロックの動作について、図９を用いて詳し
く説明する。図９において、９１はＸ方向がＸｍａｘよ
り大きくなった事を示す情報を格納するフリップフロッ
プ（ＢＸ）であり、ＢＸ＝１ならばＸ０≧Ｘｍａｘ，Ｂ
Ｘ＝０ならばＸ０＜Ｘｍａｘを示すものとする。９２は
Ｘ方向がＸｍｉｎより小さくなった事を示す情報を格納
するフリップフロップ（ＳＸ）であり、ＳＸ＝１ならば
Ｘ０＜Ｘｍｉｎ，ＳＸ＝０ならばＸ０≧Ｘｍｉｎを示す
ものとする。９３はＹ方向がＹｍａｘより大きくなった
事を示す情報を格納するフリップフロップ（ＢＹ）であ
り、ＢＹ＝１ならばＹ０≧Ｙｍａｘ，ＢＹ＝０ならばＹ
０＜Ｙｍａｘを示すものとする。９４はＹ方向がＹｍｉ
ｎより小さくなった事を示す情報を格納するフリップフ
ロップ（ＳＹ）であり、ＳＹ＝１ならばＹ０＜Ｙｍｉ
ｎ，ＳＹ＝０ならばＹ０≧Ｙｍｉｎを示すものとする。
まず、Ｘ０−Ｘｍａｘの１５ビット目の反転データがＢ
ＸのＤに入力された時にｅｎａｂｌｅ１がアクティブに
なり、Ｄの値がＢＸに格納される。次に、Ｘ０−Ｘｍｉ
ｎの１５ビット目のデータがＳＸのＤに入力された時に
ｅｎａｂｌｅ２がアクティブになり、Ｄの値がＳＸに格
納される。次に、Ｙ０−Ｙｍａｘの１５ビット目の反転
データがＢＹのＤに入力された時にｅｎａｂｌｅ３がア
クティブになり、Ｄの値がＢＹに格納される。次に、Ｙ
０−Ｙｍｉｎの１５ビット目のデータがＳＹのＤに入力
された時にｅｎａｂｌｅ４がアクティブになり、Ｄの値
がＳＹに格納される。ここで、ＢＸ＝ＳＸ＝ＢＹ＝ＳＹ
＝０ならば、このドットは領域内にあり、領域内である
ことを示す信号ＮＡＫＡがアクティブになる。また、Ｓ
Ｘ＝１，ＢＸ＝ＢＹ＝ＳＹ＝０ならば、このドットはＹ
方向が領域内で、Ｘ方向がＸｍｉｎより小さい領域内に
あり、Ｙ方向が領域内で、Ｘ方向がＸｍｉｎより小さい
領域内であることを示す信号ＨＩＤＡＲＩがアクティブ
になる。

【００２３】このＨＩＤＡＲＩ信号はＣＯＮＴＲＯＬ部
に供給されており、ＣＯＮＴＲＯＬ部はＨＩＤＡＲＩ信
号がアクティブならば、ドットをＹ座標はそのままにし
て、Ｘ座標をＸｍｉｎとするために、ＭＡＤＲを基にア
ドレスを再計算する。計算式は前述した通り、 ＭＡＤＲ’＝ＭＡＤＲ−（Ｘ０−Ｘｍｉｎ）／１６ で
ある。

【００２４】ＣＯＮＴＲＯＬ部はＥＵブロックに制御信
号を出力して、まず、（Ｘ０−Ｘｍｉｎ）を行わせて結
果をラッチ８０５に一時的に格納する。次に、ラッチ８
０５のデータを右に４ビット算術シフトし、シフト結果
をＭＡＤＲから減算する。この値がドットが移動した後
のアドレスである。

【００２５】次に、ＤＩＶブロックとモディファイブロ
ックとの関係について、図１０を用いて詳しく説明す
る。図１０において、１０１はメモリ１のリードデータ
を一時的に格納するラッチであり、１０２はメモリ２の
リードデータを一時的に格納するラッチである。１０３
は図８におけるＭＡＳＫデータであり、１０４はドット
を水平移動させた場合のワード内におけるビット位置０
ｘ０００１である。１０５はＭＡＳＫと０ｘ０００１を
選択するセレクタである。ここで、ＦＬＡＧ信号はドッ
トを塗り潰し用データとして発生させるかどうかを示す
信号であり、ＦＬＡＧ＝１ならば発生させ、ＦＬＡＧ＝
０ならば発生させない。ＦＬＡＧ＝１になるか０になる
かの判定方法は前述した通りである。

【００２６】塗り潰し用データの発生方法は以下の通り
であり、メモリ１をリードしてラッチしたデータとＭＡ
ＳＫあるいは０ｘ０００１との排他的論理和（ＥＯＲ）
をとる。ＦＬＡＧ＝１かつＮＡＫＡまたはＨＩＤＡＲＩ
が１ならば、ＭＡＳＫあるいは０ｘ０００１のビット位
置が示すメモリ１のビットを反転させ、その他のビット
はそのままとする。次に、輪郭線データの発生方法は以
下の通りであり、メモリ２をリードしてラッチしたデー
タとＭＡＳＫとの論理和（ＯＲ）をとる。ＮＡＫＡ＝１
ならばＭＡＳＫのビット位置が示すメモリ２のビットに
１をたて、その他のビットはそのままとする。これによ
って、メモリ１に塗り潰し用データが、メモリ２に輪郭
線データが発生される。メモリ１とメモリ２を逆にして
も実現可能であることは言うまでもない。また、図７，
図８，図８，図１０に示した回路構成図は本発明を実現
するための一例であり、その他、多少異なる回路構成図
をとっても実現可能であることは言うまでもない。

【００２７】

【発明の効果】本発明によれば、描画すべきドットが発
生すべき領域にたいして、領域内にあるか、あるいはＹ
方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領域内であ
るか、あるいはそれ以外の領域内であるかを判定し、領
域内であればそのままドットを描画し、Ｙ方向が領域内
でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領域内であればＹ座標は
そのままでＸ座標をＸｍｉｎとしてドットを描画し、そ
れ以外の領域内であれば、ドットを描画しないように動
作できるので、発生すべき領域内に塗り潰し用データと
輪郭線データを正確に発生できる。その結果領域内を正
しく塗り潰した文字・図形のビットマップデータを得る
ことができる。

【００２８】また、ドットをメモリ上に描画するための
アドレスは（Ｘｍｉｎ，Ｙｍｉｎ）を基準として計算す
るので、領域内にあるドットのアドレスはメモリの要領
内に納まるという効果もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の文字・図形の分割発生図である。

【図２】内部を塗り潰した文字・図形の発生方法図であ
る。

【図３】塗り潰し用データの発生図である。

【図４】輪郭線データの発生図である。

【図５】メモリアドレスの供給方法図である。

【図６】塗り潰し用データのドット移動図である。

【図７】塗り潰し用，輪郭線データの発生ブロック図で
ある。

【図８】実行ユニットの回路図である。

【図９】領域判定ブロックの回路図である。

【図１０】メモリデータ加工ブロックの回路図である。

【符号の説明】

１…分割領域、 ２…領域内のビットマップデータ、 ２０…塗り潰し用データ、 ２１…輪郭線データ、 ２２…塗り潰し用データの塗り潰し後データ、 ２３…文字・図形のビットマップデータ、 ７０…ＣＯＮＴＲＯＬ部、 ７１…Ｅｘｅｃｕｔｉｏｎ Ｕｎｉｔ、 ７２…領域判定ブロック、 ７３…メモリデータ加工ブロック、 ７４，７５…メモリ、 ８０１…ベクトルデータ格納用レジスタ群、 ８０２…領域設定値格納用レジスタ群、 ８０３…メモリアクセスアドレス、領域の横ワード数格
納用レジスタ群、 ８０４…加減算（ＡＬＵ）、 ８０６…ビット位置格納用レジスタ、 ８０７…シフタ、 ８１０…ビット位置算出用デコーダ、 ９１，９２，９３，９４…領域判定情報を格納するフリ
ップフロップＢＸ，ＳＸ，ＢＹ，ＳＹ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 脇坂 新路 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所マイクロエレクトロニクス 機器開発研究所内 (72)発明者 長谷川 和子 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所マイクロエレクトロニクス 機器開発研究所内 (72)発明者 佐藤 裕子 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所マイクロエレクトロニクス 機器開発研究所内 (72)発明者 白根 弘晃 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立画像情報システム内 (72)発明者 西本 和久 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立画像情報システム内 (72)発明者 高橋 芳文 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立画像情報システム内 (72)発明者 林 繁夫 東京都小平市上水本町五丁目20番１号株式 会社日立製作所半導体設計開発センタ内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ベクトル形式で表された文字・図形の輪郭
   情報（以下、ベクトルデータと称す）からドット形式の
   文字・図形データ（以下、ビットマップデータと称す）
   を発生し、発生すべきビットマップデータが、該ビット
   マップデータを格納するメモリの容量よりも大きい場合
   には、該ビットマップデータをいくつかの領域に分割し
   て発生させる文字・図形発生装置において、文字・図形
   の輪郭線データ及び文字・図形の内部を塗り潰すための
   データを構成するドットが、発生すべき領域（ここで領
   域とは、Ｘ，Ｙ方向の最大値Ｘｍａｘ，Ｙｍａｘ、Ｘ，
   Ｙ方向の最小値Ｘｍｉｎ，Ｙｍｉｎで囲まれるであるも
   のとする）内であるか、あるいはＹ方向が領域内であり
   Ｘ方向がＸｍｉｎより小さい領域内であるかを判定する
   手段を備え、ドットが領域内である場合にはそのまま発
   生し、Ｙ方向が領域内でＸ方向がＸｍｉｎより小さい領
   域内の場合には、ドットをＹ座標はそのままでＸ座標を
   Ｘｍｉｎとして発生させることを特徴とする文字・図形
   分割発生方式。
2. 【請求項２】請求項１記載の文字・図形分割発生方式に
   おいて、 ドットをメモリに描画するためのアドレスを（Ｘｍｉ
   ｎ，Ｙｍｉｎ）を基準とした相対アドレスとすることを
   特徴とする文字・図形分割発生方式。